高鐵精密測量的方法pdf

㈠ 精密測量技術資料

什麼是CMM？三坐標測量機（CMM）的發展概況及其基本組成2007-03-26 14:20三坐標測量機（Coordinate Measuring Machining，簡稱CMM）是20世紀60年代發展起來的一種新型高效的精密測量儀器。它的出現，一方面是由於自動機床、數控機床高效率加工以及越來越多復雜形狀零件加工需要有快速可靠的測量設備與之配套；另一方面是由於電子技術、計算機技術、數字控制技術以及精密加工技術的發展為三坐標測量機的產生提供了技術基礎。1960年，英國FERRANTI公司研製成功世界上第一台三坐標測量機，到20世紀60年代末，已有近十個國家的三十多家公司在生產CMM，不過這一時期的CMM尚處於初級階段。進入20世紀80年代後，以ZEISS、LEITZ、DEA、LK、三豐、SIP、FERRANTI、MOORE等為代表的眾多公司不斷推出新產品，使得CMM的發展速度加快。現代CMM不僅能在計算機控制下完成各種復雜測量，而且可以通過與數控機床交換信息，實現對加工的控制，並且還可以根據測量數據，實現反求工程。目前，CMM已廣泛用於機械製造業、汽車工業、電子工業、航空航天工業和國防工業等各部門，成為現代工業檢測和質量控制不可缺少的萬能測量設備。

圖 三坐標測量機的組成

1—工作台 2—移動橋架 3—中央滑架 4—Z軸 5—測頭 6—電子系統

現代精密測量技術現狀及發展

現代精密測量技術是一門集光學、電子、感測器、圖像、製造及計算機技術為一體的綜合性交叉學科，涉及廣泛的學科領域，它的發展需要眾多相關學科的支持。在現代工業製造技術和科學研究中，測量儀器具有精密化、集成化、智能化的發展趨勢。三坐標測量機（CMM）是適應上述發展趨勢的典型代表，它幾乎可以對生產中的所有三維復...
現代精密測量技術一門集光學、電子、感測器、圖像、製造及計算機技術為一體的綜合性交叉學科，涉及廣泛的學科領域，它的發展需要眾多相關學科的支持。在現代工業製造技術和科學研究中，測量儀器具有精密化、集成化、智能化的發展趨勢。三坐標測量機（CMM）是適應上述發展趨勢的典型代表，它幾乎可以對生產中的所有三維復雜零件尺寸、形狀和相互位置進行高准確度測量。發展高速坐標測量機是現代工業生產的要求。同時，作為下世紀的重點發展目標，各在微/納米測量技術領域開展了廣泛的應用研究。

1 坐標測量機的最新發展

三坐標測量機作為幾何尺寸數字化檢測設備在機械製造領域得到推廣使用，而科學研究和機械製造行業的技術進步又對CMM提出更多新的要求，作為測量機的製造者就需要不斷將新技術應用於自己的產品以滿足生產實際的需要。

1.1 誤差自補償技術

德國Carl Zeiss公司最近開發的CNC小型坐標測量機採用熱不靈敏陶瓷技術（Thermally insensitive ceramic technology），使坐標測量機的測量精度在17.8～25.6℃范圍不受溫度變化的影響。國內自行開發的數控測量機軟體系統PMIS包括多項系統誤差補償、系統數識別和優化技術。

1.2 豐富的軟體技術

Carl Zeiss公司開發的坐標測量機軟體STRATA-UX，其測量數據可以從CMM直接傳送到隨機配備的統計軟體中去，對測量系統給出的檢驗數據進行實時分析與管理，根據要求對其進行評估。依據此資料庫，可自動生成各種統計報表，包括X-BAR&R及X_BAR&S圖表、頻率直方圖、運行圖、目標圖等。美國Brown & Sharp公司的Chameleon CMM測量系統所配支持軟體可提供包括齒輪、板材、凸輪及凸輪軸共計50多個測量模塊。日本Mitutoyo公司研製開發了一種圖形顯示及繪圖程序，用於輔助操作者進行實際值與要求測量值之間的比較，具有多種輸出方式。

