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浙江相噪測量儀使用方法

發布時間:2022-09-23 09:28:49

『壹』 頻譜儀的測試的相位雜訊是什麼意思

是用來衡量本振等單音信號頻譜純度的一個指標,在時域表現為信號過零點的抖動。理想的單音信號,在頻域應為一脈沖,而實際的單音總有一定的頻譜寬度,一般的本振信號可以認為是隨機過程對單音調相的過程,因此信號所具有的邊帶信號被稱為相位雜訊。相位雜訊在頻域的可以這樣定量描述:偏離中心頻率多少Hz處,單位帶寬內的功率與總信號功率相比。如GRATTEN的頻譜儀的相位雜訊:-95dBc/[email protected]

『貳』 使用頻譜儀測試相位雜訊的操作步驟

使用頻譜儀測試相位雜訊測量不需要按步驟完成,只需要注意以下事項:

應盡量選用本底雜訊低的分析儀,因為所測量的相位雜訊下限取決於分析儀的本底雜訊。分析儀作為一種超外差的分析設備,最終的測量結果是外部輸入信號同本機內部本振信號疊加的結果,如果外部輸入信號的相位雜訊指標高於分析儀本身的指標,測量的結果實際是分析儀的相位雜訊。

只有外部信號的相位雜訊指標要比分析儀指標差時(差3dB以上),測量的結果才是正確的。直接頻譜法不適合於更低噪底的高性能晶振或者直接式頻綜的測試。

不論是使用分析儀的相位雜訊選件還是頻譜分析功能下手動測量,分析儀均不能把調幅雜訊和調頻雜訊區分開來,所以測量結果是調幅和調頻雜訊的總和。為了精確測量相位雜訊,一般要求被測信號的調幅雜訊要比調頻雜訊小得多(小10dB以上),測量結果基本為相位雜訊。

動態范圍代表了分析儀的測量范圍,其下限取決於分析儀自身靈敏度和相位雜訊,其上限取決於1dB壓縮點。在偏離載波較近處能達到的動態范圍的下限主要取決於分析儀自身的相位雜訊,在偏離載波較遠處分析儀自身的相位雜訊很低,動態范圍的下限主要取決於分析儀的靈敏度。

由於分析儀無載波抑制功能,測量的動態范圍受限,尤其是測量偏離載波較遠處的相噪時,需要判斷測量是否受限於分析儀的動態范圍,以免測量結果產生錯誤。

信號的頻譜漂移會給相噪量結果帶來很大的誤差,甚至無法測量。被測設備和測量儀器在測量進行前都需要充分預熱使其達到穩定的工作狀態,分析儀的預熱時間通常要求大於10分鍾。

儀器連接要牢固,盡量避免振動,測量時最好把儀器放置在能吸收振動的防振墊上,減少或者消除振顫雜訊。為了減少外界環境對測量結果的影響,有條件的地方最好在屏蔽室內測量。

(2)浙江相噪測量儀使用方法擴展閱讀:

常用的相位雜訊測量方法主要有直接頻譜分析儀法、相位檢波器法、鑒頻器法和雙通道互相關法等。應該指出,在不同場合對相位雜訊的要求不同,測量方法也有所不同。

典型的相位雜訊測量可以由專業相位雜訊測試系統完成,但這些專業設備的價格相當昂貴,而頻譜分析儀或者新一代的儀是相對常用的儀器,對一些相位雜訊指標要求不是很嚴格的場合,可以用信號/頻譜分析儀進行相位雜訊指標的測量。

通過譜分析進行相位雜訊測量的方法稱為直接頻譜分析儀法。該方法不僅能在分析儀上直接顯示相位雜訊的測量值,而且還可以同時准確地顯示是否有其他離散信號,具有簡單、靈活易用的特點。被測信號可以直接加到分析儀的射頻輸入口後,由分析儀直接進行分析測量;

