接觸電阻的測量方法

A. 接觸電阻 怎麼測試

接觸電阻一般測試儀，用恆流源方式，小開路電壓，測量網路介面和電話介面的金手指，用專用的高穩定度毫歐姆表系列都是可以的，不容易讓金氧化，而且是四端開爾文迴路測量保證准確度。

B. 怎樣測量兩根導線連接點的接觸電阻

這個要藉助專用工具-（微歐表）才可以測量。

C. 電阻的測量方法

乍一看到把電阻測量作為一章可能感到奇怪。畢竟每一位電子工程系的學生第一周內就會學到確定阻值的最簡單的歐姆定律:

V = I ×R (公式6.1)

盡管這一公式非常簡潔，但精確測量電阻實際是極富挑戰性的參數測量。因為公式過於簡單化，忽略了電阻會產生熱量，繼而又反過來影響電阻值本身這一事實。因此應將上述公式更准確地重寫為:

V = I×R (T) (公式6.2)

公式中電阻(R) 是溫度(T) 的函數。通常把這種被測電阻實際值隨電流產生熱量而變化的現象稱為焦耳自熱效應。

另一項需考慮的因素是電阻測量所用電纜的電阻。在測量非常小的電阻時，必須使用開爾文測量技術。我們已在前面幾章中介紹了開爾文測量基礎知識，您可以把這些技術直接用於電阻測量。但須指出的是焦耳自熱效應和電纜電阻的組合使電阻測量更具挑戰性。為減少焦耳自熱，您需要減小流入被測電阻的電流(降低功率)。但為區別小電流流過電纜的壓降和流過被測電 阻的壓降，將要求測量設備具有非常精確的電壓測量能力。基於上述原因， 電阻測量往往要求1 mV 以上的電壓測量分辨能力。

D. 如何測量接觸頭的接觸電阻

通常，測試接點電阻的目的是確定接觸點氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測器件的電阻。即使在極短的時間內器件兩端的電壓過高，也會破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內。
在測試時流過接點的電流過大也能使接觸區域發生細微的物理變化。電流產生的熱量能夠使接觸點及其周圍區域變軟或熔解。結果，接點面積增大並導致其電阻降低。
為了避免這類問題，通常採用干電路的方法來進行接點電阻測試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結點的物理和電學狀態發生變化電平的電路。這就意味著其開路電壓為20mV或更低，短路電流為100mA或更低。
由於所使用的測試電流很低，所以就需要非常靈敏的電壓表來測量這種通常在微伏范圍的電壓降。由於其它的測試方法可能會引起接點發生物理或電學的變化，所以對器件的干電路測量應當在進行其它的電學測試之前進行。

E. 繼電器觸頭接觸電阻該如何測量

一樓，電弧不能清潔觸電吧，誰教給你的？不是害人么？電弧高溫會導致接觸面出現坑洞，減小接觸面積，高溫加速觸電氧化，造成接觸不良，影響控制設備，如果電弧能清潔觸點，為什麼還要給繼電器加消弧電路？

繼電器出頭接觸電阻正常時極小，與傳導線電阻差不多，用微歐表測量並不準，只能作為參考，如果長時間大電流使用，造成觸電高溫，電阻加大，最終閉合後呈絕緣狀態，這個時候就要用兆歐表來測了，不過這個時候觸點已經不行了，只能更換新的，應急的話拆開用水砂紙打磨坑窪氧化兩個觸點，變得光亮後可臨時使用或者改用在小電流設備上。

最後：電弧是絕對有害的，所以才會有真空繼電器和鎢和鉬為觸點的高溫金屬，用來減小電弧和抵抗電弧損壞。如果你用一個大電流驅動一個觸點容易產生電弧的繼電器，結果是觸點產生電弧高溫融合，會造成你斷電後無法分開觸點，造成事故。

F. 什麼是接觸電阻連接器接觸阻抗測試方法是什麼

接觸電阻就是電流流過閉合的接觸點對時的電阻.

測試方法

接觸電阻的測量一般都採用開爾文四線法原理。 開爾文四線法連接有兩個要求：對於每個測試點都 有一條激勵線F和一條檢測線S，二者嚴格分開，各 自構成獨立迴路；同時要求S線必須接到一個有極 高輸入阻抗的測試迴路上，使流過檢測線S的電流 極小，近似為零.

見圖1。圖1中r表示引線電阻和探 針與測試點的接觸電阻之和。由於流過測試迴路的 電流為零，在 r3，r4上的壓降也為零，而激勵電流 I在r1，r2上的壓降不影響I在被測電阻上的壓降，所 以電壓表測出的電壓降即為Rt兩端的電壓值。從而 准確測量出R t的阻值。測試結果和r無關,有效地減 小了測量誤差。

接觸電阻測量原理:由於四線法測量接觸電阻採用10mA/100mA的 恆流源，故測量接觸電阻的實質是測量微動接觸電 壓。

使用Chroma毫歐姆表測量接觸電阻的原理見 圖2：

接觸電阻測量原理:圖2所測電阻即為接點接觸時的電阻，其中的恆 流源用來為接觸區域提供電流I，電壓表用來測量 P+和P-之間的電壓降V，由於電壓表內阻相對於所 測接觸電阻來說相當大(大到使電壓表上分得的電流 可以忽略不計)，可以認為電壓表所測電壓V即為P+ 和P-之間的電壓值，從而電壓V與電流I的比值即為 電阻值。但由於接觸區域非常小，按圖中的接線得 到的是P+和P-之間的電阻值。為了使測得的數據盡 量接近真實的接觸電阻值，應使得P+和P-接線端盡 量靠近接觸區域 ，避免在測量結果中計入測試引線 和體積電阻產生的電壓降 。

