接触电阻的测量方法

A. 接触电阻 怎么测试

接触电阻一般测试仪，用恒流源方式，小开路电压，测量网络接口和电话接口的金手指，用专用的高稳定度毫欧姆表系列都是可以的，不容易让金氧化，而且是四端开尔文回路测量保证准确度。

B. 怎样测量两根导线连接点的接触电阻

这个要借助专用工具-（微欧表）才可以测量。

C. 电阻的测量方法

乍一看到把电阻测量作为一章可能感到奇怪。毕竟每一位电子工程系的学生第一周内就会学到确定阻值的最简单的欧姆定律:

V = I ×R (公式6.1)

尽管这一公式非常简洁，但精确测量电阻实际是极富挑战性的参数测量。因为公式过于简单化，忽略了电阻会产生热量，继而又反过来影响电阻值本身这一事实。因此应将上述公式更准确地重写为:

V = I×R (T) (公式6.2)

公式中电阻(R) 是温度(T) 的函数。通常把这种被测电阻实际值随电流产生热量而变化的现象称为焦耳自热效应。

另一项需考虑的因素是电阻测量所用电缆的电阻。在测量非常小的电阻时，必须使用开尔文测量技术。我们已在前面几章中介绍了开尔文测量基础知识，您可以把这些技术直接用于电阻测量。但须指出的是焦耳自热效应和电缆电阻的组合使电阻测量更具挑战性。为减少焦耳自热，您需要减小流入被测电阻的电流(降低功率)。但为区别小电流流过电缆的压降和流过被测电 阻的压降，将要求测量设备具有非常精确的电压测量能力。基于上述原因， 电阻测量往往要求1 mV 以上的电压测量分辨能力。

D. 如何测量接触头的接触电阻

通常，测试接点电阻的目的是确定接触点氧化或其它表面薄膜积累是否增加了被测器件的电阻。即使在极短的时间内器件两端的电压过高，也会破坏这种氧化层或薄膜，从而破坏测试的有效性。击穿薄膜所需要的电压电平通常在30mV到100mV的范围内。
在测试时流过接点的电流过大也能使接触区域发生细微的物理变化。电流产生的热量能够使接触点及其周围区域变软或熔解。结果，接点面积增大并导致其电阻降低。
为了避免这类问题，通常采用干电路的方法来进行接点电阻测试。干电路就是将其电压和电流限制到不能引起接触结点的物理和电学状态发生变化电平的电路。这就意味着其开路电压为20mV或更低，短路电流为100mA或更低。
由于所使用的测试电流很低，所以就需要非常灵敏的电压表来测量这种通常在微伏范围的电压降。由于其它的测试方法可能会引起接点发生物理或电学的变化，所以对器件的干电路测量应当在进行其它的电学测试之前进行。

E. 继电器触头接触电阻该如何测量

一楼，电弧不能清洁触电吧，谁教给你的？不是害人么？电弧高温会导致接触面出现坑洞，减小接触面积，高温加速触电氧化，造成接触不良，影响控制设备，如果电弧能清洁触点，为什么还要给继电器加消弧电路？

继电器出头接触电阻正常时极小，与传导线电阻差不多，用微欧表测量并不准，只能作为参考，如果长时间大电流使用，造成触电高温，电阻加大，最终闭合后呈绝缘状态，这个时候就要用兆欧表来测了，不过这个时候触点已经不行了，只能更换新的，应急的话拆开用水砂纸打磨坑洼氧化两个触点，变得光亮后可临时使用或者改用在小电流设备上。

最后：电弧是绝对有害的，所以才会有真空继电器和钨和钼为触点的高温金属，用来减小电弧和抵抗电弧损坏。如果你用一个大电流驱动一个触点容易产生电弧的继电器，结果是触点产生电弧高温融合，会造成你断电后无法分开触点，造成事故。

F. 什么是接触电阻连接器接触阻抗测试方法是什么

接触电阻就是电流流过闭合的接触点对时的电阻.

测试方法

接触电阻的测量一般都采用开尔文四线法原理。 开尔文四线法连接有两个要求：对于每个测试点都 有一条激励线F和一条检测线S，二者严格分开，各 自构成独立回路；同时要求S线必须接到一个有极 高输入阻抗的测试回路上，使流过检测线S的电流 极小，近似为零.

见图1。图1中r表示引线电阻和探 针与测试点的接触电阻之和。由于流过测试回路的 电流为零，在 r3，r4上的压降也为零，而激励电流 I在r1，r2上的压降不影响I在被测电阻上的压降，所 以电压表测出的电压降即为Rt两端的电压值。从而 准确测量出R t的阻值。测试结果和r无关,有效地减 小了测量误差。

接触电阻测量原理:由于四线法测量接触电阻采用10mA/100mA的 恒流源，故测量接触电阻的实质是测量微动接触电 压。

使用Chroma毫欧姆表测量接触电阻的原理见 图2：

接触电阻测量原理:图2所测电阻即为接点接触时的电阻，其中的恒 流源用来为接触区域提供电流I，电压表用来测量 P+和P-之间的电压降V，由于电压表内阻相对于所 测接触电阻来说相当大(大到使电压表上分得的电流 可以忽略不计)，可以认为电压表所测电压V即为P+ 和P-之间的电压值，从而电压V与电流I的比值即为 电阻值。但由于接触区域非常小，按图中的接线得 到的是P+和P-之间的电阻值。为了使测得的数据尽 量接近真实的接触电阻值，应使得P+和P-接线端尽 量靠近接触区域 ，避免在测量结果中计入测试引线 和体积电阻产生的电压降 。

