眼表綜合儀測量方法

Ⅰ 測振儀的測量方法判定

1、應用測振儀對設備進行狀態檢測，雖不能作為設備大修周期確定的惟一依據，但作為參考條件確是非常必要的。由於水泵、風機等設備的轉速較低，因此，振動對其造成的危害不是惟一的。比如有些時候用測振儀檢測沒有問題，但葉輪腐蝕嚴重，也需做大修。所以，確定設備大修周期應從測振儀檢測結果、設備運行累計台時及效率等諸方面情況來綜合考慮。
2、應用測振儀檢測，作為設備大修後的驗收手段同樣是非常必要的。需要指出的是，由於設備的新舊程度不一，故對其驗收的檢測值也不做統一規定，應以被驗收泵組大修前的檢測值為依據，修後值驗收的檢測值也不做統一規定，應以被驗收泵組大修前的檢測值為依據，修後值應低於修前值。另外，應用測振儀還可以發現泵組安裝問題（包括對中不好、地腳螺栓長期運行松動），以及機泵氣穴現象等。
總之，測振儀與其它檢測儀器配合使用，有利對設備的運行狀態進行分析。如測振儀與油質分析儀、電動機故障檢測儀等儀器配合使用，能更准確地判斷設備的運行情況。

Ⅱ 什麼是綜合測試儀啊~~~用來做什麼的

綜合測試儀就是主機具備USB介面:方便將數據導入計算機。具有快速連接功能,操作使用簡單。綜合測試儀內部記憶裝置採用FLASH ROM設計,記憶保存能力達10年,不會有依靠小電池供應電能的電驛記憶裝置 只有三個月的保存能力並有可能發生電池漏夜的危險。
綜合測試儀還具備多項警報功能;能適時發出警報,風扇故障報警並停止放電,極性接反等誤操作提示功能,不會損壞儀表。
中山華儀通電子儀器有限公司

Ⅲ 綜合驗光儀的使用步驟怎樣的呀

綜合驗光儀的使用

1、操作步驟

在測試被檢者前，應首先了解他的病史，常規眼部檢查，檢影或電腦驗光數據，查片儀的測量結果等資料。

① 被檢者安坐在驗光椅上，使儀器定位在病人前面，裸眼面對驗光頭，調整坐椅或工作台高度，使被檢者眼位高度與驗光師眼高相匹配。

② 用酒精消毒額托後，讓病人額頭靠在上面。

③ 轉動球旋鈕使，撥盤，柱鏡及軸位旋鈕把度數歸零。轉動輔助旋鈕到O或O，棱鏡和交叉柱鏡放在初始位置，不能加到測試窗前。

④ 轉動水平鈕使水泡在中心位置，保證儀器處於水平。

⑤ 轉動瞳距旋鈕，使PD值與被檢者瞳距一致。看遠時瞳距桿放在外側。

⑥ 調整驗光頭高度，使被檢者雙眼位於視孔中心。

⑦ 轉動前額托鈕，觀察並調整角膜和鏡片間的距離。觀測窗中，長線代表13.75mm，三根短線間隔2mm。若角膜頂點不在長線上，顯示度數加上修正值，才為實際度數。當顯示的度數為（+）時，修正值用a表，顯示度數為（—）時，修正值用b表。

⑧ 把室內照明，調的要暗一點。看遠時，不要打開頭燈。

⑨ 看近時，瞳距桿掰至內側，打開頭燈。放下測試桿，把近視卡移到所要位置。

⑩ 用交叉柱鏡檢查時，注意把交叉柱鏡的軸位調到與儀器柱鏡軸向一致。

2、注意事項

① 在測試前一定要檢查各旋鈕、撥盤、調節桿的位置是否正確，操作是否靈活。

② 注意被檢者雙眼是否位於視孔中心，角膜頂點與刻度線的位置，儀器水平及瞳距等是否正確。

③ 沒有歸零的刻度，一定要先歸零。避免給以下工作帶來不必要的麻煩。

④ 注意被檢者的頭位、坐姿是否正確，儀器高度是否匹配。即使驗光期間被檢者的頭位也不要偏斜，以免柱鏡軸位發生偏離。

⑤ 室內燈光一定要暗一點。

⑥ 看遠時，不要打開頭燈。

⑦ 看近時，不要忘記調整瞳距內移桿。

⑧ 驗光頭高度調好後，鎖緊桿一定要鎖緊，以免發生碰傷意外。

(3)眼表綜合儀測量方法擴展閱讀：

驗光是明確屈光不正的主要方法,在臨床工作中占相當大的工作量。以往傳統的視網膜檢影方法費時費力,又極難掌握。70年代後,新型的自動驗光儀應運而生,採用紅外、電子、計算等技術手段檢查光線入射眼球後的聚集情況。

