㈠ 什麼是膜厚儀
膜厚儀也叫塗層測厚儀，厚度測試儀，塗層測厚儀是一種攜帶型雙基(鐵、鋁)測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行塗、鍍層厚度的測量。既可用於實驗室中的精密測量，也可用於工程現場廣泛地應用在金屬製造業、化工業等。FRU
㈡ 膜層厚度非均勻性如何計算
薄膜測厚儀。
方法如下：1，打開測厚儀電源開關，設置試驗模式及統計數量等參數信息。2，通過零點或者標准量塊自校一下設備，截取一定尺寸的試樣，將試樣平鋪在測試面上。3，點擊試驗選項，通過控制系統調節測量頭降落於試樣之上；依靠兩個接觸面產生的壓力和兩接觸面積通過感測器測得的數值測量材料的厚度。
㈢ x射線鍍層測厚儀的使用原理有輻射嗎
若一個電子由軌道游離，則其他能階的電子會自然的跳至他的位置，以達到穩定的狀態，此種不同能階轉換的過程可釋放出能量，即X-射線。因為各元素的每一個原子的能階均不同，所以每一元素軌道間的能階差也不同相同。
下述可描述X-射線熒光的特性：若產生X-射線熒光是由於轉移一個電子進入K 軌道，一個K軌道上的電子已事先被游離，另一個電子即代替他的地位，此稱之為K 輻射。不同的能階轉換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的一種輻射，而Kβ輻射是電子從M 軌道跳至K軌道的一種輻射，其間是有區別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L 輻射可劃分為Lα 輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ 輻射，此是由N 軌道之電子跳入L 軌道中 。由於Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。
原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。
特定的X-射線可由比例計數器來偵測。當輻射撞擊在比例器後，即轉換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質所發出的X-射線可由其後的鑒別電路記錄。
使用X-射線熒光原理測厚，將被測物置於儀器中，使待測部位受到X-射線的照射。此時，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產生，而檢測系統將其轉換為成比例的電信號，且由儀器記錄下來，測量X-射線的強度可得到鍍膜的厚度。
在有些情況，如：印刷線路板上的IC導線，接觸針及導體的零件等測量要求較高 ,一般而言，測量鍍膜厚度基本上需符合下述的要求：
1.不破壞的測量下具高精密度。
2.極小的測定面積。
3.中間鍍膜及素材的成份對測量值不產生影響。
4.同時且互不幹擾的測量上層及中間鍍膜 。
5.同時測量雙合金的鍍膜厚及成份。
而X-射線熒光法就可在不受素材及不同中間膜的影響下得到高精密度的測量。
二.主要特點
1.無損、精確、快速測量各種電鍍層的厚度.
2.電鍍層可以是單層/雙層/三層
3.鍍金/鍍銀/鍍鎳/鍍銅等都可以測量
4.有電鍍液成份分析以及金屬成份分析等軟體
5.易操作/易維護
6.準直器程式控制交換系統 最多可同時裝配6種規格的準直器，程序交換控制 。
㈣ x熒光光譜儀怎麼樣測量膜厚
不會是買了機器不會用吧？呵呵！賣儀器的應該會教你的啊！
首先要知道被測量產品的底材、上面的覆蓋層的材質是什麼，覆蓋層有幾層，覆蓋層的先後覆蓋順序是什麼，然後在光譜儀器裡面自帶軟體裡面，找相應的底材跟覆蓋層順序的那一個測量軟體（如果找不到，要跟賣儀器的要針對這款材質的軟體），然後儀器上面校準基準片跟機器，把產品平穩放在測量平台上面，調好鏡頭光線（配套的電腦屏幕顯示類似於放大鏡能很清楚的看清產品測量點就行了），然後點擊測量，多測量幾個點，然後取中間值為結果！我們用的是德國菲希爾的20幾萬的那種，就是這樣測量的！小於1um微米的測量也是有誤差的！
㈤ 高手賜教：電鍍鐵絲的鍍層厚度的測量方法和計算方法是什麼渴望能說詳細點。
1）膜厚儀，好一點的是X熒光測厚儀。
2）截面顯微鏡法，用帶有刻度尺的顯微鏡觀察鐵絲的截面，能看到鍍層並讀出鍍層厚度。
3）千分尺，比較粗糙一點的測量手段。
4）稱重法，電鍍前和電鍍後的重量差，按照這個差值，計算。
㈥ 膜厚儀測出來的數怎麼算百分比
首先你得有個基準數值，其次你得根據膜厚儀給出的誤差范圍公式來算，比如80um厚誤差值是±(3%H+1），誤差值是這么算的80*3%+1=2.4+1=3.4，那麼80um厚的工件最終誤差值就是+-3.4，我接觸東儒（東如）的儀器是這么算的，別的牌子會不會有所差異就不清楚了。
㈦ 陽極氧化槽膜厚產生計算方式
膜厚的理論計算公式為：d=KItc
式中：
d——氧化膜厚度(μm)； I——電流密度(A/dm2)； t——氧化持續時間(min)； c——電解效率，c取0.68～0.77； K——成膜系數，K取0.25～0.36。
從公式中可看出，氧化膜厚由K、I、t這3個因素所決定。K是成膜系數，從理論上講，K值主要取決於氧化槽液溫度，當I確定後，氧化膜厚d主要由K、t來決定。
㈧ 薄膜在線測厚儀的有哪些測量原理
薄膜在線測厚儀的測量原理有4種：射線技術，X射線技術，近紅外技術和光學透過率技術
2.1 射線技術
射線技術是最先應用於在線測厚技術上的射線技術，在上世紀60年代就已經廣泛用於超薄薄膜的在線厚度測量了。它對於測量物沒有要求，但感測器對溫度和大氣壓的變化、以及薄膜上下波動敏感，設備對於輻射保護裝置要求很高，而且信號源更換費用昂貴，Pm147源可用5-6年，Kr85源可用10年，更換費用均在6000美元左右。
2.2 X射線技術
這種技術極少為塑料薄膜生產線所採用。X光管壽命短，更換費用昂貴，一般可用2-3年，更換費用在5000美元左右，而且不適用於測量由多種元素構成的聚合物，信號源放射性強。X射線技術常用於鋼板等單一元素的測量。
2.3 近紅外技術
近紅外技術在在線測厚領域的應用曾受到條紋干涉現象的影響，但現在近紅外技術已經突破了條紋干涉現象對於超薄薄膜厚度測量的限制，完全可以進行多層薄膜總厚度的測量，並且由於紅外技術自身的特點，還可以在測量復合薄膜總厚度的同時給出每一層材料的厚度。近紅外技術可用於雙向拉伸薄膜、流延膜和多層共擠薄膜，信 號源無放射性，設備維護難度相對較低。
2.4光學塗層技術
對於透光的材料，材料一定的情況下，透過率和測量的厚度成一一對應關系，所有通過測量材料的光學透過率（光密度）來達到測量材料厚度的目的，在卷繞式鍍膜行業，如鍍鋁膜，各種包裝膜，通過在線監測薄膜的透過率來在線監測生產的品質，已經是一種非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152真空鍍膜在線測厚儀就是利用光學透過率的原理來實現非接觸式的在線測厚，該儀器支持RS485通訊介面和MODBUS通訊協議，可以與鍍膜機上的PLC進行通訊實現閉環控制。