㈠ X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。
从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空位,也就是所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。
量子力学知识告诉我们,X 射线具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是着名的普朗克公式:E=hc/λ。显然,无论是测定能量,还是波长,都可以实现对相应元素的分析,其效果是完全一样的 原装进口电制冷探测器,可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素,精度高、测量时间短,它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域
特点:
1. 同时分析元素周期表中由钠(Na)到铀(U)之间的全部元素;
2.可检测固体﹑液体﹑粉末,不需要复杂的制样过程;
3.分析测量动态范围宽,
SiO2 ≤0.04% AL2O3 ≤0.04%
Fe2O3 ≤0.04% CaO ≤0.04%
MgO ≤0.04% SO3 ≤0.04%
K2O ≤0.04% Na2O ≤0.04%
TiO2 ≤0.01% Cl- ≤0.001%
|KH| ≤0.01 |SM| ≤0.1 |AM| ≤0.1
4.采用原装进口国际最先进的探测器,它具有高分辨率、高计数率的特点,使测量时间短,1分钟内可以得到满意的结果;
5.采用原装进口信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠;
6.X光管采用高压激发,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示;
7.探测器无需液氮保护,可以方便地应用到各个地方各个领域;
8.先进的真空自动控制及数字真空检测显示,自动化程度高;
9.具有样品自旋功能,降低样品表面不光洁及条纹的影响,可以应用于各类金属分析行业;
10.仪器装备有彩色液晶显示屏,可以实时监示仪器运行过程中的各个参数;
11.先进的仪器漂移自动修正,确保仪器长期稳定;
12.精确度高,稳定性好,故障率低;
13.采用多层屏蔽保护,辐射安全性可靠;
14. WINDOWS XP中文应用软件,独特先进的分析方法,完备强大的功能,操作简单, 使用方便,分析结果存入标准ACCESS数据库,便于与配料系统联网。 1.多功能置样装置
A.样品种类:固体﹑液体﹑粉末﹑镀层。
B.样品托盘:可自动旋转的测量装置。
C.样品室的环境:可选择空气﹑真空﹑氦气。由软件自动控制,无需人工操作。
2. 激发系统
激发系统采用独特的倒置直角光学结构设计。以50KV的低功率X射线发生器作为激发源,从X射线管产生的初级X射线通过滤光片后直接激发样品,通过选择激发条件更能获得最佳的分析结果。由高电压发生器,X射线发生器及数码控制显示系统等电子线路部分构成。
A.高电压发生器:电压与电流采用软件自动数码控制及显示。
X射线稳定度:0.2%/8小时。
电压范围:0V至50kV连续可调。
电流范围:0mA至1mA连续可调。
B. X射线发生器:采用韧致辐射型﹑低功率﹑自然冷却﹑高寿命的X光管,并根据实际应用需要选择靶材。对轻元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高激发效率。
3.X射线探测系统
国际领先的X射线探测系统,电制冷高分辨率高计数率探测器:薄窗对Fe 5.9keV的X射线计数率为 1000CPS时的分辨率为140eV。对轻元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高灵敏度与分辨率。
4. 高级原装能谱仪电子学系统
原装进口的放大器等信号处理器:适应高分辨率﹑高计数率,具有国际先进水平;自动调整放大倍数,2048道地址;
5.微机分析系统
A.高级名牌商用机;
B.19寸高分辨率彩色液晶显示器;
C. HP激光打印机。
6.软件
A.操作:WINDOS XP操作系统软件,,使用方便。
B.功能:能谱显示,分析元素设置,能量刻度,X光管高压、电流自动控制,样品盘自动旋转控制,自动真空控制,与其它计算机通讯,标准数据库结果存放;
C.分析方法:线性拟合,二次曲线,强度校正,含量校正,基本参数方法。
D.仪器的漂移自动修正:保证仪器的分析结果长期稳定。
7. 电源
220V 50HZ 交流电
8. 仪器的安全性:本仪器的放射性安全指标完全符合国家标准,在仪器外壳5cm处的剂量小于5μSv/h。
9. 本仪器对水泥生料含量的重复测量精度
S(Al)<0.04 S(Ca)<0.06
S(Si)<0.05 S(Fe)<0.03 钢铁行业:生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等。
水泥行业:生料、熟料、水泥、原材料等。
耐火材料:主要包括高硅质的粘土类、高铝质的矾土类、高镁质的镁砂类、高铬质类、各类刚玉等耐火材料。
有色行业:铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、锡矿、银矿、钼矿等。
电气电子产品行业:针对ROHS六种有害物质检测,主要包括:白家电,如电冰箱、洗衣机、微波炉、空调、吸尘器、热水器等;黑家电,如音频、视频产品、DVD、CD、电视接收机、IT产品、数码产品、通信产品等;电动工具,电动电子玩具、医疗电气设备等。
食品行业:食品中重金属浓度分析。
考古学:古物年代鉴定。
艺术品修复:颜料中金属成分分析。
㈡ 关于荧光分析的问题,急!!!!!!!!!
