A. 除了x射線外,還有什麼測定晶體結構的方法
除了x射線外,還有什麼測定晶體結構的方法
測定晶體取向方法有多種,常 用的是腐蝕性法、激光定向法 和X射線衍射法。 晶體結構測定方法,crystal structure determination,即利用晶體 X射線衍射可測定晶體結構。但衍射實驗只能測得衍射強度(即結構振幅)而測不到相角,這樣就不可能直接從強度得到晶體結構數據,而要利用其他方法。 直接法 直接從實驗得到X射線強度,利用一系列數學處理,推引出結構因子的相角,實現了直接和自動化測定晶體結構,成為當前測定中小分子結構的主流方法。 模型法 試差法(模型法)利用晶體的對稱性和其他性質以及結構規則,對所研究的結構提出合理的模型,然後從理論上計算晶體的衍射強度,再把計算值與實驗值進行比較,並經過多次修正模型,使計算值與實驗值盡可能符合。
B. 簡單論述測定材料晶體結構及晶體取向的方法主要有哪些
( 1) 鎳基單晶高溫合金晶體取向具有顯著的各向異性。不同取向單晶的高溫拉伸性能、抗蠕變、低周疲勞等性能均有明顯不同, 001 > 取向單晶具有較高的綜合力學性能。
( 2) 晶體取向與鎳基單晶高溫合金凝固組織密切相關。不同取向的枝晶生長規律不同,造成各異的枝晶組織形態和枝晶間距,溶質元素在不同取向的偏析程度不同。
( 3) 螺旋選晶器引晶段的主要作用是優化晶粒取向,以便獲得取向良好的 001 > 取向的晶粒。螺旋段的主要作用是確保一個晶粒進入鑄件,其幾何參數對最終單晶取向沒有明顯影響。螺旋選晶器引晶段頂端最後保留的晶粒取向將直接決定最終單晶鑄件的晶體取向。
(4) 籽晶法制備單晶過程中,在枝晶界面條件下晶體的取向和生長狀態,主要由籽晶的取向決定。在胞晶界面狀態下,胞晶的生長方向仍由熱流方向決定。籽晶法能獲得取向度較高的單晶。
(5) 較高的溫度梯度和合適的拉晶速率,保持平整的凝固界面,有助於獲得取向偏離較小的單晶。
對晶體取向的研究,應注意以下幾個方面:
(1) 進一步研究晶體取向與凝固組織的關系,弄清楚晶體界面演化過程中晶體取向的轉變特點。
(2) 研究工藝參數對單晶高溫合金晶體生長取向的影響。進一步探索螺旋選晶器結構參數優化對晶體取向控制的作用規律。
在較大范圍內改變凝固界面前沿的溫度梯度,系統研究溫度梯度對晶體取向控制的作用。探索變截面造成的溫度場和溶質場變化等因素對晶體取向的作用,建立相關模型,採用計算機模擬與實驗對比實現精確控製取向的目的。
(3) 研究晶體取向在晶粒生長中的作用。單晶制備中不可避免產生小角度晶界、雜晶等,研究晶體取向在螺旋選晶和晶粒淘汰中的作用機制,對控制凝固缺陷形成具有重要意義。
C. 鑒定和研究礦物的其他主要方法簡介
鑒定和研究礦物的方法,隨工作目的和要求的不同而異(表16-1)。不同的方法各有其特點,它們對樣品的要求及所能解決的問題也各不相同。下面僅介紹某些重要方法的簡要特點。
1.成分分析方法
此類方法所得結果即為物質的化學成分數據。除經典化學分析系化學方法外,其他常用方法均屬物理方法,大多可同時分析多種元素,但一般不能區分變價元素的價態。
1)經典化學分析
此法准確度高,但靈敏度不很高,分析周期長,很不經濟。樣品要求是重量超過500mg的純度很高的單礦物粉末。
此法只適用於礦物的常量組分的定性和定量分析。主要用於新礦物種或亞種的詳細成分的確定和組成可變的礦物成分變化規律的研究。但不適用於稀土元素的分析。
表16-1 鑒定和研究礦物的主要方法一覽表
2)光譜分析
