⑴ 电子元器件如何检测
固定电阻器的检测。A、将两表笔(不分正负)分别与电阻的 两端引脚相接即可测出实际电阻值。为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。
⑵ 基本电气及电子元件的识别、检测与检测方法
你这问题有点大……
一:电阻
作为电子行业的工作者,电阻是无人不知无人不晓的。它的重要性,毋庸置疑。人们都说“电阻是所有电子电路中使用最多的元件。”
电阻,因为物质对电流产生的阻碍作用,所以称其该作用下的电阻物质。电阻将会导致电子流通量的变化,电阻越小,电子流通量越大,反之亦然。没有电阻或电阻很小的物质称其为电导体,简称导体。不能形成电流传输的物质称为电绝缘体,简称绝缘体。
在物理学中,用电阻(Resistance)来表示导体对电流阻碍作用的大小。导体的电阻越大,表示导体对电流的阻碍作用越大。不同的导体,电阻一般不同,电阻是导体本身的一种特性。电阻元件是对电流呈现阻碍作用的耗能元件。
电阻元件的电阻值大小一般与温度有关,衡量电阻受温度影响大小的物理量是温度系数,其定义为温度每升高1℃时电阻值发生变化的百分数。
电阻在电路中用“R”加数字表示,如:R1表示编号为1的电阻。电阻在电路中的主要作用为分流、限流、分压、偏置等。
1、参数识别:电阻的单位为欧姆(Ω),倍率单位有:千欧(KΩ),兆欧(MΩ)等。换算方法是:1兆欧=1000千欧=1000000欧电阻的参数标注方法有3种,即直标法、色标法和数标法。a、数标法主要用于贴片等小体积的电路,如:472 表示 47×100Ω(即4.7K); 104则表示100Kb、色环标注法使用最多,现举例如下:四色环电阻 五色环电阻(精密电阻)。
2、电阻的色标位置和倍率关系如下表所示:颜色 有效数字 倍率 允许偏差(%)银色 / x0.01 ±10金色 / x0.1 ±5黑色 0 +0 /棕色 1 x10 ±1红色 2 x100 ±2橙色 3 x1000 /黄色 4 x10000 /绿色 5 x100000 ±0.5蓝色 6 x1000000 ±0.2紫色 7 x10000000 ±0.1灰色 8 x100000000 /白色 9 x1000000000 / .
二:电容
电容(或电容量, Capacitance)指的是在给定电位差下的电荷储藏量;记为C,国际单位是法拉(F)。一般来说,电荷在电场中会受力而移动,当导体之间有了介质,则阻碍了电荷移动而使得电荷累积在导体上;造成电荷的累积储存,最常见的例子就是两片平行金属板。也是电容器的俗称。
1、电容在电路中一般用“C”加数字表示(如C13表示编号为13的电容)。电容是由两片金属膜紧靠,中间用绝缘材料隔开而组成的元件。电容的特性主要是隔直流通交流。电容容量的大小就是表示能贮存电能的大小,电容对交流信号的阻碍作用称为容抗,它与交流信号的频率和电容量有关。容抗XC=1/2πf c (f表示交流信号的频率,C表示电容容量)电话机中常用电容的种类有电解电容、瓷片电容、贴片电容、独石电容、钽电容和涤纶电容等。 请登陆:输配电设备网 浏览更多信息
2、识别方法:电容的识别方法与电阻的识别方法基本相同,分直标法、色标法和数标法3种。电容的基本单位用法拉(F)表示,其它单位还有:毫法(mF)、微法(uF)、纳法(nF)、皮法(pF)。其中:1法拉=103毫法=106微法=109纳法=1012皮法容量大的电容其容量值在电容上直接标明,如10 uF/16V容量小的电容其容量值在电容上用字母表示或数字表示字母表示法:1m=1000 uF 1P2=1.2PF 1n=1000PF 数字表示法:一般用三位数字表示容量大小,前两位表示有效数字,第三位数字是倍率。如:102表示10×102PF=1000PF 224表示22×104PF=0.22 uF3、电容容量误差表符 号 F G J K L M允许误差 ±1% ±2% ±5% ±10% ±15% ±20%如:一瓷片电容为104J表示容量为0. 1 uF、误差为±5%.
