核輻射靈敏度測量方法

⑴ 人工核輻射測量方法

12.3.1 X熒光方法

X熒光方法是一種通過測量元素的特徵X射線來進行物質成分分析的人工核物探方法。

12.3.1.1 X熒光方法工作原理

（1）特徵X射線及其譜結構

X射線是一種低能電磁輻射，具有波、粒二象性，它的產生過程卻與其他電磁輻射（γ射線，軔致輻射等）不同。高能粒子（電子、質子、軟γ射線或X射線）與靶物質原子發生碰撞時，從原子的某一殼層逐出一個電子，於是在該殼層出現一個電子空位。這時原子處於激發態，其外層能量較高的電子就發生躍遷以充填電子空位，並將多餘的能量（兩殼層的能量差）以X射線的形式釋放出來。

能引起內層電子躍遷的入射粒子的最低能量稱為吸收限。我們可以將原子的K、L、M等各層的吸收限表示為K_ab、L_ab、M_ab等。當激發能量E₀＞K_ab時，K層出現電子空位，L、M或N層電子充填該空位，這時釋放的X射線稱為K系X射線；當E₀＞L_ab時，L層出現電子空位，M、N層電子充填該空位，釋放出的X射線稱為L系X射線，等等。由於每個電子殼層存在若干亞層（電子軌道），使得X射線更趨復雜化。例如K系X射線又分為：L層各亞層電子躍到K層形成的K_α1、K_α2線，M、N層各亞層電子躍遷到K層時形成的K_β1、K_β2、K_β3線等，且它們之間的X射線照射量率差別很大。其餘各系亦是如此。

每種元素的原子能級是特定的，因此每種元素都有一套確定能量的X射線譜。該線譜成為表徵這一元素存在的譜線，所以又稱這些譜線為該元素的特徵X射線。

（2）熒光產額

我們知道，原子在退激時也可以放出俄歇電子而不釋放特徵X射線，這就造成了特徵X射線放射幾率的減少。特徵X射線發射的幾率稱為熒光產額，用ω表示。ω等於某殼層伴有特徵X輻射的電離數I與該殼層總電離數n之比，即

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圖12-13 熒光產額與原子序數的關系

圖12-13給出了不同元素K、L、M系的熒光產額曲線。不難看出，熒光產額主要依賴於元素的原子序數。重元素的熒光產額高，容易分析。輕元素的熒光產額低，給測量帶來了很大的困難，因而測量精度低。將各線系加以比較，可見K系的熒光產額最高，因此實際工作中應盡量利用K系譜線。

（3）莫塞萊定律

1913年，莫塞萊發現，元素特徵X射線頻率ν的平方根與靶物質的原子序數Z存在以下線性關系

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式中a、b是與譜線特徵有關的常數。上式也可以寫成

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式中E_X是特徵X射線的能量，h為普朗克常數。由上式可見，只要測定出某一能量（或頻率）的特徵X射線，就能確定相應的化學元素。這一特定能量X射線的照射量率的大小就反映了該元素在物質中的含量。

12.3.1.2 X熒光的激發

（1）激發方式

要激發待測元素原子的X熒光，首要的問題是必須使其原子內層電子軌道上形成空位，這就要求為電子提供大於結合能的能量，以使該電子脫離原子的束縛，成為自由電子。完成這一過程的主要方式如下。

1）電子激發。用高電壓下產生的高速電子或核衰變產生的β射線轟擊靶材料。這種方式除獲得靶物質的特徵X射線外，還存在軔致輻射產生的連續譜，造成很強的本底，給測量帶來了不便。

2）帶正電粒子激發。帶正電粒子來自靜電加速器產生的高能質子、氘核或其他粒子，以及核衰變產生的α射線。常用的是質子激發，特點是本底極低，這是因為重帶電粒子的軔致輻射可忽略不計，因而X熒光分析可獲得很低的檢出限（測量裝置能發現的最小照射量率變化值）。重帶電粒子射程很短，所以對帶正電粒子激發的X熒光的分析實際上是一種表面分析方法。

3）電磁輻射激發。γ射線、X射線及軔致輻射都可與核產生光電效應，從而使內層電子軌道形成空位，這是最常用的激發方式。

（2）激發源

激發源的種類很多。X射線管可用於電子激發或電磁輻射激發，靜電加速器可用於帶正電粒子激發或電磁輻射激發，野外工作中常用放射性核素作激發源。例如²⁴¹Am，⁵⁷Co是軟γ射線源，⁵⁵Fe、¹⁰⁹Cd、²³⁸Pu、¹⁵³Gd是X射線源等。用它們可現場測定元素的種類和含量。

12.3.1.3 X射線在物質中的衰減

X射線和γ射線一樣，與物質作用會產生光電效應、康普頻散射和電子對效應。單色窄束X射線在物質中的衰減服從指數定律

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式中I₀和I分別為通過該物質前、後X射線的計數率；μ_m為質量吸收系數，μ_m=μ／ρ，μ為吸收系數，ρ為物質密度；d_m為面密度（或質量厚度），d_m=ρd，d為物質層厚度。

物質透過X射線的能力用透過率η表示，即

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顯然，透過率η取決於物質的質量吸收系數μ_m和面密度d_m。質量吸收系數隨入射X射線能量減小而增長，且其變化是不連續的。例如，當入射X射線能量E₀小於吸收限K_ab（或L_ab）時，μ_m較小，因而透過率η大；當E₀大於K_ab（或L_ab）時，能激發K層（或L層）電子產生光電效應，μ_m突然增大，η急劇減小，於是出現圖12-16中透過率η在吸收限K_ab（或L_ab）處突變的現象。利用這一現象可以實現對能量的甄別。

此外，調節物質層厚度d，也可以調整物質的透過率η，使透過率曲線上、下移動。

12.3.1.4 現場X熒光測量方法

X熒光分析所使用的儀器稱為X射線熒光儀，其工作原理是，用激發發源產生的帶電粒子與靶物質原子作用，使之放出X射線，通過測定特徵X射線的能量和強度，就能確定放射性核素所屬元素的名稱及含量。