此法准確度較差(尤其是對含量大於3%的常量元素),但靈敏度高,且快速、經濟。可測元素達70多種。一次測試即能獲得全部主要元素及微量元素的信息。樣品要求:僅需數十毫克甚至數毫克的粉末樣品。
光譜分析通常用於礦物的微量和痕量元素的定性或半定量分析。特別是對於稀有分散元素也能獲得良好的效果。常作為化學分析的先導,以初步了解樣品中元素的種類和數量,供進一步分析或研究時參考。
3)原子吸收光譜分析
原子吸收光譜(AAS)分析靈敏度高,干擾少,快速、精確且較經濟。可測70多種元素,但一次只能分析一種元素,不宜於定性分析。樣品用量少,僅需數毫克粉末樣。
AAS主要用於10-6數量級微量元素和10-9數量級痕量元素的定量測定。適宜於測定沸點低、易原子化的金屬元素及部分半金屬元素。也可進行常量分析。但對稀土、Th、Zr、Hf、Nb、Ta、W、U、B等高溫元素的測定的靈敏度較低,對鹵族元素、P、S、O、N、C、H等尚不能測定或效果不佳。
4)X射線熒光光譜分析
X射線熒光光譜(XRF)分析准確度較高,成本低,速度快,可不破壞樣品。可分析元素的范圍為9F~92U。XRF要求數克至十克(一般4~5g,最少可至數十毫克)較純的粉末樣。液態樣品也可分析。
XRF用於常量元素和微量元素的定性或定量分析。尤其對稀土元素及稀有元素Nb、Ta、Zr、Hf等的定量分析有效。但不能測定變價元素的價態。
5)等離子體發射光譜分析
等離子體發射光譜(ICP)分析比光譜分析更為快速和靈敏,檢測下限可達(0.1×10-9)~(10×10-9)。精度較高,可達±3%,可測定除H、O、N和惰性氣體以外的所有元素。樣品要求:粉末,最少可以數毫克,也可以為液態樣品。
ICP適用於常量、微量和痕量元素的定性或定量分析。特別宜於分析包裹體中含量極低的重金屬離子。
6)激光顯微光譜分析
激光顯微光譜(LMES)分析靈敏度高,快速,有效,成本低,且被破壞樣品的面積小。可測70多種元素。樣品可以是光片、不加蓋玻璃的薄片或大小合適的手標本,樣品表面應拋光,切忌被污染;重砂、粉末或液體樣品要作某些處理。
LMES適於微粒、微量、微區的成分測定。用於研究礦物的化學成分及元素的賦存狀態,特別適用於微細疑難礦物的分析和鑒定。但是,目前對O、N、S等許多非金屬元素尚無法分析,對鹼金屬、難熔金屬(如Mo、Ta等)的檢測靈敏度較低。
7)質譜分析
質譜分析靈敏度和准確度均高,且分析速度快。以純度≥98%、粒徑<0.5mm的單礦物為樣品。樣量視礦物種不同而異,如硫化物需0.1~0.2g,硫酸鹽需2~5g。應避免用化學方法、浮選法等處理分離礦物,以防被污染。
質譜分析系10-6數量級定量分析,常用於准確測定各種岩石、礦物和有機物中元素的同位素組成。從10~30g的隕石標本中提取的稀有氣體即足以為分析所用。
8)中子活化分析
中子活化分析(NAA)靈敏度高,大多數元素的靈敏度達10-6~10-13g。准確度高,精度高(一般在±1%~±5%)。可測的元素達80多種。可同時測定多種元素,分析速度快,且不破壞樣品。樣品要求是純的單礦物粉末,樣量僅需數毫克至數十毫克。
NAA系超痕量、痕量、半微量甚至常量元素的定量分析。可直接測定濃度很低的貴金屬元素,對稀土元素的分析特別有效。廣泛用於同位素組成、同位素地質年齡的測定。此外,也常用於測定包裹體成分。適用於分析隕石和月岩樣品的組成。
9)電子探針分析
電子探針分析(EPMA)靈敏度高,檢測下限可達10-16g。精度一般可達1%~2%,但對微量元素的精度則可差於20%。解析度高(約7nm)。放大倍數為數十倍至數十萬倍。分析速度快,直觀,且不破壞樣品。可測元素的范圍大:波譜分析為4Be~92U,能譜分析為11Na~92U。樣品可以是光片、不加蓋玻璃的薄片或礦物顆粒,且表面必須清潔、平坦而光滑。