三:晶体二极管
晶体二极管(crystaldiode)固态电子器件中的半导体两端器件。这些器件主要的特征是具有非线性的电流-电压特性。此后随着半导体材料和工艺技术的发展,利用不同的半导体材料、掺杂分布、几何结构,研制出结构种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极管。制造材料有锗、硅及化合物半导体。晶体二极管可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换等。
晶体二极管在电路中常用“D”加数字表示,如: D5表示编号为5的二极管。
1、作用:二极管的主要特性是单向导电性,也就是在正向电压的作用下,导通电阻很小;而在反向电压作用下导通电阻极大或无穷大。正因为二极管具有上述特性,无绳电话机中常把它用在整流、隔离、稳压、极性保护、编码控制、调频调制和静噪等电路中。电话机里使用的晶体二极管按作用可分为:整流二极管(如1N4004)、隔离二极管(如1N4148)、肖特基二极管(如BAT85)、发光二极管、稳压二极管等。
2、识别方法:二极管的识别很简单,小功率二极管的N极(负极),在二极管外表大多采用一种色圈标出来,有些二极管也用二极管专用符号来表示P极(正极)或N极(负极),也有采用符号标志为“P”、“N”来确定二极管极性的。发光二极管的正负极可从引脚长短来识别,长脚为正,短脚为负。
3、测试注意事项:用数字式万用表去测二极管时,红表笔接二极管的正极,黑表笔接二极管的负极,此时测得的阻值才是二极管的正向导通阻值,这与指针式万用表的表笔接法刚好相反。
4、常用的1N4000系列二极管耐压比较如下:型号 1N40011N40021N4003 1N4004 1N40051N40061N4007耐压(V) 50 100 200 400 600 800 1000电流(A) 均为1 .
⑶ 电子产品是如何制造和检测的/
比如:
双面板工艺流程:
覆铜板(CCL)下料(Cut)→钻孔(Drilling)→沉铜(PTH)→全板镀铜(Panel Plating)→图形转移(Pattern)油墨或干膜→图形电镀(Pattern plating)→蚀刻(Etch)→半检IQC→丝印阻焊油墨和字符油墨(SS)或贴阻焊干膜→热风整平或喷锡(HAL)→外形(Pounching)→成检(FQC)→电测试E-TEST→包装(Packaging)
不同产品会有不同的制作方法和检测方法啦
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电子秤检查需要到当地计量部门(国家授权验证部门)进行电子秤的首次验证。 验证通过后,可以使用,每年进行年检。 电子秤检测中没有特定的步骤。 只需将要检查的电子秤带到计量站,就会有工作人员对其进行测试。
在测量验证之后,可以确定电子秤的测量精度,以避免由于不准确的称重导致的贸易纠纷和测量数据错误。 另一点是,它可以避免使用国外制造商的规模产品造成的区域差异的影响。
使用中的电子秤产品需要牢固测量,因为电子秤是电子测量仪器,其中关键部件称重传感器在使用时间延长时信号变化和老化为零,称重时精度会发生变化。计量检查将根据国家核查程序进行重新校准和检查。 如果验证不合格,将禁止使用。(请查看参考资料)
其一:为了确定重复性误差,在承载器上需要装卸砝码300t,工作量决非一般。
其二:重复性误差0.3e,需要替代两次。重复性误差0.2e,需要替代四次,检定现场要组织这么多替代物也不符合实际。
其三:采取替代法检定大型衡器,人力、物力消耗较直接采用标准砝码更大,操作的可行性更差。
检定成本与效益的关系上面已经谈到人力资源成本巨大,按规程要求,尚存在标准器的购置费用、检定费用、运输费用、车辆附加税、过路过桥费、燃油费等等。这些费用无需认真计算,肯定是一个较大数字。
但按国家检定收费标准,皖价费[2003]190号,测量范围80t-100t的非自动衡器,检定收费为2500元/台。如果检定部门都按规程要求去检定,无疑成本与效益的关系会形成较大的不对称,这也是一个需要面对的问题。
⑸ 如何对电子元器件进行检验和筛选
