檢測限度方法

『壹』 檢出限的檢出限與測定限

1檢出限

為某特定分析方法在給定的置信度內可從樣品中檢出待測物質的最小濃度或最小量。所謂「檢出」是指定性檢出，即判定樣品中存有濃度高於空白的待測物質。

檢出限除了與分析中所用試劑和水的空白有關外，還與儀器的穩定性及雜訊水平有關。在靈敏度計算中沒有明確雜訊的大小，因而操作者可以將檢測器的輸出信號，通過放大器放到足夠大，從而使靈敏度相當高。顯然這是不妥的，必須考慮雜訊這一參數，將產生兩倍雜訊信號時，單位體積載氣或單位時間內進入檢測器的組分量稱為檢出限。

則：

D = 2N / S

式中：

N——雜訊（mV或A）；

S——檢測器靈敏度；

D——檢出限，其單位隨S不同也有三種：

Dg=2N / Sg,單位為mg/ml

Dv=2N / Sv,單位為ml/ml

Dt=2N / St,單位為g/s

有時也用最小檢測量（MDA）或最小檢測濃度（MDC）作為檢測限。它們分別是產生兩倍雜訊信號時，進入檢測器的物質量（g）或濃度(mg/ml)。

不少高靈敏度檢測器，如FID、NPD、ECD等往往用檢出限表示檢測器的性能。

靈敏度和檢出限是兩個從不同角度表示檢測器對測定物質敏感程度的指標，前者越高、後者越低，說明檢測器性能越好。

從而可見，測量方法的檢出限於分析空白值、精密度、靈敏度密切相關。他是分析方法的一個綜合性的重要計量參數。

2檢出限的計算方法

1）在《全球環境監測系統水監測操作指南》中規定：給定置信水平為95%時，樣品測定值與零濃度樣品的測定值有顯著性差異即為檢出限（D.L）。這里的零濃度樣品是不含待測物質的樣品。

D.L = 4.6σ

式中：

σ— 空白平行測定（批內）標准偏差（重復測定20次以上）。

2)國際純粹和應用化學聯合會（IUPAC）對分析方法的檢出限D.L作如下規定。

在與分析實際樣品完全相同的條件下，做不加入被測組分的重復測定（即空白試驗），測定次數盡可能多（試驗次數至少為20次）。

算出空白觀測值的平均值Xb和標准偏差Sb。在一定置信概率下，被檢出的最小測量值XL以下式確定：

XL= Xb+ K』Sb

式中：

Xb—— 空白多次測得信號的平均值；

Sb—— 空白多次測得信息的標准偏差；

K』—— 根據一定置信水平確定的系數。

與XL-Xb(即K』 Sb)相應的濃度或量即為檢出限:

D.L = XL- Xb/ K = k』Sb/ K

式中：

k——方法的靈敏度（即校準曲線的斜率）。為了評估Xb和Sb，實驗次數必須至少20次。

1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取k』=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與k』=3相應的置信水平大約為90%。

此外，尚有將K』取為4、4.6、5及6的建議。

3）美國EPASW-846中規定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復測定7次)

4）在某些分光光度法中，以扣除空白值後的與0.01吸光度相對應的濃度值為檢出限。

5）氣相色譜分析的最小檢測量系指檢測器恰能產生與雜訊相區別的響應信號時所需進入色譜柱的物質的最小量，一般認為恰能辨別的響應信號，最小應為雜訊的兩倍。最小檢測濃度系指最小檢測量與進樣量（體積）之比。

6）某些離子選擇電極法規定：當校準曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值及為該離子選擇電極法的檢出限。

光度分析中，雖然吸光度最小測讀值為0.001，靈敏度也以A=0.001所相應的被測物濃度表示，但實際上慣常以A=0.05相應的被測物濃度作為有充分置信度的測定限，即最小能夠可靠測定的濃度。這是因為，在吸光度A接近零的情況下，測定值與真實值之比即相對誤差趨向無限大。