EPMA系微米數量級微區的成分分析,宜於常量元素的定量分析。既可定點作定性或定量分析,又能作線掃描和面掃描分析,以研究元素的種類、分布和含量,了解礦物成分分布的均勻程度和元素在礦物中的賦存狀態,定量測定礦物內部各環帶的成分。最適於微小礦物和包裹體成分的定性或定量分析,以及稀有元素、貴金屬元素的賦存狀態的研究。此外,還可輔以形貌觀察。EP-MA只能分析固態物質,對有機物質的分析有困難;不能分析元素的同位素、各種形式的水(如 H2 O和 OH-等)及其他揮發組分,無法區分 Fe2+和 Fe3+。
2.結構分析方法
此類方法一般不破壞樣品,其分析結果是各種譜圖,用於研究物質的晶體結構、分子結構、原子中電子狀態的精細結構。有些還可藉以鑒定樣品的物相,如寶石學上目前常利用紅外吸收光譜、激光拉曼光譜、可見光吸收光譜等技術來鑒別天然寶石和合成寶石。
1)X射線分析
X射線分析是晶體結構研究和物相分析的最常用而有效的方法。其具體方法種類繁多,一般可歸為單晶法和粉晶法兩類。
(1)單晶法:通常稱為X射線結構分析,又有照相法和衍射儀法之分。目前主要採用四圓單晶衍射儀法,其特點是自動化程度高,快速,准確度高。單晶法要求嚴格挑選無包裹體、無雙晶、無連晶和無裂紋的單晶顆粒樣品,其大小一般在0.1~0.5mm。因此在應用上受到一定限制。單晶法主要用於確定晶體的空間群,測定晶胞參數、各原子或離子在單位晶胞內的坐標、鍵長和鍵角等;也可用於物相鑒定,繪制晶體結構圖。
(2)粉晶法:又稱粉末法,也有照相法和衍射儀法之分。粉晶法以結晶質粉末為樣品,可以是含少數幾種物相的混合樣品,粒徑一般在1~10μm。樣品用量少,且不破壞樣品。照相法只需樣品5~10mg,最少可至1mg左右;衍射儀法用樣量一般為200~500mg。粉晶衍射儀法簡便,快速,靈敏度高,分辨能力強,准確度高。根據計數器自動記錄的衍射圖(diffraction diagram),能很快查出面網間距d值和直接得出衍射強度,故目前已廣泛用於礦物或混合物之物相的定性或定量分析。粉晶法主要用於鑒別結晶質物質的物相,精確測定晶胞參數,尤其對鑒定粘土礦物及確定同質多象變體、多型、結構的有序—無序等特別有效。
2)紅外吸收光譜分析
紅外吸收光譜(IR)測譜迅速,數據可靠,特徵性強。傅里葉變換紅外光譜儀具有很高的解析度和靈敏度及很快的掃描速度。樣品不受物理狀態限制,可以是氣態、液態、結晶質、非晶質或有機化合物。乾燥固體樣品一般只需1~2mg,並研磨成2μm左右的樣品。
IR已廣泛應用於物質的分子結構和成分研究。適用於研究不同原子的極性鍵,可精確測定分子的鍵長、鍵角、偶極矩等參數;推斷礦物的結構,鑒定物相;對研究礦物中水的存在形式、絡陰離子團、類質同象混入物的細微變化、有序—無序及相變等十分有效。IR廣泛用於粘土礦物和沸石族礦物的鑒定,也可對混入物中各組分的含量作定量分析。
3)激光拉曼光譜分析
激光拉曼光譜(LRS)系無損分析,其測譜速度快,譜圖簡單,譜帶尖銳,便於解釋。幾乎在任何物理條件(高壓、高溫、低溫)下對任何材料均可測得其拉曼光譜。樣品可以是粉末或單晶(最好是5mm或更大者),不需特別制備,粉末所需量極少,僅0.5μg即可。也可以是液體樣品(10-6ml)。
LRS和IR同為研究物質分子結構的重要手段,兩者互為補充。LRS適用於研究同原子的非極性鍵的振動。
4)可見光吸收光譜分析
可見光吸收光譜分析簡便、可信,不需挑選單礦物,不破壞樣品。以0.03mm標准厚度的薄片為樣品,但研究多色性時則需用單晶體。