动手准备元器件之前,最好对照电路原理图列出所需元器件的清单。为了保证在试制的过程中不浪费时间,减少差错,同时也保证制成后的装置能长期稳定地工作,待所有元器件都备齐后,还必须对其筛选检测。 在正规的工业化生产中,都设有专门的元器件筛选检测车间,备有许多通用和专用的筛选检测装备和仪器,但对于业余电子爱好者来说,不可能具备这些条件,即使如此,也绝不可以放弃对元器件的筛选和检测工作,因为许多电子爱好者所用的电子元器件是邮购来的,其中有正品,也有次品,更多的是业余品或利用品,如在安装之前不对它们进行筛选检测,一旦焊入印刷电路板上,发现电路不能正常工作,再去检查,不仅浪费很多时间和精力,而且拆来拆去很容易损坏元件及印刷电路板。 ⑴外观质量检查 拿到一个电子元器件之后,应看其外观有无明显损坏。如变压器,看其所有引线有否折断,外表有无锈蚀,线包、骨架有无破损等。如三极管,看其外表有无破损,引脚有无折断或锈蚀,还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨。对于电位器、可变电容器之类的可调元件,还要检查在调节范围内,其活动是否平滑、灵活,松紧是否合适,应无机械噪声,手感好,并保证各触点接触良好。 各种不同的电子元器件都有自身的特点和要求,各位爱好者平时应多了解一些有关各元件的性能和参数、特点,积累经验。 ⑵电气性能的筛选 要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作,并且经得起应用环境和其它可能因素的考验,对电子元器件的筛选是必不可少的一道工序。所谓筛选,就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验,暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性。筛选的理论是:如果试验及应力等级选择适当,劣质品会失效,而优良品则会通过。人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件,在刚投入使用的时候,一般失效率较高,叫做早期失效,经过早期失效后,电子元器件便进入了正常的使用期阶段,一般来说,在这一阶段中,电子元器件的失效率会大大降低。过了正常使用阶段,电子元器件便进入了耗损老化期阶段,那将意味着寿终正寝。这个规律,恰似一条浴盆曲线,人们称它为电子元器件的效能曲线,如图1所示。 电子元器件失效的原因,是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的。元器件的早期失效十分有害,但又不可避免。因此,人们只能人为地创造早期工作条件,从而在制成产品前就将劣质品剔除,让用于产品制作的元器件一开始就进入正常使用阶段,减少失效,增加其可靠性。 在正规的电子工厂里,采用的老化筛选项目一般有:高温存贮老化;高低温循环老化;高低温冲击老化和高温功率老化等。其中高温功率老化是给试验的电子元器件通电,模拟实际工作条件,再加上+80℃-+180℃的高温经历几个小时,它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施,也是目前采用得最多的一种方法。对于业余爱好者来说,在单件电子制作过程中,是不太可能采取这些方法进行老化检测的,在大多数情况下,采用了自然老化的方式。例如使用前将元器件存放一段时间,让电子元器件自然地经历夏季高温和冬季低温的考验,然后再来检测它们的电性能,看是否符合使用要求,优存劣汰。对于一些急用的电子元器件,也可采用简易电老化方式,可采用一台输出电压可调的脉动直流电源,使加在电子元器件两端的电压略高于元件额定值的工作电压,调整流过元器件的电流强度,使其功率为1.5-2倍额定功率,通电几分钟甚至更长时间,利用元器件自身的特性而发热升温,完成简易老化过程。 ⑶元器件的检测 经过外观检查以及老化处理后的电子元器件,还必须通过对其电气性能与技术参数地测量,以确定其优劣,剔除那些已经失效的元器件。当然,对于不同的电子元器件应有不同的测量仪器,但对于业余电子爱好者来说,一般不具备专用电子测量仪器的条件,但起码应有一块万用电表,利用万用电表可以对一些常用的电子元器件进行粗略检测。各种电子元器件涉及到的电性能参数很多,我们要根据业余制作牵涉到的必须要弄清楚的有关参数进行检测,而不必对该元器件的所有参数都一一检测。下面例举几种基本元器件的检测。 ①电阻器。它是所有电子装置中应用最为广泛的一种元件,也是最便宜的电子元件之一。它是一种线性元件,在电路中的主要用途有:限流、降压、分压、分流、匹配、负载、阻尼、取样等。 检测该元件时,主要看它的标称阻值与实际测量阻值的偏差程度。在大量的生产中,由于加工过程中各道工序对电阻器的作用,电阻器的实际值不可能做到与它的标称值完全一致,因此其阻值具有离散性,为了便于管理和组织生产,工程上按照使用的需要,给出了允许偏差值,如±5%、±10%、±20%。再加上万用电表检测电阻器时的误差,一般要求其误差不超过允许偏差的10%即认为合格。同时亦可通过外观检查综合判断其优劣。 ②电容器。电容器也是电子装置中用得最多的电子元器件之一。它的质量好坏直接影响到整机的性能,同时也是容易失效的元件。在检查电容器时,如果电解电容器的贮存期超过了三年,可以认为该元件已经失效。