1.3 系統集成應用技術

各坐標測量機製造商獨立開發的不同軟體系統往往互不相容，也因知識產權的問題，些工程軟體是封閉的。系統集成技術主要解決不同軟體包之間的通信協議和軟體翻譯介面問題。利用系統集成技術可以把CAD、CAM及CAT以在線工作方式集成在一起，形成數學實物仿形製造系統，大大縮短了模具製造及產品仿製生產周期。

1.4 非接觸測量

基於三角測量原理的非接觸激光光學探頭應用於CMM上代替接觸式探頭。通過探頭的掃描可以准確獲得表面粗糙度信息，進行表面輪廓的三維立體測量及用於模具特徵線的識別。該方法克服了接觸測量的局限性。將激光雙三角測量法應用於1700mm×1200mm×200mm測量范圍內，對復雜曲面輪廓進行測量，其精度可高於1μm。英國IMS公司生產的IMP型坐標測量機可以配用其他廠商提供的接觸式或非接觸式探頭。

2 微/納米級精密測量技術

科學技術向微小領域發展，由毫米級、微米級繼而涉足到納米級，即微/納米技術。微/納米技術研究和探測物質結構的功能尺寸與分辨能力達到微米至納米級尺度，使類在改造自然方面深入到原子、分子級的納米層次。

納米級加工技術可分為加工精度和加工尺度兩方面。加工精度由本世紀初的最高精度微米級發展到現有的幾個納米數量級。金剛石車床加工的超精密衍射光柵精度已達1nm，實驗室已經可以製作10nm以下的線、柱、槽。

微/納米技術的發展，離不開微米級和納米級的測量技術與設備。具有微米及亞微米測量精度的幾何量與表面形貌測量技術已經比較成熟，如HP5528雙頻激光干涉測量系統（精度10nm）、具有1nm精度的光學觸針式輪廓掃描系統等。因為掃描隧道顯微鏡（STM,Scanning Tunning Microscope）、掃描探針顯微鏡（SPM，Scanning Probe Microscope）和原子力顯微鏡（AFM，Atomic Force Microscope）用來直接觀測原子尺度結構的實現，使得進行原子級的操作、裝配和改形等加工處理成為近幾年來的前沿技術。

2.1 掃描探針顯微鏡

1981年美國IBM公司研製成功的掃描隧道顯微鏡（STM），把人們帶到了微觀世界。STM具有極高的空間解析度（平行和垂直於表面的解析度分別達到0.1nm和0.01nm，即可以分辨出單個原子），廣泛應用於表面科學、材料科學和生命科學等研究領域，在一定程度上推動了納米技術的產生和發展。與此同時，基於STM相似的原理與結構，相繼產生了一系列利用探針與樣品的不同相互作用來探測表面或界面納米尺度上表現出來的性質的掃描探針顯微鏡（SPM），用來獲取通過STM無法獲取的有關表面結構和性質的各種信息，成為人類認識微觀世界的有力工具。下面為幾種具有代表性的掃描探針顯微鏡。

（1）原子力顯微鏡（AFM）

為了彌補STM只限於觀測導體和半導體表面結構的缺陷，Binnig等人發明了AFM，AFM利用微探針在樣品表面劃過時帶動高敏感性的微懸臂梁隨表面的起伏而上下運動，通過光學方法或隧道電流檢測出微懸臂梁的位移，實現探針尖端原子與表面原子間排斥力檢測，從而得到表面形貌信息。就應用而言，STM主要用於自然科學研究，而相當數量的AFM已經用於工業技術領域。1988年中國科學院化學所研製成功國內首台具有原子解析度的AFM。安裝有微型光纖傳導激光干涉三維測量系統，可自校準和進行絕對測量的計量型原子力顯微鏡可使目前納米測量技術定量化。利用類似AFM的工作原理，檢測被測表面特性對受迫振動力敏元件產生的影響，在探針與表面10～100nm距離范圍，可以探測到樣品表面存在的靜電力、磁力、范德華力等作用力，相繼開發磁力顯微鏡（MFM，Magnetic Force Microscope）、靜電力顯微鏡（EFM，Electrostatic Force Microscope）、摩擦力顯微鏡（LFM，Lateral Force Microscope）等，統稱為掃描力顯微鏡（SFM，Scanning Force Microscope）。