一般来说,化学分析法比荧光分析法更为准确。 但是荧光分析以其不需要复杂的制样过程,分析时间短,可实现多种元素同时无损检测等特点得到越来越广泛地应用。
提高荧光分析法准确度的方法如下:
(1)溶剂:溶剂能影响荧光效率,改变荧光强度,因此,在测定时必须用同一溶剂。
(2)浓度:在较浓的溶液中,荧光强度并不随溶液浓度呈正比增长。因此,必须找出与荧光强度呈线性的浓度范围。
(3)酸度:荧光光谱和荧光效率常与溶液的酸度有关,因此,须通过条件试验,确定最适宜的pH值范围。
(4)温度:荧光强度一般随温度降低而提高,因此,有些荧光仪的液槽配有低温装置,使荧光强度增大,以提高测定的灵敏度。在高级的荧光仪中,液槽四周有冷凝水并附有恒温装置,以便使溶液的温度在测定过程中尽可能保持恒定。
(5)时间:有些荧光化合物需要一定时间才能形成;有些荧光物质在激发光较长时间照射下会发生光分解。因此,过早或过晚测定荧光强度均会带来误差。必须通过条件试验确定最适宜的测定时间,使荧光强度达到量大且稳定。为了避免光分解所引起的误差,应在荧光测定的短时间内才打开光闸其余时间均应关闭。
(6)共存干扰物质 有些干扰物质能与荧光分子作用使荧光强度显着下降,这种现象称为荧光的猝灭(quenching);有些共存物质能产生荧光或产生散射光,也会影响荧光的正确测量。故应设法除去干扰物,并使用纯度较高的溶剂和试剂。
㈢ 荧光分析仪的操作规程
为了防止气瓶内的杂质进入分析仪, 建议在瓶压为 10 个气压时即更换新气。
4.1 设定高压为 20kv/10mA,然后关高压。
4.2 设定分光室介质为空气状态。
4.3.运行 TCM4400,进入 Detector Gas Support 按下 F2=Change gas bottle。
4.4 关闭钢瓶主阀门,取下减压阀。
4.5 更换新的 P10 气体瓶。
4.6 快速打开气瓶主阀并迅速关闭以冲洗接口。
4.7 安装减压阀,打开主阀门,检查二次压力为 0.7-0.8bar。(通常为 0.75bar)
4.8 用指令 F1=Start detector gas 启动 P10 气,设定分光室介质为真空状态。
4.9 开高压,正常分析。
4.10.检查 PHD,进入 DETECTOR CHECK,检查 PHD 时注意: 1) 2) 3) 4) 5) PSC 设定为 No 根据要求设定不同的晶体,角度,探测器,并 Load 样品 (C3 或 Cu)。 调节 KV,mA, Collimator, Mask 等,使得 Current(kcps): 20kcps 左右。 按 F1 键,开始测量,观察 Top poisition, 是否为 50±2。如不是,调节 Detector HV,使其为 50±2。 一般设定:LiF200+FL:用 Cu Kβ线,角度 40.45,样品 Cu。 GE+FL:用 PKα 线,角度 140.96,样品 C3。PET+FL,Al Kα,145.00,C3 样品。PX1+FL,Cu Lα,角度根据 2d 值计算,(λ=13.336)Cu 样品。LiF220+FL,CuKαβ,58.53, Cu 样品。 Collimator:准直器。Xtal:晶体。Angle:角度。Detector:探测器。Detector HV:探测器高压。