其次，由於比色皿的成對性不易做到完全匹配，尤其是使用已久的比色皿的成對性不易保證，因此吸光度很小的測量值在不同操作者、不同試驗室之間常會不一致，除非操作者很有經驗，十分注意比色皿成對性對測量的影響，並在每次測量時予以試驗校正。

測定限

測定限為定量范圍的兩端，分為測定上限與測定下限。

1測定下限

在測定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能准確地定量測定待測物質的最小濃度或量，稱為該方法的測定下限。

測定下限反映出分析方法能准確地定量測定低濃度水平待測物質的極限可能性。在沒有（或消除了）系統誤差的前提下，他受精密度要求的限制（精密度通常以相對標准偏差表示）。分析方法的精密度要求越高，測定下限高於檢出限越多。

美國EPASW-846中規定4MDL為定量下限（RQL），即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標准偏差約為10%。日本JIS規定定量下限為10倍的MDL。

2測定上限

在限定誤差能滿足預定要求的前提下，用特定方法能夠准確地定量測定待測物質的最大濃度或量，稱為該方法的測定上限。

對沒有（或消除了）系統誤差的特定分析方法的精密度要求不同，測定上限也將不同。

測定限對於定量分析，進一步計算才能得到與分析物有關的值（例如，各個結果的平均值）。因此，條件更加苛刻，所以測定限總是高於檢出限。

3檢測限有三種常用的表示方式

（1）儀器檢測下限

可檢測儀器的最小訊號，通常用信噪比來表示,當信號與雜訊之比大於等於3時，相當於信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。

（2）方法檢測下限

即某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。

（3）樣品檢測下限

即相對於空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其信號等於測量空白溶液的信號的標准偏差的3倍時的濃度。

檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關。只有當空白含量為零時，樣品檢測下限等於方法檢測下限。

然而，空白含量往往不等於零，空白大小受環境對樣品的污染，試劑純度、水質純度、容器的質地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由於空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實用中考慮，樣品檢測下限較為 有用和切合實際。

最佳測定范圍

1最佳測定范圍（也稱有效測定范圍）

指在限定誤差能滿足預定要求的前提下，特定方法的測定下限至測定上限之間的濃度范圍。在此范圍內能夠准確地定量測定待測物質的濃度或量。

最佳測定范圍應小於方法的適應范圍。對測量結果的精密度（通常以相對標准偏差表示）要求越高，相應的最佳測定范圍越小。

2方法的線性范圍

方法的線性范圍是指信號與樣品濃度呈線性的工作曲線直線部分。通常把相當於10倍空白的標准偏差相應的濃度定為方法的線性范圍的定量檢測下限。取工作曲線中高濃度時，彎曲處作為方法的線性范圍的定量檢測上限。

好的分析方法要有寬的線性范圍。有的分析方法線性范圍只有一個數量級，有的分析方法線性范圍可達5～6個數量級。同一分析方法可用常量、微量、痕量的物質分析。

校準曲線

校準曲線包括標准曲線和工作曲線，前者用標准溶液系列直接測量，沒有經過預處理過程，這對於樣品往往造成較大誤差；而後者所使用的標准溶液經過了與樣品相同的消解、凈化、測量等全過程。

凡應用校準曲線的分析方法，都是在樣品測得信號值後，從校準曲線上查得其含量（或濃度）。因此，繪制准確的校準曲線，直接影響到樣品分析結果的准確與否。此外，校準曲線也確定了方法的測定范圍。

1校準曲線的繪制

用一系列被測物標准溶液，按照標准方法規定的步驟，將被測物轉變為有色溶液。制備好的標准系列和空白，在方法選定的波長下，測定吸光度。已被測物濃度為橫坐標，吸光度為縱坐標，繪制校準曲線。