有些电容器上没有出厂年限标志,外观则完好无损,肉眼很难判断出它的质量问题,因此就必须要对它进行检测。 电容器在电路中担任隔直、滤波、旁路、耦合、中和、退耦、调谐、振荡等。它的常见故障有击穿、漏电、失效(干涸)。用万用电表的欧姆档检查电容器是利用了电容器能够充放电原理进行的,这时应选用欧姆档的最高量程(R×1kΩ或R×10kΩ)来测量。如图2所示。当万用电表的两根表棒与电容器的两引脚相接时,表针先向顺时间方向偏转一个角度,此时称为电容器的充电,当充电到一定程度时,电容器又开始放电,此时万用电表的指针便返回到∞位置。在测量过程中,表针摆动的角度越大,说明所检测的电容器容量越大。表针返回后越接近∞处,说明所检测的电容器漏电越小,即所检测的电容器的质量越高。 测量电解电容器时,由于其引脚有正、负极之分,应将红表棒接电容器的负极,黑表棒接电容器的正极,这样测量出来的漏电电阻才是正确的。反接时一般漏电电阻要比正接时小,利用这一点,还可判断出无极性标志的电解电容器的极性。如果电容器的容量太小,如在4700P以下,就只能检查它是否漏电或击穿,如果在测量中,表针摆动一下回不到∞处,而是停留在0-∞处的中间某一位置上,说明该电容器漏电严重;也可采取图3所示的办法。在万用电表与被测小电容器之间加装一只NPN型硅三极管,要求其β值大于100,集电极-发射极之间的耐压应大于25V,ICEO越小越好。被测电容器接到A、B两端。由于三极管VT的电流放大作用,较小容量的电容器也能引起表针较大幅度的摆动,然后返回到∞位置,如不能返回到∞处的,则可估测出漏电电阻。 对于可变电容器、拉线电容器,亦可用万用电表检测出它们有否碰片或漏电、短路等。 ③电感器。电感器是一种非线性元件,可以储存磁能。由于通过电感的电流值不能突变,所以,电感对直流电流短路,对突变的电流呈高阻态。电感器在电路中的基本用途有:扼流、交流负载、振荡、陷波、调谐、补偿、偏转等。利用万用电表对其进行检测时,即只能判断出它的直流电阻值,如果已经标明了数值的电感器,只要其直流电阻值大致符合,即可视为合格。 ④晶体二极管。晶体二极管是一种非线性器件,它的正、反两个方向的电阻值相差悬殊,这就是二极管的单向导电性。在电路中,利用这一特性,可以作整流、检波、箝位、限幅、阻尼、隔离等。 用万用电表测量二极管时,可选用欧姆档R×1kΩ。由于二极管具有单向导电性,它的正、反向电阻是不相等的,两者阻值相差越大越好。对于常用的小功率二极管,反向电阻应比正向电阻大数百倍以上。用红表棒接二极管的正极,黑表棒接它的负极,测得的是反向电阻。反之,红表棒接二极管的负极,黑表棒接它的正极,测得的是正向电阻。诸二极管的正向电阻一般在100Ω-1kΩ左右;硅二极管的正向电阻一般在几百欧至几千欧。如果测得它的正、反向电阻都是无穷大,说明该二极管内部已开路;如果它的正、反向电阻均为0,说明二极管内部已短路;如果它的正、反向电阻相差无几,说明二极管的性能变差失效。出现以上三种情况的二极管均不能使用。 ⑤晶体三极管。三极管是电子装置中的重要元件,它的质量优劣直接关系到系统工作的可靠性和稳定性,因此,它是最需要进行老化筛选的元件之一。已知一个三极管的型号和管脚排列,可采用如下简易测试法来判断它的性能。应该注意的是:对一般小功率低压三极管,不宜采用R×10kΩ档进行测试,以免表内的高电压损坏三极管。 在检查三极管的穿透电流大小时,可采用图4所示的测量法,图中被测的是NPN型三极管,如果是NPN型三极管,其测试棒应与管脚对调。万用电表的量程一般选用R×100或R×1kΩ档,要求测得的电阻值越大越好,对于中功率的锗管,此值应大于数千欧;对于硅管,此值应大于数百千欧。如果所测得的数值过小,说明管子的穿透电流大,管子的性能不好。如果测量时万用电表的表针摇摆不定,说明管子的稳定性很差。如果测得的阻值接近于零,说明管子内部已击穿短路,不能使用。 在检查三极管的放大性能β值时,可以采用图5所示的估测法。如果被测管是NPN型,可按此方法测试,如果被测管是PNP则按虚线方式连接。测量时表针应向右偏转,其偏转角度越大,说明管子的放大倍数β越大。如果加上电阻R之后表针变化的角度不大或根本不变,则说明管子的放大作用很差或已经损坏。其R的阻值可在51kΩ-100kΩ范围内选取。也可能利用人手的电阻,用手捏位管子的c-b两极,但不要使它们短路,以手的皮肤电阻代替R。 对于结型场效应管,已知型号与管脚,如果用万用电表测G(栅极)和S(源极)之间,G与D(漏极)之间没有PN结电阻,说明该管子已坏。用万用电表的R×1kΩ档,其表棒分别接在场效应管的S极和D极上,然后用手碰触管子和G极,若表针不动,说明管子不好;若表针有较大幅度的摆动,说明管子可用。结型场效应管电路符号与引脚如图6所示。 