X熒光分析可在室內，也可在野外進行。隨著X熒光儀器設備及工作方法日臻完善，現場X熒光測量已成為快速評價和驗證礦化異常的有效方法。

現場X熒光測量工作主要包括以下內容：調整和檢查儀器工作狀態，布置測網，測試工作地區岩礦樣品，建立工作曲線及室內資料整理等。

測線、測網要依據礦化程度布置，測線應布置在岩、礦露頭比較平整的地段，對均勻礦體要加密測線、測點。

現場X熒光測量主要是用閃爍計數器測定 X射線，但它往往不能將 X 射線能量相近的元素區分開來。圖 12-14 中實線就是銅、鐵二元樣品的 K 系 X 射線儀器譜。由於銅和鐵的 K 系 X 射線能量相近，它們的譜線重疊，無法區分 Fe K和 Cu K的照射量率。為了解決這個問題，可以選用高解析度的半導體探測器。它需要低溫的工作環境，用於現場測量尚有一定困難。為此，可在試樣和探測器間安裝某種材料製作的濾片（圖12-15），使其吸收限能量略大於被測元素特徵 X射線的能量，而小於其餘干擾輻射的能量，這樣就只有被測元素的X射線能通過濾片被探測器探測到，其餘輻射全被濾掉，這種方法稱為透過片法。

圖12-14 閃爍計數器的能量分辨能力

圖12-15 一種典型的激發探測裝置

當樣品成分復雜或做多元素分析時，則要採用平衡濾片法。選擇兩種材料組成一對濾片，一片叫透過片，另一片叫吸收片，它們都有自己特定的吸收限。如圖12-16所示，實線表示透過片 A 對 X 射線的透過率曲線，虛線表示吸收片 B 對 X 射線的透過率曲線。在它們之間由兩個吸收限 K _abA和 K _abB確定的能量間距ΔE，稱為能量通帶。選擇適當的平衡濾片，使待測元素的特徵X射線能量位於 K _abA和 K _abB之間，這時只需分別測量通過每一濾片後的 X射線照射量率，兩者之差就是被測元素的照射量率。顯然，通帶愈窄，濾片的能量分辨本領愈好。

例如，有一個含Fe、Co、Ni、Cu和Zn的樣品，激發時五個元素都發射自己的特徵X射線，而我們只測量Cu的K_α線，Cu的K_α線的能量為8.047 keV，Co的吸收限K_ab為7.709 keV，Ni的K_ab為8.331 keV。取Co和Ni製成的濾片，並使能量通帶處於7.709～8.331 keV之間，Cu的K_α線正落入其中，而Co、Ni、Zn的K線不是小於就是大於此通帶能量范圍，所以透過Co片和Ni片的X射線照射量率之差正好是Cu的K_α射線的照射量率。

圖12-16 平衡濾片的特性

工作曲線是表示樣品中待測元素含量與特徵X射線照射量率之間關系的曲線（圖12-17）。在野外現場獲得特徵X射線照射量率後，即可從工作曲線上查出相應的元素含量。

現場繪制工作曲線有刻槽取樣和岩心測量兩種方法。刻槽取樣法是在有代表性的礦化地段，取5～10處不同含量的露頭，每處長約50～100 cm，均勻布置10～20個測點進行X熒光測量，求出平均照射量率差值Δ或平均計數率差值（或平均照射量率或平均計數率）。然後刻

圖12-17 工作曲線示意圖

槽取樣，用化學分析方法獲得該處元素平均含量。最後，根據或（或或）與元素含量的關系繪制散點圖，用回歸分析方法找出二者之間的函數關系，並繪制工作曲線。岩心測量法與刻槽取樣法相同，只是測量的對象是岩心而不是露頭。

必須指出，待測樣品中各元素間的相互影響、樣品粒度不均勻、表面不平整等，都會對X熒光測量產生影響，使測量結果出現誤差，這就是基體效應。校正基體效應的方法很多，讀者可參看有關書籍，不再贅述。

X熒光測量數據經整理後，可繪制X射線熒光照射量率（或計數率）剖面圖、剖面平面圖、等值線平面圖，以及元素含量的剖面及平面圖件。

12.3.2 中子活化法

利用核反應可以把許多穩定的核素變成放射

性核素，這個過程稱為活化。我們知道，中子引起的核反應可使原子核活化，這就是中子活化。具體地說，中子活化是利用具有一定能量的中子去轟擊待測岩石樣品，然後測定由核反應生成的放射性核素的核輻射特性（半衰期、射線能量及照射量率），從而實現對樣品中所含核素種類和含量的定性和定量分析。

例如，用中子活化法測定金的核反應式為

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或記為¹⁹⁷Au（n，γ）¹⁹⁸Au。經此反應，穩定核素¹⁹⁷Au轉變為放射性核素¹⁹⁸Au，其半衰期為2.696d，放出的一條主要γ射線的能量為411.8 keV，活化核反應截面為98.8×10^-28m²。因此可用鍺（鋰）探測器測量¹⁹⁸Au的γ射線照射量率，從而確定樣品中是否含金，以及金的含量。元素分析檢出限（即與檢出限對應的元素含量）可達0.04×10^-9。

12.3.2.1 活化分析方程式

設某靶核在活化反應時間（t=0）前的原子核數為N₀，則活化反應中放射性核素原子核的生成率為

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式中f為中子的通量密度，f=nv；n為中子密度；v為中子速度；σ為靶核對中子的活化反應截面。

新生成的放射性核素同時發生衰變，其衰變率為

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式中N為t時刻新生成的放射性核素的原子核數。於是，放射性核素原子核的凈增長率為

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活化過程中，雖然 N₀ 在減少，但 N₀≫N，故 N₀ 可視為常數。對（12.3-8）式為一階非齊次線性微分方程，解之得

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由（11.8-1）式和（11.2-5）式可知，放射性核素的活度為

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將（12.3-9）式代入，得

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根據半衰期與衰變常數的關系，（12.3-11）式可寫成

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圖12-18 放射性子核的積累衰變曲線

（12.3-12）式表明，用中子束活化某靶核時，照射t時刻得到的放射性核素的活度與fσN₀成正比，與照射時間t呈指數關系。圖12-18為放射性子核的積累衰變曲線，當照射時間為5倍半衰期時，活度A已接近飽和。

活化分析中，總是在停止照射後「冷卻」（即衰變）一定時間t′才進行測量。這時放射性核素的活度A′為

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靶核數N₀可用下式表示

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式中：N_A為阿伏伽德羅常數，N_A=6.022×10²³mol^-1；θ為放射性核素豐度；m為靶元素的質量；M為靶元素的相對原子量，於是

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（12.3-14）式就是中子活化分析最基本的方程式。

實際工作中，由於σ和f不易准確測定，放射性活度A′的測量又比較麻煩，所以中子活化分析求待測靶元素的質量很少用上述絕對測量法，而是用相對測量法。相對測量法是將已知待測元素含量的標准參考物質與未知樣品在相同條件下進行照射和測量，由（12.3-14）式得到

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式中：A′_樣和A′_標分別為樣品和標准參考物質的放射性活度；m_樣和m_標分別為樣品和標准參考物質中待測元素的質量。由上兩式得到

