平行平晶使用方法

A. 平行平晶的简介

平晶有平面平晶和平行平晶两种。平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。圆柱形平面平晶的直径通常为 45～150毫米。其光学测量平面的平面度误差为:1级精度的为0.03～0.05微米；2级精度的为0.1微米。常见的长方形平面平晶的有效长度一般为200毫米。

B. 平行平晶 测量千分尺平行度

使用平晶检定时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平晶放入两测量面间，使两测量面与平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至最少。分别读取两测量面上的干涉条纹数，取两测量面上的干涉条纹数之和，代入公式n/2.λ,结果即为两测量面的平行度。利用平晶组中每一块平行平晶按上述程序分别进行检定，取其中最大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结果。
但一般检定中很少有人用平晶法进行检定，一般都是用量块来检平行度。方法是用量块的同一个面来在测量面的上下左右四个位置上分别读数，并求出差值，其中最大值即为被检千分尺的测量面平行度。

C. 平行平晶使用法

在平晶和待检测物体之间用以簿片垫起，利用两物体之间的空气层对光线的反射后产生的干涉图像进行检测待测物体表面的光滑程度。

D. 用平行平晶检定千分尺测量面的平行度使用平行平晶,为什么要用尺寸以次间隔为(0.12

检定千分尺的平行度是要选定两测量面径向的四个相对位置来确定其平行性；
如四个位置平行度均合格，则千分尺两测量面在任何位置上都是平行的。
这四个位置是活动侧杆测量面和固定测蛅测量面间隔90°的四个位置，即活动侧杆转动四分之一时相对测蛅的位置；
由于千分尺微分丝杆螺距为0.5mm故四块平行平晶的尺寸差为0.5*1/4=0.125mm左右。

E. 为什么用平行平晶测光线平行度是干涉条纹越少越好

1. 根据等厚干涉干涉原理，平行光进入晶体内。
2. 如果晶体是平行的话，（假设晶体是平行的话，光是正入射于晶体表面，晶体前后表面反射光是沿原光路返回，在晶体表面的干涉情形就完全相同，所以要么看到亮或暗）。
3. 同理，如果晶体不平行，那么晶体表面的干涉就与晶体的厚度有关系，那么看到了干涉条纹。当然没有条纹更好，有条纹说明平行度不好。
所以用平行平晶测光线平行度是干涉条纹越少越好。

F. 怎样用光学平晶测量平面度

光学平晶看平面度，主要看空气干涉条纹（光圈）。

G. 平晶的测量方法是什么

平晶测量方法：
平晶是利用光波干涉现象测量平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法,也称技术光波干涉法。测量时，把平晶放在被测表面上，且与被测表面形成一个很小的楔角θ，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小，则由平晶测量面P反射的光线与被测表面反射的光线在测量面P发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行,且分布均匀,则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为f=(v/ω)×(λ/2)
λ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm,ν为干涉带弯曲量，ω为干涉带间距。
平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的常用工具。适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

H. 平行平晶的用途

平行平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面、测量仪器及测 平晶
量工具量面的研合性和平面度的 常用工具。
适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。