⑴ 穩態平板法測不良導體的導熱系數裝置能否測量良導體的導熱系數
可以。但要加長良導體的長度，其長度至少要大於其直徑，並在良導體外麵包裹絕緣物。
⑵ 穩態法測良導體導熱系數和測不良導體有什麼不同
穩態法測量導熱系數所依據的是傅立葉傳熱定律（λ＝Qd／ΔT），其中Q是熱流密度，d是熱流方向上的長度，ΔT表示對應長度上的溫度差。
在理論上，傅立葉傳熱定律適應於所有材料，包括良導體和不良導體，但在具體測量中為了保證導熱系數的測量精度，則需要針對良導體和不良導體區別對待，由此形成了不同的測量方法和測量裝置。
在實際測試中，試樣溫度測量一般採用溫度感測器，如熱電偶和熱電阻，而溫度感測器都有一定的系統誤差。因此為了保證溫度測量精度，需要ΔT盡可能的大，一般ΔT在5℃～20℃范圍內。對於不良導體材料來說，平板狀試樣就很容易在試樣厚度上形成這樣的溫度差；而對於良導體來說，就需要增大試樣長度來實現較大溫差。所以，一般來說，良導體的導熱系數測量一般都採用長棒狀或長條狀試樣，熱流方向在棒狀試樣的軸向上；而不良導體的導熱系數測量則多採用平板狀試樣，熱流方向在平板的厚度方向上。
由此可見，試樣形狀的不同對應著要採用不同的加熱方式和加熱形狀使得試樣上形成穩定的一維熱流和溫度梯度場。所有這些都決定了不同的測試手段、測試設備和測試方法。