Top position:峰值位置。Tube Kv mA: 高压设定。 一般而言,Xtal:1:LiF200, 2:GE, 3:PET,4:PX1, 8:LiF220. Collimator: 1:300, 2:150, 3:700. Detector: 1:FL (流气探测器) 3:Sc (闪烁探测器)。 装样及卸样品:按 F9(Genaral)键,然后 F1(load/unload)键。 6) 7) 8) Sc 探测器通常一年或两年可以检查一次。它只能和 LiF200 及 LiF220 联合使用。设定条 件和上面一样,将探测器设定为 3 号即可。 如果水流量变得很低,将使安全回路动作,从而不能打开高压,这时需更换水 过滤器。更换的周期取决于水的质量。建议每年更换一次。 建议每年更换一次。 建议每年更换一次
5.1 设定高压为 20kv/10mA,然后关高压。
5.2 关闭水冷机阀门。
5.3 取出水过滤器,清洗过滤器或更换新的过滤器,重新安装好。
5.4 打开水冷机阀门。检查漏水情况。
5.5 开高压,正常分析。 1)空气压缩机压力:5.0bar。排水每月一次并检查油位。 冷却水:流量,漏水? P10 气体:钢瓶压力是否小于正常压力(大于 10)?二次压力:0.7-0.8bar。 分光室真空度:小于 100Pa。 仪器内部温度:30 度。 6.6 冷却阳极(anode)的水流量应为 1~4L/min, 冷却阴极(cathode)的水流量应为 3~5L/min, P10 气体的流量应为 0.6~2L/H(1L/H 最好)。
2)定期检查真空泵油面(3 个月),真空泵每月要将气镇阀打开排除泵中水份, 每年更换真空泵油。
3) 根据分析样品情况,定期清洁分光室。
㈣ 荧光分析仪保养及使用
荧光光谱法具有灵敏度高、选择性强、用样量少、方法简便、工作曲线线形范围宽等优点,可以广泛应用于生命科学、医学、药学和药理学、有机和无机化学等领域。
荧光分光光度计的发展经历了手控式荧光分光光度计,自动记录式荧光分光光度计,计算机控制式荧光分光光度计。
光分光光度计三个阶段;荧光分光光度计还可分为单光束式荧光分光光度计和双光束式荧光分光光度计两大系列。其他的还有低温激光Sh p ol’skill荧光分光光度计,配有寿命和相分辩测定的荧光分光光度计等
荧光分光光度计操作步骤
1.开机:接通电源,打开主机开关,点燃(打开)光源后,根据说明书要求启动计算机。
2.检测前准备:参照仪器说明书,在20天内至少进行一次激发校准和发射校准,检测前仪器应预热。
3.工作条件的选择:环境温度应在20℃±5℃;相对湿度不大于70%;电源稳定,无磁场、电场干扰。根据样品的特性及荧光强度,选择合适的仪器工作条件(如狭缝、PM增益、响应时间等)。
(1)荧光激发光谱测定
设置仪器参数,扫描发射波长,找到maxλem,以此为发射波长,记录发射强度作为激发波长的函数,便得到激发光谱。
(2)荧光发射光谱测定
设置仪器参数,扫描激发波长,找到maxλex,以此为激发波长,记录发射强度与发射波长间的函数关系,便得到荧光发射光谱。
(3)差谱测定
设置仪器参数,选择合适的工作方式,测定背景溶液的发射光谱并储存起来,在一定的工作方式下,扫描样品溶液的发射波长,得到当时的光度值和储存的背景值之间的差示值,即差谱。