以上所述的管子测量方法虽是粗略的,但一般都切实可行,如欲进行更严格的测量筛选,则宜使用专门的测试仪器。 ⑥集成电路。集成电路的门类、品种很多,在业余条件下,电子爱好者似乎没有特别的测试方法,采用万用电表进行测量时,只能对照已知的集成块引脚数据,用测得的数据与已知的数据进行对比,从而判断出被测集成块的好坏。也可以搭一个简单的试验电路,将集成块插入电路中进行试验,如能完成某些功能或符合某种逻辑关系便可用。如对音乐集成电路进行测试,可先制作一个简易电路,留出音乐集成电路的插脚(或用夹子),将音乐集成电路置于电路中,如果发声正常则可使用,否则不可使用。如果你有时间也乐于动手的话不妨自制一些常用的集成电路的简易试验仪器(参见本站检测仪表),可方便日后的电子电路制作。 ⑦ 其它电子元器件。如常用的各种开关、接插件、发光二极管、扬声器、耳机等,主要用万用电表检测它们的通断情况。对于发光二极管和扬声器、耳机,也可用电池组来试验其发光或发声程序,以此来判断其优劣。
⑹ 关于电子测试
1.频谱分析仪的使用
1.1 频谱分析仪的原理
频谱分析仪是一台在一定频率范围内扫描接收的接收机,它的原理图如图1所示。
图1 频谱分析仪的原理框图
频谱分析仪采用频率扫描超外差的工作方式。混频器将天线上接收到的信号与本振产生的信号混频,当混频的频率等于中频时,这个信号可以通过中频放大器,被放大后,进行峰值检波。检波后的信号被视频放大器进行放大,然后显示出来。由于本振电路的振荡频率随着时间变化,因此频谱分析仪在不同的时间接收的频率是不同的。当本振振荡器的频率随着时间进行扫描时,屏幕上就显示出了被测信号在不同频率上的幅度,将不同频率上信号的幅度记录下来,就得到了被测信号的频谱。
根据这个频谱,就能够知道被测设备是否有超过标准规定的干扰发射,或产生干扰的信号频率是多少。
1.2 频谱分析仪的使用方法
要获得正确的测量结果,必须正确地操作频谱分析仪。本节简单介绍频谱分析仪的使用方法。正确使用频谱分析仪的关键是正确设置频谱分析仪的各个参数。下面解释频谱分析仪中主要参数的意义和设置方法。
频率扫描范围:
规定了频谱分析仪扫描频率的上限和下限。通过调整扫描频率范围,可以对感兴趣的频率进行细致的观察。扫描频率范围越宽,则扫描一遍所需要时间越长,频谱上各点的测量精度越低,因此,在可能的情况下,尽量使用较小的频率范围。在设置这个参数时,可以通过设置扫描开始频率和终止频率来确定,例如:start frequency = 1MHz, stop frequency = 11MHz。也可以通过设置扫描中心频率和频率范围来确定,例如:center frequency = 6MHz, span = 10MHz。这两种设置的结果是一样的。
中频分辨带宽:
规定了频谱分析仪的中频带宽,这项指标决定了仪器的选择性和扫描时间。调整分辨带宽可以达到两个目的,一个是提高仪器的选择性,以便对频率相距很近的两个信号进行区别。另一个目的是提高仪器的灵敏度。因为任何电路都有热噪声,这些噪声会将微弱信号淹没,而使仪器无法观察微弱信号。噪声的幅度与仪器的通频带宽成正比,带宽越宽,则噪声越大。因此减小仪器的分辨带宽可以减小仪器本身的噪声,从而增强对微弱信号的检测能力。
分辨带宽一般以3dB带宽来表示。当分辨带宽变化时,屏幕上显示的信号幅度可能会发变化。若测量信号的带宽大于通频带带宽,则当带宽增加时,由于通过中频放大器的信号总能量增加,显示幅度会有所增加。若测量信号的带宽小于通频带宽,如对于单根谱线的信号,则不管分辨带宽怎样变化,显示信号的幅度都不会发生变化。 信号带宽超过中频带宽的信号称为宽带信号,信号带宽小于中频带宽的信号称为窄带信号。根据信号是宽带信号还是窄带信号能够有效地定位干扰源。
扫描时间:
仪器接收的信号从扫描频率范围的最低端扫描到最高端所使用的时间叫做扫描时间。扫描时间与扫描频率范围是相匹配的。如果扫描时间过短,测量到的信号幅度比实际的信号幅度要小。
视频带宽:
视频带宽的作用与中频带宽相同,可以减小仪器本身的带内噪声,从而提高仪器对微弱信号的检测能力。
2.用频谱分析仪分析干扰的来源
2.1 根据干扰信号的频率确定干扰源
在解决电磁干扰问题时,最重要的一个问题是判断干扰的来源,只有准确将干扰源定位后,才能够提出解决干扰的措施。根据信号的频率来确定干扰源是最简单的方法,因为在信号的所有特征中,频率特征是最稳定的,并且电路设计人员往往对电路中各个部位的信号频率都十分清楚。因此,只要知道了干扰信号的频率,就能够推测出干扰是哪个部位产生的。
对于电磁干扰信号,由于其幅度往往远小于正常工作信号,因此用示波器很难测量到干扰信号的频率。特别是当较小的干扰信号叠加在较大的工作信号上时,示波器无法与干扰信号同步,因此不可能得到准确的干扰信号频率。
