抑制雨雪干扰的方法如何正确使用

❶ 抗干扰的措施有哪些

抑制干扰的措施主要包括屏蔽、隔离、滤波、接地和软件处理等方法

1、屏蔽

利用导电或导磁材料制成的盒状或壳状屏蔽体，将干扰源或干扰对象包围起来从而割断或削弱干扰场的空间耦合通道，阻止其电磁能量的传输。按需屏蔽的干扰场的性质不同，可分为电场屏蔽、磁场屏蔽和电磁场屏蔽。

2、隔离

把干扰源与接收系统隔离开来，使有用信号正常传输，而干扰耦合通道被切断，达到抑制干扰的目的。常见的隔离方法有光电隔离、变压器隔离和继电器隔离等方法。

3、滤波

抑制干扰传导的一种重要方法。由于干扰源发出的电磁干扰的频谱往往比要接收的信号的频谱宽得多，因此，当接收器接收有用信号时，也会接收到那些不希望有的干扰。这时，可以采用滤波的方法，只让所需要的频率成分通过，而将干扰频率成分加以抑制。

4、接地

将电路、设备机壳等与作为零电位的一个公共参考点（大地）实现低阻抗的连接，称之谓接地。接地的目的有两个：为了安全，例如把电子设备的机壳、机座等与大地相接，当设备中存在漏电时，不致影响人身安全，称为安全接地。

为了给系统提供一个基准电位，例如脉冲数字电路的零电位点等，或为了抑制干扰，如屏蔽接地等。称为工作接地。工作接地包括一点接地和多点接地两种方式。

(1)抑制雨雪干扰的方法如何正确使用扩展阅读

在工业现场，在距离较远的电气设备、仪表、PLC控制系统、DCS系统之间进行信号传输时，往往存在干扰，造成系统不稳定甚至误操作。除系统内、外部干扰影响外，还有一个十分重要的原因就是各种仪器设备的接地处理问题。一般情况下，设备外壳需要接大地，电路系统也要有公共参考地。

但是，由于各仪表设备的参考点之间存在电势差，因而形成接地环路，由于地线环流会带来共模及差模噪声及干扰，常常造成系统不能正常工作。一个理想的解决方案是，对设备进行电气隔离，这样，原本相互联接的地线网络变为相互独立的单元，相互之间的干扰也将大大减小。

在工业自动化控制系统，及仪器仪表、传感器应用中，广泛采用4~20mA电流来传输控制、检测信号。由于4~20mA电流环路抗干扰能力强，线路简单，可用来传输几十甚至几百米长的模拟信号。一般情况下，传输距离超过10米，就需要对电流信号进行隔离。

❷ 抑制小区间干扰有几种几种方法

小区间干扰消除的原理，是对干扰小区的干扰信号进行某种程度的解调甚至解码，然后利用接收机的处理增益从接收信号中消除干扰信号分量。在LTE早期研究中，考虑过两种干扰消除方法。

(1)基于多天线接收终端的空间干扰压制技术
这种技术又称为干扰抑制合并(Interference Reiection Combining，IRC)接收技术。它不依赖任何额外的发射端配置，只是利用从两个相邻小区到UE的空间信道差异区分服务小区和干扰小区的信号。理论 上说，配置双接收天线的LIE应可以分辨两个空间信道。这项技术虽然不需要对发射端做任何额外的标准化工作，但不依赖任何额外的信号区分手段(如频分、码 分、交织器分)，而仅依靠空分(Space Division)手段，很难取得满意的干扰消除效果。而且这项技术是接收机实现技术，并不需要进行标准化。
(2)基于干扰重构/减去的干扰消除技术
这种技术是通过将干扰信号解调/解码后，对该干扰信号进行重构(Reconstruction)，然后从接收信号中 减去。如果能将干扰信号分量准确减去，剩下的就是有用信号和噪声。这无疑是一种更为有效的干扰消除技术，当然由于需要完全解调甚至解码干扰信号，因此也对 系统的设计如资源块分配、信道估计、同步、信令等提出了更高要求或带来了更多限制。在LTE中得到深入研究的干扰消除技术主要是基于IDMA的迭代干扰消除技术。