此法主要用於研究物質中過渡元素離子的電子構型、配位態、晶體場參數和色心等。也常用於顏色的定量研究,探討透明礦物的呈色機理。可適於研究細小(粒徑在1~5mm)的礦物顆粒。
5)穆斯堡爾譜分析
穆斯堡爾譜分析又稱核磁伽馬共振(NGR)。分析准確、靈敏、快速,解譜較為容易。目前僅可測40多種元素近90種同位素。所研究的元素可以是主成分,也可是含量為萬分之幾的雜質。樣品可以是晶質或者非晶質;既可是單晶,也可是礦物或岩石的粉末。但樣品中必須含有一定濃度的與放射源中γ射線的核相同的元素。含鐵礦物樣品中Fe原子濃度為5mg/cm2為宜,硅酸鹽樣品量一般為100mg左右,因樣品中Fe含量等因素而異。
NGR主要用於研究57Fe和119Sn元素離子的價態、配位態、自旋態、鍵性、磁性狀態、佔位情況及物質結構的有序—無序和相變等,也可用於物相鑒定和快速成分分析。對粘土礦物及隕石、月岩、海底沉積物等晶質多相混合物的研究很有效。
6)電子順磁共振分析
電子順磁共振(EPR)分析也稱電子自旋共振(ESR)分析。靈敏度高。不破壞樣品。只適於研究順磁性離子:室溫下能測定的主要有V4+、Cr3+、Mn2+、Fe3+、Ni2+、Cu2+、Eu2+、Gd3+等;而Ti3+、V3+、Fe2+、Co2+及多數稀土元素離子則只能在低溫下測定。EPR分析對樣品要求不高:固體、液體(0.1~0.01ml)、壓縮氣體或有機化合物均可;可以是單晶,也可以是粉末多晶混合物,但一般以單晶(粒徑在2~9mm)為好。樣品中順磁性離子的濃度不超過1%,以0.1%~0.001%為宜。樣品不需任何處理。
EPR主要用於研究過渡金屬離子(包括稀土元素離子)的微量雜質的價態、鍵性、電子結構、賦存狀態、配位態、佔位情況、類質同象置換及結構的電子—空穴心、結構的有序—無序、相變等。也可作微量元素的定性或定量分析及地質年齡的測定等。在寶石學上,常用於鑒別天然寶石與合成寶石及研究寶石的染色機制。
7)核磁共振分析
核磁共振(NMR)分析目前最常用的高分辨的核磁共振儀廣泛應用於某些分子結構的測定,其解析度高,靈敏度高,測量速度快。但可測元素的種類有限,主要有1H、7Li、9B、11B、13C、19F、23Na、27Al、29Si、31P、40Ca等。樣品可以是較濃的溶液(約0.5ml)、固體(一般20~80mg)或氣體。
NMR主要用於研究礦物中水的存在形式、質子的結構位置及離子的鍵性、配位態和有序—無序分布特徵等,研究相變和晶格缺陷。
3.其他測試方法
1)透射電子顯微鏡分析
透射電子顯微鏡(TEM)分析的功能主要是利用透射電子進行高分辨的圖象觀察,以研究樣品的形貌、晶格缺陷及超顯微結構(如超顯微雙晶和出溶片晶等)等特徵,同時用電子衍射花樣標定晶體的結構參數和晶體取向等。配有能譜儀(或波譜儀)者尚可進行微區常量元素的成分分析。TEM具有很高的解析度(達0.1nm左右)和放大倍數(為100倍~200萬倍),可以直接觀察到原子。樣品可以是光片、不加蓋玻璃的薄片或粉末樣,表面須平坦光滑。
2)掃描電子顯微鏡分析
掃描電子顯微鏡(SEM)分析的主要功能是利用二次電子進行高解析度的表面微形貌觀察。通常也輔以微區常量元素的點、線、面掃描定性和定量分析,查明元素的賦存狀態等。SEM的解析度高(達5nm左右),放大倍數為10倍~30萬倍。樣品可以是光片、不加蓋玻璃的薄片、粉末顆粒或手標本。其制樣簡單,圖象清晰,立體感強,特別適合粗糙表面的研究,如礦物的斷口、晶面的生長紋和階梯等觀察及顯微結構分析等。
3)微分干涉(相襯)顯微鏡分析