而用频谱分析仪做这种测量是十分简单的。由于频谱分析仪的中频带宽较窄,因此能够将与干扰信号频率不同的信号滤除掉,精确地测量出干扰信号频率,从而判断产生干扰信号的电路。
2.2 根据干扰信号的带宽确定干扰源
判断干扰信号的带宽也是判断干扰源的有效方法。例如,在一个宽带源的发射中可能存在一个单个高强度信号,如果能够判断这个高强度信号是窄带信号,则它不可能是从宽带发射源产生的。干扰源可能是电源中的振荡器,或工作不稳定的电路,或谐振电路。当在仪器的通频带中只有一根谱线时,就可以断定这个信号是窄带信号。
根据傅立叶变换,单根的谱线所对应的信号是周期信号。因此,当遇到单根谱线时,就要将注意力集中到电路中的周期信号电路上。
3.用近场测试方法确定辐射源
除了上述的根据信号特征判断干扰源的方法以外,在近场区查找辐射源可以直接发现干扰源。在近场区查找辐射源的工具有近场探头和电流卡钳。检查电缆上的发射源要使用电流卡钳,检查机箱缝隙的泄漏要使用近场探头。
3.1 电流卡钳与近场探头
电流探头是利用变压器原理制造的能够检测导线上电流的传感器。当电流探头卡在被测导线上时,导线相当于变压器的初级,探头中的线圈相当于变压器的次级。导线上的信号电流在电流探头的线圈上感应出电流,在仪器的输入端产生电压。于是频谱分析仪的屏幕上就可以看到干扰信号的频谱。仪器上读到的电压值与导线中的电流值通过传输阻抗换算。传输阻抗定义为:仪器50? 输入阻抗上感应的电压与导线中的电流之比。对于一个具体的探头,可以从厂家提供的探头说明书中查到它的转移阻抗ZT。因此,导线中的电流等于:
I = V / ZT
如果公式中的所有物理量都用dB表示,则直接相减。
对于机箱的泄漏,要用近场探头进行探测。近场探头可以看成是很小的环形天线。由于它很小,因此灵敏度很低,仅能对近场的辐射源进行探测。这样有利于对辐射源进行精确定位。由于近场探头的灵敏度较低,因此在使用时要与前置放大器配套使用。
3.2 用电流卡钳检测共模电流
设备产生辐射的主要原因之一是电缆上有共模电流。因此当设备或系统有超标发射时,首先应该怀疑的就是设备上外拖的各种电缆。这些电缆包括电源线电缆和设备之间的互连电缆。
将电流探头卡在电缆上,这时由于探头同时卡住了信号线和回流线,因此差模电流不会感应出电压,仪器上读出的电压仅代表共模电流。
测量共模电流时,最好在屏蔽室中进行。如果不在屏蔽室中,周围环境中的电磁场会在电缆上感应出电流,造成误判断。因此应首先将设备的电源断开,在设备没有加电的状态下测量电缆上的背景电流,并记录下来,以便与设备加电后测量的结果进行比较,排除背景的影响。
如果在用天线进行测量时将频谱分析仪的扫描频率局限感兴趣的频率周围很小的范围内,则可以排除环境中的干扰。
3.3 用近场探头检测机箱的泄漏
如果设备上外拖电缆上没有较强的共模电流,就要检查设备机箱上是否有电磁泄漏。检查机箱泄漏的工具是近场探头。将近场探头靠近机箱上的接缝和开口处,观察频谱分析仪上是否有感兴趣的信号出现。一般由于探头的灵敏度较低,即使用了放大器,很弱的信号在探头中感应的电压也很低,因此在测量时要将频谱分析仪的灵敏度调得尽量高。根据前面的讨论,减小频谱分析仪的分辨带宽能够提高仪器的灵敏度。但是要注意的是,当分辨带宽很窄时,扫描时间会变得很长。为了缩短扫描时间,提高检测效率,应该使频谱分析仪的扫描频率范围尽量小。因此一般在用近场探头检测机箱泄漏时,都是首先用天线测出泄漏信号的精确频率,然后使仪器用尽量小的扫描频率范围覆盖住这个干扰频率。这样做的另一个好处是不会将背景干扰误判为泄漏信号。
对于机箱而言,靠近滤波器安装位置的缝隙是最容易产生电磁泄漏的。因为滤波器将信号线上的干扰信号旁路到机箱上,在机箱上形成较强的干扰电流,这些电流流过缝隙时,就会在缝隙处产生电磁泄漏。
4.容易犯的错误
当设备不能满足有关的电磁兼容标准时,就要对设备产生超标发射的原因进行调查,然后进行排除。在这个过程中,经常发现许多人经过长时间的努力,仍然没有排除故障。造成这种情况的原因是诊断工作陷入了“死循环”。这种情况可以用下面的例子说明。
假设一个系统在测试时出现了超标发射,使系统不能满足电磁兼容标准中对电磁辐射的限制。经过初步调查,原因可能有4个,它们分别是:
主机与键盘之间的互连电缆(电缆1)上的共模电流产生的辐射
主机与打印机之间的互连电缆(电缆2)上的共模电流产生的辐射
机箱面板与机箱基体之间的缝隙(开口1)产生的泄漏
某显示窗口(开口2)产生泄漏
在诊断时,首先在电缆1上套一个铁氧体磁环,以减小共模辐射,结果发现频谱仪屏幕上显示的信号并没有明显减小。于是试验人员认为电缆1不是一个主要的泄漏源,将铁氧体磁环取下,套在电缆2上,结果发现频谱仪屏幕上显示的信号还没有明显减小。结果试验人员得出结论,电缆不是泄漏源。