❸ 如何抑制仪表的干扰

消除噪声源是积极主动的措施。比如插接件接触不良、虚焊等情况，对于这类干扰源是可以消除的。从原则上讲，对于噪声源应予以消除。但是，实际上很多的噪声源是难以消除或不能消除的。例如有时候泵房中的仪表，泵运行时电机的电磁干扰就是不能够消除的。这时候就必须采取防护措施来抑制干扰。

(1)串模干扰的抑制
串模干扰与被测信号所处的地位相同，因此一旦产生串模干扰，就不容易消除。所以应当首先防止它的产生。防止串模干扰的措施一般有以下这些：
1.信号导线的扭绞。
由于把信号导线扭绞在一起能使信号回路包围的面积大为减少，而且是两根信号导线到干扰源的距离能大致相等，分布电容也能大致相同，所以能使由磁场和电场通过感应耦合进入回路的串模干扰大为减小。
2.屏蔽。
为了防止电场的干扰，可以把信号导线用金属包起来。通常的做法是在导线外包一层金属网(或者铁磁材料)，外套绝缘层。屏蔽的目的就是隔断“场”的耦合，抑制各种“场”的干扰。屏蔽层需要接地，才能够防止干扰。如图4我们可以清楚地看到屏蔽层接地和不接地的两种情况，我们可以分析一下这两种情况：

3.滤波。
对于变化速度很慢的直流信号，可以在仪表的输入端加入滤波电路，以使混杂于信号的干扰衰减到最小。但是在实际的工程设计中，这种方法一般很少用，通常，这一点在仪表的电路设计过程中就已经考虑了。

(2)共模干扰的抑制

由于仪表系统信号多为低电平，因此，共模干扰也会使仪表信号产生畸变，带来各种测量的错误。防止共模干扰通常采取的措施如下：

1.接地。通常仪表和信号源外壳为安全起见都接大地，保持零电位。信号源电路以及仪表系统也需要稳定接地。但是如果接地方式不恰当，将形成地回路导入干扰。如图3中就是这种情况，两点接地，由于存在地电位差，因此产生共模干扰。因此，通常，仪表回路采用在系统处单点接地。但是事实上，信号源侧对地不可能绝缘，因此，从这个意义上来说，不可能彻底的消除地电位差引进的干扰。所以为了提高仪表的抗干扰能力，通常在低电平测量仪表中都把二次仪表“浮地”，也就是将二次仪表与地绝缘。以切断共模干扰电压的泄漏途径，使干扰无法进入。在实际应用中，我们通常将屏蔽和接地结合起来应用，往往能够解决大部分的干扰问题。如果将屏蔽层在信号侧与仪表侧均接地，则地电位差会通过屏蔽层形成回路，由于地电阻通常比屏蔽层的电阻小的多，所以在屏蔽层上就会形成电位梯度，并通过屏蔽层与信号导线间的分布电容耦合到信号电路中去，因此屏蔽层也必须一点接地。并且，信号导线屏蔽层接地应与系统接地同侧。

❹ 请问差分放大器如何抑制干扰信号的

差分放大电路具有共模干扰抑制作用，对差模干扰，没有抑制作用。
你的理解有误。
差模干扰，只能在时域上（积分电路），频域上（滤波器）解决。
供参考

❺ 如何正确使用手机方法

1、手机充电时不要玩。手机在充电时辐射远远大于不充电时，所以充电时不要玩手机。手机边充电边玩会加快手机发热，可能会发生不必要的危险，手机充电时最好不要玩。

2、躺下不玩手机。很多人都喜欢躺下玩手机，其实躺下玩手机的危害是很大的，他不仅危害视力、脑力，对皮肤也会有影响。为了个人的健康建议不要躺下玩手机

3、不下载无用软件。手机运行内存有限，软件过多会导致手机卡顿，下载软件时要认准官方无病毒软件，不然可能会引发手机中病毒。

4、注意手机保养。手机寿命的长短还有一个决定性因素就是手机的保养。如果个人不注意保养导致手机反应不灵敏、手机受潮、屏幕破裂，都会导致手机寿命减短。

5、开车不玩手机。许多开车的朋友总会边开车边打电话，那样是很不安全的。打电话会分散驾驶员的注意力，遇突发事件不能及时处理，可能会酿成悲剧，所以开车时净量不要打电话，毕竟安全第一。