也可以現將被測信號與相位雜訊指標更好的參考信號混頻後,得到一合適中頻信號,再由分析儀對這一中頻信號進行分析。

『叄』 什麼叫相位雜訊 再頻譜測試中用什麼作用呢

沒有一種振盪器是絕對穩定的。雖然我們看不到頻譜分析儀本振系統的實際頻率抖動,但仍能觀察到本振頻率或相位不穩定性的明顯表徵,這就是相位雜訊(有時也叫雜訊邊帶)。

它們都在某種程度上受到隨機雜訊的頻率或相位調制的影響。本振的任何不穩定性都會傳遞給由本振和輸入信號所形成的混頻分量,因此本振相位雜訊的調制邊帶會出現在幅度遠大於系統寬頻底噪的那些頻譜分量周圍。顯示的頻譜分量和相位雜訊之間的幅度差隨本振穩定度而變化,本振越穩定,相位雜訊越小。它也隨解析度帶寬而變,若將解析度帶寬縮小 10 倍,顯示相位雜訊電平將減小 10 dB。

相位雜訊頻譜的形狀與分析儀的設計,尤其是用來穩定本振的鎖相環結構有關。在某些分析儀中,相位雜訊在穩定環路的帶寬中相對平坦,而在另一些分析儀中,相位雜訊會隨著信號的頻偏而下降。相位雜訊採用 dBc(相對於載波的 dB 數)為單位,並歸一化至 1 Hz 雜訊功率帶寬。有時在特定的頻偏上指定,或者用一條曲線來表示一個頻偏范圍內的相位雜訊特性。

通常,我們只能在解析度帶寬較窄時觀察到頻譜儀的相位雜訊,此時相位雜訊使這些濾波器的響應曲線邊緣變得模糊。使用前面介紹過的數字濾波器也不能改變這種效果。對於解析度帶寬較寬的濾波器,相位雜訊被掩埋在濾波器響應曲線的邊帶之下,正如之前討論過的兩個非等幅正弦波的情況。

一些現代頻譜儀或信號分析儀(例如是德科技 X 系列)允許用戶選擇不同的本振穩定度模式,使得在各種不同的測量環境下都能具備最佳的相位雜訊。

在任何情況下,相位雜訊都是頻譜儀分辨不等幅信號能力的最終限制因素。如圖所示,根據 3 dB 帶寬和選擇性理論,我們應該能夠分辨出這兩個信號,但結果是相位雜訊掩蓋了較小的信號。