• 對標准系列，溶液以純溶劑為參比進行測量後，應先作空白校正，然後繪制標准曲線。

• 標准溶液一般可直接測定，但如試樣的預處理較復雜致使污染或損失不可忽略時，應和試樣同樣處理後再測定。

• 校準曲線的斜率常隨環境溫度、試劑批號和貯存時間等實驗條件的改變而變動。

因此，在測定試樣的同時，繪制校準曲線最為理想，否則應在測定試樣的同時，平行測定零濃度和中等濃度標准溶液各兩份，取均值相減後與原校準曲線上的相應點核對，其相對差值根據方法精密度不得大於5%～10%，否則應重新繪制校準曲線。

2校準曲線的檢驗

1）線性檢驗: 即檢驗校準曲線的精密度。對於以4～6個濃度單位所獲得的測量信號值繪制的校準曲線，分光光度法一般要求其相關系數 | r | ≥0.9990，否則應找出原因並加以糾正，重新繪制合格的校準曲線。

2）截距檢驗：即檢驗校準曲線的准確度，在線性檢驗合格的基礎上，對其進行線性回歸，得出回歸方程 y= a+bx ，然後將所得截距a與0作t檢驗，當取95%置信水平，經檢驗無顯著性差異時，a可做0處理，方程簡化為y= bx，移項得x=y/b。在線性范圍內，可代替查閱校準曲線，直接將樣品測量信號值經空白校正後，計算出試樣濃度。

當a與0有顯著性差異時，表示校準曲線的回歸方程計算結果准確度不高，應找出原因予以校正後，重新繪制校準曲線並經線性檢驗合格。在計算回歸方程，經截距檢驗合格後投入使用。

回歸方程如不經上述檢驗和處理，就直接投入使用，必將給測定結果引入差值相當於解決a的系統誤差。

3)斜率檢驗: 即檢驗分析方法的靈敏度，方法靈敏度是隨實驗條件的變化而改變的。在完全相同的分析條件下，僅由於操作中的隨機誤差導致的斜率變化不應超出一定的允許范圍，此范圍因分析方法的精度不同而異。例如，一般而言，分子吸收分光光度法要求其相對差值小於5%，而原子吸收分光光度法則要求其相對差值小於10%等等。

3校準曲線的控制

被測物轉變為有色溶液的反應稱為顯色反應或發色反應。顯色反應的介質PH條件、顯色劑用量、顯色反應的時間和溫度、為消除共存物干擾而加入的掩蔽劑、甚至加試劑的順序，都要按照方法步驟的要求執行。有時，標准系列雖然不像實際試樣那樣組成復雜，但仍要求與試樣進行同樣的處理步驟，以便控制校準曲線上的數據點的空白、回收率等因素。

建立校準曲線時，測量吸光度的參比有兩種選擇。

第一種方法用純溶劑作參比，兩個比色皿都放溶劑時，「樣品比色皿」 的吸光度測定值為比色皿成對性校正值，此後所有樣品吸光度測定值都須扣除此值，進行校正。然後，以純溶劑為參比，測定空白及標准系列的吸光度，繪制校準曲線。

第二種方法直接用空白為參比。當兩個比色皿都放空白時，測定比色皿成對性校正值，然後測定標准系列的吸光度，繪制校準曲線。兩種方法得到的兩條校準曲線互相平行，但第一種方法可測定空白的水平，後一種方法不能測定空白，理論上校準曲線通過原點。若空白為零，兩條校準曲線重合。無論用什麼作參比，實樣測定時應該使用與建立校準曲線相同的比色皿和同樣的參比。

比色皿的成對性校正對於使用已久的比色皿是必要的，尤其是測量吸光度很小的樣品時，校正可保證測量值的可靠性和重復性。

• 分析空白

一.分析空白的主要來源和控制措施

1環境對樣品的玷污

主要是由空氣中的污染氣體和沉降微粒引起的。普遍實驗室中每立方米空氣中含有數百微克的微粒。這些微粒含有多種元素，因而可引起多種和痕量元素的玷污。來自環境的玷污不但顯著，而且變動性大。應採取局部或整個實驗室的防塵與空氣凈化措施。