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設γ射線的計數率為I，則它與活度的關系為

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式中：B_γ為一次衰變中產生γ光子的幾率；ε_γ為測量系統的探測效率，與被測γ射線能量有關；R為與測量幾何條件有關的參數。根據上式，我們還可以得出

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式中：I_樣和I_標分別為樣品和標准參考物質中待測元素放出的γ射線的計數率，於是（12.3-15）式變為

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設樣品和標准參考物質中待測元素的質量分數為w_樣和w_標，由於

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式中：G_樣和G_標分別為樣品和標准參考物質的質量，於是（12.3-18）式變為

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這就是相對測量時計算樣品中待測元素質量分數的公式。

12.3.2.2 中子源

中子源是能夠提供中子的裝置，常用的中子源有以下三種類型。

（1）放射性核素中子源

這種中子源品種很多，主要有：①α中子源：²¹⁰Po、²²⁷Ac、²³⁸Pu、²⁴¹Am、²⁴²Cm、²⁴⁴Cm等放射性核素常用作α中子源的α輻射體。靶材料大多選用鈹，核反應式為⁹Be（α，n）¹²C；②自發裂變中子源：主要採用²⁵²C_f核的自發裂變，中子產額很高，每毫克²⁵²C_f每秒放出2.3×10⁹個中子；③光中子源：這種源利用的是⁹Be（γ，n）⁸Be核反應，常用¹²⁴Sb作為激發（γ，n）反應的γ輻射體。

（2）加速器中子源

加速器是使帶電粒子獲得較高能量的裝置。用加速器產生的質子、氘核、α粒子等去轟擊靶核，使之產生發射中子的核反應，就構成了加速器中子源。這類中子源包括：①中子發生器：以氘核作轟擊粒子，與靶核發生³H（d，n）⁴He或²H（d，n）³He核反應產生中子；②電子迴旋迴速器：用其形成的高速電子轟擊高熔點重金屬材料製成的旋轉靶，產生很強的γ射線束，射向鈹製成的二次靶，產生⁹Be（γ，n）⁸Be反應，形成快中子束；③直線加速器：產生中子的過程與迴旋迴速器類似，只是電子能量更高，可獲得更強的中子束。

（3）反應堆中子源

這是中子活化分析應用最廣的中子源，產生的中子能量是連續的，能量從0.001 eV到幾千萬電子伏。

12.3.2.3 中子活化分析步驟

圖12-19 山東周店金礦一測線綜合剖面圖

①制備樣品和標准參考物質。樣品用土壤或岩、礦石標本等制備，制備和保存過程中應防止污染。標准參考物質在國際和國家標准部門公布的物質中選取，其中待測元素的化學狀態和含量應與樣品相近。②將樣品和標准參考物質放在中子源中經受相同通量的中子照射。③用各種方法進行放射化學分離，剔除干擾放射性核素。④用核探測器測量樣品和標准參考物質的核輻射。⑤用計算機處理數據，計算待測元素的含量。

12.3.2.4 中子活化方法的應用及實例

中子活化法測量微量元素具有分析檢出限高（達10^-6～10^-11）、測量時不破壞樣品，不受元素在物質中的化學狀態的影響等優點。

圖12-19是山東某金礦體的綜合剖面。該金礦處在一主幹斷裂下盤的伴生斷裂帶上。礦區廣泛出露印支期玲瓏花崗岩，含礦蝕變帶長約1000 m，金礦體長300 m，厚1～2 m，賦存於蝕變帶中，與礦體對應最好。

⑵ 攜帶型核輻射檢測儀的概述：

R-EGD攜帶型輻射檢測儀採用高靈敏度G-M計數管作為探測器，反應速度快，和國內同類儀器相比，該儀器具有更寬的劑量率測量范圍。該儀器除能測高能、低能γ射線外，還能對低能X射線進行准確的測量，具有良好的能量響應特性。

⑶ 核輻射檢測與防護技術是什麼

恩，在空氣、食物、建材、核電等等地方都有輻射，核輻射檢測就是用檢測儀器將其的放射性含量檢測出來，確定其對人體或環境是否有害，採用一些防護和清染的技術和工具將核輻射的危害減到最少。目前在全球這個輻射檢測，SAIC的儀器做的不錯。其他的還有一個什麼奧泰克吧，也還行。這個學科可以學，未來是很重要的主流發展方向。

