測量方法的實例

❶ 偏差式、零位式和微差式測量法的含義各是什麼請幫我列舉測量實例進行說明。謝謝

1、偏差式測量法：在測量過程中，用儀器儀表指針的位移（偏差）表示被測量大小的測量方法。例如使用萬用表測量電壓、電流等。

2、零位式測量法：測量時用被測量與標准量相比較，用零示器指示被測量與標准量相等（平衡），從而獲得被測量從而獲得被測量。例如天平測量物體的質量、電位差計測量電壓等。

優點是可以獲得比較高的測量精度，但測量過程長而且復雜，所以不適用於測量快速變化的信號。

3、微差式測量法：通過測量待測量與基準量之差來得到待測量量值。例如用微差法測量直流穩壓源的穩定度。

優點是反應快、測量精度高，適用於在線控制參數的測量。

(1)測量方法的實例擴展閱讀

感測器儀表的測量方法

1、根據測量手段分

（1） 直接測量：在使用感測器儀表進行測量時，對儀表讀數不需要經過任何運算，就能直接表示測量所需要的結果。例如，用磁電式電流表測量電路的電流，用彈簧管式壓力表測量鍋爐的壓力等。優點是測量過程簡單而迅速，缺點是測量精度不容易做到很高，在工程上被廣泛採用。

（2） 間接測量

需要先對與被測物理量有確定函數關系的幾個量進行測量，將測量值代入函數關系式，經過計算得到所需的結果。一般用於不方便直接測量或者缺乏直接測量手段的場合。

（3） 組合測量

在進行組合測量時，一般需要改變測試條件，才能獲得一組聯立方程所需要的數據。組合測量是一種特殊的精密測量方法，操作手續較復雜，花費時間很長，一般適用於科學實驗或特殊場合。

2、根據測量方式分：偏差式測量、零位式測量、微差式測量。

3、根據測量的精度分

（1）等精度測量

整個測量過程中，影響和決定測量精度的全部因素始終保持不變，如用同一台儀器，用同樣的方法，在同樣的環境條件下，對同一被測量進行多次重復測量。在實際中，很難做到這些因素全部始終保持不變，所以一般情況下只是近似地認為是等精度測量。

（2）非等精度測量

用不同精度的儀表或不同的測量方法，或在環境條件相差很大的情況下對同一被測量進行多次重復。

❷ 測量的方法

1.根據測量條件分為
（1）等精度測量：用相同儀表與測量方法對同一被測量進行多次重復測量
（2）不等精度測量：用不同精度的儀表或不同的測量方法, 或在環境條件相差很大時對同一被測量進行多次重復測量
2.根據被測量變化的快慢分為
（1）靜態測量
（2）動態測量
1.直接測量法：不必測量與被測量有函數關系的其他量，而能直接得到被測量值的測量方法。
2.間接測量法：通過測量與被測量有函數關系的其他量來得到被測量值的測量方法。
3.定義測量法：根據量的定義來確定該量的測量方法。
4.靜態測量方法：確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。
5.動態測量方法：確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。
6.直接比較測量法：將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。
7.微差測量法：將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較，通過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。 （1）正態分布
隨機誤差具有以下特徵:
① 絕對值相等的正誤差與負誤差出現的次數大致相等——對稱性；
② 在一定測量條件下的有限測量值中，其隨機誤差的絕對值不會超過一定的界限——有界性；
③ 絕對值小的誤差出現的次數比絕對值大的誤差出現的次數多——單峰性；
④對同一量值進行多次測量，其誤差的算術平均值隨著測量次數n的增加趨向於零——抵償性。（凡是具有抵償性的誤差原則上可以按隨機誤差來處理）；
這種誤差的特徵符合正態分布
（2）隨機誤差的數字特徵：如圖所示：
（3）用測量的均值代替真值；
（4）有限次測量中，算術平均值不可能等於真值；
（5）正態分布隨機誤差的概率計算
當k=±1時, Pa=0.6827, 即測量結果中隨機誤差出現在-σ～+σ范圍內的概率為68.27%, 而|v|>σ的概率為31.73%。出現在-3σ～+3σ范圍內的概率是99.73%, 因此可以認為絕對值大於3σ的誤差是不可能出現的, 通常把這個誤差稱為極限誤差。 例題：見圖所示：