（2）光子掃描隧道顯微鏡（PSTM，Photon Scanning Tunning Microscope）

PSTM的原理和工作方式與STM相似，後者利用電子隧道效應，而前者利用光子隧道效應探測樣品表面附近被全內反射所激起的瞬衰場，其強度隨距界面的距離成函數關系，獲得表面結構信息。

（3）其他顯微鏡

如掃描隧道電位儀（STP，Scanning Tunning Potentiometry）可用來探測納米尺度的電位變化；掃描離子電導顯微鏡（SICM，Scanning Ion_Conctation Microscope）適用於進行生物學和電生理學研究；掃描熱顯微鏡(Scanning Thermal Microscope)已經獲得了血紅細胞的表面結構；彈道電子發射顯微鏡（BEEM，Ballistic Electron Emission Miroscope）則是目前唯一能夠在納米尺度上無損檢測表面和界面結構的先進分析儀器，國內也已研製成功。

2.2 納米測量的掃描X射線干涉技術

以SPM為基礎的觀測技術只能給出納米級解析度，卻不能給出表面結構准確的納米尺寸，這是因為到目前為止缺少一種簡便的納米精度（0.10～0.01nm）尺寸測量的定標手段。美國NIST和德國PTB分別測得硅（220）晶體的晶面間距為192015.560±0.012fm和192015.902±0.019fm。日本NRLM在恆溫下對220晶間距進行穩定性測試，發現其18天的變化不超過0.1fm。實驗充分說明單晶硅的晶面間距具有較好的穩定性。掃描X射線干涉測量技術是微/納米測量中的一項新技術，它正是利用單晶硅的晶面間距作為亞納米精度的基本測量單位，加上X射線波比可見光波波長小兩個數量級，有可能實現0.01nm的解析度。該方法較其他方法對環境要求低，測量穩定性好，結構簡單，是一種很有潛力的方便的納米測量技術。自從1983年D.G.Chetwynd將其應用於微位移測量以來，英、日、義大利相繼將其應用於納米級位移感測器的校正。國內清華大學測試技術與儀器國家重點實驗室在1997年5月利用自己研製的X射線干涉器件在國內首次清楚地觀察到X射線干涉條紋。

軟X射線顯微鏡、掃描光聲顯微鏡等用以檢測微結構表面形貌及內部結構的微缺陷。邁克爾遜型差拍干涉儀，適於超精細加工表面輪廓的測量，如拋光表面、精研表面等，測量表面輪廓高度變化最小可達0.5nm，橫向（X，Y向）測量精度可達0.3～1．0μm。渥拉斯頓型差拍雙頻激光干涉儀在微觀表面形貌測量中，其解析度可達0.1nm數量級。

2.3 光學干涉顯微鏡測量技術

光學干涉顯微鏡測量技術，包括外差干涉測量技術、超短波長干涉測量技術、基於F-P（Febry-Perot）標準的測量技術等，隨著新技術、新方法的利用亦具有納米級測量精度。

外差干涉測量技術具有高的位相解析度和空間解析度，如光外差干涉輪廓儀具有0.1nm的解析度；基於頻率跟蹤的F-P標准具測量技術具有極高的靈敏度和准確度，其精度可達0.001nm，但其測量范圍受激光器的調頻范圍的限制，僅有0.1μm。而掃描電子顯微鏡（SEM，Scanning Electric Microscope）可使幾十個原子大小的物體成像。

