光耦過零檢測方法

⑴ 過零檢測是什麼意思

過零檢測指的是在交流系統中，當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。可作開關電路或者頻率檢測。漏電開關的漏電檢測是檢測零序電流。大致有兩種方案，一是變壓器隔離，二是光耦隔離的。哪種方案更經濟，而且過零點精確。

光耦隔離工作原理簡介：

D5、D6電壓取自變壓器次級A、B兩點(~14v)，經過D5、D6全波整流，形成脈動直流波形，電阻分壓後，再經過電容濾波，濾去高頻成分，形成C點電壓波形。

當C點電壓大於0.7V時，三極體Q2導通，在三極體集電極形成低電平；當C點電壓低於0.7V時，三極體截止，三極體集電極通過上拉電阻R4，形成高電平。

這樣通過三極體的反復導通、截止，在晶元過零檢測埠D點形成100Hz脈沖波形，晶元通過判斷，檢測電壓的零點。

(1)光耦過零檢測方法擴展閱讀：

光耦隔離優點：

1、占空比任意可調。

2、隔離耐壓高。

3、抗干擾能力強，目前帶靜電屏蔽的光耦很容易買到，強弱電之間的隔離性能很好，另外，光耦屬電流型器件，對電壓性雜訊能有效地抑制。

4、傳輸信號范圍從DC到數MHz,其中線性光耦尤其適用於信號反饋。

光耦隔離缺點：

1、在全橋拓撲中，開關器件為4個，需3—4個光耦，而每一光耦都需獨立電源供電，增加了電路的復雜性，成本增加，可靠性降低。

2、因光耦傳輸延遲較大，為保證開關器件開通與關斷的精確性，必須使各路的結構參數一致，使各路的延遲一致，而這往往難以做得很好。

3、光耦的開關速度較慢，對驅動脈沖的前後沿產生較大延時，影響控制精度。

⑵ 什麼是過零點檢測法急求

指的是在交流系統中，當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。可作開關電路或者頻率檢測。漏電開關的漏電檢測是檢測零序電流。大致有兩種方案，一是變壓器隔離，二是光耦隔離的。哪種方案更經濟，而且過零點精確？
指的是在交流系統中，當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。可作開關電路或者頻率檢測。漏電開關的漏電檢測是檢測零序電流。大致有兩種方案，一是變壓器隔離，二是光耦隔離的。哪種方案更經濟，而且過零點精確？
變壓器隔離：我覺得這個還可以，可是變壓器是不是太大了。
電路圖
光耦隔離：

1. 工作原理簡介
D5、D6電壓取自變壓器次級A、B兩點(~14v)，經過D5、D6全波整流，形成脈動直流波形，電阻分壓後，再經過電容濾波，濾去高頻成分，形成C點電壓波形；當C點電壓大於0.7V時，三極體Q2導通，在三極體集電極形成低電平；當C點電壓低於0.7V時，三極體截止，三極體集電極通過上拉電阻R4，形成高電平。這樣通過三極體的反復導通、截止，在晶元過零檢測埠D點形成100Hz脈沖波形，晶元通過判斷，檢測電壓的零點。

