1、START/STOP
開始/中斷測量
2、POWER/DATA
接入電源,進行SPC輸出/數據保存/列印輸出
3、CAL/STD/RANGE
校正/粗糙度規格/轉換測量范圍的設置模式
4、CUTOFF/
轉換截取件游標鍵(上)
5、mm/INCH/
mm/inch公/英制轉換游標鍵(下)
6、液晶畫面
顯示測量結果和設置狀態
7、PARAMETER
轉換顯示結果的粗糙度參數
8、n/ENT
轉換區間數。確認鍵(設置條件時)
9、CURVE/FILTER/TOL/CUST
轉換測量曲線/濾波/判定合格與否/自定義的設置模式
10、MODE/ESC
轉換至其他條件設置模式
退出鍵
11、REMOTE/
轉換至遠程模式
游標鍵(左)
關閉電源
❷ SJ-401三豐粗糙度儀中文操作說明書
SJ-401三豐粗糙度儀中文操作說明:
測量操作規程(僅供參考)
總的測量流程:
如下流程概述了SJ-400的基本操作要求 設定SJ-400 →3.3連接和拆卸驅動裝置和探測部分. →3.3.3檢查零點 →3.3.4調節連接器高度 →3.4升高和降低高度-傾斜調整裝置. 電源 →3.7打開或關上電源 修改測量條件 →第五章 修改測量條件 向上/向下放置或水平放置 →4.2 調整校準和測量 實施校準 →4.3校準 進行工件測量 →4.4測量 輸出測量結果 →4.6列印測量結果 日常維護 →第11章 維護和檢測SJ-400
1、START/STOP
開始/中斷測量
2、POWER/DATA
接入電源,進行SPC輸出/數據保存/列印輸出
3、CAL/STD/RANGE
校正/粗糙度規格/轉換測量范圍的設置模式
4、CUTOFF/
轉換截取件游標鍵(上)
5、mm/INCH/
mm/inch公/英制轉換游標鍵(下)
6、液晶畫面
顯示測量結果和設置狀態
7、PARAMETER
轉換顯示結果的粗糙度參數
8、n/ENT
轉換區間數。確認鍵(設置條件時)
9、CURVE/FILTER/TOL/CUST
轉換測量曲線/濾波/判定合格與否/自定義的設置模式
10、MODE/ESC
轉換至其他條件設置模式
退出鍵
11、REMOTE/
轉換至遠程模式
游標鍵(左)
關閉電源
❸ 表面粗糙度怎麼檢驗,用什麼方法去檢測
1,印模法:此種方法多用於不能用儀器直接測量的或內表面,可用塑性材料作成塊狀的印模,貼合在被測表面上,待取下後貼合面上即復制出被測表面的輪廓狀況,然後對此印模進行測量,確定其粗糙度等級。
2,綜合測量法:它是利用被測表面的某種特徵來間接評定表面粗糙度的級別,而不能測峰谷不平高度的具體數值。直接量法:利用光學、電動儀器對零件表面直接量取有關參數,確定粗糙度等級。
3比較測量法:將被測表面與標准粗糙度樣板作比較,評定粗糙度等級。粗糙度樣板(又稱粗糙度標准塊),是以不同的加工方法(車、刨、平銑、立銑、磨等)製成的一組金屬塊。
4,直接量法:利用光學、電動儀器對零件表面直接量取有關參數,確定粗糙度等級。
❹ 常用的表面粗糙度的測量方法有哪幾種
粗糙度是指工作已加工表面不光滑的程度。在切削加工過程中由進給而造成的切削痕跡是以波峰波谷形式出現,而峰谷高度很小,一般多為零點幾微米,因此表面粗糙度屬於零件表面的微觀形狀誤差.其測量方法:
(1) 直接量法:利用光學、電動儀器對零件表面直接量取有關參數,確定粗糙度等級。
直接測量又分為接觸測量和非接觸測量。
(2)比較測量法:將被測表面與標准粗糙度樣板作比較,評定粗糙度等級。粗糙度樣板(又稱粗糙度標准塊),是以不同的加工方法(車、刨、平銑、立銑、磨等)製成的一組金屬塊。
(3)印模法:此種方法多用於不能用儀器直接測量的或內表面,可用塑性材料作成塊狀的印模,貼合在被測表面上,待取下後貼合面上即復制出被測表面的輪廓狀況,然後對此印模進行測量,確定其粗糙度等級。
(4)綜合測量法:它是利用被測表面的某種特徵來間接評定表面粗糙度的級別,而不能測峰谷不平高度的具體數值。
❺ 三豐粗糙度儀怎麼使用
三豐粗糙度儀出廠時都有一個操作流程說明書,跟儀器配套出庫的,
❻ 表面粗糙度都有哪些測量方法
比較測量法:將被測表面與標准粗糙度樣板作比較,評定粗糙度等級。粗糙度樣板(又稱粗糙度標准塊),是以不同的加工方法(車、刨、平銑、立銑、磨等)製成的一組金屬塊。
比較法測量簡便,使用於車間現場測量,常用於中等或較粗糙表面的測量。方法是將被測量表面與標有一定數值的粗糙度樣板比較來確定被測表面粗糙度數值的方法。比較時可以採用的方法:Ra>1.6μm時用目測,Ra1.6~Ra0.4μm時用放大鏡,Ra。
比較法
表面經磨、車、鏜、銑、刨等切削加工,電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時可直接從工件中選出樣品經過測量並評定合格後作為樣塊。利用樣塊根據視覺和觸覺評定表面粗糙度的方法雖然簡便,但會受到主觀因素影響,常不能得出正確的表面粗糙度數值。