于是再对机箱上的泄漏进行检查。用屏蔽胶带将开口1堵上,发现频谱仪屏幕上显示的信号没有明显减小。试验人员认为开口1不是主要泄漏源,将屏蔽胶带取下,堵到开口2上。结果频谱仪上的显示信号还没有减小。试验人员一筹莫展。之所以会发生这个问题,是因为试验人员忽视了频谱分析仪上显示的信号幅度是以dB为单位显示的。下面我们看一下为什么会有这种现象。
假设这4个泄漏源所占的成分各占1/4,并且在每个辐射源上采取的措施能够将这个辐射源完全抑制掉。则我们采取以上4个措施中的一个时,频谱仪上显示信号降低的幅度ΔA为:
ΔA = 20 lg ( 4 / 3 ) = 2.5 dB
幅度减小这么少,显然是微不足道的。但这却已经将泄漏减少了25%。
正确的方法是,当对一个可能的泄漏源采取了抑制措施后,即使没有明显的改善,也不要将这个措施去掉,继续对可能的泄漏源采取措施。当采取到某个措施时,如果干扰幅度降低很多,并不一定说明这个泄漏源是主要的,而仅说明这个干扰源是最后一个。按照这个步骤对4个泄漏源逐个处理的结果如图1所示。
在前面的叙述中,我们假定对某个泄漏源采取措施后,这个泄漏源被100%消除掉,如果这样,当最后一个泄漏源去掉后,电磁干扰的减小应为无限大。实际这是不可能的。我们在采取任何一个措施时,都不可能将干扰源100%消除。泄漏源去掉的程度可以是99% ,或99.9% ,甚至99.99以上,而决不可能是100% !所以当最后一个泄漏源去掉后,尽管改善很大,但仍是有限值。
当设备完全符合有关的规定后,如果为了降低产品成本,减少不必要的器件,可以将采取的措施逐个去掉。首先应该考虑去掉的是成本较高器件/材料,或在正式产品上难于实现的措施。如果去掉后,产品的电磁发射并没有超标,就可以去掉这个措施。通过试验,使产品成本降到最低。
图 2 抑制4个泄漏源时干扰幅度的变化
5.产品电磁兼容测试诊断步骤
图3给出了一个设备或系统的电磁干扰发射与故障分析步骤,按照这个步骤进行可以提高测试诊断的效率。
图3 电磁兼容测试诊断步骤
关于图3的说明如下:
电磁兼容测试一般首先测量干扰发射,因为干扰发射的试验费用一般比敏感度试验费用低。另外当设备的干扰发射能够满足要求时,往往敏感度也不会有大的问题。因为几乎所有的解决干扰发射的措施同样对改善敏感度有效。
测量干扰发射时要先测量传导发射,不仅要在标准规定的频率范围内测量,还要对更高的频率进行摸底测量。当电源线上有较强的干扰电流时,要先解决这个问题。因为这些传导干扰电流会借助导线的天线作用产生辐射,导致辐射发射不合格。
当传导发射完全合格后,再进行辐射发射测试。对于辐射发射不合格的频率,要记录下精确频率,便于在用近场探头查找问题时,将频谱分析仪的扫描范围设置在干扰频率附近。
⑺ 想了解下PCB打样测试的方式
当前常用检测方法如下:
1. 人工目测:
使用放大镜或校准的显微镜,利用操作人员视觉检查来确定电路板合不合格,并确定什么时候需进行校正操作,它是最传统、最主要的检测方法。它的主要优点是低的预先成本和没有测试夹具,而它的主要缺点是人的主观误差、长期成本较高、不连续的缺陷发觉、数据收集困难等。目前由于PCB的产量增加,PCB上导线间距与元件体积的缩小,这个方法变得越来越不可行。
2. 在线测试(ICT,In Ciruit Testing)
ICT通过对电性能的检测找出制造缺陷以及测试模拟、数字和混合信号的元件,以保证它们符合规格,己有针床式测试仪(Bed of Nails Tester)和飞针测试仪(Flying Probe Tester)等几种测试方法。ICT的主要优点是每个板的测试成本低、数字与功能测试能力强、快速和彻底的短路与开路测试、编程固件、缺陷覆盖率高和易于编程等。主要缺点是,需要测试夹具、编程与调试时间、制作夹具的成本较高,使用难度大等问题。
3. 功能测试(Functional Testing)
功能系统测试是在生产线的中间阶段和末端利用专门的测试设备,对电路板的功能模块进行全面的测试,用以确认电路板的好坏。功能测试可以说是最早的自动测试原理,它基于特定板或特定单元,可用各种设备来完成。有最终产品测试(Final Proct Test)、最新实体模型(Hot Mock-up)和“堆砌式’’测试(‘Rack and Stack’ Test)等类型。功能测试通常不提供用于过程改进的脚级和元件级诊断等深层数据,而且需要专门设备及专门设计的测试流程,编写功
能测试程序复杂,因此不适用于大多数电路板生产线。
4. 自动光学检测
也称为自动视觉检测,是基于光学原理,综合采用图像分析、计算机和自动控制等多种技术,对生产中遇到的缺陷进行检测和处理,是较新的确认制造缺陷的方法。AOI通常在回流前后、电气测试之前使用,提高电气处理或功能测试阶段的合格率,此时纠正缺陷的成本远远低于最终测试之后进行的成本,常达到十几倍。