⑶ 光耦合器的檢測方法

光電耦合器它屬於比較新型的一種電子產品，它廣泛應用於計算機、音視頻，它又被叫做光耦合器或光耦，在各種控制電路中。由於光電耦合器內部的發光二極體和光敏三極體只是把電路前後級的電壓或電流變化，轉化為光的變化，二者之間沒有電氣連接，因此能有效隔斷電路間的電位聯系，實現電路之間的可靠隔離。
1.光電耦合器的檢測判斷光耦的好壞，可在路測量其內部.二極體和三極體的正反向電阻來確定。更可靠的檢測方法是以下三種。1. 比較法 拆下懷疑有問題的光耦，用萬用表測量其內部二極體;三極體的正反向電阻值，用其與好的光耦對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明光耦已損壞。
2. 數宇萬用表檢測法 下面以PCIll光耦檢測為例來說明數字萬用表檢測的方法，檢測時將光耦內接二極體的+端①腳和—端②腳分別插入數字萬用表的hfE的c，e插孔內，此時數字萬用表應置於NPN擋;然後將光耦內接光電三極體c極⑤腳接指針式萬用表的黑表筆，e極④腳接紅表筆，並將指針式萬用表撥在Rxlk擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉角度——實際上是光電流的變化，來判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大，說明光耦的光電轉換效率越高，即傳輸比越高，反之越低;若表針不動，則說明光耦已損壞。
3.光電效應判斷法 仍以ICIll光電耦合器的檢測為例，將萬用表置寸：Rxlk電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端④、⑤腳，然後用一節1.5V的電池與一隻50-100歐的電阻串接後，電池的正極端接PC111的①腳，負極端碰接②腳，或者正極端碰接①腳，負極端接②腳，這時觀察接在輸出端萬用表的指針偏轉情況。如果指針擺動，說明光耦是好的，如果不擺動，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動偏轉角度越大，表明光電轉換靈敏度越高。

⑷ 用數字萬用表如何測光耦的好壞

用數字萬用表如何測光耦的好壞方法有兩個：

1、斷開輸入端電源，用R×1k檔測1、2腳電阻，正向電阻為幾百歐，反向電阻幾十千歐，3、4腳間電阻應為無限大。1、2腳與3、4腳間任意一組，阻值為無限大，輸入端接通電源後，3、4腳的電阻很小。調節RP，3、4間腳電阻發生變化，說明該器件是好的。註：不能用R×10k檔，否則導致發射管擊穿。

2、簡易測試電路，當接通電源後，LED不發光，按下SB，LED會發光，調節RP、LED的發光強度會發生變化，說明被測光電耦合器是好的。

(4)光耦過零檢測方法擴展閱讀：

數字萬用表相對來說，屬於比較簡單的測量儀器，從數字萬用表的電壓、電阻、電流、二極體、三極體、MOS場效應管的測量等測量方法開始。

使用萬用表測量注意事項：

1、使用前，應認真閱讀有關的使用說明書，熟悉電源開關、量程開關、插孔、特殊插口的作用。

2、將ON/OFF開關置於ON位置，檢查9V電池，如果電池電壓不足，將顯示在顯示器上，這時則需更換電池。如果顯示器沒有顯示，則按以下步驟操作。

3、測試筆插孔旁邊的符號，表示輸入電壓或電流不應超過指示值，這是為了保護內部線路免受損傷。

4、測試之前。功能開關應置於你所需要的量程。

⑸ 請問什麼是過零檢測光耦呢 作用是什麼呢

過零檢測光藕就是在交流電網(指的是我們所用的國家電網)過零檢測光藕.因為許多以前的設計總認為這一項很重要(在電網過零時干擾最小),會影響模擬測量的結果,但現行的AD速度,以及AD的50Hz60Hz弱化這種過零檢測電路其使用意義.
另外:過零檢測光藕的技術要求並不高,一般的光藕最可以勝任,如TLP521,4N25.其它的快速光藕如6N135,6N137用在這有點浪費.
這種光耦是在直流電時導通的.它的前級結構是二極體。

⑹ 什麼是過零檢測光耦，有什麼作用，這種光耦必須是交流才能導通么，

過零檢測光藕就是在交流電網(指的是我們所用的國家電網)過零檢測光藕.因為許多以前的設計總認為這一項很重要(在電網過零時干擾最小),會影響模擬測量的結果,但現行的AD速度,以及AD的50Hz60Hz弱化這種過零檢測電路其使用意義.
另外:過零檢測光藕的技術要求並不高,一般的光藕最可以勝任,如TLP521,4N25.其它的快速光藕如6N135,6N137用在這有點浪費.
這種光耦是在直流電時導通的.它的前級結構是二極體

⑺ 怎樣判斷光耦的好壞

方法：用數字萬用表的PN結測量端，紅表筆「電池+極」接光耦的「1」端，黑表筆「電池-極」接光耦的「2」端（即使光耦的發光二極體正向導通），用另一電表測量「3」「4」端電阻，斷開或接通輸入端（發光二極體端），輸出端電阻應有大幅度變化，說明改光耦是好的。另發光二極體端萬用表可用電池串限流電阻代替。