驗光儀驗光對軟性角膜接觸鏡驗配可作診斷性驗光，既不需散瞳又能迅速測出屈光的度數。驗光儀驗光結果全部是自動列印，不需換算，一般幾秒到幾分鍾就可測定一個患者，並能迅速測定出屈光不正的度數，為鏡片矯正提供較准確的屈光度數和瞳孔間距離。

驗光儀的准確性受很多因素的影響，例如患者的頭和眼配合不好，動來動去，眼注視驗光儀內目標不夠集中，以致放鬆調節不夠，必然影響屈光度檢查結果的准確性，甚至重復檢查的度數差異較大。

對兒童和屈光間質混濁的患者，電腦驗光儀測試的誤差較大，甚至不能檢查出屈光度數。因此，將電腦測定的屈光度數，作為配鏡的唯一根據是不妥的。電腦驗光儀不能代替檢影師驗光及鏡片矯正的技術，只給人工驗光提供有益的參考。

Ⅳ 人體綜合測試儀的測試原理是什麼

人體綜合測試儀，首先作用是，測試鞋子，手腕帶上所攜帶靜電是否超過設定值，超過設定值則報警，雙腳人體綜合測試儀是為測量人體綜合電阻（包括人體、手腕帶和鞋等的電阻）而設計的裝置。本儀器能對人體綜合電阻大於109Ω和小於105Ω時，進行檢測與報警，西姆卡-雙腳人體綜合測試儀配製了750KΩ-10MΩ電路（用於測試手腕帶）和750KΩ-100MΩ電路（用於測試鞋），此儀器是測試手腕帶和鞋套的理想先擇。 性價比高一些的可以用SL-031，西姆卡防靜電裝備公司的，望採納

Ⅳ γ測量方法

γ測量是利用儀器測量地表岩石或覆蓋層中放射性核素放出的γ射線，並根據射線強度或能量的變化，發現γ異常或γ射線強度（或能量）增高地段，以尋找鈾礦床或解決其他地質問題的一種天然核輻射測量方法。

γ測量可在地面、空中和井中進行，按測量的物理量的不同，可分為γ總量測量和γ能譜測量兩類。γ總量測量簡稱γ測量，是一種積分γ測量，記錄的是鈾、釷、鉀放出的γ射線的總照射量率，但無法區分它們。γ能譜測量是一種微分γ測量，記錄的是特徵能譜段的γ射線照射量率，並進而確定岩石中鈾、釷、鉀的含量，故解決的地質問題更廣泛。

12.1.1 地面γ測量

12.1.1.1 γ射線照射量率的計算

γ輻射儀在地表測得的γ射線照射量率與地質體的形態、規模、放射性核素含量、γ射線譜成分、蓋層特點及測量條件等因素有關。下面僅對一些簡單模型進行討論，以便了解地質體周圍γ射線照射量率分布的基本特徵。

（1）點源的γ射線照射量率

設點狀γ源處於均勻介質中，則介質內部距離點源R（cm）處的γ射線照射量率為

勘查技術工程學

式中m為點源中放射性物質的質量（g）；μ為介質對γ射線的吸收系數（cm^-1）；K為伽馬常數，數值上它等於對γ射線無吸收的情況下，距質量為1 g的點源1 cm處的γ射線的照射量率。鈾、鐳、釷、鉀的K值分別為

勘查技術工程學

用不同類型儀器測量時，K值稍有變化。

當點源產生的γ射線通過幾種不同介質時，距點源R處的γ射線照射量率為

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式中μ_i為第i種介質對γ射線的吸收系數（cm^-1），R_i為γ射線通過第i種介質的距離（cm）。