微分干涉(相襯)顯微鏡(DIC)能夠觀察礦物表面納米數量級的分子層厚度。反射型顯微鏡用於研究晶體表面微形貌,觀察晶體表面上的各種層生長紋和螺旋生長紋,從而探討晶體的生長機制;透射型顯微鏡用於研究岩石薄片中礦物的結晶狀態及內部顯微構造,能清晰看到微米數量級的微裂紋,從而有助於研究岩石受應力作用的方向和性質。微分干涉(相襯)顯微鏡的縱向解析度高,立體感強。其樣品可以是帶晶面的晶體顆粒或者薄片。
4)熱分析
熱分析系根據礦物在加熱過程中所發生的熱效應或重量變化等特徵來鑒定和研究礦物。廣泛採用的有差熱分析和熱重分析。
(1)差熱分析(DTA):是測定礦物在連續加熱過程中的吸熱(脫水、分解、晶格的破壞和類質同象轉變等)和放熱(氧化、結晶等)效應,以研究礦物的結構和成分變化。用於了解水的存在形式,研究物質的內部結構和結晶度,研究類質同象混入物及其含量,可進行物相的鑒定及其定量分析。尤其對粘土礦物、氫氧化物和其他含水礦物及碳酸鹽類等礦物的研究最為有效。DTA只適用於受熱後有明顯的物理、化學變化的物質,一般僅用於單相物質純樣的研究,樣量僅需100~200mg,粒度在0.1~0.25mm。DTA設備簡單,用樣量少,分析時間較短,但破壞樣品,且干擾因素多,混合樣品不能分離時會相互干擾。因此,必須與X射線分析、電子顯微鏡、化學分析等方法配合使用。
(2)熱重分析(TG):是測定礦物在加熱過程中質量的變化。熱重曲線的形式取決於水在礦物中的存在形式和在晶體結構中的存在位置。TG僅限於鑒定和研究含水礦物,並可確定其含水量。TG以純的礦物粉末為樣品,樣量一般需2~5g,且破壞樣品。TG常與DTA配合使用。目前正向微量(10-5g)分析發展。
D. 蛋白質晶體結構分析方法有哪些
蛋白質結構分析方法:X射線晶體衍射分析和核磁共振
x 射線衍射法的解析度可達到原子的水平,使它可以測定亞基的空間結構、各亞基間的相對拓撲布局,還可清楚的描述配體存在與否對蛋白質的影響。多維核磁共振波譜技術已成為確定蛋白質和核酸等生物分子溶液三維結構的唯一有效手段。NM R技術最大的優點不在於它的解析度,而在於它能對溶液中和非晶態的蛋白質進行測量。
蛋白質的序列結構測定:
1.到目前為止,最經典的蛋白質的氨基酸序列分析方法是,sarI等人基於Edman降解原理研製的液相蛋白質序列儀,及後來發展的固相和氣相的蛋白質序列分析儀。
2.質譜:早期的質譜電離的方式主要是電子轟擊電離(EI),它要求樣品的揮發性好,一般與
氣相色譜聯用。但使用G C/M S分析,肽的長度受到限制,只能分析小的肽段。近年來,
在離子化的技術及儀器方面取得了突破性進展,使得質譜所能測定的分子量的范圍大大超
出了10k u。因此,軟離子化技術、基質輔助的激光解吸/離子化(MALDI)和電噴霧離子化(E SI)顯得尤為有前途。通過串聯質譜技術(MS/MS)和源後衰減基質輔助的激光解吸/離子化(PSD—MAIDI—MS),人們就可以從質譜分析中獲得肽及蛋白質的結構信息。
E. 晶體培養的常用方法有哪些
(1)溶液揮發。將樣品溶解在沸點較低的溶劑內,溶液在室溫下緩慢揮發,樣品濃度逐漸增大,然後飽和,析出晶體。
(2)重結晶。適合高溫易溶但低溫溶解度差的樣品。配製樣品的熱飽和溶液。熱溶液冷卻過程中,樣品溶解度逐漸減小,析出晶體。
(3)擴散法。將樣品用易溶的溶劑溶解,溶液置於試管內。同時用滴管,沿著試管壁小心加入另一種不能溶解樣品的溶劑。兩種溶劑之間必須是能互溶的。第二個溶劑加入後,由於密度的不同,會與樣品溶液發生分層,而不會立即混勻。兩種溶劑在相互擴散的過程中,經常能在二者界面附近得到晶體。