6、要及时充电。现在的手机无需等到没有一点电的时候再冲，那样的话只会大大缩短电池的寿命，从而影响手机的使用。手机要及时充电，电量越少时辐射就越大，所以一定要及时充电。

❻ 电磁干扰的形式必须同时具备哪三要素，抑制电磁干扰的基本措施有哪些

电磁干扰三要素

电磁骚扰源、骚扰传播途径（或传输通道）和敏感设备称为电磁干扰三要素。

抑制措施有：屏蔽，滤波，接地及搭接等.

根据共模干扰产生的原理，实际应用时常采用以下几种抑制方法:

(1)优化电路元器件布置，尽量减少寄生、糯合电容。

(2)延缓开关的开通、关断时间，但这与开关电源高频化的趋势不符。

(3)应用缓冲电路，减缓dvldt的变化率。变换器中的电流在高频情况下作开关变化，从而在输人、输出的滤波电容上产生很高的dvl巾，即在滤波电容的等效电感或阻抗上感应出干扰电压，这时就会产生常模干扰。故选用高质量的滤波电容(等效电感或阻抗很低)可以降低常模干扰。

❼ 简述通常干扰抑制技术有哪些分别采用的方法是什么

LTE特有的OFDMA接入方式，使本小区内的用户信息承载在相互正交的不同载波上，因此所有的干扰来自于其他小区。对于小区中心的用户来说。其本身离基站的距离就比较近，而外小区的干扰信号距离又较远，则其信干噪比相对较大：但是对于小区边缘的用户，由于相邻小区占用同样载波资源的用户对其干扰比较大，加之本身距离基站较远，其信干噪比相对就较小，导致虽然小区整体的吞吐量较高，但是小区边缘的用户服务质量较差。吞吐量较低。因此，在LTE中，小区间干扰抑制技术非常重要。
2.1干扰随机化
对于0FDMA的接人方式，来自外小区的干扰数目有限，但干扰强度较大，干扰源的变化也比较快，不易估计，于是采用数学统计的方法来对干扰进行估计就成为一种比较简单可行的方法。干扰随机化不能降低干扰的能量，但能通过给干扰信号加扰的方式将干扰随机化为“白噪声”，从而抑制小区间干扰，因此又称为“干扰白化”。干扰随机化的方法主要包括小区专属加扰和小区专属交织。
a）小区专属加扰，即在信道编码后，对干扰信号随机加扰。如图l所示，对小区A和小区B，在信道编码和交织后，分别对其传输信号进行加扰。如果没有加扰，用户设备（UE）的解码器不能区分接收到的信号是来自本小区还是来自其他小区，它既可能对本小区的信号进行解码，也可能对其他小区的信号进行解码，使得性能降低。小区专属加扰可以通过不同的扰码对不同小区的信息进行区分，让UE只针对有用信息进行解码，以降低干扰。加扰并不影响带宽，但是可以提高性能。
b）小区专属交织，即在信道编码后，对传输信号进行不同方式的交织。如图2所示，对于小区A 和小区B，在信道编码后分别对其干扰信号进行交织。小区专属交织的模式可以由伪随机数的方法产生，可用的交织模式数（交织种子）是由交织长度决定的，不同的交织长度对应不同的交织模式编号， UE端通过检查交织模式的编号决定使用何种交织模式。在空间距离较远的小区间，交织种子可以复用，类似于蜂窝系统中的频分复用。对于干扰的随机化而言，小区专属交织和小区专属加扰可以达到相同的系统性能。
干扰随机化继续沿用 CDMA系统成熟的加扰技术，比较简单可行。但面对的问题是将干扰视为白噪声处理，可能会造成由于统计特性的不同而带来的测量误差。干扰删除技术可以显着改善小区边缘的系统性能，获得较高的频谱效率，但是对于带宽较小的业务（如VolP）则不太适用，在OFDMA系统中实现也比较复杂。后续对它的研究不多。干扰协调/避免则是目前研究的一项热门技术，其实现简单，可以应用于各种带宽的业务。并且对于干扰抑制有很好的效果，适合于OFDMA 这种特定的接人方式，但是在提高小区边缘用户性能的同时带来了小区整体吞吐量的损失。以上3种小区间的干扰抑制方法可以相互结合，相互补充，以获得更高的系统增益。