粒子探測器與數據獲取 這本書可以看看。大體的給你個介紹：
能夠指示、記錄和測量核輻射的材料或裝置。輻射和核輻射探測器內的物質相互作用而產生某種信息（如電、光脈沖或材料結構的變化），經放大後被記錄、分析，以確定粒子的數目、位置、能量、動量、飛行時間、速度、質量等物理量。核輻射探測器是核物理、粒子物理研究及輻射應用中不可缺少的工具和手段。按照記錄方式，核輻射探測器大體上分為計數器和徑跡室兩大類。
計數器 以電脈沖的形式記錄、分析輻射產生的某種信息。計數器的種類有氣體電離探測器、多絲室和漂移室、半導體探測器、閃爍計數器和切倫科夫計數器等。
氣體電離探測器 通過收集射線在氣體中產生的電離電荷來測量核輻射。主要類型有電離室、正比計數器和蓋革計數器。它們的結構相似，一般都是具有兩個電極的圓筒狀容器，充有某種氣體，電極間加電壓，差別是工作電壓范圍不同。電離室工作電壓較低，直接收集射線在氣體中原始產生的離子對。其輸出脈沖幅度較小，上升時間較快，可用於輻射劑量測量和能譜測量。正比計數器的工作電壓較高，能使在電場中高速運動的原始離子產生更多的離子對，在電極上收集到比原始離子對要多得多的離子對(即氣體放大作用)，從而得到較高的輸出脈沖。脈沖幅度正比於入射粒子損失的能量，適於作能譜測量。蓋革計數器又稱蓋革-彌勒計數器或G-M計數器，它的工作電壓更高，出現多次電離過程，因此輸出脈沖的幅度很高，已不再正比於原始電離的離子對數，可以不經放大直接被記錄。它只能測量粒子數目而不能測量能量，完成一次脈沖計數的時間較長。
多絲室和漂移室 這是正比計數器的變型。既有計數功能，還可以分辨帶電粒子經過的區域。多絲室有許多平行的電極絲，處於正比計數器的工作狀態。每一根絲及其鄰近空間相當於一個探測器，後面與一個記錄儀器連接。因此只有當被探測的粒子進入該絲鄰近的空間，與此相關的記錄儀器才記錄一次事件。為了減少電極絲的數目，可從測量離子漂移到絲的時間來確定離子產生的部位，這就要有另一探測器給出一起始信號並大致規定了事件發生的部位，根據這種原理製成的計數裝置稱為漂移室，它具有更好的位置解析度（達50微米），但允許的計數率不如多絲室高。
半導體探測器 輻射在半導體中產生的載流子（電子和空穴），在反向偏壓電場下被收集，由產生的電脈沖信號來測量核輻射。常用硅、鍺做半導體材料，主要有三種類型：①在n型單晶上噴塗一層金膜的面壘型;②在電阻率較高的 p型矽片上擴散進一層能提供電子的雜質的擴散結型;③在p型鍺（或硅）的表面噴塗一薄層金屬鋰後並進行漂移的鋰漂移型。高純鍺探測器有較高的能量解析度，對γ輻射探測效率高，可在室溫下保存，應用廣泛。砷化鎵、碲化鎘、碘化汞等材料也有應用。
閃爍計數器 通過帶電粒子打在閃爍體上，使原子（分子）電離、激發，在退激過程中發光，經過光電器件（如光電倍增管）將光信號變成可測的電信號來測量核輻射。閃爍計數器分辨時間短、效率高，還可根據電信號的大小測定粒子的能量。閃爍體可分三大類：①無機閃爍體，常見的有用鉈(Tl)激活的碘化鈉NaI(Tl)和碘化銫CsI(Tl)晶體，它們對電子、γ輻射靈敏，發光效率高，有較好的能量解析度，但光衰減時間較長；鍺酸鉍晶體密度大，發光效率高，因而對高能電子、γ輻射探測十分有效。其他如用銀 (Ag)激活的硫化鋅ZnS(Ag)主要用來探測α粒子;玻璃閃爍體可以測量α粒子、低能X輻射，加入載體後可測量中子；氟化鋇 (BaF2)密度大，有熒光成分，既適合於能量測量，又適合於時間測量。②有機閃爍體，包括塑料、液體和晶體(如蒽、茋等)，前兩種使用普遍。由於它們的光衰減時間短(2～3納秒，快塑料閃爍體可小於1納秒)，常用在時間測量中。它們對帶電粒子的探測效率將近百分之百。③氣體閃爍體，包括氙、氦等惰性氣體，發光效率不高，但光衰減時間較短（＜10納秒）。
切倫科夫計數器 高速帶電粒子在透明介質中的運動速度超過光在該介質中的運動速度時，則會產生切倫科夫輻射，其輻射角與粒子速度有關，因此提供了一種測量帶電粒子速度的探測器。此類探測器常和光電倍增管配合使用；可分為閾式(只記錄大於某一速度的粒子)和微分式（只選擇某一確定速度的粒子）兩種。
除上述常用的幾種計數器外，還有氣體正比閃爍室、自猝滅流光計數器，都是近期出現的氣體探測器，輸出脈沖幅度大，時間特性好。電磁量能器(或簇射計數器)及強子量能器可分別測量高能電子、γ輻射或強子（見基本粒子）的能量。穿越輻射計數器為極高能帶電粒子的鑒別提供了途徑。
徑跡室 通過記錄、分析輻射產生的徑跡圖象測量核輻射。主要種類有核乳膠、雲室和泡室、火花室和流光室、固體徑跡探測器。
核乳膠 能記錄帶電粒子單個徑跡的照相乳膠。入射粒子在乳膠中形成潛影中心，經過化學處理後記錄下粒子徑跡，可在顯微鏡下觀察。它有極佳的位置分辨本領（1微米），阻止本領大，功用連續而靈敏。
雲室和泡室 使入射粒子產生的離子集團在過飽和蒸氣中形成冷凝中心而結成液滴（雲室），在過熱液體中形成氣化中心而變成氣泡（泡室），用照相方法記錄，使帶電粒子的徑跡可見。泡室有較好的位置解析度（好的可達10微米），本身又是靶，目前常以泡室為頂點探測器配合計數器一起使用。
火花室和流光室 這些裝置都需要較高的電壓，當粒子進入裝置產生電離時，離子在強電場下運動，形成多次電離，增殖很快，多次電離過程中先產生流光，後產生火花，使帶電粒子的徑跡成為可見。流光室具有較好的時間特性。它們都具有較好的空間解析度（約 200微米）。除了可用照相記錄粒子徑跡外，還可記錄電脈沖信號，作為計數器用。
固體徑跡探測器 重帶電粒子打在諸如雲母、塑料一類材料上，沿路徑產生損傷，經過化學處理（蝕刻）後，將損傷擴大成可在顯微鏡下觀察的空洞，適於探測重核。
由許多類型的探測器、磁鐵、電子儀器、計算機等組成的輻射譜儀，可獲得多種物理信息，是近代核物理及粒子探測的發展趨勢。

⑷ 如何提高原子發射譜線強度測量靈敏度

原子吸收具有更高的靈敏度。 具體如下原子吸收光譜是基於物質所產生的原子蒸氣對特定譜線的吸收作用來進行定量分析的方法．原子發射光譜是基於原子的發射現象，而原子吸收光譜則是基於原子的吸收現象．二者同屬於光學分析方法．原子吸收法的選擇性高，干擾較少且易於克服。由於原於的吸收線比發射線的數目少得多，這樣譜線重疊 的幾率小得多。而且空心陰極燈一般並不發射那些鄰近波長的輻射線經，因此其它輻射線干擾較小。原子吸收具有更高的靈敏度。在原子吸收法的實驗條件下，原子蒸氣中基態 原於數比激發態原子數多得多，所以測定的是大部分原 子。原子吸收法 比發射法具有更佳的信噪比是因為激發態原子數的溫度系數顯著大於基態原子。

⑸ α測量方法

我們知道，三個天然放射性系列中各有一個氣體核素（²²²Rn、²²⁰Rn和²¹⁹Rn），它們是氡的放射性同位素，稱為射氣。以測量射氣及其短壽衰變子體產生的α粒子而建立起來的各種天然核輻射測量方法，總稱為α測量方法。其中射氣測量是一種瞬時測氡方法，其餘方法（包括徑跡測量、釙-210法、α卡法，活性炭法等），都是累積測氡方法。