（6）不等精度直接測量的權與誤差
1.在不等精度測量時, 對同一被測量進行m組測量, 得到m組測量列（進行多次測量的一組數據稱為一測量列）的測量結果及其誤差, 它們不能同等看待。精度高的測量列具有較高的可靠性, 將這種可靠性的大小稱為「權」。
2.「權」可理解為各組測量結果相對的可信賴程度。 測量次數多, 測量方法完善, 測量儀表精度高, 測量的環境條件好, 測量人員的水平高, 則測量結果可靠, 其權也大。權是相比較而存在的。 權用符號p表示, 有兩種計算方法: ?
① 用各組測量列的測量次數n的比值表示, 並取測量次數較小的測量列的權為1,則有
p1∶p2∶…∶pm=n1∶n2∶…∶nm
② 用各組測量列的誤差平方的倒數的比值表示, 並取誤差較大的測量列的權為1, 則有
p1∶p2∶…∶pm=（1/σ1）^2:（1/σ2）^2:（1/σ3）^2:……（1/σm）^2 （1）系統誤差產生的原因
①感測器、儀表不準確（刻度不準、放大關系不準確）②測量方法不完善（如儀表內阻未考慮）③安裝不當④環境不合⑤操作不當；
（2）系統誤差的判別
①實驗對比法，例如一台測量儀表本身存在固定的系統誤差，即使進行多次測量也不能發現，只有用更高一級精度的測量儀表測量時，才能發現這台測量儀表的系統誤差；
②殘余誤差觀察法（繪出先後次序排列的殘差）；
③准則檢驗法
馬利科夫判據是將殘余誤差前後各半分兩組, 若「Σvi前」與「Σvi後」之差明顯不為零, 則可能含有線性系統誤差。
阿貝檢驗法則檢查殘余誤差是否偏離正態分布, 若偏離, 則可能存在變化的系統誤差。將測量值的殘余誤差按測量順序排列，且設A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2?+…+(vn-1-vn)2+(vn-v1)2。
若|B/2A-1|>1/n^1/2,則可能含有變化的系統誤差。
(3)系統誤差的消除
在測量結果中進行修正 已知系統誤差, 變值系統誤差, 未知系統誤差
消除系統誤差的根源根源
在測量系統中採用補償措施
實時反饋修正 剔除壞值的幾條原則：
(1)3σ准則（萊以達准則）：如果一組測量數據中某個測量值的殘余誤差的絕對值|vi|>3σ時, 則該測量值為可疑值（壞值）, 應剔除。
(2)肖維勒准則：假設多次重復測量所得n個測量值中, 某個測量值的殘余誤差|vi|>Zcσ,則剔除此數據。實用中Zc<3, 所以在一定程度上彌補了3σ准則的不足。
(3)格拉布斯准則：某個測量值的殘余誤差的絕對值|vi|>Gσ, 則判斷此值中含有粗大誤差, 應予剔除。 G值與重復測量次數n和置信概率Pa有關。
解題步驟：如圖所示： （1）誤差的合成：如圖所示：
絕對誤差的合成（例題）：
用手動平衡電橋測量電阻RX。已知R1=100Ω, R2=1000Ω, RN=100Ω,各橋臂電阻的恆值系統誤差分別為ΔR1=0.1Ω, ΔR2=0.5Ω, ΔRN=0.1Ω。求消除恆值系統誤差後的RX.
（2）最小二乘法的應用：
推導過程，如圖冊所示：
最小二乘法應用例子：如圖冊所示:
5.用經驗公式擬合實驗數據——回歸分析
用經驗公式擬合實驗數據，工程上把這種方法稱為回歸分析。回歸分析就是應用數理統計的方法，對實驗數據進行分析和處理，從而得出反映變數間相互關系的經驗公式，也稱回歸方程。

