⑴ 陶瓷坯體內應力有什麼測試方法
你可以搜索一下殘余應力測量方法，X射線法、磁性法和超聲法能無損測定殘余應力；XRD衍射是測定物相的，（比如分辨氧化鋁是阿爾法相，貝塔相還是伽馬相），一般測量精度較差，大於5%以上可以分辨，也可以進行粗略的半定量分析；
透射電鏡TEM觀察的樣品是薄樣品（厚度約200um），有成像模式和衍射模式兩種工作方式。可配備EDS和EELS（電子能量損失譜），用於分析微區形貌、成分、晶體結構、晶體缺陷等；
掃描電鏡和電子探針一般做形貌分析，分背散射和二次電子兩種模式，背散射可以根據緻密材料的明暗程度分辨不同的相，二次電子景深較高，成像較清晰，可以做粉體、多孔材料和緻密材料的形貌分析；電子探針即EPMA(電子探針顯微分析)，最初的目的是以電子束為探測源來分析樣品中微區的化學成分，一般配備波譜儀。而掃描電鏡SEM，其最初目的是為了觀察樣品表面形貌，一般配備能譜儀。現在，電子探針上也可配備能譜儀，掃描電鏡上也可配備波譜儀，EPMA和SEM並沒有本質上的區別；
能譜儀和SEM，EPMA配備在一起，用於選定顯微區域的成分分析。
紅外光譜分析可用於研究分子的結構和化學鍵，也可以作為表徵和鑒別化學物種的方法，有機領域用的多；
拉曼光譜的原理是拉曼散射效應，對與入射光頻率不同的散射光譜進行分析以得到分子振動、轉動方面信息，從而可以鑒別物質，分析物質的性質。
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