12.2.1 射氣測量

12.2.1.1 射氣場的形成機制

岩、礦石中的鐳（²²⁶Ra、²²⁴Ra、²²³Ra）經α衰變可不斷生成射氣，其中對α測量最有意義的射氣是氡（²²²Rn）。氡的一部分可以析出到岩（礦）石的孔隙和裂隙中，成為自由氡。這樣就在岩（礦）體周圍形成一個氡濃度增高的地段。按照氣體分子運動的規律，氡從濃度高處向濃度低處擴散，從壓強大處向壓強小處滲流，從溫度高處向溫度低處移動。於是，氡就從岩（礦）體向各個方向遷移，從地下深處向地表遷移。在遷移過程中氡還要按其衰減規律不斷減少。因此，離開岩（礦）體後，氡的濃度不斷降低，這樣便形成了一個以岩（礦）體為中心，濃度由內向外，由深至淺逐漸降低的射氣場。射氣場的形成還受地下水、伴生氣體（氧、二氧化碳、氮）、岩石破碎程度、孔隙度、氣象條件等因素的影響。尤其是地下水的作用，可使鈾、鐳遷移至地表，並不斷衰變成氡。實踐證明，α測量方法的探測深度可達數百米，能提供較多的深部地質信息。

釷射氣（²²⁰Rn）和錒射氣（²¹⁹Rn）也能形成各自的射氣場，但它們的半衰期短，所形成的場僅限於岩（礦）體附近很小的范圍。

12.2.1.2 射氣測量工作方法

根據地質任務和對測區研究程度的不同，可將射氣測量分為概查、普查和詳查三個階段。各階段的比例尺和測網布置與地面γ測量一致，不再贅述。

射氣測量的儀器稱為測氡儀，其工作原理與γ輻射儀類似，如圖12-9所示。先在測點上打深約0.5～1m的取氣孔，再將取氣器埋入孔中，用唧筒將土壤中的氡吸入測氡儀的探測器中，然後經光電倍增管轉換為電脈沖信號進行測量。測量完畢後立即排氣，然後移至下一測點，逐點進行測量。

圖12-9 射氣測量工作過程示意圖

不同地區觀測的射氣濃度有各自的底數，高於底數1.5～3倍的濃度值稱為異常。由於氡（²²²Rn）的半衰期比釷射氣（²²⁰Rn）長得多，錒射氣（²¹⁹Rn）半衰期僅4s左右，其影響可不予考慮。因此，可用以下方法判斷異常的性質：①若在最初5～10min內儀器讀數不減小或讀數反而增加，則認為異常為氡引起；②若1min後讀數減小大約一半，則認為異常為釷射氣引起；③若讀數隨時間增大而減少，但每隔1min減小量不到原讀數的一半，則認為異常為氡、釷射氣共同引起。

射氣測量的重現性較差，但也應當進行一些檢查測量，以了解異常的變化趨勢是否改變，異常位置是否大致可靠等。

12.2.1.3 射氣測量數據的整理及圖示

野外工作中，在測點讀數的是測氡儀的計數率或指針偏轉的格數，應按下式將其換算為射氣濃度ρ（Bq／l）

勘查技術工程學

式中M為儀器的測程系數，用數字顯示式儀器時，M=1；I為儀器讀數（cpm或格）；J_R為儀器標定系數（Bq／（L·cpm）或Bq／（L·格））。

鈾、釷混合異常點的讀數為²²²Rn和²²⁰Rn濃度之和。利用停止抽氣後t₁時刻的讀數n₁和t₂時刻的讀數n₂，可以按下式分別計算²²²Rn和²²⁰Rn的濃度ρ_（Rn）和ρ_（Th）。

勘查技術工程學

式中ρ₁、ρ₂分別為用停止抽氣後t₁、t₂時刻的讀數按（12.2-1）式計算的總濃度；P₁、P₂分別為 t ₁、t ₂ 時刻²²² Rn的增長率分別為 t ₁、t ₂ 時刻²²⁰ Rn的衰減率。

解上述聯立方程組，得到

勘查技術工程學

根據（12.2-3）和（12.2-4）式可計算²²²Rn和²²⁰Rn濃度的比值K，即

勘查技術工程學

式中C=ρ₂／ρ₁。為方便起見，可根據（12.2-5）式做出K-C曲線量板或K-C值換算表。實際工作中，根據讀數算出C值後，就可利用量板或換算表直接得到K值。

利用統計方法還可以確定射氣底數和異常下限。

射氣測量的成果圖件有射氣濃度剖面圖、剖面平面圖、等線值平面圖，以及氡、釷射氣濃度比等值線平面圖等。

12.2.1.4 射氣測量的應用

與γ測量相比，射氣測量具有較大的探測深度，但儀器較笨重，工作效率較低。此外，氣候、地形、土壤層結構，以及某些物質（岩石、粘土、腐殖質等）的吸附作用，都能影響射氣異常，使之復雜化，給異常解釋造成困難。

射氣測量主要用於尋找浮土覆蓋下的鈾、釷礦體，圈定構造帶或破碎帶，劃分岩層接觸界線，勘查淺層裂隙水等。

12.2.2 α徑跡測量

12.2.2.1 α徑跡測量的原理

重帶電粒子（質子、α粒子、重離子、宇宙射線）或核輻射碎片射入固體絕緣材料中時，在它們通過的路徑上會造成輻射損傷，留下微弱的痕跡，其直徑為10 nm，長為10～100 nm左右，稱為潛跡。潛跡只有在電子顯微鏡下才能觀察到。如果把這種受到輻射損傷的材料放入強酸或強鹼溶液中浸泡，則損傷部分就會較快地發生化學反應，並溶解到溶液中。擴大後的潛跡直徑可達20μm左右，它們就是粒子射入物質中形成的徑跡，在光學顯微鏡下可觀測到粒子的徑跡。由此可見，採用某些固體絕緣材料能記錄重帶電粒子，這類材料稱為徑跡探測器。可作為徑跡探測器的材料包括雲母、石英等結晶固體，各種玻璃等非結晶固體，以及硝酸纖維（CN）、醋酸纖維（CA）、聚碳酸酯（PC）、稀丙基二甘醇碳酸酯（ADC）等。

實際工作中，為了測量α粒子形成的徑跡，要將探測器置於探杯內，並埋入地表土壤層中。記錄到的主要是鈾礦體及其原生暈和次生暈中的氡放出的α粒子。這些氡通過擴散、對流、抽吸，以及地下水滲濾等復雜作用趨於地表並進入探杯，就在探測器上留下了氡及其各代子核素發射的α粒子所形成的潛跡。此外，探杯所接觸的土壤層中的鈾，以及釷系和錒鈾系的α輻射體產生的α粒子也可被探測器接收。

記錄α粒子潛跡常用的探測器材料是醋酸纖維和硝酸纖維薄膜，與之適應的蝕刻劑主要是氫氧化鈉和氫氧化鉀溶液。

12.2.2.2 α徑跡測量工作方法、資料及圖示

α徑跡測量的工作程序是：①將探測器置於塑料杯底部，再按一定的網格，倒置在測點處30～40cm深的小坑中，上蓋土封閉（圖11-10）；②約20天後取出杯中的探測器進行蝕刻；③用光學顯微鏡辨認和計算徑跡的密度（單位為j／mm²）。