（2）圓台狀岩體上的γ射線照射量率

如圖12-1所示，有一高為 l、上底半徑為 R 的圓台狀岩體出露地表，其密度為ρ，放射性核素質量分數為 w，岩石對γ射線的自吸收系數為μ，空氣對γ射線的吸收系數為μ₀，則圓台體內放射性物質質量為 dm 的體積元 dV 在高度為H 的P 點處產生的γ射線照射量率為

圖12-1 圓台狀岩體上γ射線照射量率的計算參數

勘查技術工程學

取P為球坐標的原點，將dm=wρdV，dV=r²sinφdrdφdθ代入上式，並對整個體積積分，則

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由於r₁-r₀=lsecφ，r₀=Hsecφ，故上式變為

勘查技術工程學

對（12.1-4）式中的積分，可引入金格函數

勘查技術工程學

式中t=xsecφ。金格函數是比指數函數e^-x衰減得更快的列表函數（見表12-1）。當x→0時，Φ（x）→1；x→∞時，Φ（x）→0。可以證明

表12-1 金格函數表

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將（12.1-5）式代入（12.1-4）式（x=μ₀H或x=μl+μ₀H），則圓台體在空中任一點P產生的γ射線照射量率為

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式中φ₀為P點對圓台上底半徑的張角，且有

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如果圓台厚度為無限大（l→∞），則（12.1-6）式變為

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地面測量中，儀器探頭緊貼地面移動，可認為H→0，則上式簡化為

勘查技術工程學

容易證明，觀測點P對圓台所張的立體角為

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於是，（12.1-8）式可寫成

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（12.1-9）式表明，對於放射性核素含量均勻的同一放射岩層，觀測點對岩體所張的立體角不同，會對地面γ測量結果產生很大的影響。如圖12-2所示，在狹縫中測得的γ射線照射量率高於平坦表面的照射量率，而在微地形凸出部分的頂部測到的γ射線照射量率就更低。所以，地面γ測量中應注意微地形對測量結果的影響，一般應記錄平坦表面上的測量數據。

圖12-2 不同立體角對γ測量的影響

（3）半無限岩層上的γ射線照射量率

對於體積半無限大的岩層，l→∞，R→∞，φ₀→π／2。因此（12.1-6）式中cosφ₀→0，Φ（μl+μ₀H）→0，此時離地面H高度上P點的γ射線照射量率為

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可見P點的γ射線照射量率將隨高度的增加按金格函數規律衰減。

地面測量中，在岩層表面任一點，H→0，Φ（μ₀H）→1，此時γ射線照射量率達到極大值

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（4）半無限大岩層上有覆蓋層時的γ射線照射量率

設非放射性覆蓋層厚度為h，覆蓋層對γ射線的吸收系數為μ₁，則用與推導（12.1-10）式類似的方法，可求得覆蓋層表面上任一點的γ射線照射量率

勘查技術工程學

上式表明，無限大岩體覆蓋層上的γ射線照射量率隨覆蓋層厚度增加而按金格函數規律衰減。蓋層物質的密度不同，γ射線照射量率的衰減程度也不相同。蓋層密度越大，吸收的γ射線越多，照射量率衰減得越快。

12.1.1.2 地面γ輻射儀

地面γ測量使用的輻射儀由γ探測器和記錄裝置組成。最常用的γ探測器是閃爍計數器，它由閃爍體（熒光體）和光電倍增管組成，其功能是將光能轉換成電能（圖12-3）。當射線射入閃爍體時，使它的原子受到激發，被激發的原子回到基態時，將放出光子，出現閃爍現象。這些光子打擊在光電倍增管的光陰極上，產生光電效應而使光陰極放出光電子，再經光電倍增管中各倍增電極的作用，使光電子不斷加速和增殖，最後形成電子束，在陽極上輸出一個將初始光訊號放大了10⁵～10⁸倍的電壓脈沖。輻射射線強，單位時間產生的脈沖數目多；輻射粒子的能量大，脈沖的幅度也大。因此，閃爍計數器既可測量射線的強度，又可測量射線的能譜。

圖12-3 閃爍計數器工作原理圖

閃爍體可分為無機閃爍體（NaI、CsI、ZnS等）和有機閃爍體（蒽、聯三苯等）兩大類。常用的NaI（Tl）晶體是在碘化鈉晶體中滲入鉈作激活劑，使晶體發出可見光，並防止光被晶體自身吸收。由於晶體發光時間僅為10^-7s，因而最大計數率可達10⁵ cps。測量γ射線要使用大體積晶體，而測量X射線則使用薄晶體（厚度1～2 mm）。