美國ZYGO公司開發的位移測量干涉儀系統，位移解析度高於0.6nm，可在1.1m/s的高速下測量，適於納米技術在半導體生產、數據存儲硬碟和精密機械中的應用。

目前，在微/納米機械中，精密測量技術一個重要研究對象是微結構的機械性能與力學性能、諧振頻率、彈性模量、殘余應力及疲勞強度等。微細結構的缺陷研究，如金屬聚集物、微沉澱物、微裂紋等測試技術的納米分析技術目前尚不成熟。國外在此領域主要開展用於晶體缺陷的激光掃描層析（Laser Scanning Tomograph）技術，用於研究樣品頂部幾個微米之內缺陷情況的納米激光雷達技術（Nanoladar），其探測尺度解析度均可達到1nm。

3 圖像識別測量技術

隨著近代科學技術的發展，幾何尺寸與形位測量已從簡單的一維、二維坐標或形體發展到復雜的三維物體測量，從宏觀物體發展到微觀領域。被測物體圖像中即包含有豐富的信息，為此，正確地進行圖像識別測量已經成為測量技術中的重要課題。圖像識別測量過程包括：（1）圖像信息的獲取；（2）圖像信息的加工處理，特徵提取；（3）判斷分類。計算機及相關計算技術完成信息的加工處理及判斷分類，這些涉及到各種不同的識別模型及數理統計知識。

圖像測量系統一般由以下結構組成，如圖1所示。以機械繫統為基礎，線陣、面陣電荷耦合器件CCD或全息照相系統構成攝像系統；信息的轉換由視頻處理器件完成電荷信號到數字信號的轉換；計算機及計算技術實現信息的處理和顯示；反饋系統包括溫度誤差補償，攝像系統的自動調焦等功能；載物工作台具有三坐標或多坐標自由度，可以精確控制微位移。

3.1 CCD感測器技術

物體三維輪廓測量方法中，有三坐標法、干涉法、莫爾等高線法及相位法等。而非接觸電荷耦合器件CCD（Charge Coupled Device）是近年來發展很快的一種圖像信息感測器。它具有自掃描、光電靈敏度高、幾何尺寸精確及敏感單元尺寸小等優點。隨著集成度的不斷提高、結構改善及材料質量的提高，它已日益廣泛地應用於工業非接觸圖像識別測量系統中。在對物體三維輪廓尺寸進行檢測時，採用軟體或硬體的方法，如解調法、多項式插值函數法及概率統計法等，測量系統解析度可達微米級。也有將CCD應用於測量半導體材料表面應力的研究。

3.2 全息照相技術

全息照相測量技術是60年代發展起來的一種新技術，用此技術可以觀察到被測物體的空間像。激光具有極好的空間相乾性和時間相乾性，通過光波的干涉把經物體反射或透射後，光束中的振幅與相位信息。