❽ 怎样抑制工频干扰

1、降低阻抗

如果噪声是空间辐射进入的，说明设计存在高阻抗输入点，降低阻抗便可以抑制工频干扰。

2、软件滤波

如果是传导，需要切断传导途径来抑制工频干扰，比如从电源耦合进入的，可以对电源进行二次变换等，如果信号频段和工频不一致，可以滤波，采用陷波滤波器，或者软件滤波等。

平滑滤波器是数字滤波中较早使用的方法，该算法简单处理速度快，滤波效果较好，但存在明显不足，通带较窄，影响有用信号的分析，有严重削峰。

3、让设备适应工频噪声

在抑制不了的时候还可以采取适应的方案，就是让设备适应工频噪声，如比例双积分的ADC可以控制积分时间为50Hz整周期。

(8)抑制雨雪干扰的方法如何正确使用扩展阅读：

工频干扰是由电力系统引起的一种干扰，频率一般为50Hz或60Hz，根据不同国家或地区交流电工频频率而定。它会以电磁波的辐射形式，对人们的日常生活造成干扰。

主要表现为信号测量时出现的正弦波或其他信号与正弦波的叠加，抑制工频干扰的关键是搞清楚噪声传递方式，是空间辐射还是传导。

模拟滤波器已经很成熟，因此，数字滤波器的设计，将S平面映射到Z平面就型。采用双线性变化法映射，可以避免多值映射产生的混叠现象。但要注意模拟域和数字域两者的角频率是非线性的。

❾ 抑制电磁干扰的基本措施有哪些

抑制电磁干扰的基本措施从原理上讲包括接地，屏蔽，滤波等等
从路径上可以分为传导抑制和辐射抑制等等

❿ 如何消除、抑制物理干扰、化学干扰、背景吸收

一、干扰效应

干扰效应按其性质和产生的原因，可以分为4类：化学干扰、电离干扰、物理干扰和光谱干扰。

1、化学干扰

化学干扰与被测元素本身的性质和在火焰中引起的化学反应有关。产生化学干扰的主要原因是由于被测元素不能全部由它的化合物中解离出来，从而使参与锐线吸收的基态原子数目减少，而影响测定结果的准确性。由于产生化学干扰的因素多种多样，消除干扰的方法要是具体情况而不同，常用以下方法：

1）改变火焰温度

对于生成难熔、难解离化合物的干扰，可以通过改变火焰的种类、提高火焰的温度来消除。如在空气-乙炔火焰的PO43-对该的测定有干扰，当改用氧化二氮-乙炔火焰后，提高火焰温度，可消除此类干扰。

2）加入释放剂：

向试样中加入一种试剂，使干扰元素与之生成更稳定、更难解离的化合物，而将待测元素从其与干扰元素生成的化合物中释放出来。如测Mg2+时铝盐会与镁生成MgAl2O4难熔晶体，使镁难于原子化而干扰测定。若在试液中加入释放剂SrCl2,可与铝结合成稳定的SrAl2O4而将镁释放出来。磷酸根会与钙生成难解离化合物而干扰钙的测定，若加入释放剂LaCl3,则由于生成更难离解的LaPO4而将该释放出来。

3）加入保护络合剂：

保护络合剂可与待测元素生成稳定的络合物，而是待测元素不再与干扰元素生成难解离的化合物而消除干扰。如PO43-干扰钙的测定，当加入络合剂EDTA后，钙与EDTA生成稳定的鳌合物，而消除PO43-的干扰。