輻射儀的記錄裝置由一套電子線路組成，閃爍計數器輸出的電壓脈沖經放大、甄別（選擇一定幅度的脈沖）、整形（將不規則脈沖變成矩形脈沖）和計數後，由線路的讀數部分顯示出來。

12.1.1.3 地面γ測量工作方法

地面γ測量一般應布置在地質條件和地球物理、地球化學條件對成礦有利的地段。在地形切割、水系發育、露頭良好、覆蓋層較薄，並有機械暈和鹽暈發育的地區進行γ測量最為有利。

地面γ測量可分為概查、普查和詳查三個階段，各階段的工作比例尺和點線距如表12-2所示。概查在從未做過γ測量或勘查程度較低的地區進行，概查的工作比例尺為1∶1萬～1∶5萬，目的是為下一步工作圈出遠景區；普查一般在概查階段所選的遠景區內進行，其工作比例尺為1∶2.5萬～1∶1萬，其任務是研究工作地區的地質構造特徵，尋找異常點、異常帶，研究它們的分布規律，解釋異常的成因，為詳查圈定遠景地段；詳查在選定的遠景地段或礦區外圍進行，採用1∶5000～1∶1000的工作比例尺，其任務是查清已發現異常的形態、規模、強度、賦存的地質條件、礦化特徵等，以便對異常進行評價，為深部揭露提供依據。

表12-2 γ測量精度及點線距要求

概查和普查都採用路線測量方法，γ測量路線應與地質測量路線一致。觀測採用連續測量方式，以穿越地層和構造走向為主，發現岩性變化、構造帶及破碎帶等地質現象時，可沿走向適當追索。為保證測線兩側范圍不漏掉異常，實測路線可以是曲折的。詳查採用面積測量方法，按選定比例尺預先布置測網，測線應盡量垂直穿過欲探測的地質體。

工作時，γ探測器應放在較平坦的地方測量，以避免微地形影響。測點附近的地質情況應予記錄，遇到有利層位，或岩性、構造和底數有明顯變化時，應適當加密測點。

用γ輻射儀測量時，所記錄的γ射線照射量率是由多種因素引起的，可表示為

勘查技術工程學

其中：是測點附近岩石或土壤中放射性核素產生的γ射線照射量率；是宇宙射線產生的γ射線照射量率；是儀器底數；，為儀器的自然底數。

由於宇宙射線的照射量率隨地區緯度、海拔高度和晝夜時間的變化而變化，儀器底數也受探測器內放射性核素含量、儀器受污染程度、儀器雜訊強度和假脈沖數，以及儀器使用時間長短的影響。因此，輻射儀的自然底數不是一個常數。但是這種變化一般不大，在岩石底數中所佔份額較小，所以可將它視為常數。不同的儀器，其自然底數也可能不等，當多台儀器進行γ測量，尤其是在環境γ本底調查、放射性核素定量測量以及為確定低於背景的γ偏低場而進行的測量中，必須測定各台儀器的自然底數，以便使測量結果能進行統一對比。

測定自然底數的方法有鉛屏法、水中法、水面法等多種，其中水中法最為簡便。選擇水深大於1.5 m，水面直徑大於2 m，無放射性污染的水域，將γ輻射儀用塑料布密封好，置於水下50 cm處，此時取得的讀數即為自然底數。

岩石中正常含量的放射性核素產生的儀器讀數叫做岩石底數或背景值。各種岩石有不同的底數，可按統計法求取，作為正常場值。野外工作中，凡γ射線照射量率高於圍岩底數三倍以上，受一定岩性或構造控制，性質為鈾或鈾釷混合者，該處稱為異常點。若γ射線照射量率偏高（高於圍岩底數加三倍均方差），但未達到異常照射量率標准，而地質控礦因素明顯，且有一定規模者，亦稱為異常點。應當指出，上述標准不宜用來解決非鈾地質問題。例如，找尋蓄水構造時，異常只比底數高 10%～80%。因此，解決非鈾地質問題時，高於底數者即是異常點。異常分布受同一岩層或構造控制，其長度連續在20 m以上者，稱為異常帶。對有意義的異常點應進行輕型山地工程揭露。在做好地質、物探編錄和取樣分析的基礎上，可提出進一步工作的意見。