(4)另一種擴散法。將少量樣品溶液置於試管內,試管置於一個大瓶子內。大瓶子底部裝有少量不能溶解樣品的溶劑,並且該溶劑沸點低於溶解樣品的溶劑。將大瓶子蓋好,大瓶子內的溶劑蒸氣會逐漸揮發擴散進入試管,與試管內的溶液混合,造成樣品溶解度降低,析出晶體。
無論哪種方法,樣品溶液都需要過濾去掉不溶物。而且更純的樣品更容易得到高質量的單晶。
F. 獲得晶體結晶的方法有什麼
從溶液中得到晶體的方法為:蒸發結晶法和冷卻熱飽和溶液結晶法。
G. 晶體光學與岩石學的研究方法和研究意義
一、晶體光學與岩石學的研究方法
晶體光學包括晶體光學原理和光性礦物學兩部分,其研究基礎是結晶學和礦物學。晶體光學的研究主要在室內進行。
在掌握結晶學和礦物學的基礎知識之後,以偏光顯微鏡為主要工具,利用岩石薄片,通過可見光研究透明礦物晶體所產生的光學效應;在此基礎上分析掌握組成岩石的各類礦物在偏光顯微鏡下的光學性質和鑒別特徵。
根據晶體光學原理,不同礦物在偏光顯微鏡下具有不同的光學性質和鑒別特徵。因此,利用偏光顯微鏡對岩石薄片中的透明礦物進行鑒定,並分析各類礦物的大小、相對含量等特徵。
沉積岩、岩漿岩和變質岩的研究方法分為野外和室內兩個方面。
1.野外研究方法
岩石是各類地質體的組成部分,在野外要研究各類岩石的物質成分、結構、構造、岩體產狀、岩體與圍岩的接觸關系、沉積岩的岩層厚度和岩漿岩及變質岩岩體的規模、岩性組合等特徵,查明岩體在時間和空間上的分布和演化特點,系統測量岩體岩相剖面,進行區域對比和分析。野外觀察和描述可以初步分析岩石的岩性特徵,觀察原生結構和構造,並對觀察的內容做詳細記錄,同時進行相關的素描、拍照、錄像和岩石樣品的採集。
在盆地研究區,目的層岩石被覆蓋,這就需要對鑽井取心進行觀察和描述,對岩石的重要現象和成礦標志進行素描和拍照,選取重點井段進行岩心取樣。由於取心段有限,因此將岩心資料和測井資料、錄井資料以及地震資料充分結合,進行岩性、電性、物性和含油氣性分析。在上述研究的基礎上,綜合分析岩體的成因、形成條件和含礦性。
2.室內研究方法
在室內研究中,顯微鏡薄片鑒定是研究岩石的最基本、最簡單、最有效的方法,是地質工作者必須熟練掌握的方法。
此外,岩石的室內研究方法還有重礦物分析、化學分析、熱分析、光譜分析、陰極發光分析、鑄體薄片圖像分析、同位素分析、掃描電鏡分析、電子探針分析、X射線衍射分析、氣相色譜分析、測年分析及古地磁分析等。
在岩石化驗分析中,新技術和新方法是推進晶體光學與岩石學研究的重要因素。裂變徑跡、包裹體測溫、真實砂岩微觀模型等方法的應用對油氣田的勘探開發具有重要意義。
二、晶體光學與岩石學的研究意義
目前,石油及天然氣等資源是影響我國國民經濟發展的重要因素之一,也是制約世界經濟的重要因素。一般來講,只要具有孔隙性和滲透性,能儲集石油及天然氣的岩石都可作為油氣儲集岩,常見的主要油氣儲集岩是沉積岩中的碎屑岩和碳酸鹽岩。此外,沉積岩中的泥質岩、岩漿岩和變質岩也可作為油氣儲集岩。近年來,石油及天然氣地質勘探與開發在岩石學領域的研究取得重要的新進展表明,不僅岩漿岩和變質岩是石油及天然氣富集的儲集岩類型,而且有些地區深源流體對油氣藏的形成起著至關重要的作用。在我國多個油氣田中,火山岩油氣藏和變質岩油氣藏已經是石油及天然氣勘探與開發的油氣藏類型之一。因此,晶體光學與岩石學的研究對石油及天然氣勘探與開發具有重要意義。晶體光學與岩石學是石油及天然氣等資源勘探與開發的重要基礎知識,晶體光學與岩石學的基本原理、基礎知識和基本技能是石油及天然氣類等專業學生和石油地質工作者必須掌握的內容。
H. 晶體生長的方法有幾種
1.
