光耦好坏的检测方法

㈠ 光耦的好坏怎样可以判断出来呢

高手是这样测量的：光耦的测量必须简单适用才行，我多年来都是用此方法，从不失手
。把万用表打在10K档，量1，2脚时反向量，电阻是无穷大，别急！对光耦哈一口气，如指针摆动不稳，杀无赦
，3，4脚如法炮制，简单否？哈气的原理大家对光耦哈气测量原理搞不清，可以理解
，大家不知大家注意了没有，光耦硬坏(击穿，开路）的用表很容易量出来，但对于“爬弧”（我的术语），非哈气莫属。大家对按键漏电不陌生，请大家仔细看一下坏按键，在它们的脚之间都有一些黑亮的闪状纹，我称它为“爬弧”，三极管，光耦都有这种情况。往往用烙铁一焊，这些零件一个个都是好得很，哈气的湿度让它们显原型
（10K档）。对于三极管NPN型为例，黑表笔接C极，红笔接E，此时是反偏，哈一口气，长长的，表针如不稳摆动，表示此管不能用。不知道大家试过没有

㈡ 817c光耦怎么测好坏

方法：用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端（即使光耦的发光二极管正向导通），用另一电表测量“3”“4”端电阻，断开或接通输入端（发光二极管端），输出端电阻应有大幅度变化，说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。

㈢ 用数字万用表如何测光耦的好坏

用数字万用表如何测光耦的好坏方法有两个：

1、断开输入端电源，用R×1k档测1、2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，3、4脚间电阻应为无限大。1、2脚与3、4脚间任意一组，阻值为无限大，输入端接通电源后，3、4脚的电阻很小。调节RP，3、4间脚电阻发生变化，说明该器件是好的。注：不能用R×10k档，否则导致发射管击穿。

2、简易测试电路，当接通电源后，LED不发光，按下SB，LED会发光，调节RP、LED的发光强度会发生变化，说明被测光电耦合器是好的。

(3)光耦好坏的检测方法扩展阅读：

数字万用表相对来说，属于比较简单的测量仪器，从数字万用表的电压、电阻、电流、二极管、三极管、MOS场效应管的测量等测量方法开始。

使用万用表测量注意事项：

1、使用前，应认真阅读有关的使用说明书，熟悉电源开关、量程开关、插孔、特殊插口的作用。

2、将ON/OFF开关置于ON位置，检查9V电池，如果电池电压不足，将显示在显示器上，这时则需更换电池。如果显示器没有显示，则按以下步骤操作。

3、测试笔插孔旁边的符号，表示输入电压或电流不应超过指示值，这是为了保护内部线路免受损伤。

4、测试之前。功能开关应置于你所需要的量程。

㈣ 光耦PC817用万用表如何测量

操作规程

1、使用前应熟悉万用表各项功能，根据被测量的对象，正确选用档位、量程及表笔插孔。

2、在对被测数据大小不明时，应先将量程开关，置于最大值，而后由大量程往小量程档处切换，使仪表指针指示在满刻度的1/2以上处即可。

3、测量电阻时，在选择了适当倍率档后，将两表笔相碰使指针指在零位，如指针偏离零位，应调节“调零”旋钮，使指针归零，以保证测量结果准确。如不能调零或数显表发出低电压报警，应及时检查。

4、在测量某电路电阻时，必须切断被测电路的电源，不得带电测量。

5、使用万用表进行测量时，要注意人身和仪表设备的安全，测试中不得用手触摸表笔的金属部份，不允许带电切换档位开关，以确保测量准确，避免发生触电和烧毁仪表等事故。

(4)光耦好坏的检测方法扩展阅读

产品检测

1、用万用表判断好坏，断开输入端电源，用R×1k档测1、2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，3、4脚间电阻应为无限大。1、2脚与3、4脚间任意一组，阻值为无限大，输入端接通电源后，3、4脚的电阻很小。调节RP，3、4间脚电阻发生变化，说明该器件是好的。注：不能用R×10k档，否则导致发射管击穿。

2、简易测试电路，当接通电源后，LED不发光，按下SB，LED会发光，调节RP、LED的发光强度会发生变化，说明被测光电耦合器是好的。

参考资料来源：网络-万用表

参考资料来源：网络-光耦

㈤ 怎么检测光电耦合器的好坏

光耦有四脚的，六脚的，八脚的。在发现产品故障的时候，我们如何判别光耦的好坏呢？下面我对此作了一下实验。其中电路如下：

6脚光耦和和68脚光耦类似，只是去掉和8脚光耦光耦1脚和8脚。使用6脚光耦代替8脚光耦时把6脚光耦1脚当2脚用，其他脚类推加一。

㈥ 怎么检测光耦的好坏

用两个万用表就可以测了。
光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25，采用DIP－6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
1．
判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
2．
判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管hFE挡，使用NPN型插座，将E孔连接④脚发射极，C孔连接⑤脚集电极，B孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。
3．
光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基准电压2．8V经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的c、e结之间。但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端②脚插入E孔，①脚插入C孔的NPN插座时，表内基准电源2．8V经表内三极管hFE挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到188的示值。当断开①脚阳极与C孔的插接时，显示值瞬间从188示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。
由于表内多使用9V叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。
[
]
查看原帖>>

㈦ 如何判断光耦的好坏

1. 用一节5V电池和一只四脚的万用表；

2. 分别测量两边的阻值；

3. 一边正反两面都无穷大,这边接电源初极,另一边正测有6-8K阻值，则说明光耦是好的。

㈧ 光电耦合器的检测方法

光耦合器的检测方法

判断光耦的好坏，可测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种：

1、比较法

拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管；三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法

下面以PCIll光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测时将光耦内接二极管的+端①脚和—端②脚分别插入数字万用表的hfE的c，e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管c极⑤脚接指针式万用表的黑表笔，e极④脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Rxlk挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法

仍以ICIll光电耦合器的检测为例，将万用表置于Rxlk电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端④、⑤脚，然后用一节1.5V的电池与一只50~100欧的电阻串接后，电池的正极端接PC111的①脚，负极端碰接②脚，或者正极端碰接①脚，负极端接②脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。

㈨ 请问光耦怎么用万用表测量好坏谢谢

光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25，采用DIP－6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
1． 判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
2． 判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管hFE挡，使用NPN型插座，将E孔连接④脚发射极，C孔连接⑤脚集电极，B孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。
3． 光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基准电压2．8V经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的c、e结之间。但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端②脚插入E孔，①脚插入C孔的NPN插座时，表内基准电源2．8V经表内三极管hFE挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到188的示值。当断开①脚阳极与C孔的插接时，显示值瞬间从188示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。
由于表内多使用9V叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。