㈡ 誰能幫我下載百度文庫的文章 發到我的郵箱

是這一篇嗎？？
1)三網合一確定了無砟軌道鐵路工程式控制制測量「三網合一」的測量體系。即勘測控制網、施工控制網、運營維護控制網成為 「三網」,三個階段的平面和高程必須採用統一基準即稱為「三網合一」。 一、「三網合一」的內容和要求 1、「三網」高程坐標系統的統一 在無砟軌道的勘測設計、線下施工、軌道施工及運營維護的各階段均採用坐標定位控制因此必須保證「三網」高程坐標系統的統一各階段的工作才能順利進行。 2、「三網」起算基準的統一 「三網」平面測量應以基礎平面控制網CPⅠ為平面控制基準以二等水準基點為高程式控制制測量的基準。 2軌排粗調 《測規》「7.6.2 軌排安裝前應測設加密基樁加密基樁宜設於線路中線上。 7.6.3 軌排粗調應以加密基樁為調整基準點。」 雙塊式軌排可分為現場組裝及預組裝但不論何種方式軌排的調整均為測設軌道的中心線使軌排的中心線與線路中心線重合。為方便施工直接在線路中心線上測設加密基樁方便軌排調整。 因為軌排粗調只需軌排大概就位方便上層鋼筋的綁扎防止精調後上層鋼筋綁扎擾動軌排故粗調軌排時軌排中線放樣誤差應不大於5mm鋼軌內軌頂面高程放樣誤差應不大於2.5mm。精調使用軌檢小車配合全站儀進行。 3軌排固定 《測規》「7.7.3 軌枕固定架支腳安裝測量方法及定位誤差如下 1 在支承層線路中心線兩側測設固定架支腳直線段縱向每隔3.25m安放支腳曲線段兩支腳中心線與線路中心線保持垂直外側兩支腳距離為3.25m內側兩支腳距離應小於3.25m 2 先通過CPⅢ控制點測設其中一個支腳的位置再在該支腳上架設測量儀器測定其它三個支腳的位置。 3 支腳間軸線平面XY方向定位限差應不大於0.5mm高程限差不大於0.5mm。」 CRTSⅡ型雙塊式無碴軌道的測量主要特點為通過CPⅢ點直接測設其支撐系統的支腳不測設加密基樁減少了一道測量工序提高了精度控制。 固定架安裝支腳間距應根據軌枕設計間距和工裝確定根據旭普林公司現採用設備軌枕間距650mm一組固定架上5根軌枕因此支腳間距為3.25m (4)軌道控制網CPIII 沿線路布設的三維控制網起閉於基礎平面控制網CPI或線路控制網CPII一般在線下工程施工完成後進行施測為軌道施工和運營維護的基準。CPIII網按自由設站邊角交會方法測量。點間距為縱向60m左右、橫向為線路結構物寬度測量精度為相鄰點位的相對點位中誤差小於1mm。 1)CPIII控制網的網形 測站間距為120m時CPIII平面控制網測量網形示意圖如圖所示。

㈢ 精密測量都有哪些測量方法

精密測量測量方法：
1、根據獲得測量結果的不同方式可分為：直接測量和間接測量。從測量器具的讀數裝置上直接得到被測量的數值或對標准值的偏差稱直接測量。如用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑等。通過測量與被測量有一定函數關系的量，根據已知的函數關系式求得被測量的測量稱為間接測量。如通過測量一圓弧相應的弓高和弦長而得到其圓弧半徑的實際值。
2、絕對測量和相對測量：測量器具的示值直接反映被測量量值的測量為絕對測量。用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑不僅是絕對測量，也是絕對測量。將被測量與一個標准量值進行比較得到兩者差值的測量為相對測量。如用內徑百分表測量孔徑為相對測量。
3、接觸測量和非接觸測量：測量器具的測頭與被測件表面接觸並有機械作用的測力存在的測量為接觸測量。如用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬於非接觸測量。
4、單項測量和綜合測量：對個別的、彼此沒有聯系的某一單項參數的測量稱為單項測量。同時測量個零件的多個參數及其綜合影響的測量。用測量器具分別測出螺紋的中徑、半形及螺距屬單項測量；而用螺紋量規的通端檢測螺紋則屬綜合測量。
5、被動測量和主動測量：產品加工完成後的測量為被動測量；正在加工過程中的測量為主動測量。被動測量只能發現和挑出不合格品。而主動測量可通過其測得值的反饋，控制設備的加工過程，預防和杜絕不合格品的產生。

㈣ 甲醛的檢測方法有哪些

家庭檢測甲醛最為簡單的方法就是採用甲醛測試盒，但是檢測可能受到溫度、濕度以及空間大小的影響，要想准確的檢測出室內甲醛含量，建議多准備一些測試盒，計算平均值。介紹完如何測量室內甲醛濃度，接下來就給大家帶來一些高效的除醛方法。