在彩電，顯示器等開關電源維修中如果光耦損壞，一定要用線性光耦代換。

常用的4腳線性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六腳線性光耦有：TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。

常用的4N25 4N264N354N36是不適合用於開關電源中的，因為這4種光耦均屬於非線性光耦。

(7)光耦過零檢測方法擴展閱讀：

光電耦合器分為兩種：一種為非線性光耦，另一種為線性光耦。

非線性光耦的電流傳輸特性曲線是非線性的，這類光耦適合於開關信號的傳輸，不適合於傳輸模擬量。常用的4N系列光耦屬於非線性光耦。

線性光耦的電流傳輸特性曲線接近直線，並且小信號時性能較好，能以線性特性進行隔離控制。常用的線性光耦是PC817A—C系列。

開關電源中常用的光耦是線性光耦。如果使用非線性光耦，有可能使振盪波形變壞，嚴重時出現寄生振盪，使數千赫的振盪頻率被數十到數百赫的低頻振盪依次為號調制。由此產生的後果是對彩電，彩顯，VCD，DCD等等，將在圖像畫面上產生干擾。

同時電源帶負載能力下降。在彩電，顯示器等開關電源維修中如果光耦損壞，一定要用線性光耦代換。常用的4腳線性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六腳線性光耦有：LP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不適合用於開關電源中的，因為這4種光耦均屬於非線性光耦。

由於光電耦合器的品種和類型非常多，在光電子DATA手冊中，其型號超過上千種，通常可以按以下方法進行分類：

⑴按光路徑分，可分為外光路光電耦合器（又稱光電斷續檢測器）和內光路光電耦合器。外光路光電耦合器又分為透過型和反射型光電耦合器。

⑵按輸出形式分，可分為：

a、光敏器件輸出型，其中包括光敏二極體輸出型，光敏三極體輸出型，光電池輸出型，光可控硅輸出型等。

b、NPN三極體輸出型，其中包括交流輸入型，直流輸入型，互補輸出型等。

c、達林頓三極體輸出型，其中包括交流輸入型，直流輸入型。

d、邏輯門電路輸出型，其中包括門電路輸出型，施密特觸發輸出型，三態門電路輸出型等。

e、低導通輸出型（輸出低電平毫伏數量級）。

f、光開關輸出型（導通電阻小於10Ω）。

g、功率輸出型（IGBT/MOSFET等輸出）。

⑶按封裝形式分，可分為同軸型，雙列直插型，TO封裝型，扁平封裝型，貼片封裝型，以及光纖傳輸型等。

⑷按傳輸信號分，可分為數字型光電耦合器（OC門輸出型，圖騰柱輸出型及三態門電路輸出型等）和線性光電耦合器（可分為低漂移型，高線性型，寬頻型，單電源型，雙電源型等）。

⑸按速度分，可分為低速光電耦合器（光敏三極體、光電池等輸出型）和高速光電耦合器（光敏二極體帶信號處理電路或者光敏集成電路輸出型）。

⑹按通道分，可分為單通道，雙通道和多通道光電耦合器。

⑺按隔離特性分，可分為普通隔離光電耦合器（一般光學膠灌封低於5000V，空封低於2000V）和高壓隔離光電耦合器（可分為10kV，20kV，30kV等）。

⑻按工作電壓分，可分為低電源電壓型光電耦合器（一般5～15V）和高電源電壓型光電耦合器（一般大於30V）。

光耦合器的主要優點是單向傳輸信號，輸入端與輸出端完全實現了電氣隔離，抗干擾能力強，使用壽命長，傳輸效率高。它廣泛用於電平轉換、信號隔離、級間隔離、開關電路、遠距離信號傳輸、脈沖放大、固態繼電器(SSR）、儀器儀表、通信設備及微機介面中。