❸ 有哪些測量的方法

測量的方法—平移法, 刻度尺的分度值為 1 mm,測量的起始刻度是 5cm(選擇新的起點, 作為零刻度線),讀數時視覺應與尺面垂直,估讀到分度值的下一 位

❹ 生活中或工程中兩個誤差的實例,說明在測量中存在哪些誤差,並說明這些誤差由

摘要 1、系統誤差：由於測量工具或測量方法本身造成的誤差.系統誤差不可避免,但可以減小.例如：採用更精密的測量儀器,採用更加科學完美的測量方法.

❺ 敘述直接測量、間接測量、組合測量的特點，並各舉一兩個測量實例。

直接測量：通過儀表、卡尺等測量器具直接進行測量並得到結果的測量方法，如用萬用表測電阻的阻值；用捲尺測長度。
間接測量：對直接測量的結果再次進行計算並得到結果。
組合測量：用直接或間接測量法測量一定數量的某一量值的不同組合，求解這些結果和被測量組成的方程組來確定被測量值的測量方法。

❻ 千分尺的測量方法是什麼

千分尺讀數=固定套管主尺讀數+微分筒上讀數，實例如下（若讀數中遇到套管主尺的0.5mm刻度線與微分筒前沿處於似壓非壓的情況，應根據微分筒上讀數來確定其是否計入讀數，若微分筒上讀數大於或等於0則計入讀數，否則不計入讀數）。

❼ 觀察法 實驗法 調查法 測量法 這幾種方法我分不清,可以告訴我一些實例和含義嗎.please!

觀察法：通過觀察某個試驗現象得出結論；
實驗法：即用實驗的方法揭示某種道理
調查法：通過某項調查,比如調查表等等的形式得出結論(例如：調查某種遺傳病)；
測量法：用測量的方法得出結論

❽ 舉幾個你身邊的測量事例,分別說明測量什麼物理量,用什麼儀器測量單位是什麼

測量長度,用游標卡尺. 單位:mm
測量重量, 用電子秤. 單位: g
測量溫度,用溫度計. 單位:度

❾ 放射性測量方法及應用實例

利用天然射線測量法找水，目前國內採用的方法有γ測量、靜電α卡法、α徑跡測量及²¹⁰po測量等，不同方法可探測不同的核素異常。一般來說，α放射性測量比γ放射性測量更為靈敏，探測深度更大。尤其是α徑跡測量和²¹⁰Po測量，其干擾因素少，有利於克服地形、地物和氣候變化等影響。²¹⁰Po測量比α徑跡測量顯示的異常范圍大，異常邊界不很清晰，但其工作周期短，取樣分析比較方便。所以，在利用天然放射性尋找地下水源時，若覆蓋層較薄，工作范圍較大，則使用快捷的γ測量；若覆蓋層厚度大，工作范圍小，則採用α徑跡測量或²¹⁰Po測量。

（一）γ測量

γ測量是直接測定遷移至地表的放射性元素（包括氡的衰變物）所發出的γ射線。一般高精度輻射儀如FD－71、FD－31、TFS－1和TFS－2型輻射儀，徒步沿剖面測量。

γ測量是一種簡便的找水方法，具有儀器輕便、工作方法簡單、效率高、成本低和結果直觀的優點。但由於含水構造引起的放射性異常強度一般只有正常場的1.1～1.4倍，要可靠地確定異常性質，測量時要求：輻射儀的靈敏度應大於3ppmeU（等效鈾含量）；觀測讀數的相對標准偏差小於3％；測量探頭應有較低的本底讀數。

γ測量探測深度小，一般只有幾十厘米至幾米，最深不超過15m。當測區的地下水較豐富、埋藏較深、流速較大、表層又缺少土時，不利於放射性元素富集，在其上不易發現放射性異常。在開展工作時，要注意γ測量的方法有效性，不可盲目使用。