『肆』 相位雜訊的概念解釋

相位雜訊是指單位Hz的雜訊密度與信號總功率之比,表現為載波相位的隨機漂移,是評價頻率源(振盪器)頻譜純度的重要指標。
源自: 有線數字電視傳輸特性與故障解析 《中國有線電視》 2005年 趙雨境,王恆江 相位雜訊是指光的正弦振盪不穩定,時而出現某處相位的隨機跳變.相位雜訊導致光源線寬變寬.光強度雜訊是指因自發輻射光強的隨機變化和外界溫度的變化,導致發射光強的起伏
源自: Fabry-Perot干涉式光纖溫度傳... 《感測器技術》 2001年 曹滿婷
來源文章摘要:分析了溫度對相位的調製作用以及Fabry -Perot干涉結構檢測相位變化的原理 ,提出了一種具有高靈敏度和高解析度的相位調制型全光纖結構 ,並進行了系統的雜訊分析。 是一隨機量通常把信號的相似隨機起伏中(t)稱為相位雜訊.(t)隨時間變化的隨機過程是一平穩的隨機過程並使隨機量的概率密度分布符合正態分布。
源自: 受多項雜訊影響的二級方差估值的置信度《四川教育學院學報》 1997年 林時昌
來源文章摘要:有限次(m次)采樣測量的二級方差估值(,m)隨機地偏離其真值<)。這種隨機不確定性不僅和m有關,而且和雜訊的性質有關。計算出單項雜訊所產生的不確定度;分析了多項雜訊對總不確定度的影響,並引用置信度的概念表徵測量的不確定度。 (t)〕sin[2兀ft+小(t)]相位雜訊是指頻率信號中由頻率源內部雜訊調制(調相或調頻)產生的隨機相位起伏.當被測相位雜訊比頻譜分析儀自身的相位雜訊大時,可直接利用頻譜分析儀來測量相位雜訊,這是一種簡單、方便的相位雜訊測量方法
源自: 頻譜分析儀在測量相位雜訊過程中的數值修正 《國外電子測量技術》 2002年 曹芸
來源文章摘要:本文介紹了在使用頻譜分析儀測量相位雜訊時,影響其測量結果的因素並討論了如何對頻譜分析儀輸出結果進行修正。 則()rk的相角為()kknkqj+q+,其中()nkq是雜訊()nk對相位的干擾,稱為相位雜訊.可見,kq中包含了全部的載波相位信息,kj包含了大量甚至全部的碼字信息
源自: 相位處理載波恢復演算法研究 《信息與電子工程》 2003年 袁清升,劉文
來源文章摘要:針對數字信號傳輸同步接收機的數字化實現,提出一種載波同步新演算法即相位處理載波恢復演算法。它直接對接收信號的相角進行處理,完成載波頻率的快速捕獲和載波相位跟蹤。理論分析和計算機模擬表明,該演算法簡單有效,運算量小,便於用DSP器件來實現,適用性強。 2個調相邊帶功率之和是總功率的一半,2個調幅邊帶功率之和是總功率的另一半,換句話說,總雜訊功率N0的一半功率轉換到調相邊帶,另一半轉換到調幅邊帶,轉換到調相邊帶的雜訊稱為相位雜訊
源自: 衛星通信系統中相位雜訊之理論及測試 《電信科學》 2000年殷琪
來源文章摘要:本文從相位雜訊的定義出發 ,主要討論衛星通信系統中相位雜訊的來源 ,介紹一種在現場經常使用的、簡便可行的測試相位雜訊的方法———頻譜分析儀測試方法。 SK解調符號上就會引入相位誤差,該誤差可通稱為相位雜訊,對系統性能產生重要影響.關於相位雜訊對MPSK、MDPSK的影響分析,文獻[8]運用幾何方法推導了AWGN信道中MPSK的條件誤符號率
帶有相位雜訊的MPSK和MDPSK性能... 《電子學報》 2005年程雲鵬,王金龍,沈良,任國春 相位雜訊一般是指在系統內各種雜訊作用下引起的輸出信號相位的隨機起伏。通常相位雜訊又分為頻率短期穩定度和頻率長期穩定度。所謂頻率短期穩定度, 是指由隨機雜訊引起的相位起伏或頻率起伏。至於因為溫度、老化等引起的頻率慢漂移,則稱之為頻率長期穩定度。通常我們主要考慮的是頻率短期穩定度問題,可以認為相位雜訊就是頻率短期穩定度 。