(4)峰面积积分
选择适当的工作方式,对样品溶液进行积分操作,即得到峰面积积分。
(5)荧光强度
选择合适的测量参数,设置λex、λem,采用定点读数或扫描方式,即可测得所选波长处的荧光强度。
(6)定量测定
配制一系列已知浓度的标准溶液,在一定的测定条件下,设置λex、λem,按照由稀至浓的次序,测定标准溶液的荧光强度,绘制荧光强度—浓度的工作曲线,不改变仪器参数测定未知溶液的荧光强度,由工作曲线即可求出未知溶液的浓度。
㈤ 原子荧光光谱仪的分析方法
物质吸收电磁辐射后受到激发,受激原子或分子以辐射去活化,再发射波长与激发辐射波长相同或不同的辐射。当激发光源停止辐照试样之后,再发射过程立即停止,这种再发射的光称为荧光;若激发光源停止辐照试样之后,再发射过程还延续一段时间,这种再发射的光称为磷光。荧光和磷光都是光致发光。
原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度,校正曲线的线性范围宽,能进行多元素同时测定。这些优点使得它在冶金、地质、石油、农业、生物医学、地球化学、材料科学、环境科学等各个领域内获得了相当广泛的应用。
㈥ 荧光光谱仪原理
荧光分析法的基本原理
处于基态的被测物质的分子在吸收适当能量,如光、化学、物理能后,其共价电子从成键分子轨道或非键分子轨道跃迁到反键分子轨道上去,形成分子激发态。分子激发态不稳定,将很快衰变到基态。在分子激发态返回到基态的同时常伴随着光子的辐射。这种现象就是发光现象。荧光则属于分子的光致发光现象。
二、荧光分光光度计的特点
用荧光分析法分析的仪器,称荧光分光光度计。
荧光分析法具有灵敏度高(比紫外、可见分光光度法高2~3个数量级),能提供激发光谱、发射光谱、发射强度、特征峰值等信息,在生物、环保、医学、药物、石油勘探等诸多领域都有广泛的应用。本仪器不仅能直接、间接地分析众多的有机化合物;另外,还可利用有机试剂间的反应,进行近70种无机元素的荧光分析。荧光的光谱特征是荧光光谱总是滞后于激发光谱即斯托克斯位移.
三、荧光强度与物质浓度的关系
1.对于某种荧光物质的稀溶液,在一定强度的激发光照射下,荧光物质的发射强度与入射光的强度以及检测器的放大倍数成正比,
由光源发出的光经滤光片后成为单色光,样品在此单色光的照射下,产生荧光,荧光由大孔径非球面镜的聚光及光栅的分光后,照射于光电倍增管上,光电倍增管把光信号转换为电信号,经放大处理,最后由计算机输出显示或进行图谱打印
㈦ 光谱分析仪的使用方法
不同公司生产的,不同型号的操作都不一样的吧。
便携的很好用的,基本上照一下就出来了。
科研用的大型光谱仪有专门的售后指导的,使用起来也很复杂。
基本上就是光源出光,照到样品上,或反射或透射接收后同过软件分析得出结果。
主要有红外、拉曼、荧光三种光谱仪,每一种的操作也都不一样。
㈧ 荧光定量PCR分析仪校准方法有哪些
两个方面:
一是每个孔的温度是否和标定温度符合
二是每个孔的PMT是否维持稳定,有厂家提供的校准盘
㈨ X荧光光谱仪EDX1800如何操作
1.0目的:为确保EDX1800 仪器正确操作,延长仪器使用寿命而制定。
2.0范围:本公司使用在EDX1800 检测皆属之.