由於光電耦合器的輸入阻抗與一般干擾源的阻抗相比較小，因此分壓在光電耦合器的輸入端的干擾電壓較小，它所能提供的電流並不大，不易使半導體二極體發光；由於光電耦合器的外殼是密封的，它不受外部光的影響；光電耦合器的隔離電阻很大（約1012Ω）、隔離電容很小（約幾個pF）所以能阻止電路性耦合產生的電磁干擾。

線性方式工作的光電耦合器是在光電耦合器的輸入端加控制電壓，在輸出端會成比例地產生一個用於進一步控制下一級的電路的電壓。

線性光電耦合器由發光二極體和光敏三極體組成，當發光二極體接通而發光，光敏三級管導通，光電耦合器是電流驅動型，需要足夠大的電流才能使發光二極體導通，如果輸入信號太小，發光二極體不會導通，其輸出信號將失真。在開關電源，尤其是數字開關電源中。

採用一隻光敏三極體的光耦合器，CTR的范圍大多為20%～300%（如4N35），而PC817則為80%～160%，達林頓型光耦合器（如4N30）可達100%～5000%。這表明欲獲得同樣的輸出電流，後者只需較小的輸入電流。因此，CTR參數與晶體管的hFE有某種相似之處。線性光耦合器與普通光耦合器典型的CTR-IF特性曲線。

普通光耦合器的CTR-IF特性曲線呈非線性，在IF較小時的非線性失真尤為嚴重，因此它不適合傳輸模擬信號。線性光耦合器的CTR-IF特性曲線具有良好的線性度，特別是在傳輸小信號時，其交流電流傳輸比（ΔCTR=ΔIC/ΔIF)很接近於直流電流傳輸比CTR值。因此，它適合傳輸模擬電壓或電流信號，能使輸出與輸入之間呈線性關系。這是其重要特性。

以下為光電耦合器的常用參數：

1 反向電流IR：在被測管兩端加規定反向工作電壓VR時，二極體中流過的電流。

2 反向擊穿電壓VBR：被測管通過的反向電流IR為規定值時，在兩極間所產生的電壓降。

3 正向壓降VF：二極體通過的正向電流為規定值時，正負極之間所產生的電壓降。

4 正向電流IF：在被測管兩端加一定的正向電壓時二極體中流過的電流。結電容CJ：在規定偏壓下，被測管兩端的電容值。

5 反向擊穿電壓V(BR)CEO：發光二極體開路，集電極電流IC為規定值，集電極與發射集間的電壓降。

6 輸出飽和壓降VCE(sat)：發光二極體工作電流IF和集電極電流IC為規定值時，並保持IC/IF≤CTRmin時（CTRmin在被測管技術條件中規定）集電極與發射極之間的電壓降。

7 反向截止電流ICEO：發光二極體開路，集電極至發射極間的電壓為規定值時，流過集電極的電流為反向截止電流。

8 電流傳輸比CTR：輸出管的工作電壓為規定值時，輸出電流和發光二極體正向電流之比為電流傳輸比CTR。

9 脈沖上升時間tr,下降時間tf：光耦合器在規定工作條件下，發光二極體輸入規定電流IFP的脈沖波，輸出端管則輸出相應的脈沖波，從輸出脈沖前沿幅度的10%到90%，所需時間為脈沖上升時間tr。從輸出脈沖後沿幅度的90%到10%，所需時間為脈沖下降時間tf。

10 傳輸延遲時間tPHL,tPLH：從輸入脈沖前沿幅度的50%到輸出脈沖電平下降到1.5V時所需時間為傳輸延遲時間tPHL。從輸入脈沖後沿幅度的50%到輸出脈沖電平上升到1.5V時所需時間為傳輸延遲時間tPLH。

11 入出間隔離電容CIO：光耦合器件輸入端和輸出端之間的電容值。

12 入出間隔離電阻RIO：半導體光耦合器輸入端和輸出端之間的絕緣電阻值。

13 入出間隔離電壓VIO：光耦合器輸入端和輸出端之間絕緣耐壓值.