1、這是大自然對我們的饋贈，是最經濟實惠的除醛方法，只要打開窗戶就會有新鮮空氣進入室內，通過稀釋的方式凈化甲醛。

㈤ 精密測量的測量方法

1、根據獲得測量結果的不同方式可分為： 直接測量和間接測量。從測量器具的讀數裝置上直接得到被測量的數值或對標准值的偏差稱直接測量。如用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑等。通過測量與被測量有一定函數關系的量，根據已知的函數關系式求得被測量的測量稱為間接測量。如通過測量一圓弧相應的弓高和弦長而得到其圓弧半徑的實際值。
2、絕對測量和相對測量：測量器具的示值直接反映被測量量值的測量為絕對測量。用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑不僅是絕對測量，也是絕對測量。將被測量與一個標准量值進行比較得到兩者差值的測量為相對測量。如用內徑百分表測量孔徑為相對測量。
3、接觸測量和非接觸測量：測量器具的測頭與被測件表面接觸並有機械作用的測力存在的測量為接觸測量。如用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬於非接觸測量。
4、單項測量和綜合測量：對個別的、彼此沒有聯系的某一單項參數的測量稱為單項測量。同時測量個零件的多個參數及其綜合影響的測量。用測量器具分別測出螺紋的中徑、半形及螺距屬單項測量；而用螺紋量規的通端檢測螺紋則屬綜合測量。
5、被動測量和主動測量：產品加工完成後的測量為被動測量；正在加工過程中的測量為主動測量。被動測量只能發現和挑出不合格品。而主動測量可通過其測得值的反饋，控制設備的加工過程，預防和杜絕不合格品的產生。

㈥ 甲醛的標准檢測方法

1、AHMT 分光光度法

分光光度法測定的主要方法有乙 醯丙酮法、鉻變酸法、MBTH法、副品紅法、AHMT法等幾種。

2、乙醯丙酮法

乙醯丙酮法原理是利用甲醛與乙醯丙酮及氨生成黃色化合物二乙醯基二氫盧剔啶後 ，412nm下進行分光光度測定。

此法最大的優點是操作簡便 ，性能穩定，誤差小，不受乙醛的干擾，有色溶液可穩定存在12hr；缺點是靈敏度較低，最低檢出濃度為0.25mg/L，僅適用於較高濃度甲醛的測定。

3、變色酸法 (CTA法)

變色酸法也稱鉻變酸法，甲醛在濃硫酸溶液中可與變色酸(1，8-二羥基萘-3，6-二磺酸)作用形成紫色化合物，該化合物最大吸收波長在580nm處，可用分光光度法進行分析測定。

改變變色酸濃度和採用不同的采樣手段，可滿足不同濃度甲醛檢測需要。用0.1%變色酸-86%硫酸溶液作吸收液，檢測限可達20μg/L；用1%亞硫酸鈉溶液吸收甲醛，變色酸濃度改為5%，方法更穩定、更靈敏。

4、酚試劑法

酚試劑法原理是甲醛與酚試劑反 應生成嗪，嗪在酸性溶液中被高鐵離子氧化形成藍綠色化合物，顏色深淺與甲醛含量成正比，該化合物在630nm處摩爾吸光系數ε可達7.0×104，該法對甲醛的測定非常靈敏最低檢測限為0.015mg/L。

5、副品紅法(PRA)

副品紅法原理是在甲醛存在下，亞硫酸根離子與副品紅生成紫色絡合物，其最大吸收峰在570nm處，檢測限為50μg/L。本法的優點是簡便靈敏，其它醛和酚不幹擾測定。

6、AHMT法

AHMT法原理是甲醛與4-氨基-3-聯氨-5-巰基-1，2，3－三氮雜茂（AHMT）在鹼性條件下縮合，然後經高碘酸鉀氧化成6- 基-5-三氮 雜 茂[4，3-b] -S-四氮雜苯紫紅色化合物，比色定量。