2試劑對樣品的玷污

試劑對樣品的玷污隨試劑用量而變化。對一定的試劑用量是恆定的。樣品處理過程中用量最多的是水和酸。

3器皿對樣品玷污

貯存、處理樣品所用的一切器皿，如燒杯、瓶子、過濾器、研缽等，由於其材質不夠純或者未洗滌干凈均可能玷污樣品。在痕量分析中應選用高純惰性材料製成的器皿， 並運用合適的清洗技術。聚四氟乙烯、透明的合成石英的高壓聚乙烯是比較合適的器皿材料。

4分析測試者對樣品的玷污

分析測試者用手觸摸樣品可引起多種元素的玷污；分析測試者的化妝品常常不知不覺地帶來許多元素的玷污；分析測試者使用的內服和外用葯物也常常玷污樣品；以及分析測試者若不注意個人衛生也會引起樣品的玷污。所以，分析測試者不但要具有正確熟練的操作技巧，而且要知道自身對樣品可能帶來什麼玷污，以採取消除玷污的必要措施。

二.分析空白的監測和空白值的扣除

空白值波動較大，往往在百分之幾十，甚至百分之幾百的水平上波動。因而痕量與超痕量分析中，扣除空白是比較困難的，也是不可靠的。可靠並行之有效的方法是把分析空白降至可以忽略不記的程度，同時在分析過程中作空白的平行測定，以監視分析過程。若分析空白明顯的超過正常值，則表明本次分析測定過程有嚴重的玷污，平行樣品的測定結果不可靠。

在分析空白主要來自試劑的玷污時，空白值比較穩定，若有必要，可以扣除空白值。為獲得可靠的空白值，應進行多次重復測定，算出空白值及其置信限：B ±t0.95(SB/n2)。

答案來自

『貳』 微生物限度的檢查法是什麼

在環境潔凈度10000級下的局部潔凈度100 級的單向流空氣區域內進行。檢驗全過程必須嚴格遵守無菌操作，防止再污染。單向流空氣區域、工作檯面及環境應定期按《醫葯工業潔凈室（區）懸浮粒子、浮游菌和沉降菌的測試方法》的現行國家標准進行潔凈度驗證。

供試品檢查時，如果使用了表面活性劑、中和劑或滅活劑，應證明其有效性及對微生物無毒性，除另有規定外，本檢查法中細菌及控制菌培養溫度為30℃～35℃；黴菌、酵母菌培養溫度為23℃～28℃。檢驗結果以1g、1ml、10g、10ml、10c㎡ 為單位報告，特殊品種可以最小包裝單位報告。