在測區內鐳、鈾平衡遭到破壞，平衡顯著偏鈾時，由於鈾的γ射線照射量率很小，宜採用β+γ測量，即用記錄β射線的儀器測量β射線和γ射線的總照射量率。當需要查明浮土覆蓋地區鈾礦遠景時，可採用孔中γ測量。

為了評價地面γ測量的質量，應布置檢查路線。檢查路線應布置在地質有利地段或工作質量有疑問的地段。檢查工作量應不少於測區工作量的10%。工作質量高的標準是：未遺漏有意義的異常，檢查測量曲線與原測量曲線形態無明顯差異。

影響測量精度的主要因素是核衰變的統計漲落。由（11.2-16）式可知，提高精度的途徑是要有足夠的脈沖計數。實際工作中可採用延長測量時間，增加測量次數等方法解決。

為了保證工作質量，每天出工前後都必須用工作標准源對儀器的性能進行檢查。當在某一固定點帶標准源和不帶標准源的讀數差在統計漲落允許范圍時，可認為儀器工作正常；否則應對儀器重新標定。同時，工作期間還應定期檢查儀器的穩定性、准確性及多台儀器對比的一致性。

12.1.1.4 地面γ測量數據的整理及圖示

（1）地面γ測量數據的整理

地面γ測量數據的整理包括將讀數（計數率）換算成γ射線照射量率、確定岩石底數、計算岩石γ射線照射量率統計漲落的均方差等。

為了求得岩石底數，首先要根據實測γ射線照射量率繪制頻數直方圖（或概率分布曲線）。如果岩石γ射線照射量率服從算術正態分布，則岩石照射量率（算術）平均值為

勘查技術工程學

均方差為

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式中 n 為統計分組的組數；為第i 組的頻數；為第i 組的組中值。

如果岩石γ照射量率服從對數正態分布，則岩石照射量率幾何平均值和均方差為

勘查技術工程學

取作為岩石底數，+3σ作為異常的下限（非鈾地質工作除外）。

岩石底數和異常下限也可在累積頻率展直圖或累積頻率分布曲線上直接讀取。

（2）地面 測量成果的圖示

地面γ測量的成果圖件主要有：γ照射量率剖面圖、γ照射量率剖面平面圖、γ照射量率等值線平面圖和相對γ照射量率等值線平面圖等。

γ照射量率等值線圖按±3σ、±2σ、±σ勾繪。不同岩石有不同的底數，且不同岩石γ射線照射量率的變化幅度（即均方差）也是不同的，這些都會影響γ照射量率等值線圖的精度。為此，可以在每種岩性范圍內按各自的+σ、+2σ、+3σ將γ場劃分為偏高場、高場和異常場三級，然後分別把各種岩性γ射線照射量率等級相同的點連接起來（不論它們的岩性是否相同），這樣便構成了一幅相對γ照射量率等值線平面圖（圖 12-4）。這種圖避免了岩石背景值不同造成的干擾，較全面地反應了各種不同岩性的γ場特點，能清楚地反映γ暈圈與礦化、構造的關系，有利於研究礦化規律及推測成礦有利地段。

圖12-4 某地區相對γ照射量率等值線平面圖

12.1.1.5 地面γ測量的資料解釋及實例

地面γ測量的資料解釋是定性的，因為γ測量的探測深度淺，1～2 m。一般只能圈出地表放射性核素增高的地段，難以發現埋藏較深的礦體。此外，γ射線照射量率的大小並非總是反映鈾的富集程度。因為鈾系中主要γ輻射體都是屬於鐳組的核素，所以產生γ異常的源主要是鐳而不是鈾。

放射性核素在自然界中廣泛分布，γ測量中發現異常並不難，但評價異常就不容易了。當礦床出露地表或處於氧化帶中，而附近又有斷裂跡象時，鈾容易受風化淋濾作用而被酸溶解帶走。其結果是鐳的數量增大，平衡偏向鐳，從而出現γ射線照射量率很高而鈾並不富的現象。若被運走的鈾在適當的環境下被還原而沉積下來，或在還原環境下鐳被帶走而鈾又被溶解得很少，就會發生平衡偏向鈾的情況。這時γ射線照射量率不高，但鈾卻很富。因此，必須特別注意用鈾鐳平衡系數確定測區內鈾、鐳是否處於長期平衡狀態，而不能僅僅依靠γ射線照射量率的大小來評價異常。同時，還應綜合應用異常點（帶）的地質、地球化學和其他地球物理（包括射氣測量、β+γ測量等）資料進行分析，才能對異常做出正確的判斷。