表面粗糙度測量是將表面粗糙度比較樣塊(簡稱樣塊)根據視覺和觸覺與被測表面比較,判斷被測表面粗糙度相當於那一數值,或測量其反射光強變化來評定表面粗糙度(見激光測長技術)。
以上內容參考:網路-表面粗糙度測量
❼ 公司原來買的三豐 sj201粗糙儀,說明書是英文的,有誰可以提供一份中文的說明書謝謝
中文:類型:表面粗糙度儀 品牌:日本三豐 型號:sj-201 測量范圍:見詳細說明 測量參數:見詳細說明 取樣長度:見詳細說明(mm) 評定長度:見詳細說明(mm) 掃描長度:見詳細說明(mm) 電源:見詳細說明 重量:見詳細說明(kg) 外型尺寸:見詳細說明(mm)
日本三豐SJ-201粗糙度儀SJ201Mitutoyo表面粗糙度測試儀
特點:
清晰的大型易進行讀數字元顯示
攜帶型設計,可用於任何場所
檢測器/驅動部可拆卸,可在很小的空間內進行測量
探針行程達350um
粗糙度參數與ISO,DIN,ANSI和JIS兼容
提供包括基礎參數Ra,Rq,Rz,Ry在內的19個分析參數
用戶自定義功能可屏蔽不需要的參數
對所需參數進行GO/NG判斷
通過簡單的增益調整進行自動校準
自動休眠功能可有效節約能源
斷電後仍可在存儲器中存儲10組不同的測量條件
外部設備可通過RS-232C埠與電腦或其它裝置進行數據傳輸
可為SPC操作輸出數據
帶有專用攜帶型儀器箱,可安全傳輸
雙電源系統(AC適配器/內置充電電池)
可提供高精度粗糙度標准片
可通過列印機選件列印輸出測量數據
性能參數
公制型
型號
SJ-201P
SJ-201P
SJ-201M
SJ-201M
貨號
100V AC
178-930-2K
178-920-2K
—
—
120V AC
178-930-2A
178-920-2A
—
—
230V AC
178-930-2D
178-920-2D
178-920-2F
178-930-2F
240V AC
178-930-2E
178-920-2E
—
—
檢測器測力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
評價長度
12.5mm
12.5mm
12.5mm
12.5mm
測量范圍
350um(-200um-+150um)
驅動部/檢測器
檢測器:178-395/178-390
探針:鑽石型(針尖半徑:2um/5um)
檢測方式:微分感應
評估輪廓
P,R,DIN4776曲線
P,R,Motif
評價參數
Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,
mr,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,
Rx,A1,A2,Vo(支持用戶自定義)
Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,R3z,
mr,R,AR,Rx,(支持用戶自定義)
表面粗糙度標准
JIS,DIN,ISO,ANSI
數字濾波
2CR-75%,2CR-75%,pc,Gaussian-50%
取樣長度(L)
0.25,0.8,2.5mm
取樣段數
×1,×3,×5,×L
顯示
液晶顯示
數據輸出
通過RS-232C埠/SPC輸出
電源
使用AC適配器/電池(可更換)
尺寸(W*D*H)
156.5*62*52mm
重量
290g
英制/公制型
型號
SJ-201P
SJ-201M
貨號
100V AC
178-933-2D
178-923-2
120V AC
178-933-2A
178-923-2A
230V AC
178-933-2D
178-923-2D
240V AC
178-933-2E
178-923-2E
檢測器測力
0.75mN
4mN
評價長度
.49″(12.5mm)
.49″(12.5mm)
測量范圍
13780uinch(-7880
uinch-+5900uinch)
13780uinch(-7880
uinch-+5900uinch)
取樣長度(L)
.01″,.03″,.1″
.01″,.03″,.1
英文(Type: Surface Roughness Tester Brand: Mitutoyo Model: sj-201 Range: See detailed measurement parameters: see the detailed description of the sampling length: See details (mm) assessed length: See details (mm) Scan length: see Details (mm) Power: See Details Weight: See details (kg) Dimensions: See details (mm)