(2)檢測限度方法擴展閱讀：

注意事項：

過濾杯採用獨特的唇形密封設計，不使用夾鉗和O型圈，確保無泄漏操作和均勻的微生物回收率。

濾膜預先滅菌,即拆即用，可將主要污染物源降低,提高檢測可靠性。

直接抽濾排液,無需抽濾瓶，安裝使用方便，內置隔膜液泵，效率更高。

三聯過濾頭設計，可同時抽濾，提高工作效率，每個濾頭也可獨立控制，方便操作人員靈活使用。

『叄』 純化水微生物限度檢查方法

4.10微生物限度(薄膜過濾法)
4.10.1取相當於每張濾膜含1g或1ml供試品的供試液，加至適量的稀釋劑中，混勻，過濾。若供試品每1g或1ml所含的菌數較多時，可取適量稀釋劑的供試液1ml過濾。用pH7.0無菌氯化鈉－蛋白腖緩沖液或其他適宜的沖洗液沖洗濾膜，沖洗方法和沖洗量同「計數方法的驗證」。沖洗後取出濾膜，菌面朝上貼於營養瓊脂培養基或玫瑰紅鈉瓊脂培養基或酵母浸出粉腖葡萄糖瓊脂培養基平板上培養。每種培養基至少制備一張濾膜。
4.10.2陰性對照試驗
取試驗用的稀釋液1ml，照上述薄膜過濾法操作，作為陰性對照。陰性對照不得有菌生長。
4.10.3培養和計數
除另有規定外，細菌培養48小時，逐日點計菌落數，一般以48小時的菌落數報告；黴菌、酵母菌培養72小時，逐日點計菌落數，一般以72小時的菌落數報告；必要時，可適當延長培養時間至5～7天進行菌落計數並報告。菌落蔓延生長成片的平板不宜計數。點計菌落數後，計算各稀釋級供試液的平均菌落數，按菌數報告規則報告菌數。若同稀釋級兩個平板的菌落平均數不少於15，則兩個平板的菌落數不能相差1倍或以上。
4.10.4菌數報告原則
以相當於1g或1ml供試品的菌落數報告菌數；若濾膜上無菌落生長，以<1報告菌數（每張濾膜過濾1g或1ml供試品），或<1乘以稀釋倍數的值報告菌數。
這是我們公司的純化水微生物檢測部分內容，請參考。

『肆』 如何計算方法檢出限

方法檢出限的測定必須包括該分析方法中涉及的所有樣品測試步驟.

1. 根據下述原則之一,並結合經驗,估計檢出限:

(a) 相應於3-5倍儀器信/噪比的濃度值;

(b) 將分析物配在空白水中,用儀器重復測定值標准偏差的3倍所對應的濃度值;

(c) 標准曲線在低濃度端的折點(靈敏度明顯變化之處);

2. 空白水(試劑水)中應盡可能不含待測分析物,或其中的待測物、干擾物低於方法檢出限.

3.(a) 若用空白加標的方式作方法檢出限,將分析物加到空白水中配置一個標准濃度樣,該濃度值是估計的方法檢出限值的1-5倍.然後進行步驟4.

(b) 若方法檢出限在實際樣品基體中作出,則分析樣品,若測定值在估計檢出限的3-5倍范圍內,則進行步驟4;若測定值低於估計檢出限,則需要在樣品中加入已知量的待測物,使得待測物的濃度在估計檢出限的3-5倍范圍內;若測定值高於5倍的估計檢出限,則需重新選擇另一個具有同樣基體、但濃度水平較低的實際樣品.

4. 按照樣品分析的全部步驟,最少分析7次樣品,用所得的結果來計算方法檢出限,如果需要作空白測定來計算分析物的測定結果,則每個樣品均要作分別的空白測定,在相應的樣品測定值中減去平均空白測定值.

5. 計算平行測定的標准偏差

(4)檢測限度方法擴展閱讀

方法檢出限(Method Detection Limit, MDL)是指 在通過某一種分析方法的全部處理和測定過程之後(包括樣品制備和樣品測定) 被測定物質產生的信號能以99%置信度區別於空白樣品而被測定出來的最低濃度。方法的險出限與儀器的檢出限相似 ，但考慮了樣品分析前的所有制備過程的影響。方法檢出限的測定方法

方法的檢出限一般採用統計的方法確定。國內目前普遍使用的是根據空白實驗測定MDL在這里 主要介紹目前國外水質檢測實驗室常用的測定MDL的低濃度加標法。

美國EPA規定在測定 MDL時最少測定 七個重復的低濃度加標樣品，加標的濃度要適宜 一般為預期MDL值的1-5倍 並接照給定分析方法的全過程進行處理和測定。

『伍』 如何計算檢出限

計算檢出限：

• 首先做出儀器的檢測極限，然後在空白樣品中加入檢測極限濃度的檢測極限，檢測極限的檢測。極限3-5伴隨儀器。在連續三天內得到十個數據，計算出十個數據的標准差。將這個偏差乘以3.14就是該方法的檢測極限。