圖12-5 某地區地質、相對γ照射量率綜合平面圖

地面γ測量具有儀器輕便、方法簡單、工作靈活、成本低、效率高等特點。除用於直接尋找鈾、釷礦床和確定成礦遠景區外，還用於地質填圖，尋找與放射性核素共生的其他礦產，探測地下水以及解決其他地質問題。

圖12-5是地面γ測量尋找鈾礦床的實例。該地區曾發現燕山運動早期花崗岩體，其主要岩性為中細粒花崗岩。區內浮土覆蓋面積較大，岩漿活動頻繁，構造復雜，呈東西向分布。γ測量圈定了兩個異常和兩個偏高場，都有一定的規模，經地表揭露後它們依然存在。對偏高地帶又做了射氣測量、鈾量測量和伴生元素找礦等工作，結果均有顯示。經勘查揭露，在1、2號異常及3號偏高地帶發現鈾礦，4號偏高地帶見到了鈾礦化。

12.1.2 地面γ能譜測量

如前所述，鈾系和釷系都有幾個主要的γ輻射體。因此，在鈾、釷混合地區，用地面γ測量方法不易判定異常的性質，這時採用地面γ能譜測量往往能取得良好的地質效果。

12.1.2.1 地面γ能譜儀和儀器譜

地面γ能譜儀的閃爍計數器可將γ射線的能量轉換成電脈沖輸出，輸出脈沖的幅度與γ射線的能量成正比，因此能譜測量實際上是對脈沖幅度進行分析。完成這個功能的電路稱為脈沖幅度分析器。其原理見圖12-6（b），它由上、下甄別器和反符合電路組成。甄別器是一種只允許幅度高於某一數值（稱之甄別閾值）的脈沖通過的裝置。上甄別器的閾電壓較高，只有較大幅度的脈沖（如9號脈沖）才能通過。下甄別器的閾電壓較低，除了所有能通過上甄別器的脈沖（如9號脈沖）可以通過外，幅度介於上、下甄別器之間的脈沖（如3、5、8號脈沖）也能通過。兩甄別器輸出的信號均送到反符合電路。反符合電路的特點是，當上、下甄別器有相同的信號同時輸出時，使這些信號在反符合電路相互抵消。因此，反符合電路輸出的只是介於上、下甄別閾電壓之間的脈沖（3、5、8號脈沖），然後進行計數和記錄。

上、下甄別閾電壓的差值稱為道寬。道寬固定以後，通過調節下甄別閾電壓（上甄別閾電壓相應地變化），可把幅度不等的脈沖逐段分選出來，這種脈沖幅度分析方法稱為微分測量。所測得的譜線稱為微分譜。

如果脈沖幅度分析器只用一個下甄別器，則所有幅度超過下甄別器閾電壓的脈沖（圖12-6（a）中3、5、8、9號脈沖）都被記錄，這種脈沖幅度分析方法稱為積分測量。所測得的譜線稱為積分譜。

實際工作中，γ能譜儀測得的γ能譜不是線譜，而是因各種因素復雜化了的儀器譜（圖12-7），它是γ射線通過物質（岩石、土壤、能譜儀探測元件等）產生光電效應、康普頓散射和電子對效應等，使能譜發生了很大變化後形成的，是一種連續譜。與線譜相比，U、Th、K的上述特徵峰峰位不夠突出，但仍能分辨。