3.0权责:
仪器室: 负责仪器的操作、日常保养与维护以及样品的储存。
IQC:按照《高风险物料检测频率一览表》进行送检。
4.0定义:
4.1各元素:各元素的名称及代号见“元素周期表”
5.0作业内容
5.1操作流程
5.1.1打开EDX1800仪器的红色“ON/OFF”按钮开关,同时红色指示灯会亮起,再打开计算机;
5.1.2打开“RoHS”检测软件,点击“预热”进行30分钟预热功能(注:冬天、夏天必须预热30分。);
5.1.3点击菜单“初始化”进行初始化,并将“银校验胶片”放入到检测箱中的“测试端口”进行校正动作;
5.1.4初始化OK后,收回“银校验胶片”放入工具箱中进行保存;
5.1.5将要测试的产品放进检测箱中的“测试端口”中间,盖上检测箱盖,然后在“工作区”上选择要测试产品的类型,再点击菜单“开始”进行测试(此时检测箱上的绿色指示灯会亮起),同时弹出一个对话框填写样品的信息(如:测试样品名称、测试次数等);
5.1.6测试完毕后,“历史记录”区会显示所测试样品的信息(包括样品名称、有害物质信息等);
5.1.7然后打开菜单“分析报告”后,点击“保存”该测试报告及保存路径,同时可打印此测试报告;
5.2操作注意事项:
5.2.1此仪器应由专人负责,任何人其他人不得搬动、操作此仪器,否则后果自负;
5.2.2此仪器为精密仪器,测量中要避免受到干扰:
如:电机、振动、电焊、电磁、高压等;
5.2.3仪器应有交流净化稳压电源,保证电源稳定;
5.2.4测量室需配有空调,防止温差过大(温度控制15℃-30℃);
5.2.5开机后,仪器需要预热15-30分钟后,才可以进行正常的测试工作;
5.2.6放样品时要注意清洁,不可使样品尘粒掉到测试窗口内,操作设备还要轻拿轻放;
5.2.7探测器窗口为铍金属,厚度在微米级,受外力极易破坏。探测器铍窗损坏,有空气进入,可直接导致探测器报废。因此,不得用任何物品接触探测器窗口。
5.2.8测量不同种类的样品,应先用不同的测试类,并根据提示使用相应的准直器,才能得到有效的测试效果;
5.2.9关机顺序:退出测试程序---关计算机主机---关测试仪主机---关稳压电源。
5.3EDX系统设置:
5.3.1计算机软件系统禁止人为设置。
5.3.2XRF标准可参考锦承《HSF技术标准》进行设置,但需考虑到30%的误差值。(因考虑到人为操作、样品分解程度的因素),具体见附件“XRF标准”,同时《HSF技术标准》有更新时,XRF标准将同步更新设置。
5.4保养与维护:
5.4.1日常保养
5.4.1.1器室每天17:00之前依据以下内容进行日常点检,并记录在《EDX日常保养点检表》上。
1)用无尘布对测试箱内、箱外进行擦拭,勿用强酸强大碱进行洗擦;
2)不定时的清理测试箱里的杂物;
3)检查电源是否有松动、破损现象;
4)检查测试箱的测试端口的膜是否有破损;
5)测试箱内的端口盖子是否随意打开(此盖禁止打开);
6)检查常用备用零件是否完整,无遗失,如:银校验片、样品杯、端口备用膜等。
5.4.2定期维护
每年8月初由仪器制造商或有请资质的机构对仪器进行年度保养与维护,并保存记录。
5.5样品的测试与保存:
5.5.1样品测试
5.5.1.1仪器室人员接到样品,需对样品进行分解成均一材质,对每一个分解后的小样件进行测试,并保留分解后的样品及测试报告。
5.5.2样品与测试报告的管理
5.5.2.1每个被测试的样品需用塑料袋或自封袋储存,里面包括所分解的每一种小样件及测试报告,样品标签。(标签含样品名称、测试日期、测试人、来料日期/批号,有效期等)
5.5.2.2样品及测试报告的保存期限为半年,超过将予以销毁。(如客户有要求,依客户要求执行。)
6.0参考文件
6.1《进料检验管理程序》
6.2《高风险物料检测频率一览表》
7.0记录
7.1《EDX日常保养点检表》
附件:XRF标准设置:
序号 有害物质 锦承标准 误差值 XRF标准
3 铅Pb 20ppm 30% ND
2 汞Hg 20ppm 30% ND
4 镉Cd 20ppm 30% ND
1 铬Cr ND 30% ND
5 溴Br 900ppm 30% 630ppm
6 氯Cl 900ppm 30% 630ppm
