❶ 用萬用表檢測IC晶元的幾種簡易方法
用萬用表檢測IC晶元的幾種簡易方法
1.離線檢測
測出IC晶元各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC晶元進行比較,從而找到故障點.
2.在線檢測
1)直流電阻的檢測法同離線檢測一樣但要注意:
(a)要斷開待測電路板上的電源;
(b)萬能表內部電壓不得大於6V;
(c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC晶元相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測量法測得IC晶元各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意：
(a)萬能表要有足夠大的內阻,數字表為首選;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要採取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,並應長出筆尖約5mm;
(d)當測量值與正常值不相符時,應根據該引腳電壓,對IC晶元常值有無影響以及其它引腳電壓的相應變化進行分析;
(e)IC晶元引腳電壓會受外圍元器件的影響.當外圍有漏電,短路，開路或變質等;
(f)IC晶元部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件,若無故障,則IC晶元損壞;
(g)對工作時有動態信號的電路板,有無信號IC晶元引腳電壓是不同的.但若變化不正常則IC晶元可能已壞;
(h)對多種工作方式的設備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同的.
3)交流工作電壓測試法用帶有dB檔的萬能表,對IC進行交流電壓近似值的測量.若沒有d檔,則可在正表筆串入一隻0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用於工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號將受固有頻率,波形不同而不同.所以所測數據為近似值,。
4)總電流測量法通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由於IC內部大多數為直流耦合,IC損壞時(如PN結擊穿或開路)會引起後級飽和與截止,使 總電流發生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得迴路電。
阻上的電壓,即可算出電流值來.