圖12-10 累積法野外埋片示意圖

當取得測區內大量徑跡數據後，可利用統計方法確定該地區的徑跡底數（正常場），據此劃分正常場、偏高場、高場和異常場。徑跡密度大於底數加均方差者為偏高場；加二倍均方差者為高場；加三倍均方差者為異常場。

α徑跡測量的成果圖件主要有：α徑跡密度剖面圖、剖面平面圖和等值線平面圖等。

12.2.2.3 α徑跡測量的應用及實例

α徑跡測量和射氣測量一樣，記錄的都是氡放出的α粒子，它們的差別僅在於前者採用長時間累積測氡方式，而後者採用瞬時測氡方式。因此，α徑跡測量與射氣測量的應用范圍一致，但其探測深度要大得多。這是因為，長期累積測量方式可使得深達200 m的鈾礦體中所含的氡都擴散到探測器薄膜上，並達到一定的濃度，從而大大提高了靈敏度，均化了外來干擾影響，增加了探測深度，提高了地質效果。

某地印支期花崗岩區的岩體主要由中粗粒斑狀黑雲母花崗岩組成。鈾礦化產於構造蝕變帶內，且與赤鐵礦化、綠泥石化密切相關。該區浮土較厚且覆蓋廣泛，γ測量效果很差。射氣測量和α徑跡測量都有異常顯示，且後者更為明顯（圖12-11）。位於 F₁ 上盤的徑跡密度峰值約200 j/mm² ，寬20 m左右，並與峰值約50×3.7 Bq/L的射氣異常吻合，推測為淺部礦化引起。在F₁ 出露部位附近出現的徑跡異常峰值約100 j/mm² ，寬30 m左右，與另一峰值約20×3.7 Bq/L的較弱射氣異常位置有明顯差距。推測射氣異常只是 F₁ 構造出露部位的反映，而α徑跡異常則是 F₁ 構造出露部位與深部礦化的綜合反映。經鑽孔揭露，在孔深95 m和180 m處分別見到兩層礦體，其中淺部礦體已達到工業品位。

圖12-11 某地地質物探綜合剖面圖

12.2.3 α卡法

α徑跡測量是最先使用的累積測氡方法，其探測深度大的優點是γ測量和射氣測量無法比擬的。但是，它最大的缺點是工作周期較長，干擾因素較多。α卡法是一種更先進的「短期」累積測氡方法。它是將α卡短期埋置後取出，測量卡上吸附的氡的子核素產生的α粒子，從而解決有關地質問題。如果將α卡做成杯狀，利用這種α杯收集氡的子核素，就稱為α杯法。α杯法測氡的靈敏度更高。

12.2.3.1 α卡工作原理

α卡是一種固體材料，固體表面的分子或原子未被其他相似分子或原子包圍時，會存在未飽和價鍵力（稱為范德華力），所以任何固體表面都有從周圍氣體中吸附分子、原子或離子的能力。這樣，將固體卡片（或塑料杯）埋在地下，其表面就會吸附氡的子核素，形成放射性薄層。同時，氡的子核素多是帶正電的，很容易附著在空氣中的塵埃上，形成放射性氣溶膠。α卡自身帶負電，在電場力作用下，正離子會迅速聚集在α卡上，形成放射性薄層。

雖然氡也能被固體物質吸附，但α卡對氡的吸附能力較小。因此，可認為氡不會附著在α卡上。

實際工作中使用的α卡可用鍍鋁聚酯薄膜、銅片、鋁片、橡皮或塑料製成。還有一種α卡由過氯乙烯細纖維製成，在製作過程中使其自身帶有數百伏的靜電（負）電壓，因而稱為靜電α卡。靜電α卡有較高的靈敏度，有利於發現微弱的異常。

12.2.3.2 α卡測量方法

α卡法與α徑跡測量野外工作方法是類似的，埋卡方法見圖12-10。α杯法只需埋置杯子，工作更為簡便。

α卡法探測對象是氡的子核素²¹⁸Po、²¹⁴Po和²¹²Po等α輻射體。²¹⁸Po系²²²Rn直接衰變而來，半衰期為3.05min，經十倍半衰期，即30min左右，²¹⁸Po積累的原子核數達最大。生成的核若得不到補充，再經30min就衰變完畢。²¹⁴Po是²¹⁸Po經多次衰變而來，衰變系列中²¹⁴Pb的半衰期（26.8min）最長，故需10倍²¹⁴Pb的半衰期，即4.5h，系列才能達到平衡。若²¹⁸Po得不到補充，整個系列經4.5h時消失。²¹²Po是²²⁰Rn的子核素²¹²Pb經兩次衰變而成，衰變系列中²¹²Pb半衰期（10.6h）最長，故此系列需4.4d才能達到平衡。因此埋卡時間和測量時間不同，將得到不同的信息。埋0.5h後立即測量，探測的主要是²¹⁸Po；埋卡4～5 h立即測量，得到的是²¹⁸Po、²¹⁴Po和²¹²Po的貢獻。若放置0.5 h後再測量，得到的是²¹⁴Po和²¹²Po的貢獻。放置4 h後再測量，探測的則主要是²¹²Po了。

根據上述分析，設取卡後立即測量取得的計數率為I₁，其中²²²Rn的子核素（²¹⁸Po、²¹⁴Po等）引起的計數率為I_Rn，²²⁰Rn的子核素（²¹²Po等）引起的計數率為I_Th，4 h後第二次α測量獲得的計數率為I₂。則有

勘查技術工程學

由於放射性系列平衡時，子核數量的變化應遵從半衰期最長的子核素衰變的規律，因此（12.2-7）式中的衰變常數λ應是²¹² Pb的衰變常數，λ=0.065/h。由於 t=4 h，≈1，故有I_Th≈I₂。代入（12.2-7）式，還可得到

勘查技術工程學

由（12.1-7）式和（12.1-8）式，有

勘查技術工程學

以上I_Rn+I_Th、I_Th、I_Rn、I_Rn／I_Th四組數據在資料解釋中是有實用價值的。

野外工作中，靜電α卡埋置時間以4～6 h為宜，其他α卡埋置時間可大於12 h。同一地區埋卡時間應相同，取卡後應立即進行α測量。因為²¹⁸Po、²¹⁴Po等半衰期短，不盡快測量，它們會很快衰變掉。