圖5－4－1是山東平陽一條剖面上γ測量的結果。地表為厚度約10m的黏性土、基岩為頁岩和灰岩。兩台輻射儀觀測的γ曲線上均有明顯的低值異常，極小值比正常值低25％左右。經鑽探驗證，在50號點附近石灰岩破碎、裂隙發育，鑽孔內靜水位8m，抽水試驗時地下水位降14m，涌水量達1900～2400m³/d。低值γ異常為含水構造裂隙的反映。

（二）α徑跡測量

所謂徑跡是指裂變碎片在絕緣固體物質中產生的輻射損傷。當利用塑料膠片在土壤層淺孔中接收氡、釷及其子體所產生的α線輻射時，α粒子就在膠片上輻射損傷，因肉眼看不到，故又稱為潛伏徑跡，經化學方法腐蝕後蝕刻出來的輻射損傷叫做徑跡。在普通光學顯微鏡下，徑跡呈圓錐形的坑洞，稱為蝕坑。蝕坑在鏡下透視平面表現為圓形或橢圓形帶黑邊的亮點。根據膠片上出現的徑跡（亮點）密度，可估計輻射到膠片上的α射線強度。

圖5－4－1 山東平陽γ曲線圖

α徑跡測量是利用徑跡現象來找水的一種新方法，是利用塑料膠片在土壤層淺孔中接收氡、釷及其子體產生的α射線的輻射，然後用一定倍數的顯微鏡觀測經化學腐蝕方法處理的塑料膠片上的徑跡密度。在富水裂隙帶上部的土壤層中可形成高於背景值的徑跡密度異常，根據徑跡密度異常可確定裂隙帶，從而達到尋找基岩裂隙水的目的。α徑跡測量簡單易行，比γ測量有更高的靈敏度。由於氡的半衰期為3.825天，能擴散百米之外。所以，它通常可探測埋深幾十米的地下水。

α徑跡測量設備包括：

1）探測裝置：為塑料膠片和探杯。塑料膠片可選用醋酸纖維膠片或硝酸纖維膠片，探杯用直徑8cm、高9cm的陶瓷茶杯或塑料探杯。

2）蝕刻裝置：包括恆溫水浴鍋、溫度計、台杯、燒杯、量杯、化學蝕刻架、化學試劑（KOH、NaOH、KMnO4、和HCl）等。

3）觀測裝置：為普通生物顯微鏡，並附有統計徑跡密度使用的刻度尺。

野外工作時，首先將塑料膠片剪成1.5cm×3.5cm的長方形，並在兩端用針尖刻記編號，編號要統一刻在膠片的同一面。然後用透明膠帶粘住膠片兩端，將其粘著固定在探杯內離杯口4cm的深處，使膠片平懸於探杯中央，見圖5－4－2。然後，在選擇的剖面上，按一定的點距（一般為3～5m），挖35～45cm深的淺孔，淺孔要避開人工填土、溝邊、陡坎邊。將編好號的探杯口朝下放入淺孔，蓋上塑料布再壓土封好。由於氡的半衰期為3.825天，在埋杯後一個月左右，氡及其子體可達到平衡。因此，埋杯時間一般為15～30天。為了保證測量條件的一致，在同一測區，必須統一埋杯時間。

圖5－4－2 探測器安裝過程示意圖

α徑跡測量測量結果以α徑跡密度曲線剖面圖表示，見圖5－4－3。

圖5－4－3 α徑跡密度曲線剖面圖

徑跡密度單位可用膠片上每0.26mm²內徑跡數目（j）或每平方毫米內徑跡數目（j/mm²）表示。一般認為，徑跡密度異常值高於背景值4倍以上時，反映構造斷裂的效果較好。