• 檢查驗證的限制，添加檢測的限制濃度空白樣本標記，回收率達到60%，偏差小於30%。

• 方法檢測限值，根據您的標准樣品處理方法再確定，根據濃度的相加（處理前）計算，有時根據多次測量的標准差計算。回收率取決於你自己的要求，一般是80%到120%，就像我們自己的70%一樣。60%不計，低濃度的偏差會較大，因為使用的材料不一定是絕對空白，要達到60%好，檢測極限是不同的定量極限，數量限制的回收率必須在80%~120%之間。

拓展內容：

檢出限：

1997年通過並於1998年發表在iupac分析計算機上的純粹與永興會（iupac）的國際聯盟指出：「檢測極限以濃度（或質量）來表示。指最小分析信號xl所得到的最小濃度cl（或質量ql），該信號xl可以通過特定的分析步驟被合理地檢測出來。表達式為：

（1）為空白平均數，空白指的是與待測樣品完全相同，但不含待測部件的樣品，為空白標准差。iupac規定，並且應該用足夠數量的測量來確定，比如20次。靈敏度是在低濃度范圍內對標定曲線的斜率進行分析。k對於根據要求的置信度選擇的常數，iupac推薦k=3作為檢測極限的計算標准，嚴格的單面高斯分布k=3對應的置信度為99.6%。由於兩者都是基於有限數量的測量，事實上，3sb通常相當於大約90%的信心。

（2）iupac離子選擇電極的檢測極限（8.3.2.1）可以從修正曲線得到，即測量的離子對應於曲線兩條直線的切線相交處的活性（或濃度）；iupac建議用snr 2:1（12.4.1）來確定質譜儀的檢測極限；iupac規定檢測極限也可以稱為最小可測量濃度或量（最小可測量值（2.4），最小可測量值（最小可測量值（18.4.3.7））等。

『陸』 儀器最低檢測限到底怎麼做

1、儀器的檢出限
儀器檢出限是指在規定的儀器條件下，當儀器處於穩定狀態時，儀器本身存在著的噪音引起測量讀數的漂移和波動。儀器檢出限的水平可對同類儀器之間的信噪比、檢測靈敏度、信號與噪音相區別的界限及分析方法進行測量所能達到的最低限度等方面提供依據。儀器的檢出限的物理含義為:在一定的置信范圍內能與儀器噪音相區別的最小檢測信號對應的待測物質的量。通過配製一定濃度的稀溶液12份進行測量，可用下式計算:

2、方法的檢出限
方法的檢出限是指一個給定的分析方法在特定條件下能以合理的置信水平檢出被測物的最小濃度，它是表徵分析方法的最主要的參數之一。分析方法隨機誤差的大小不但與儀器雜訊有關，而且決定了方法全過程所帶來的誤差總和，與樣品性質、預處理過程都有關系。為了能反映分析方法在整個分析處理過程的誤差，可採用已知結果的標准物質或樣品按照分析步驟進行測量，通過分析12份已知結果的實際樣品來計算方法的檢出限，計算公式如下:

3、樣品的檢出限
即單個樣品的檢出限，指相對於空白可檢測的樣品的最小含量。故只有當空白含量為零時，樣品檢出限才等於方法檢出限。一方面空白含量往往不為零，由於空白含量及其波動的存在，盡管方法檢出限通過外推法可能求得很低的濃度( 或含量)，實際上樣品檢出限可能要比方法檢出限大得多; 另一方面分析方法檢出限採用的是一系列標准物質，基體各不相同，因此只能是一類型樣品的平均檢出限，並非嚴格適用於單個樣品。對於單個樣品確定檢出限，必須固定樣品基體，即樣品檢出限的確定應使用樣品本身，採取標准加入法作出和方法檢出限類似的曲線，使用外推法進行計算。