圖12-6 脈沖幅度分析器原理

圖12-7 NaI（Tl）測得的微分儀器譜和U、Th、K道的選擇

12.1.2.2 U、Th、K含量的計算

γ能譜儀用一個積分道（＞50 keV）記錄某一能量閾以上的總γ射線計數率，還用三個微分道分別測量γ射線三個能譜段產生的計數率。其中鉀道道寬0.2 MeV，所鑒別的γ譜段中心可選在⁴⁰K特徵峰1.46 MeV處；鈾道道寬0.2 MeV，譜段中心可選在鈾系²¹⁴Bi特徵峰1.76 MeV處；釷道道寬0.4 MeV，譜段中心可選在釷系²⁰⁸Tl特徵峰2.62 MeV處。三個譜段都選在高能區，可以減少散射γ射線的影響。三個譜段又相互獨立，且每一譜段中，目標核素譜線佔主要成分，有利於提高計算方程解的穩定性（圖12-7）。

設鉀、鈾、釷道的計數率（已減去底數）分別為I₁、I₂、I₃（單位為cpm），則它們與U、Th、K的質量分數w（U）、w（Th）、w（K）（單位分別為10^-6、10^-6、%）的關系為

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式中系數a_i、b_i、c_i（i=1，2，3）稱為換算系數，分別表示單位含量的鈾、釷、鉀在不同測量道的計數率（單位分別為cpm／10^-6、cpm／10^-6和cpm／%），需在鈾、釷、鉀標准模型上實測確定。

解上述方程組，可求得鈾、釷、鉀的質量分數

勘查技術工程學

式中

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12.1.2.3 地面γ能譜測量的工作方法及成果圖件

地面γ能譜測量與地面γ測量的工作方法類似，但地面γ能譜測量需要按照預先布置的測網定點、定時讀數，讀數的時間一般為1min。微機化γ能譜儀實現了現場自動數據採集、數據初步整理及現場繪制剖面平面圖。

在室內，可將野外採集的數據直接輸入計算機，在屏幕上快速形成各種圖件，並進行人機交互解釋。

地面γ能譜測量的成果圖件有：鈾、釷、鉀含量剖面圖、剖面平面圖和等值線平面圖，有時還要繪制釷鈾比［w（Th）／w（U）、釷鉀比w（Th）／w（K）、鈾鉀比w（U）／w（K）］剖面圖或等值線平面圖。

12.1.2.4 地面γ能譜測量的應用

地面γ能譜測量可以直接尋找鈾、釷礦床，也可尋找與放射性核素共生的金屬及非金屬礦床，利用鈾、釷、鉀含量及其比值的分布資料，還可推測岩漿岩和沉積岩的生成條件及演化過程，探測成礦特點和礦床成因等。

圖12-8是應用γ能譜測量尋找含金構造帶的實例。在含金礦脈附近，γ總量曲線和K含量曲線出現低值，U、Th含量曲線出現高值，而w（U）／w（Th）、w（U）／w（K）、w（Th）／w（K）值形成明顯的異常。綜合這幾條曲線，可確定含金礦脈的位置。根據礦脈兩側K含量曲線兩處出現高值的位置，可大致估計鉀化帶的寬度。

圖12-8 山東某地地面γ能譜測量曲線

Ⅵ 如何在綜合驗光儀上測量AC/A比率

先測遠距離隱斜，再測出近距離隱斜，用公式算出AC/A比率。
梯度AC/A是，先測出近距離隱斜，再加+1。00D測附加後的隱斜，再用公式算出AC/A比率。

Ⅶ 測量按測量方式分類和按測量方法分類分別可分為哪些

按測量方式可分：

1、直接測量：無需對被測量與其他實測量進行一定函數關系的輔助計算而直接得到被測量值得測量。

2、間接測量：通過直接測量與被測參數有已知函數關系的其他量而得到該被測參數量值的測量。

3、接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面直接接觸，並有機械作用的測力存在（如接觸式三坐標等）。

4、非接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面之間沒有機械的測力存在（如光學投影儀、氣動量儀測量和影像測量儀等）。

5、組合測量：如果被測量有多個，雖然被測量（未知量）與某種中間量存在一定函數關系，但由於函數式有多個未知量，對中間量的一次測量是不可能求得被測量的值。這時可以通過改變測量條件來獲得某些可測量的不同組合，然後測出這些組合的數值，解聯立方程求出未知的被測量。

6、比較測量：比較法是指被測量與已知的同類度量器在比較器上進行比較，從而求得被測量的一種方法。這種方法用於高准確度的測量。

按測量方法可分：

1、直接測量法：不必測量與被測量有函數關系的其他量，而能直接得到被測量值的測量方法。

2、間接測量法：通過測量與被測量有函數關系的其他量來得到被測量值的測量方法。

3、定義測量法：根據量的定義來確定該量的測量方法。

4、靜態測量方法：確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。

5、動態測量方法：確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。

6、直接比較測量法：將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。

7、微差測量法：將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較，通過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。