由於α卡要有一定的總計數，因此當α卡上收集到的氡的子核素太少時，應適當延長測量時間，以保證數據的精度要求。找鈾礦時，異常幅度大，α卡的靈敏度可以低些，觀測時間可稍短。解決非鈾礦地質問題時，由於異常幅度小，應採用靈敏度高的方法工作，否則測量α卡的時間將予延長。找鈾礦時，²²⁰Rn（釷射氣）的子核素產生的α射線常視為干擾因素，但在處理非鈾礦地質問題時，²²⁰Rn的子核素和²²²Rn的子核素的α射線同樣有價值，因此²²⁰Rn的子核素的信息不能廢棄。

應當指出，氡的運移受多種因素的影響，規律比較復雜，使得測量結果重現性差。實踐表明，盡管重復觀測中數值會有改變，但異常的形狀、曲線的趨勢都是相似的。有時，重復測量中異常也會消失，說明該測點處氡的濃度變化很大，測點附近可能有構造存在。

條件允許時，在埋置α卡的坑中可同時進行孔中γ測量；還可將坑中的土樣取回進行鐳量測量。多種放射性測量資料的配合，有利於對α卡法異常做出正確的解釋。

根據α卡法測量所得的數據，可以繪制α卡測量剖面圖、剖面平面圖和等值線平面圖等。

12.2.3.3 α卡法的應用

α卡法比射氣測量靈敏度高，探測深度大，又比α徑跡測量生產周期短，因而在尋找鈾、釷礦床及與放射性核素有伴生或共生關系的礦床，勘查地下水、圈定構造破碎帶、劃分岩層接觸界線等方面都有廣泛的應用。

12.2.4 釙-210法

釙-210法是測量岩樣或土樣中放射性核素²¹⁰Po放出的α粒子的一種α測量方法。

12.2.4.1 釙-210法工作原理

在鈾系中，氡（²²²Rn）之後有一個半衰期為22.3a的放射性核素²¹⁰Pb。由於氡在遷移過程中不斷發生衰變，逐漸積累²¹⁰Pb，長時間後就形成了一個與氡基本處於平衡的²¹⁰Pb分散暈，這一²¹⁰Pb暈就代表了該處長時間內氡濃度的平均值。²¹⁰Pb暈的特點是，即使在近地表，²¹⁰Pb在土壤中的濃度也不受氣候變化的影響。氡的數值則受氣候、溫度、季節的影響而變動。因此，測量土樣中²¹⁰Pb的量可以更准確地反映取樣點的氡濃度。

但²¹⁰Pb是一個弱的β輻射體，而其後²¹⁰Bi（半衰期為5d）的子核素²¹⁰Po有較強的α輻射，半衰期長達138.4d，且它是所有放射性核素中最易形成膠體的核素。賦存在土壤中的²¹⁰Po常以膠體狀態沉澱或被吸附在土壤顆粒上或孔隙壁上不易流失，在土壤中形成穩定分布。因此測定²¹⁰Po即可了解土壤中²¹⁰Pb的情況，並間接推測母核素²²²Rn的分布規律。

²¹⁰Po的化學性質與碲類元素相似，部分也與鉍相似。金屬釙及其氧化物易溶於濃鹽酸和濃硝酸中，生成PoCl和Po（NO₃）₄溶液。用電化學方法可以從這些液中將²¹⁰Po置換沉積在某種電極上。根據標准電極電位低的金屬離子能置換標准電極電位高的金屬離子的性質，可選擇置換²¹⁰Po的金屬。²¹⁰Po的標准電極電位為0.66V，與它能發生置換反應的金屬有銅（0.34V）、鉍（0.23V）、銀（0.22V）、鎳（-0.25V）等。例如，銅置換²¹⁰Po的電化學反應為

勘查技術工程學

能夠置換²¹⁰Po的金屬可作為收集²¹⁰Po的探測器。

由於電化學性質不同，鈾、釷、鉛、鉍等元素都不能像釙那樣被置換沉積在銅片上。釙的其他6個同位素都是短壽的（半衰期＜3min），只有²¹⁰Po是長壽的。因此，這種置換方法一般都能有效地排除其他天然放射性同位素對²¹⁰Po測量的干擾（僅Ra有時會成為干擾）。

12.2.4.2 釙-210測量方法

釙-210測量分為野外和室內兩部分。

野外工作中，首先要根據工作任務、地質和地球物理特徵，選擇地質條件有利，蓋層較厚和露頭不發育地區作為測區，按一定的工作比例尺布置測網。然後逐個測點挖取重約50 g的土壤樣品。取樣時要撥開地表腐殖層，取離地表數十厘米深處的土壤，同一地區取樣深度應一致。

室內工作包括樣品的化學處理和測定探測器的α射線計數率。簡要步驟如下。

1）將土壤乾燥、碾碎，過40目篩，稱取20 g備用。

2）取5 g細粒土樣，連同0.5 g抗壞血酸和預先准備好的帶浮圈的銅片，一起放入100 mL的燒杯內，加入含有2%～3%檸檬酸的2mol／L的HCl溶液20 mL。

3）在水平振動的搖床上振盪3～4 h，從燒杯中取出銅片，用清水洗凈，再用濾紙將銅片吸干，即製成樣片。

4）將樣片放置30min後，即可用α輻射儀進行測量，每個樣片的讀數時間不應少於10min。

5）若樣片放置時間超過數天，則按下式修正讀數

勘查技術工程學

式中：I為修正後的計數率；I₁為實測計數率；λ為²¹⁰Po的衰變常數，λ=5×10^-3／d，t為樣片放置的天數。

6）每天工作前後要檢查儀器本底，還要用α工作源檢查α輻射儀的日常工作穩定性，以確保測量數據可靠。

釙-210法的資料整理與其他核測量方法相同。成果圖件有：釙量剖面圖、剖面平面圖、等值線平面圖、相對等值線平面圖等。

12.2.4.3 釙-210法的應用及實例

釙-210法只在野外取樣，分析工作全在室內進行，設備簡單，工作效率高，探測深度大，不受鈾、釷干擾，異常重現性好。因此，除用於尋找鈾、釷礦床外，還在地下水、地熱及油氣田普查中取得了良好的地質效果。

圖12-12為在某軍干休所測得的²¹⁰Po曲線。該地段出露第四系更新統（Qp）的冰水堆積，曲線的低值異常寬約20 m，長約50 m。經綜合分析認為，它與下部自流井組中的構造破碎帶有關。鑽探發現，含水層位為自流井組馬鞍山段中的砂岩，地下水流量為76t／d。