7 砷As ND 30% ND
备注:当 标准有更新时,QS人员将及时修订XRF标准,仪器管理人员同时更新设置系统XRF标准。
㈩ 荧光分析系统基本操作
在石油勘探开发过程中,地质岩心的荧光发光现象是初步判断油气显示层段的最简便、最直观实用的重要标准之一。岩心是可反复使用的宝贵实物资料,经过多次观察和取样分析后,其表面的油气会逐渐逸出、挥发,或岩心本身逐渐被腐蚀、风化甚至破坏,无法再现取心时的荧光情形。因此,岩心刚出筒时的物性、含油性特征原态永久性保存显得尤为重要。目前大部分油田进行地质岩心的荧光图像采集时,采用简易的荧光照相技术,得到的荧光图像所反映的岩心荧光特性的误差较大。荧光录井常用的常规荧光检测仪也往往只能依靠肉眼观察,根据个人经验对岩心样品的荧光效应进行描述、判断和分析,分析结果带有较大的主观性。因此无论是岩心库荧光照相或是常规的岩心荧光录井,均存在主观误差较大、设备简陋、紫外线伤害等缺点。
荧光检测技术在近年内发展迅速,为弥补常规荧光检测仪器的不足,国内外研制了各式各样的定量荧光分析仪及应用荧光显微技术,从微观角度对含油荧光进行定量分析。四川大学研制的宏观岩心荧光图像信息系统则是从宏观角度整体上检测岩心荧光,及时获取岩心出筒时的物性、含油性特征原态,在储集层含油评价中显示了独特的优势,并在对荧光图像资料进行含油级别和含油性质进行分析评价时,为荧光检测及其定性与定量分析提供了一种新的技术手段,方便了对岩心荧光图像和其他资料进行综合管理和应用,可指导油气田的进一步钻探与开发。
含油岩石在紫外光的照射下会激发出荧光,根据荧光的面积、荧光强度来初步确定岩石的含油性,分析内容包括含油面积、无油面积、含油面积率、无油面积率、荧光强度和评级结果。常规荧光分析中将含油级别粗分为五级:油砂、含油、油浸、油斑、油迹。细分为7级:含油饱满油砂、不饱满油砂、含油砂岩、油浸砂岩、油斑砂岩、油迹砂岩、不含油砂岩。荧光分析系统能够通过前面介绍的图像处理算法自动分析荧光扫描图像中含油面积、荧光强度等参数,并根据参数进行自动评价。
岩心荧光分析系统能及时采集清晰的岩心荧光图像,真实直观地反映了岩心含油的实际情况,以图像文件的形式保存,建立了岩心荧光综合图文库和管理应用系统,为永久性保存岩心的含油气现象和特征提供了有效的工具,为今后的勘探开发研究、分析和应用含油气岩心资料提供了完整、清晰的数字化图像。通过对荧光图像参数特征的研究,利用荧光图像饱和度与丰度曲线,为荧光检测提供了定性和定量分析;综合应用岩心荧光图像资料和其他资料进行含油气评价,可直接提高地质录井油气综合评价的信息化、定量化程度。
1.读图
用鼠标单击文件菜单后,先选择读图方式,即“网络读图”或者“本地读图”。如果是“网络读图”,点击“读图像”,图文浏览库中的岩心图像和图像信息进行动态导入,分析结果能上传至服务器;如果是“本地读图”,在点击“读图像”命令后会弹出文件选择框,在文件选择框里选择所要读入的图像,如图5-68所示。
图5-68 打开文件
2.图像预处理
图像预处理的作用是提高图像质量,为提出准确图像目标打下基础。
3.设置处理框
图像处理框是用来设置图像分析区域的,如图5-69所示。
图5-69 设置处理框
4.荧光图像目标提取
如图5-70所示。
图5-70 目标提取
5.图像目标修改增强
可用特征提取或者手工修改,使提取目标更加准确。
6.成分分析
在分割图像后则可对分割出来的目标进行沥青质分类操作。沥青质分类有粗分和细分两种。点击菜单中的“粗分”则对图像目标进行粗分,同样点击“细分”进行进一步细分。如果认为“粗分”和“细分”的效果还不够理想,则可启用人工交互分类,如图5-71所示。
图5-71 成分分析
图5-72 数据浏览
7.参数计算
选中菜单中的参数计算,系统将自动统计出分析数据。
8.数据浏览
选中“查看”菜单中的“数据浏览”命令,弹出“数据浏览”对话框,从中便可浏览和修改分析数据。操作如图5-72所示。
9.报表预览和数据保存
选中菜单中的数据浏览项,弹出“数据浏览”对话框,便可浏览和修改分析数据。选择报表预览中“另存为”中的不同保存格式,即可将报表数据保存在分析员指定的位置,如图5-73所示。
单块岩心荧光图像分析
图5-73 荧光报表