3、准則檢驗法

馬利科夫判據是將殘余誤差前後各半分兩組, 若「Σvi前」與「Σvi後」之差明顯不為零, 則可能含有線性系統誤差。

阿貝檢驗法則檢查殘余誤差是否偏離正態分布, 若偏離, 則可能存在變化的系統誤差。將測量值的殘余誤差按測量順序排列，且設A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2?+…+(vn-1-vn)2+(vn-v1)2。

若|B/2A-1|>1/n^1/2,則可能含有變化的系統誤差。

系統誤差的消除：

1、在測量結果中進行修正 已知系統誤差, 變值系統誤差, 未知系統誤差

2、消除系統誤差的根源

3、在測量系統中採用補償措施

4、實時反饋修正

參考資料來源：網路-測量方法

Ⅷ 測量方法有哪些

1、按是否直接測量被測參數，可分為直接測量和間接測量。

直接測量：直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。

間接測量：測量與被測尺寸有關的幾何參數，經過計算獲得被測尺寸。

2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值，可分為絕對測量和相對測量。

絕對測量：讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。

相對測量：讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。

3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸，分為接觸測量和非接觸測量。

接觸測量：測量頭與被接觸表面接觸，並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。

非接觸測量：測量頭不與被測零件表面相接觸，非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。

4、按一次測量參數的多少，分為單項測量和綜合測量。

單項測量；對被測零件的每個參數分別單獨測量。

綜合測量：測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時，可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。

5、按測量在加工過程中所起的作用，分為主動測量和被動測量。

主動測量：工件在加工過程中進行測量，其結果直接用來控制零件的加工過程，從而及時防治廢品的產生。

被動測量：工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格，僅限於發現並剔除廢品。

6、按被測零件在測量過程中所處的狀態，分為靜態測量和動態測量。

靜態測量；測量相對靜止。如千分尺測量直徑。

動態測量；測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理

從驗潮站的高程零點，用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程，作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發，用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。

一、二等水準測量稱為精密水準測量，為全國高程式控制制網的骨幹，三、四等水準網遍布全國各地，以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上，為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量，同城為普通水準測量。

水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線，在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數，根據讀數計算高差。

Ⅸ 無線電綜合測試儀的使用方法，怎麼用，本人不會用，還請有會用的師傅們多多指教，詳細說明，萬分感謝

任何儀器儀表都有對應的使用說明書，而在使用說明書裡面會給出對應儀器儀表的詳細操作指引和各種功能說明。這是最好的師傅。
建議找出無線電綜合測試儀器廠家給的使用手冊或產品說明書，按照說明書裡面的各項功能說明和各種操作指引，結合目前的實際使用工作來詳細了解這套設備。
這種事情只能靠自己，等過程中碰到焦點問題的時候再找師傅或周圍熟悉這台儀器的人來咨詢，這樣兒學習最扎實可靠，速度更快。

Ⅹ 怎樣使用線材綜合儀測試線材

這是8681 8986 8683 8691 8688 8983 系列線材測試機 的基本操作方法
1.開機自我檢測OK後
2.設置線材種類
按（Mode）鍵 選擇第二項 線材種類 有 （一般 單邊 點測）選擇你需要的 雙邊就用一般 單頭線就用單邊 （如果是單頭線 在這頁的倒數第二項 有個單邊靈敏度設置 一般設置為80就可以了）
3.設置高壓絕緣
按（Hipot）鍵 設置你需要的 高壓 和測試規格（絕緣） 用數字鍵輸入後安確定（Entet）就可以了
4.設置導通阻抗
按（Cond）鍵 在第一項 設置你需要的 導通阻值
5.設置測試項目
按(Mode）鍵 在按 屏幕右下角 的那個鍵
選擇你要測試的項目 第一項 短斷路 是一定要檢測的
6.測試設定
插上線材按（Learn）讀取標准 在按（Save）檔案保持 在按（Enter)確定 在按（TEST)測試 就OK 了

深圳市寧峰電子 唐強