圖12-12 1號供水井²¹⁰Po測量剖面圖

⑹ 如何自製核輻射探測儀

汞蒸氣就不要用了，本身有導電性，即使沒有輻射導致的電離情況下，也會導電的。
填充空氣是可以的，傳統的電離室就是採用空氣。問題是電流的讀數與輻射量（如劑量率、照射量率等）是否可以建立穩定、可重復、可溯源的關系，當然，還有測量靈敏度、測量量程的范圍等問題。
至於是否有更好的方法，還是要看你希望解決問題，如測量的射線種類、能量范圍、靈敏度、測量量程等要求了。
建議參見Glenn Knoll 的書「輻射探測與測量」。

⑺ 測量核輻射的方法、儀器及儀器圖片

方法：

半衰期：放射性核素數目衰減到原來數目一半所需要的時間的期望值。

放射性活度：表徵放射性核素特徵的物理量，單位時間內處於特定能態的一定量的核素發生自發核轉變數的期望值。A＝dN/dt。

射氣系數：在某一時間間隔內，岩石或礦石析出的射氣量N1與同一時間間隔內該岩石或礦石中由衰變產生的全部射氣量N2的比值，即η*= N1/N2×100%。

原子核基態：處於最低能量狀態的原子核，這種核的能級狀態叫基態。

核衰變：放射性核素的原子核自發的從一個核素的原子核變成另一種核素的原子核，並伴隨放出射線的現象。

α衰變：放射性核素的原子核自發的放出α粒子而變成另一種核素的原子核的過程成為α衰變

衰變率：放射性核素單位時間內衰變的幾率。

軌道電子俘獲：原子核俘獲了一個軌道電子，使原子核內的質子轉變成中子並放出中微子的過程。

衰變常數：衰變常數是描述放射性核素衰變速度的物理量，指原子核在某一特定狀態下，經歷核自發躍遷的概率。

線衰減系數：射線在物質中穿行單位距離時被吸收的幾率。

質量衰減系數：射線穿過單位質量介質時被吸收的幾率或衰減的強度，也是線衰減系數除以密度。

鈾鐳平衡常數：表示礦（岩）石中鈾鐳質量比值與平衡狀態時鈾鐳質量比值之比。

吸收劑量：電力輻射授予某一點處單位質量物質的能量的期望值。D=dE/dm，吸收劑量單位為戈瑞（Gy）。

平均電離能：在物質中產生一個離子對所需要的平均能量。

碰撞阻止本領：帶電粒子通過物質時，在所經過的單位路程上，由於電離和激發而損失的平均能量。

核素:具有特定質量數，原子序數和核能態，而且其平均壽命長的足以已被觀察的一類原子

粒子注量：進入單位立體球截面積的粒子數目。

粒子注量率：表示在單位時間內粒子注量的增量

能注量：在空間某一點處，射入以該點為中心的小球體內的所有的粒子能量總和除以該球的截面積

能注量率：單位時間內進入單位立體球截面積的粒子能量總和

比釋動能：不帶電電離粒子在質量為dm的某一物質內釋放出的全部帶電粒子的初始動能總和

劑量當量：某點處的吸收劑量與輻射權重因子加權求和

同位素:具有相同的原子序數，但質量數不同，亦即中子數不同的一組核素

照射量：X=dq/dm，以X射線或γ射線產出電離本領而做出的一種量度

照射量率：單位質量單位時間內γ射線在空間一體積元中產生的電荷。

劑量當量指數：全身均勻照射的年劑量的極限值

同質異能素：具有相同質量數和相同原子序數而半衰期有明顯差別的核素

平均壽命：放射性原子核平均生存的時間.與衰變常熟互為倒數。

電離能量損耗率：帶電粒子通過物質時，所經過的單位路程上，由於電離和激發而損失的平均能量

平衡含量鈾：達到放射性平衡時的鈾含量

分辨時間: 兩個相鄰脈沖之間最短時間間隔

康普頓邊:發生康普頓散射時，當康普頓散射角為一百八十度時所形成的邊

康普頓坪：當康普頓散射角為零到一百八十度時所形成的平台

累計效應:指y光子在介質中通過多次相互作用所引起的y光子能量吸收

邊緣效應: 次級電子產生靠近晶體邊緣，他可能益處晶體以致部分動能損失在晶體外，所引起的脈沖幅度減小

和峰效應: 兩哥y光子同時被探測器晶體吸收產生幅度更大的脈沖，其對應能量為兩個光子能量之和

雙逃逸峰：指兩個湮沒光子不再進行相互作用就從探測器逃出去

響應函數: 探測器輸出的脈沖幅度與入射γ射線能量之間的關系的數學表達式

能量解析度: 表徵γ射線譜儀對能量相近的γ射線分辨本領的參數

探測效率：表徵γ射線照射量率與探測器輸出脈沖1. 峰總比:全能峰的脈沖數與全譜下的脈沖數之比

峰康比:全能峰中心道最大計數與康普頓坪內平均計數之比

峰總比：全能峰內的脈沖數與全譜下的脈沖數之比

入射本徵效率：指全譜下總脈沖數與射到晶體上的y光子數之比

本徵峰效率：全能峰內脈沖數與射到晶體上y光子數之比

源探測效率:全譜下總計數率與放射源的y光子發射率之比

源峰探測效率:全能峰內脈沖數與放射源y光子發射率之比

光電吸收系數:光子發生光電效應吸收幾率

光電截面:一個入射光子單位面積上的一個靶原子發生光電效應的幾率

原子核基態：原子核最低能量狀態

軔致輻射：高速帶電粒子通過物質時與庫侖場作用而減速或加速時伴生的電磁輻射。

俄歇電子：在原子殼層中產生電子空穴後處於高能級的電子和躍遷到這一層，同時釋放能量，當釋放的能量傳遞到另一層的一個電子，這個嗲你脫離原子而發射出來，發射出來的電子稱為俄歇電子。

⑻ 儀器的輻射精度是怎麼定義的和輻射靈敏度有什麼區別 請高手指點！

精度現在的叫法為，重復性。應為核輻射測量服從統計漲落規律，重復性是按多次測量的相對標准偏差來表示的；靈敏度：是指儀器探測器對某一輻射水平的反映能力，比如說：同為1uSv/h的輻射劑量，探測器單位時間探測到的信號次數，次數越多，表示靈敏度越高。如果兩種不同靈敏度的儀器，同測同一水平輻射，都用相同的測量采樣時間，靈敏度高的儀器測量結果重復性肯定會高。

⑼ 有沒有什麼簡單的測量核輻射的方法謝謝！！！

最簡單的就是蓋革計數器，耳機里的聲音越大、越密集，說明核輻射越強。