⑻ 光電耦合器的檢測方法

光耦合器的檢測方法

判斷光耦的好壞，可測量其內部二極體和三極體的正反向電阻來確定。更可靠的檢測方法是以下三種：

1、比較法

拆下懷疑有問題的光耦，用萬用表測量其內部二極體；三極體的正反向電阻值，用其與好的光耦對應腳的測量值進行比較，若阻值相差較大，則說明光耦已損壞。

2、數字萬用表檢測法

下面以PCIll光耦檢測為例來說明數字萬用表檢測的方法，檢測時將光耦內接二極體的+端①腳和—端②腳分別插入數字萬用表的hfE的c，e插孔內，此時數字萬用表應置於NPN擋；然後將光耦內接光電三極體c極⑤腳接指針式萬用表的黑表筆，e極④腳接紅表筆，並將指針式萬用表撥在Rxlk擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉角度——實際上是光電流的變化，來判斷光耦的情況。指針向右偏轉角度越大，說明光耦的光電轉換效率越高，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動，則說明光耦已損壞。

3、光電效應判斷法

仍以ICIll光電耦合器的檢測為例，將萬用表置於Rxlk電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端④、⑤腳，然後用一節1.5V的電池與一隻50~100歐的電阻串接後，電池的正極端接PC111的①腳，負極端碰接②腳，或者正極端碰接①腳，負極端接②腳，這時觀察接在輸出端萬用表的指針偏轉情況。如果指針擺動，說明光耦是好的，如果不擺動，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動偏轉角度越大，表明光電轉換靈敏度越高。

⑼ 怎麼檢測光耦的好壞

用兩個萬用表就可以測了。
光電耦合器由發光二極體和受光三極體封裝組成。如光電耦合器4N25，採用DIP－6封裝，共六個引腳，①、②腳分別為陽、陰極，③腳為空腳，④、⑤、⑥腳分別為三極體的e、c、b極。
以往用萬用表測光耦時，只分別檢測判斷發光二極體和受光三極體的好壞，對光耦的傳輸性能未進行判斷。這里以光耦4N25為例，介紹一種測量光耦傳輸特性的方法。
1．
判斷發光二極體好壞與極性：用萬用表R×1k擋測量二極體的正、負向電阻，正向電阻一般為幾千歐到幾十千歐，反向電阻一般應為∞。測得電阻小的那次，紅筆接的是二極體的負極。
2．
判斷受光三極體的好壞與放大倍數：將萬用表開關從電阻擋撥至三極體hFE擋，使用NPN型插座，將E孔連接④腳發射極，C孔連接⑤腳集電極，B孔連接⑥腳基極，顯示值即為三極體的電流放大倍數。一般通用型光耦hFE值為一百至幾百，若顯示值為零或溢出為∞，則表明三極體短路或開路，已損壞。
3．
光耦傳輸特性的測量：測試具體接線見下圖，將數字萬用表開關撥至二極體擋位，黑筆接發射極，紅筆接集電極，⑥腳基極懸空。這時，表內基準電壓2．8V經表內二極體擋的測量電路，加到三極體的c、e結之間。但由於輸入二極體端無光電信號而不導通，液晶顯示器顯示溢出符號。當輸入端②腳插入E孔，①腳插入C孔的NPN插座時，表內基準電源2．8V經表內三極體hFE擋的測量電路，使發光二極體發光，受光三極體因光照而導通，顯示值由溢出符號瞬間變到188的示值。當斷開①腳陽極與C孔的插接時，顯示值瞬間從188示值又回到溢出符號。不同的光耦，傳輸特性與效率也不相同，可選擇示值稍小、顯示值穩定不跳動的光耦應用。
由於表內多使用9V疊層電池，故給輸入端二極體加電的時間不能過長，以免降低電池的使用壽命及測量精度，可採用斷續接觸法測量。
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⑽ 過零檢測光耦，其過零檢測的作用是什麼為什麼在晶元內部有個過零電路

過零檢測指的是在交流系統中，當波形從正半周向負半周轉換時，經過零位時，系統作出的檢測。有過零檢測功能的光耦是零電壓開通。零電壓觸發可控硅開通可以降低可控硅的開通損耗。它可以讓晶閘管的損耗降到最低，從而可以延長晶閘管壽命。