正因為如此，在實際使用中，樣品檢出限要比方法檢出限要有意義得多。當被測樣品種類變化或測定所用試劑和環境變化時，即使使用同一分析方法，樣品檢出限可能相差很大。在痕量分析時，測量結果的可靠性在很大程度上取決於空白值的大小及空白值的波動情況。設 Wt代表被測樣品的總值，Wb 代表空白值，則被測組分的含量( Wt-Wb)與檢測可靠性的關系如表1所示( 表中」σ空白」為測定分析空白時的標准偏差)

『柒』 怎麼區別限度檢測和定量檢測

沒有明確的界限。隨著科學水平的進步，很多原來只能做限度測試的現在都要求做定量了。比如重金屬，雜質等等。
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限度檢查
限度檢查葯物在不影響療效和不發生毒性的原則下，可以允許有一定限童的雜質存在，這樣既可以保證葯物質量，又便於生產和貯藏。
限度檢查（Limit Test）亦稱限量檢查，葯物在不影響療效和不發生毒性的原則下，可以允許有一定限童的雜質存在，這樣既可以保證葯物質量，又便於生產和貯藏。雜質限量是 指葯物中所含雜質的最大容許量，通常用百分之幾或百萬分之幾來表示。進行限度檢查時，一般是將一定量與被檢雜質相同的純品或對照品配成標准溶液，與一定量 葯物供試溶液在相同條件下進行[1] 試驗，比較試驗結果，從而確定雜質含量是否超過規定。葯物中所含雜質按其來源可分為一般雜質和特殊雜質，一般雜質是指多數葯物在其生產或貯藏過程中容易引 人的雜質。如酸、鹼、水分、氯化物、硫酸鹽、鐵鹽、重金屬和砷鹽等，其檢查方法均在葯典附錄中規定。特殊雜質是指在該葯物的生產和貯藏過程中，根據其性質 在一定的生產方法和工藝條件下有可能引入的雜質，特殊雜質的檢查方法隨葯物品種不同而異。
定量檢測分析：quantitative analysis測定物質中有關組分的含量或檢測原料和成品的純度。要具體量值。
半定量檢測分析：semi-quantitative analysis 對某些分析准確度要求不高，但要求簡便快速而有一定數量級的結果的試樣，以及在定性分析中，除需要給出試樣中存在哪些元素外，還需要指出其大致含量，就採用半定量分析法。分析結果可以某元素是主要、大量、中量、少量、微量和痕量來報告。不用具體的量值。
重復性：repeatability在同一實驗室由同一分析人員、用同一分析儀器與方法，對同一量相繼進行兩次重復測定時，所得值按指定概率的容許差。
批間重復性：不同批次檢驗結果的重復性。
批內重復性：同一批次檢驗結果的重復性。

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這個問題我專門咨詢過審評中心，樓主問的屬於限度檢查。但在研發階段，因為你要研究雜質的變化趨勢，所以要有準確的數據，在做方法學的時候要按照定量檢測的要求去做。但是在獲得文號後，QC的驗證時是按照限度檢查去做驗證。
HPLC主成分自身對照法檢查有關物質比較適用於對微量雜質總量的控制，也可用於單個雜質的限度（一般不超過0.5%）控制。對於具有明確歸屬的已知雜質，建議採用雜質對照品法進行檢查。對於有毒有害雜質，更應採用雜質對照品法單獨測定，並制定嚴格的限度。

『捌』 檢測限的計算方法

國際純粹與應用化學聯合會(IUPAC)對檢出限（LOD）作如下規定：
「檢出限以濃度（或質量）表示，是指由特定的分析步驟能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL（或質量 qL）」。表達式：
# c_{L}（或q_{L}）=（X_{L}-ar{X}_{b})/m=KS_{b}/m # -----上述為源代碼
式中：
Xb平均：空白多次測得信號的平均值；
m：分析校準曲線在低濃度的斜率
Sb：空白多次測得信號的標准偏差；
K：根據一定置信水平確定的系數，為了評估xb和Sb，實驗次數必須至少20次。
1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取K=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與K=3相應的置信水平大約為90%。此外，尚有將K取為4、4．6、5及6的建議。