5. 自动X光检查(AXI,Automatic X-ray Inspection)
AXI利用不同物质对X光的吸收率的不同,透视需要检测的部位,发现缺陷。主要用于检测超细间距和超高密度电路板以及装配工艺过程中产生的桥接、丢片、对准不良等缺陷,还可利用其层析成像技术检测IC芯片内部缺陷。它是现时测试球栅阵列(BGA,Ball Grid Array)焊接质量和被遮挡的锡球的唯一方法。在最新的用于线路板组装的AXI系统中,如Feinfocus,Phoenix Xray等公司的最新产品,不仅可以进行2D的透视检测,通过样品倾斜,“侧视”的X光甚至可以给出3D的检测信息。它的主要优点是能够检测BGA焊接质量和嵌人式元件、无夹具成本;主要缺点是速度慢、高失效率、检测返工焊点困难、高成本、和长的程序开发时间。
6. 激光检测系统
它是PCB测试技术的最新发展。它利用激光束扫描印制板,收集所有测量数据,并将实际测量值与预置的合格极限值进行比较。这种技术己经在光板上得到证实,正考虑用于装配板测试,速度己足够用于批量生产线。快速输出、不要求夹具和视觉非遮盖访问是其主要优点;初始成本高、维护和使用问题多是其主要缺点。
从上面的6种目前常用的PCB检测手段,可以发现AOI自动光学检测设备和任何基于视觉的检测系统一样,只能检测用视觉可以看出的故障,对于短路和断路之类的瑕疵,只能用电气测试法来加以解决。相对人的肉眼这种原始的视觉检测手段,AOI是自动化的检测手段,其检测的效率高许多,和可靠性也稳定得多。
⑻ 什么是AOI检测
自动光学检查(Automated Optical Inspection,简称AOI),为高速高精度光学影像检测系统,运用机器视觉做为检测标准技术,可以改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点,应用层面包括从高科技产业之研发、制造品管,以至国防、民生、医疗、环保、电力等领域。
以SMT检测为例,当自动检测时,机器通过摄像头自动扫描PCB,采集图像,测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较,经过图像处理,检查出PCB上缺陷,并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来,供维修人员修整。
(8)电子制造的检测方法扩展阅读
AOI 四个检测位置:
(1)、锡膏印刷之后,主要检查焊膏印刷的情况;
(2)、片式元件贴放之后,以检查贴片的正确与否,可以较早地发现错误,减少成本;
(3)、芯片贴放之后,检测系统能够检查PCB上缺失、偏移、歪斜的芯片及芯片极性的错误;
(4)、回流焊接之后,在生产线的末端。可以检测系统可以检查出元件的缺失, 偏移和歪斜及元件极性缺陷。
AOI 四个检测位置中,锡膏印刷之后、(片式)器件贴放之后和元件贴放之后的检测目的在于预防问题,在这几个位置检测,能够阻止缺陷的产生;在回流焊接之后的检测,则目的在于发现问题。预防问题 AOI放置在炉前,发现问题 AOI 放置在炉后。
⑼ 电子元器件怎么检测
电子设备中使用着大量各种类型的电子元器件,设备发生故障大多是由于电子元器件失效或损坏引起的。因此怎么正确检测电子元器件就显得尤其重要,这也是电子维修人员必须掌握的技能。
这是简单可行的检验方法,能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏。在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行:
1)要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合,外包装完好。
2)检查元器件的外观必须完好,表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷,外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。
3)元器件的电极引线要无压折和弯曲,镀层要完好光洁,无氧化锈蚀。
4)元器件上的型号、规格标记要清晰、完整,色标位置、颜色要满足标准,应认真检查集成电路上的字符。
5)机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。
6)开关类元件操作灵活,手感良好;接插件松紧要适宜,接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点,检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。
以上是电子元器件外观质量检测方法。谢谢。