依斷裂規模、性質的不同，在α徑跡密2度曲線上呈現不同的異常特徵。可有如下異常類型（圖5－4－4）。

圖5－4－4 常見的幾種α徑跡密度曲線異常類型示意圖

1）單峰狀異常：以一點或相鄰兩點形成的異常為特徵，常反映單一的直立的斷裂帶，其兩側次級斷裂、裂隙、破碎不發育，如圖5－4－4（a）。

2）雙峰狀異常：其特徵是以一點或相鄰兩點形成主峰異常，在其一側出現強度上次於主峰異常的次峰異常，如圖5－4－4（b）。主峰異常為主斷裂帶的反映，次峰異常為主斷裂上盤一側的次級裂隙或破碎的反映。

3）多峰狀異常：其特徵是曲線呈鋸齒狀，異常有一定寬度，反映寬度較大的斷裂帶或較寬的節理密集破碎帶，如圖5－4－4（c）。

4）對稱異常：其特徵是在低緩異常背景上疊加了單峰狀異常，主峰異常反映了直立的主斷裂，兩側低緩異常反映了次級斷裂帶或破碎帶（圖5－4－4（d））。

除上述類型外，還常見以下一些不規律形態的曲線，見圖5－4－5。

圖5－4－5 幾種不規則的曲線形態

（三）²¹⁰Po測量

²¹⁰Po測量是通過取土壤樣品，用化學處理的辦法將樣品中放射性元素²¹⁰Po置換到銅、鎳等金屬片上，再用α輻射儀測量析沉在金屬片上的²¹⁰Po所輻射的α射線強度。

由於新構造斷裂上方的土壤層中²¹⁰Po的含量明顯地比周圍的含量高，因此，用²¹⁰Po測量測得的α射線強度異常可推斷新構造斷裂的位置，從而達到找水的目的。

²¹⁰Po測量的野外工作主要是采樣。采樣點距為3～5m，采樣深度35～45cm，樣品質量約20～30g。²¹⁰Po測量可與α徑跡測量配合，在α徑跡測量的土壤層淺孔底取樣。

²¹⁰Po測量的室內工作包括樣品的化學處理和金屬片上的α射線強度測定。其步驟有：

1）稱量8～10g樣品放入100mL的燒杯中；

2）注入2.5「N」的HCl130mL，浸泡數小時；

3）將直徑為19cm的銅片放入溶液中，振盪3～4小時；

4）取出銅片，用清水沖洗干凈，晾乾；

5）用低本底α輻射儀（如EJ－13、FD－3005型等）測量銅片上α射線強度，其單位以計數率（脈沖/h）表示。

²¹⁰Po測量結果以剖面曲線圖表示。曲線高於背景值2～3倍以上的α射線強度定義為異常。

圖5－4－6是無錫某地用²¹⁰Po測量尋找新構造裂隙水的例子。測區出露地層有上志留系茅山組砂岩、石英砂岩。區內裂隙、節理發育，斷裂構造有NW290°和NE10°兩組。在預計布井的范圍內，經地質觀測認為，NE10°一組裂隙為更新的一組含水構造。為此，布置了近東西向α徑跡測量剖面。測量結果見圖5－4－6（b）。由圖可以看出，在3號點和12號點出現明顯的異常，經12號點處的鑽探驗證，表明異常為含水新構造裂隙帶引起。

圖5－4－6 無錫某地地質、物探綜合剖面圖

為了驗證²¹⁰Po測量探測新構造裂隙水的效果，在α徑跡剖面上採集土壤樣品，測量²¹⁰Po的α徑跡密度異常位置上同樣出現α射線強度異常，而且比α徑跡密度異常更明顯。

❿ 測量方法有哪些

1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。

直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。

間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。

2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。

絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。

相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。

3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。

接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。

非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。

4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。

單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。

綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。

5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。

主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。

被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。

6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。

靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。

動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理

從驗潮站的高程零點，用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程，作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發，用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。

一、二等水準測量稱為精密水準測量，為全國高程式控制制網的骨幹，三、四等水準網遍布全國各地，以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上，為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量，同城為普通水準測量。

水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線，在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數，根據讀數計算高差。