G. 接地電阻的測量方法是什麼

接地電阻測量方法有：在線法、二線法、三線法和四線法四種。在線法測量是在不斷開接地線或接地引下線的情況下，把接地電阻測試儀的鉗口張開後夾住接地線或接地引下線，即可測出接地迴路的電阻。二線法是利用一個輔助電極測量接地電阻，測出的電阻是輔助電極的接地裝置電阻之和，當輔助電極的電阻遠小於被測接地電阻時，測出的值可被視為接地電阻。三線法是利用兩個輔助電極——電壓輔助電極和電流輔助電極測量接地電阻。四線法測量是在三線法測量的基礎上。再增加一個輔助電極，消除電流和電壓線間互感，消除測量時連接導線電阻的附加誤差的測量方法。注意這個輔助電極距離地網不能過近修改。

H. 接觸電阻的測量

除用毫歐計外,也可用伏-安計法，安培-電位計法。
在連接微弱信號電路中，設定的測試數條件對接觸電阻檢測結果有一定影響。因為接觸表面會附有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產生膜層電阻。由於膜層為不良導體，隨膜層厚度增加，接觸電阻會迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會機械擊穿，或在高電壓、大電流下會發生電擊穿。但對某些小型連接器設計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為mA和mV級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。
在GB5095「電子設備用機電元件基本試驗規程及測量方法」中的接觸電阻測試方法之一，「接觸電阻-毫伏法」 規定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試迴路交流或直流的開路峰值電壓應不大於20mV，交流或直流的測試中電流應不大於100mA。
在GJB1217「電連接器試驗方法」中規定有「低電平接觸電阻」 和「接觸電阻」兩種試驗方法。其中低電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述GB5095中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上不改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導電氧化薄膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。所加開路試驗電壓不超過20mV，試驗電流應限制在100mA。在這一電平下的性能足以表現在低電平電激勵下的接觸界面的性能。而接觸電阻試驗方法目的是測量通過規定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規之間的電阻。通常採用這一試驗方法施加的規定電流要比前一種試驗方法大得多。如軍標GJB101「小圓形快速分離耐環境電連接器總規范」中規定；測量時電流為1A，接觸對串聯後，測量每對接觸對的電壓降，取其平均值換算成接觸電阻值。

I. 接地電阻如何測量

兩線法：須有已知接地良好的地，如PEN等，所測量的結果是被測地和已知地的電阻和。假如已知地遠小於被測地的電阻，測量結果可以作為被測地的結果，適用於樓群稠密或水泥地等密封無法打地樁的地區，E+ES接到被測地，H+S接到已知地。

在低接地電阻測量和消除測量電纜電阻對測量結果的影響時替換三線法。測量時E和ES必須單獨直接連接到被測地。該方法是所有接地電阻測量方法中正確度最高的。

(9)接觸電阻的測量方法擴展閱讀：

注意事項：

使用接地電阻測試儀的時候注意電流極插入土壤的位置，應使接地棒處於零電位的狀態。

測試宜選擇土壤電阻率大的時候進行，如初冬或夏季乾燥季節時進行。下雨之後和土壤吸收水分太多的時候，以及氣候、溫度、壓力等急劇變化時不能測量。

測量保護接地電阻時，一定要斷開電氣設備與電源連接點。在測量小於1Ω的接地電阻時，應分別用專用導線連在接地體上，C2在外側P2在內側。

J. 簡述用萬用表測電阻的基本操作方法

萬用表測電阻的基本操作方法:

1、首先連接表筆，萬用表的選擇可以是指針也可以是數顯的，紅色表筆插入VΩ檔，黑色表筆插在COM端，確保萬用表正常。

(10)接觸電阻的測量方法擴展閱讀

萬用表的基本原理：

是利用一隻靈敏的磁電式直流電流表（微安表）做表頭。當微小電流通過表頭，就會有電流指示。但表頭不能通過大電流，所以，必須在表頭上並聯與串聯一些電阻進行分流或降壓，從而測出電路中的電流、電壓和電阻。

萬用表使用注意事項：

1、在使用萬用表之前，應先進行「機械調零」，即在沒有被測電量時 ，使萬用表指針指在零電壓或零電流的位置上。

2、在使用萬用表過程中，不能用手去接觸表筆的金屬部分 ，這樣一方面可以保證測量的准確，另一方面也可以保證人身安全。

3、在測量某一電量時，不能在測量的同時換檔，尤其是在測量高電壓或大電流時 ，更應注意。否則，會使萬用表毀壞。如需換檔，應先斷開表筆，換檔後再去測量。

4、萬用表在使用時，必須水平放置，以免造成誤差。同時， 還要注意到避免外界磁場對萬用表的影響。

5、萬用表使用完畢，應將轉換開關置於交流電壓的最大檔。如果長期不使用 ，還應將萬用表內部的電池取出來，以免電池腐蝕表內其它器件。