cp浮點計算方法

『壹』 CP和CPK怎麼計算，區別在哪裡

只有先得出CA，CP才可以算出CPK，計算公式：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)。

依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值

依據公式：Cp =T/6 ， 計算出製程精密度：Cp值

依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值

CP和CPK的區別：

CP: 不考慮偏移(均值是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cp反映的是能夠達到的過程能力的最高水平, 除非進行剔除普通原因的系統措施.

CPK: 考慮偏移(均值不是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cpk反映實際的過程能力, 提高的途徑是減少偏移, 往往是採取一些剔除特殊原因的局部措施即可提高Cpk值.

(1)cp浮點計算方法擴展閱讀：

我們常常提到的過程能力指數Cp、Cpk是指過程的短期能力。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）Cp=T/（6*σ)

所以σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

1. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；

『貳』 CP,CPK,PPK,CMK的定義及計算公式是什麼

Cp=(55-45)/(6*5.08/2.3259)=0.7631Ca=[50.12-(55+45)/2]/[(55-45)/2]=0.024Cpk=Cp*(1-Ca)=0.7631*(1-0.024)=0.7448Ca： 製程准確度。 Cp： 製程精密度A＋＋級 Cpk≥2。0 特優 可考慮成本的降低A＋ 級 2。0 ＞ Cpk ≥ 1。67 優 應當保持之A 級 1。67 ＞ Cpk ≥ 1。33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級B 級 1。33 ＞ Cpk ≥ 1。0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升C 級 1。0 ＞ Cpk ≥ 0。67 差 製程不良較多，必須提升其能力D 級 0。67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程
它們之間計算，可以直接用SPC軟體來自動計算就行了，無需人工去計，具體的可以去太友科技官方網站上下載視頻教程，
他們網站上也有個SPC軟體免費下載試用版本的，可以下載下來試用下咯： http://gztaiyou.com/jian/SPCMonitor.asp

『叄』 如何計算CP,CPK

一、cp指數的計算：

Cp=T/（6*σ），其中T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。

二、cpk指數的計算：

Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

(3)cp浮點計算方法擴展閱讀：

cp和cpk指數的意義：

工序能力是表示生產過程客觀存在著分散的一個參數。但是這個參數能否滿足產品的技術要求，僅從它本身還難以看出。因此，還需要另一個參數來反映工序能力滿足產品技術要求的程度。這個參數就叫做工序能力指數，表示技術要求和工序能力的比值。

過程能力指數的值越大，表明產品的離散程度相對於技術標準的公差范圍越小，因而過程能力就越高；過程能力指數的值越小，表明產品的離散程度相對公差范圍越大，因而過程能力就越低。

因此，可以從過程能力指數的數值大小來判斷能力的高低。從經濟和質量兩方面的要求來看，過程能力指數值並非越大越好，而應在一個適當的范圍內取值。

製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。CPK值越大表示生產工序過程保持穩定的能力越充足。

『肆』 如何利用CP CPK計算不良率是否有詳細的公式

ppk,cpk,mk三者的區別及計算
首先我們先說明Pp、Cp兩者的定義及公式
Cp（Capability
Indies
of
Process）：穩定過程的能力指數，定義為容差寬度除以過程能力，不考慮過程有無偏移，一般表達式為：
Pp（Performance
Indies
of
Process）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能，一般表達式為：
（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序）
CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限，一般表達式為：
CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限，一般表達式為：
2、現在我們來闡述Cpk、Ppk的含義
Cpk：這是考慮到過程中心的能力（修正）指數，定義為CPU與CPL的最小值。它等於過程均值與最近的規范界限之間的差除以過程總分布寬度的一半。即：
Ppk：這是考慮到過程中心的性能（修正）指數，定義為：
或
的最小值。即：
其實，公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|
M-μ|
3、公式中標准差的不同含義
①在Cp、Cpk中，計算的是穩定過程的能力，穩定過程中過程變差僅由普通原因引起，公式中的標准差可以通過控制圖中的樣本平均極差估計得出。
因此，Cp、Cpk一般與控制圖一起使用，首先利用控制圖判斷過程是否受控，如果過程不受控，要採取措施改善過程，使過程處於受控狀態。確保過程受控後，再計算Cp、Cpk。
②由於普通和特殊兩種原因所造成的變差，可以用樣本標准差S來估計，過程性能指數的計算使用該標准差。

『伍』 Cp與Cpk的計算公式

你們的是對的，但是...現在還用什麼ca之類的玩什麼啊，用軟體直接算不就好了。
ca=(x-u)/(t/2)
，
cp
=t/6σ
，cpk=cp(1-|ca|)
；所以用你們客戶的公式，當x小於u，即過程均值小於名義規格的時候會有問題。

『陸』 統計學中CP的計算公式中CP=T/6S 中T如何求得

你好！
T
英文是tolerance,公差的意思.T=上公差-下公差
僅代表個人觀點，不喜勿噴，謝謝。

『柒』 歐姆龍CP系列哪些有浮點運算

CP1H，CP1L，CP1E

『捌』 cp&cpk 如何計算

還有，這個同人是啥意思啊，據說CP是同人配對。總看又說什麼同人文，同人某某的，求解釋。感激 這里指的CP 是指配對 就像之前小風說的當然我們說的

『玖』 CPL,CPU,CP,CPK的計算

計算公式及結果如下：
Cpu=(USL-Average)/3σ
=(0.253-0.251)/(3*0.002)=0.33

Cpl=(Average-LSL)/3σ
=(0.251-0.247)/(3*0.002)=0.67

Cp=(USL-LSL)/6σ
=(0.253-0.247)/(6*0.002)
=0.5

Cpk=Min(Cpu,Cpl)
=Min(0.67,0.33)=0.33

CPK：Complex Process Capability index 的縮寫，製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。 是現代企業用於表示製成能力的指標。