㈠ 兩次測量法和兩點校正法有什麼區別
本質不同,測量是測東西的長度,校正法是對准確度進行校正。
測量手段越來越豐富,測量儀器也越來越先進,同時它造價昂貴又屬精密儀器,操作不當或者保養不到位,導致儀器出問題,最終會釀成更大苦果,因此,對測量儀器的日常管理,保養與維護十分重要。
常規配置儀器主要是光學水準儀、光學經緯儀、電子經緯儀、全站儀、靜態GPS等常用儀器。光學水準儀又分為微傾式水準儀和自動安平水準儀,經緯儀也分為帶指標水準管式和帶自動補償裝置兩種。
㈡ 水準儀兩次儀器高測量兩點高差 的方法步驟
1、對中整平;量儀器高。
2、讀前視距塔尺讀數;
3、讀後視距塔尺讀數;前後視距盡量相等
4、前視讀數減後視讀數計算高差
5、改變儀器高再測一次,與前次結果比較,看是否一致或者在誤差范圍內,在范圍內結果可用,否則從新測量。
需紀錄:日期、天氣、觀測人、記錄人、儀器高、前視塔尺讀數、後視塔尺讀數、前視距、後視距。
㈢ 用PH計測定溶液PH時,為什麼用兩次測定法
兩個點校準和單點校準相比,可以保證斜率,達到高低點都准確。
㈣ 測量方法有哪些
1、按是否直接測量被測參數,可分為直接測量和間接測量。
直接測量:直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。
間接測量:測量與被測尺寸有關的幾何參數,經過計算獲得被測尺寸。
2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值,可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量:讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量:讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。
3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸,分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量:測量頭與被接觸表面接觸,並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量:測量頭不與被測零件表面相接觸,非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。
4、按一次測量參數的多少,分為單項測量和綜合測量。
單項測量;對被測零件的每個參數分別單獨測量。
綜合測量:測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時,可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。
5、按測量在加工過程中所起的作用,分為主動測量和被動測量。
主動測量:工件在加工過程中進行測量,其結果直接用來控制零件的加工過程,從而及時防治廢品的產生。
被動測量:工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格,僅限於發現並剔除廢品。
6、按被測零件在測量過程中所處的狀態,分為靜態測量和動態測量。
靜態測量;測量相對靜止。如千分尺測量直徑。
動態測量;測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。

水準測量原理
從驗潮站的高程零點,用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程,作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發,用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。
一、二等水準測量稱為精密水準測量,為全國高程式控制制網的骨幹,三、四等水準網遍布全國各地,以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上,為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量,同城為普通水準測量。
水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線,在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數,根據讀數計算高差。
㈤ 水準儀兩次儀器高測量兩點高差的方法及步驟
1 儀器放置兩點中間,對中、整平;
2 前視讀數 a ,記錄;後視讀數 b,記錄;
3 求高差 h1
4 改變儀器高10cm左右,對中、整平;
5 再次記錄前視、後視的讀數;
6 求高差h2;
7 h1-h2≤5mm ,合格,
㈥ 分別測量一元硬幣的周長和直徑,寫出你兩次測量用的方法和結果.
找一根線,繞硬幣一周。量出其長度,即硬幣周長。
再用周長除以圓周率,即直徑。