底部
籽晶
法
2.
冷坩堝法
3.
高溫高壓法
4.
弧熔法
5.
提拉法
6.
焰熔法
7.
熔劑
法
8.
水平區熔
9.
升華法
10.
水熱法
生長晶體
11.
水溶液法生長晶體
12.
導向溫梯法(TGT)
等等
I. 【求助】晶體結構改變可以用哪些方法進行研究
caiyouy(站內聯系TA)做標定,測晶格常數,和標准一比較,很清楚就能看出來了zjqstu2003(站內聯系TA)我也是做摻雜的,但只知道XRD可以測試晶體結構。學習一下。cui9527(站內聯系TA)這個應該好好算一算,扯點動力學啥的,就顯得上檔次了。:Dmiaojuhong(站內聯系TA)根據前面的答復,我簡單概括一下,^_^ 我所知道的看晶體結構,(1)最常用的是XRD,如果掃描速度慢些,可以用來計算晶格參數,但我的樣品主要是看結構的,所以掃描速度很快,3度/min,用來計算晶格參數太不準確了。(2)TEM也能確定結構,但制樣太麻煩了,而且價格也貴。(3)Raman光譜對晶體結構變化很敏感,但如果是新材料,判斷它的各個振動模式需要群論的知識,通常我們也就是看看文獻,依葫蘆畫瓢吧。這些都是確定最終結構吧,但並不能說明為什麼會從一種結構變化到另一種結構,動力學,相圖分析估計可以做到,但我不做這一行,對我來說實在困難了些,也想過計算結構的結合能,看那種能量最低,那結構就穩定吧,但只看多人家計算幾個化學鍵的結合能,沒看過計算整個晶胞的,所以大家如果有這方面文獻也發上來交流下哦。
J. 在電子顯微鏡還沒有被發明的年代,地質學家都是怎麼研究晶體結構的
地質學家對晶體的研究早就開始了,而不是近期才進行的,那麼以前的條件那麼艱苦,地質學家們是怎麼研究晶體的呢?大家知不知道晶體是什麼東西呢?你們對晶體有基本的認識和了解嗎?你知道在電子顯微鏡還沒被發現的年代,地質學家們都是怎樣研究晶體結構的嗎?讓我們一起來探索一下這個問題吧!
最初的晶體研究確實是通過肉眼和光學顯微鏡來觀察晶型比較好的晶體。早期的晶體學家從17世紀開始通過比較好的晶體來研究晶體的對稱性。 1839年William Miller提出了Miller Indices,來形容晶體的面。到19世紀末,晶體學家已經通過觀察實際的晶體和理論研究總結出了所有可能的晶體對稱性。X-ray的發現大大推動了晶體結構的了解!父子一同拿下了1915年諾貝爾物理學獎。
一.用放大鏡
有網友說為什麼要這么麻煩呢?直接用電子顯微鏡不就好了,在當時那個年代是沒有電子顯微鏡的,物質還很匱乏,電子顯微鏡是近代才出現的觀測工具,現在的電子顯微鏡越來越高級,能觀察到的東西也越來越多。