Mitutoyo SJ-201 Roughness Tester SJ201Mitutoyo surface roughness tester
Features:
Clear and easy to read large character display
Portable design, can be used in any place
Detector / drive unit removable, can be measured within a small space
Probe travel up to 350um
Roughness parameters and the ISO, DIN, ANSI and JIS compliant
Provide basic parameters, including Ra, Rq, Rz, Ry, including analysis of parameters 19
User-defined functions can not shield the parameters
The required parameters GO / NG judgment
By simple gain adjustment automatic calibration
Automatic sleep function can effectively save energy
Power stored in memory even after 10 different sets of measurement conditions
External devices via RS-232C port with a computer or other device for data transmission
Output data for SPC operation
With a special carrying case, safe transport
Dual power system (AC adapter / built-in rechargeable battery)
Roughness standard provides high accuracy chip
Printer options through the measurement data printout
Performance parameters
Metric
Model
SJ-201P
SJ-201P
SJ-201M
SJ-201M
Item
100V AC
178-930-2K
178-920-2K
-
-
120V AC
178-930-2A
178-920-2A
-
-
230V AC
178-930-2D
178-920-2D
178-920-2F
178-930-2F
240V AC
178-930-2E
178-920-2E
-
-
Measuring force detector
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
Evaluation length
12.5mm
12.5mm
12.5mm
12.5mm
Range
350um (-200um-+150 um)
Drive unit / detector
Detector :178-395 / 178-390
Probes: the diamond-type (tip radius: 2um/5um)
Detecting method: Differential inction
Assessment profile
P, R, DIN4776 curve
P, R, Motif
Evaluation parameters
Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z,
mr, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, Lo, R, AR,
Rx, A1, A2, Vo (to support user-defined)
Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Sm, S, Pc, R3z,
mr, R, AR, Rx, (to support user-defined)
Roughness standard
JIS, DIN, ISO, ANSI
Digital filtering