『玖』 方法檢出限和最低檢測限有什麼區別如何確定

檢出限是分析測試的重要指標，對於儀器性能的評價和方法的建立都是重要的基本參數之一。在日常檢測過程中，檢出限為具體量度指標，特別是在痕量分析中，痕量分析誤差與樣品含量相對於檢出限的倍數相關聯。檢出限的確定對於分析方法的選擇具有重要意義。對檢出限的忽視有可能導致檢測結果的不確定度增大。長期以來，各個領域的檢測人員針對檢出限概念、估算方法及在各個不同領域的應用都進行了大量的探討。像分析儀器在測定過程中存在與噪音相區別的小信號檢出問題，同時也存在著分析方法能可靠測定物質最低含量的界限問題，這兩個概念有著本質的不同。在實際應用中，儀器檢出限、方法檢出限及樣品檢出限及測定下限的概念經常混亂。

在檢驗檢疫行業中，進出口產品的種類繁多，涉及的領域也是多種多樣，對檢測人員的要求高，為保障進出口產品質量把關服務的有效進行，合理的使用儀器分析，科學有效的評估儀器分析，都要求在儀器的檢出限等各項指標上有個清晰完整的認識。為理清在檢出限概念和層次上的認識，本文將對檢出限的概念、分類和影響因素進行詳盡的探討。

『拾』 方法檢測限是什麼意思

方法檢測限是儀器對這種元素最低可以檢測到的數值，就像精確度為1mm的直尺，不可以准確的測量出多少um一樣。限值是標准要求的不可以超過的數值。報告結果是根據限值判斷的。

檢測限有幾種規定，簡述如下：

1、分光光度法中規定以扣除空白值後，吸光度為0.01相對應的濃度值為檢測限。

2、氣相色譜法中規定檢測器產生的響應信號為雜訊值三倍時的量為檢測限。最小檢測濃度是指最小檢測量與進樣量（體積）之比。

3、離子選擇性電極法規定某一方法的標准曲線的直線部分外延的延長線與通過空白電位且平行於濃度軸的直線相交時，其交點所對應的濃度值即為檢測限。

4、《全球環境監測系統水檢測操作指南》中規定，給定置信水平為95%時，樣品濃度的一次測定值與零濃度樣品的一次測定值有顯著性差異者，即為檢測限（L）。當空白測定次數n大於20時：L=4.6 σwb

式中：σwb——空白平行測定（批內）標准偏差。

檢測上限是指校準曲線直線部分的最高限點（彎曲點）相應的濃度值。

與檢出限不同。

5、又稱檢測極限。指某一分析方法在給定的概率保證(如置信水平95%)條件下，從樣品中測出待測物質能區別於零值的最小濃度或最小量。檢出限的規定隨測定方法的不同而不同。國際理論與應用化學聯合會(IUPAC)規定的檢出限 L=kSb/S，其中Sb為空白多次測定的標准偏差;S為測定方法的靈敏度;k 為根據一定置信水平確定的系數。

(10)檢測限度方法擴展閱讀

國際純粹與應用化學聯合會(IUPAC)對檢出限（LOD）作如下規定：

「檢出限以濃度（或質量）表示，是指由特定的分析步驟能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL（或質量 qL）」。表達式：

# c_{L}（或q_{L}）=（X_{L}-ar{X}_{b})/m=KS_{b}/m # -----上述為源代碼

式中：

Xb平均：空白多次測得信號的平均值；

m：分析校準曲線在低濃度的斜率

SD：空白多次測得信號的標准偏差；

K：根據一定置信水平確定的系數，為了評估xb和Sb，實驗次數必須至少20次。

1975年，IUPAC建議對光譜化學分析法取K=3。由於低濃度水平的測量誤差可能不遵從正態分布，且空白的測定次數有限，因而與K=3相應的置信水平大約為90%。此外，尚有將K取為4、4．6、5及6的建議。

參考資料來源：網路-檢測限