4）加入缓冲剂

加入缓冲剂即向试样中加入过量的干扰成分，使干扰趋于稳定状态，此含干扰成分的试剂称为缓冲剂。如用氧化二氮-乙炔测定钛时，铝有干扰，难以获准结果，向试样中加入铝盐使铝的浓度达到200ug/ml时，铝对钛的干扰就不再随溶液中铝含量的变化而改变，从而可以准确测定钛。但这种方法不很理想，它会大大降低测定灵敏度。

2、电离干扰

是指待测元素在火焰中吸收能量后，除进行原子化外，还是部分原子电离，从而降低了火焰中基态原子的浓度,使待测元素的吸光度降低，造成结果偏低。火焰温度愈高，电离干扰越显着。当分析电离电位较低的元素（如Be、Sr、Ba、Al）,为抑制电离干扰，出采用降低火焰温度的方法外，还可以向试液中加入消电离剂，如1%CsCl(或KCl、RbCl)溶液，因CsCl在火焰中极易电离产生高的电子云密度，此高电子云密度可以只待测元素的电离而除去干扰。

3、物理干扰

物理干扰是指试样在转移、蒸发和原子化的过程中，由于物理的特性（如粘度、表面张力、密度等）的变化引起吸收强度下降的效应。采用可调式雾化器通过改变进样量的大小、采用标准加入法（配置与被测样品相似组成的标准样品）或稀释来消除物理干扰。

4、光谱干扰

光谱干扰包括谱线重叠、光谱通带内存在吸收线、原子化池内的直流发射、分子吸收、光散射等。当采用锐性光源和交流调制技术时，前三种因素一般可以不予考虑，主要考虑分子吸收和光散射，它们是形成光谱背景干扰的主要因素：

l 分子吸收是指在原子化过程中生成的分子对辐射的吸收，分子吸收是带状光谱，会在一定波长范围内形成干扰。

l光散射是在原子化过程中产生的微小固体颗粒使光产生散射，造成透光度减小，吸收度增加

二、背景干扰的校正技术：

1.背景干扰的产生

背景干扰是一种光谱干扰，形成光谱背景的主要因素是分子吸收与光散射。表现为增加表观吸光度，使测定结果偏高。

2.背景校正的方法

1）连续光源背景校正法（氘灯校正）

连续光源采用氘灯在紫外区；碘钨灯在可见光区背景校正。切光器可使锐线光源与氘灯连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为原子吸收与背景吸收的总吸光度。连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总人射光强度是可以忽略不计的。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。

氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中，采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。

氘灯校正法的缺点采用两种不同的光源，需较高技术调整光路平衡。

2）塞曼效应背景校正

当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应是指光通过加在石墨炉上的强磁场时，引起光谱线发生分裂的现象。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼效应：

a、正常塞曼效应背景校正

光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，原子吸收线分裂为π和δ+组分：π平行于磁场方向，波长不变；δ+组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之间的主要差别是π分量只能吸收与磁场平行的偏振光，而δ+分量只能吸收与磁场垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即δ+组分为背景吸收，π组分为原子吸收。

在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收线不发生分裂，测得的是被测元素的原子吸收与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。

正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损失了一半，大大降低了检测的灵敏度。

b、反常塞曼效应背景校正

光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制了π组分（原子吸收）的产生，只产生δ+组分（背景吸收）。在不通电无磁场存在下，空心阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的δ+组分通过石墨炉，其不被基态原子吸收，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高

塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。

3）自吸收校正法（SR法）

当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态原子吸收，是发射的锐线光谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减，就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正常的1/3，现这种方式已基本不被采用。

4) 邻近非共振线校正背景：

用分析线测量原子吸收和背景吸收的总吸光度，因非共振线不产生原子吸收，用它来测量背景吸收的吸光度，两次测量值相减即得到背景之后的原子吸收的吸光度。

背景吸收随波长而改变，因此，非共振线校正背景法的准确度较差。这种方法只适用于分析线附近背景分布比较均匀的场合。