2CR-75%, 2CR-75%, pc, Gaussian-50%
Sampling length (L)
0.25,0.8,2.5 mm
Sample segments
× 1, × 3, × 5, × L
Show
LCD
Data Output
Via RS-232C port / SPC output
Power supply
AC adapter / battery (replaceable)
Dimensions (W * D * H)
156.5 * 62 * 52mm
Weight
290g
Inch / Metric
Model
SJ-201P
SJ-201M
Item
100V AC
178-933-2D
178-923-2
120V AC
178-933-2A
178-923-2A
230V AC
178-933-2D
178-923-2D
240V AC
178-933-2E
178-923-2E
Measuring force detector
0.75mN
4mN
Evaluation length
.49 "(12.5mm)
.49 "(12.5mm)
Range
13780uinch (-7880
uinch-+5900 uinch)
13780uinch (-7880
uinch-+5900 uinch)
Sampling length (L)
.01 ".03", .1 "
.01 ".03", .1)
❽ 日本三豐粗糙度檢測儀SJ-301中Rq表示什麼意思
Rq是粗糙度測量中的常用單位符號。Ra表示取樣測量的平均粗糙度,參照標准:DIN EN ISO 4287 : 1998 ISO 4287 : 1997 JIS B 0601 : 1994 ;Ry/Rz都是表示平均峰谷深度,Rz依據 ISO 標准Ry依據 JIS 標准;Rq表示輪廓的平均高度,參照標准JIS B 0601 : 2001。
❾ 粗糙度儀測量方法有那些及如何使用呢
粗糙度儀有很多種,具體選擇要根據自己工件的尺寸大小、材質、粗糙度值來確定。
一般來說粗糙度儀分為接觸式和非接觸式兩種,接觸式又有台式和手持式兩種,接觸式輪廓儀在機械製造行業應用最常見;非接觸式主要是白光干涉儀,白光干涉儀精度最高,可以達到0.1納米,主要用於超精密表面粗糙度測量,在半導體行業、3C行業、光學以及高等院校應用較多。
❿ 表面粗糙度測量方法
表面粗糙度測量方法:
1、比較法
比較法測量簡便,使用於車間現場測量,常用於中等或較粗糙表面的測量。方法是將被測量表面與標有一定數值的粗糙度樣板比較來確定被測表面粗糙度數值的方法。比較時可以採用的方法:Ra>1.6μm時用目測,Ra1.6~Ra0.4μm時用放大鏡,Ra<0.4μm時用比較顯微鏡。
比較時要求樣板的加工方法,加工紋理,加工方向,材料與被測零件表面相同。
2、觸針法
利用針尖曲率半徑為2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行,金剛石觸針的上下位移量由電學式長度感測器轉換為電信號,經放大、濾波、計算後由顯示儀表指示出表面粗糙度數值,也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數值的測量工具稱為表面粗糙度測量儀,同時能記錄表面輪廓曲線的稱為表面粗糙度輪廓儀。這兩種測量工具都有電子計算電路或電子計算機,它能自動計算出輪廓算術平均偏差Ra,微觀不平度十點高度Rz,輪廓最大高度Ry和其他多種評定參數,測量效率高,適用於測量Ra為0.025~6.3微米的表面粗糙度。
3、光切法
雙管顯微鏡測量表面粗糙度,可用作Ry與Rz參數評定,測量范圍0.5~50。
4、干涉法
利用光波干涉原理(見平晶、激光測長技術)將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來,並利用放大倍數高(可達500倍)的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大後進行測量,以得出被測表面粗糙度。應用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用於測量Rz和Ry為0.025~0.8微米的表面粗糙度。
表面粗糙度(surfaceroughness)是指加工表面具有的較小間距和微小峰谷的不平度。其兩波峰或兩波谷之間的距離(波距)很小(在1mm以下),它屬於微觀幾何形狀誤差。表面粗糙度越小,則表面越光滑。表面粗糙度一般是由所採用的加工方法和其他因素所形成的,例如加工過程中刀具與零件表面間的摩擦、切屑分離時表面層金屬的塑性變形以及工藝系統中的高頻振動等。由於加工方法和工件材料的不同,被加工表面留下痕跡的深淺、疏密、形狀和紋理都有差別。