7、 溴酸鉀－次甲基藍法

溴酸鉀－次甲基藍法原理是在酸性介質中，甲醛可促進溴酸鉀氧化次甲基藍反應，降低體系吸光度的特點來快速測定甲 醛含量。

8、銀－Ferrozine法

銀－Ferrozine法原理為水合氧化銀能氧化甲醛並被還原為Ag，產生的Ag與Fe3+定量反應生成Fe₂+，Fe₂+與菲洛嗪（Ferrozine）形成有色配合物，在562nm處測定吸光度。

(6)高鐵精密測量的方法pdf擴展閱讀：

空氣中：

1、 用作護牆板、天花板等裝飾材料的各類酚醛樹脂膠人造板，比如膠合板、細木板、纖維板和刨花板等。

2、含有甲醛成分並有可能向外界散發的裝飾材料，比如貼牆布，貼牆紙，油漆和塗料管。

3、 有可能散發甲醛的室內陳列及生活用品，比如傢具、化纖地毯和泡沫塑料等。

4、 燃燒後會散發甲醛的某些材料，比如香煙及一些有機材料。

5、 有些芳香劑、殺蚊液也含有甲醛成分。

衣物中：

白挺或免燙的衣物，尤其是有些牛仔褲、標榜100%防皺防縮的衣褲或全棉免燙襯衫使用乙二醛樹脂定型，都含有甲醛成分。甲醛對人的皮膚有強烈刺激作用，會引起皮膚濕疹、全身過敏。

㈦ 鐵路工程中表示里程的DK、D1K、D3K分別是什麼含義有什麼區別

沒有具體的含義在鐵路工程中的意義都一樣。鐵路裡面沒有D3K，DK是定測時的里程樁號，還有是CK是初測的里程樁號。

DK表示為施工設計時採用的里程,是distance kilometre的簡寫，結構形式為DKxx+123.45 其中：xx指千米數，不足整千米的在+後邊分別表示百十個及小數。

沿著道路前進方向，起點處的樁號是k0.000，每隔一定距離（如100米）做1樁號標記，並在相應有需要的地方進行標記，但應以設計圖紙上標明的為准。

(7)高鐵精密測量的方法pdf擴展閱讀：

鐵路工程中表示里程的測定：

1、線路測繪：線路測繪一般分為草測、初測和定測三個階段。在勘測范圍上一般由面到帶，由帶到線。精度上由粗到精。測圖比例尺則由小到大。草測選線工作一般在地圖上進行，經實地踏勘後編制線路方案研究報告。

初測則要對有比較價值的線路方案進行沿線導線、水準測量並施測1：2000比例尺為主的沿線帶狀地形圖。定測要在初步設計擬定線路中線的基礎上，進一步結合現場的地形、地質、水文等實際情況定出最經濟合理的線路位置，把鐵路中線放樣到地面，包括中線測量、曲線測設、線路縱橫斷面測量、大比例尺工點地形圖測制、橋渡及沿江(河)線路和必要時進行的沿江(河)水文勘測等。

2、橋梁測繪：橋梁測繪一般包括橋址地形圖測量、水文測量、橋址斷面及水文斷面測量、鑽孔及橋墩定位測量、小橋涵匯水面積測繪等。

3、隧道測量：隧道測量一般包括大比例尺地形圖測制、洞外控制測量、洞外工程測量、地下導線和地下水準測量、隧道貫通測量、豎井聯系測量等。

4、場站測量：場站測量一般與城市建設測量密切相關，此外還包括控制網及大比例尺地形圖測制、車站及車場和調車設備的平面及縱橫斷面圖的測制、調車駝峰平面及縱橫斷面圖的測制、鐵路樞紐總布置圖測制等等。

在鐵路施工時也需要進行測量工作，如對已定測的線路進行復測，對橋、隧建築物根據平面設計和地形條件建立施工平面和高程式控制制網，同時還要進行大量的施工放樣測量。鐵路建成通車後，還要定期對線路平面、縱橫斷面狀態進行測量以及對橋梁、隧道進行變形觀測等。總之鐵路工程建設，從設計、施工到運營管理，每個階段都需要測量工作的密切配合。

