『壹』 三坐標測量方法
坐標測量機的測量方法通常可分為接觸式測量、非接觸式測量以及接觸式和非接觸式測量。
其中，接觸式測量常用於測量機械加工產品、壓制產品和金屬薄膜。為了分析工件的加工數據或為逆向工程提供工件的原始信息，往往需要用三坐標測量機掃描被測工件表面的數據點。本文以function-PRO三坐標測量機為例，介紹了三坐標測量機的幾種常用掃描方法和操作步驟。
三坐標測量機的掃描操作是利用PCDMIS程序採集被測物體表面特定區域的數據點，這些數據點可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的一條曲線，也可以是距離邊緣一定距離的一個圓周等。掃描類型與測量模式、探頭類型、是否有CAD文件等有關。控制屏幕上的「掃描」選項由狀態按鈕(手動/DCC)決定。如果使用DCC方法進行測量，並且有CAD文件，可用的掃描方法有開放線性、封閉線性、補丁、截面和周長掃描。如果使用DCC方法進行測量，但只有線框CAD文件可用，則可選擇開放線性、封閉線性和面片掃描方法。如果採用手動測量模式，只能使用基本的「手動TTP掃描」方法；如果採用手動測量並使用剛性探頭，可用選項有「固定增量」、「可變增量」、「時間增量」和「體軸掃描」