G. 接地电阻的测量方法是什么

接地电阻测量方法有：在线法、二线法、三线法和四线法四种。在线法测量是在不断开接地线或接地引下线的情况下，把接地电阻测试仪的钳口张开后夹住接地线或接地引下线，即可测出接地回路的电阻。二线法是利用一个辅助电极测量接地电阻，测出的电阻是辅助电极的接地装置电阻之和，当辅助电极的电阻远小于被测接地电阻时，测出的值可被视为接地电阻。三线法是利用两个辅助电极——电压辅助电极和电流辅助电极测量接地电阻。四线法测量是在三线法测量的基础上。再增加一个辅助电极，消除电流和电压线间互感，消除测量时连接导线电阻的附加误差的测量方法。注意这个辅助电极距离地网不能过近修改。

H. 接触电阻的测量

除用毫欧计外,也可用伏-安计法，安培-电位计法。
在连接微弱信号电路中，设定的测试数条件对接触电阻检测结果有一定影响。因为接触表面会附有氧化层，油污或其他污染物，两接触件表面会产生膜层电阻。由于膜层为不良导体，随膜层厚度增加，接触电阻会迅速增大。膜层在高的接触压力下会机械击穿，或在高电压、大电流下会发生电击穿。但对某些小型连接器设计的接触压力很小，工作电流电压仅为mA和mV级，膜层电阻不易被击穿，接触电阻增大可能影响电信号的传输。
在GB5095“电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法”中的接触电阻测试方法之一，“接触电阻-毫伏法” 规定，为防止接触件上膜层被击穿，测试回路交流或直流的开路峰值电压应不大于20mV，交流或直流的测试中电流应不大于100mA。
在GJB1217“电连接器试验方法”中规定有“低电平接触电阻” 和“接触电阻”两种试验方法。其中低电平接触电阻试验方法基本内容与上述GB5095中的接触电阻-毫伏法相同。目的是评定接触件在加上不改变物理的接触表面或不改变可能存在的不导电氧化薄膜的电压和电流条件下的接触电阻特性。所加开路试验电压不超过20mV，试验电流应限制在100mA。在这一电平下的性能足以表现在低电平电激励下的接触界面的性能。而接触电阻试验方法目的是测量通过规定电流的一对插合接触件两端或接触件与测量规之间的电阻。通常采用这一试验方法施加的规定电流要比前一种试验方法大得多。如军标GJB101“小圆形快速分离耐环境电连接器总规范”中规定；测量时电流为1A，接触对串联后，测量每对接触对的电压降，取其平均值换算成接触电阻值。

I. 接地电阻如何测量

两线法：须有已知接地良好的地，如PEN等，所测量的结果是被测地和已知地的电阻和。假如已知地远小于被测地的电阻，测量结果可以作为被测地的结果，适用于楼群稠密或水泥地等密封无法打地桩的地区，E+ES接到被测地，H+S接到已知地。

在低接地电阻测量和消除测量电缆电阻对测量结果的影响时替换三线法。测量时E和ES必须单独直接连接到被测地。该方法是所有接地电阻测量方法中正确度最高的。

(9)接触电阻的测量方法扩展阅读：

注意事项：

使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置，应使接地棒处于零电位的状态。

测试宜选择土壤电阻率大的时候进行，如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候，以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。

测量保护接地电阻时，一定要断开电气设备与电源连接点。在测量小于1Ω的接地电阻时，应分别用专用导线连在接地体上，C2在外侧P2在内侧。

J. 简述用万用表测电阻的基本操作方法

万用表测电阻的基本操作方法:

1、首先连接表笔，万用表的选择可以是指针也可以是数显的，红色表笔插入VΩ档，黑色表笔插在COM端，确保万用表正常。

(10)接触电阻的测量方法扩展阅读

万用表的基本原理：

是利用一只灵敏的磁电式直流电流表（微安表）做表头。当微小电流通过表头，就会有电流指示。但表头不能通过大电流，所以，必须在表头上并联与串联一些电阻进行分流或降压，从而测出电路中的电流、电压和电阻。

万用表使用注意事项：

1、在使用万用表之前，应先进行“机械调零”，即在没有被测电量时 ，使万用表指针指在零电压或零电流的位置上。

2、在使用万用表过程中，不能用手去接触表笔的金属部分 ，这样一方面可以保证测量的准确，另一方面也可以保证人身安全。

3、在测量某一电量时，不能在测量的同时换档，尤其是在测量高电压或大电流时 ，更应注意。否则，会使万用表毁坏。如需换档，应先断开表笔，换档后再去测量。

4、万用表在使用时，必须水平放置，以免造成误差。同时， 还要注意到避免外界磁场对万用表的影响。

5、万用表使用完毕，应将转换开关置于交流电压的最大档。如果长期不使用 ，还应将万用表内部的电池取出来，以免电池腐蚀表内其它器件。