㈧ 高鐵接地電阻能用直流雙臂電橋測嗎測試方法是什麼最好有圖文

可以用接地電阻測試儀BY2571
1、儀表工作原理
BY2571-Ⅱ數字接地電阻測量儀是在原來的基礎上,摒棄了傳統的人工手搖發電工作方式，採用先進的大規模集成電路，應用DC/AC變換技術將三端鈕、四端鈕測量方式合並為一種機型的新型接地電阻測量儀。
工作原理為由機內DC/AC變換器將直流變為交流的低頻恆流，經過輔助接地極C和被測物E組成迴路，被測物上產生交流壓降，經輔助接地極P送入交流放大器放大，再經過檢波送入表頭顯示。藉助倍率開關，可得到三個不同的量限：0~2Ω，0~20Ω，0~200Ω。
2、儀表使用范圍
本表適用於電力、郵電、鐵路、通信、礦山等部門測量各種裝置的接地電阻以及測量低電阻的導體電阻值；本表還可測量土壤電阻率及地電壓。
3、儀表特點
·結構上採用高強度鋁合金作為機殼，電路上為防止工頻、射頻干擾採用鎖相環同步跟蹤檢波方式並配以開關電容濾波器使儀表有較好的抗干擾能力。
·採用DC/AC變換技術將直流變為交流的低頻恆定電流以便於測量。
·允許輔助接地電阻在0~2KΩ（RC），0~40KΩ（RP）之間變化，不致於影響測量結果。
·本儀表不需人工調節平衡，3(1/2)位LCD顯示，除測地電阻外，還可測低電阻導體電阻、土壤電阻率以及交流地電壓。
·如若測試迴路不通表頭顯示「1」代表溢出，符合常規測量習慣。
二、技術指標
1、使用條件
環境溫度：0℃~+45℃
相對濕度：≤85%RH
2、測量范圍及恆流值（有效值）
電阻：0~2Ω（10mA），2~20Ω(10mA)，20~200Ω(1mA)
電壓：AC 0~20V
3、測量精度及解析度
精度：0~0.2Ω≤±3%±1d
0.2Ω~200Ω≤±1.5%±1d
1~20V≤±3%±1d
解析度：0.001Ω、0.01Ω、0.1Ω、0.01V
4、輔助接地電阻及地電壓引起的測量誤差
·允許輔助接地電阻RC（C1與C2之間）<1.8KΩ；
RP（P1與P2之間）<40KΩ誤差≤±5%
·允許地電壓≤5V（工頻有效值）誤差≤±5%
5、電源及功耗
最大功率損耗≤2W
電源：6.8V~9V（6節5#鎘鎳可充電電池），外接220V交流電源充電。
體積：220mm×200mm×105mm
重量：≤1.4kg

㈨ 中國高鐵跑得這么穩，和天上的北斗衛星有關！你如何看待這樣的說辭

乘客能在時速350公里的高鐵列車中“閑庭信步”，在車窗邊立硬幣不倒，有賴於高鐵路線的高平穩性。 如果軌道不順暢，機車車輛會發生系統振動，直接影響軌道雜訊、軌道相互作用力、乘坐舒適度、安全性等。 為了最大限度地確保軌道的平整性，操作人員需要准確獲取軌道的三維位置坐標、軌道間隔等，實現軌道方向、高低、軌道距離、水平等各幾何參數的高精度測量。 高鐵受高鐵運行沖擊、地質運動、區域性地面沉降、線路施工臨近等因素影響，將發生沉降、扭轉等微小變化。

㈩ 精密水準測量的方法

精密水準測量與普通水準測量的區別：在視線長度、前後視距差、累積視距差、基礎與輔助分劃讀數差、黑紅面所測高差之差、附和閉合路線閉合差、觀測順序的要求等等方面有很多的不同，要區分對待。