『伍』 R&S頻譜儀/接收機/相噪分析儀如何操作自檢和自校準呢

頻譜儀/接收機/相噪分析儀
<1>FSW/FSWP/ESW/FSV(A)30xx/FPS
自檢
[SETUP]>Service and Support>Selftest>Start Selftest
自校準
[SETUP]>Alignment>Start Self-Alignment
固件檢查、升級或修復
[SETUP]>System Config>Versions+Options顯示firmware版本
[SETUP] >System Configuration>Firmware Update升級firmware
也可以在windows資源管理器直接安裝firmware
<2>FSV/FSVA/ESR
自檢
[SETUP]>More>Service>Selftest
自校準
[SETUP]>Alignment>Self Alignment
固件檢查、升級或修復
[SETUP]>System Info>Versions+Options顯示firmware版本
[SETUP] >More>Firmware Update升級firmware
也可以在windows資源管理器直接安裝firmware
<3>FSMR/ESU/FSP/FSU/FSQ/FSUP
自檢
[SETUP]>SERVICE>SELFTEST
自校準
[CAL]>CAL TOTAL
固件檢查、升級或修復
[SETUP]>System Info>STATISTICS顯示firmware版本
[SETUP] >NEXT>Firmware Update升級firmware
也可以在windows資源管理器直接安裝firmware
<4>FPL
自檢
[SETUP]>Service>Selftest>Start Selftest
自校準
[SETUP]>Alignment>Start Self Alignment
固件檢查、升級或修復
[SETUP]>System Configuration>Versions+Options顯示firmware版本
[SETUP] >System Configuration>Firmware Update升級firmware
也可以在windows資源管理器直接安裝firmware
<5>FSL/ESL
自檢
[SETUP]>More>Service>Selftest
自校準
[SETUP]>Alignment>Self Align
固件檢查、升級或修復
[SETUP]>System Info>Versions+Options顯示firmware版本
[SETUP] >More>Firmware Update升級firmware
也可以在windows資源管理器直接安裝firmware
希望以上內容可以幫到你

『陸』 用安捷倫的E5500相噪測試儀測量晶振的相噪,參數「Minimum number of FFT averages」的設定對結果的影響

FFT的平均數對測量結果基本沒什麼影響,平均數為16的結果肯定比32的結果要差一些,平均次數越多曲線越平滑,但對測量結果影響不大,因為E5500測量相噪的不確定度為2dB左右,我們一般測晶振相噪用4次平均就夠了。

『柒』 相噪分析儀keysight多少錢

您好,是Keysight E5052B相噪分析儀嗎,這款7GHz頻率的售價是96,776美金一台

『捌』 相位測量器哪個城市用的最多

相位雜訊概覽

相位雜訊是衡量信號發生器件品質的最重要指標之一,在航空航天與國 防以及通信領域的應用中起著重要的作用。 相位雜訊是表徵頻率穩定性的基本概念。頻率穩定性是指振盪源在規定 的時間段內產生相同頻率的一種度量。頻率穩定性又分為長期穩定性和短期穩定性。

長期頻率穩定性描述幾小時、幾天、幾個月甚至幾年內的頻率變化特性。而短期頻率穩定性指若干秒內額定載波頻率的變化。這里主要介紹短期頻率穩定性。 在量化相位雜訊的眾多技術指標中,最常用的測量指標是「單邊 帶(SSB) 相位雜訊」。從數學角度來講,美國國家標准與技術研究 院(NIST)將其定義為偏離載波頻率處單位帶寬內的單邊帶信號功率與載波信號總功率的比值。

主要的相位雜訊測量技術
直接頻譜技術

這是最簡單最經典的相位測量技術。如圖 1 所示,將被測件 (DUT) 的信號輸入頻譜儀/信號分析儀,將信號分析儀調諧到被測件頻率,直接測量振盪器的功率譜密度。由於該方法對頻譜密度的測量是在存在載波的情況下進行,因此頻譜儀/信號分析儀的動態范圍對測量范圍有較大影響。

雖然不太適合測量非常靠近載波的相位雜訊,但該方法可以非常方便地快速測定具有相對高雜訊的信號源質量。測量在滿足以下條件時有效:

● 頻譜儀/信號分析儀在相關偏置時的本身 SSB 相位雜訊必須低於被測件雜訊。

● 由於頻譜儀/信號分析儀測量總體雜訊功率,不會區分調幅雜訊與相位雜訊,被測件的調幅雜訊必須遠低於相位雜訊 (通常 10 dB 即可)。

圖 1. 直接頻譜測量技術

相位雜訊測量系統 | Keysight

鑒相器技術

如果需要分離相位雜訊和調幅雜訊,則需使用鑒相器法進行相位雜訊的測量。圖 2 描述了鑒相器技術的基礎概念。鑒相器可將兩個輸入信號的相位差轉換為鑒相器輸出端的電壓。相位差設置為 90° (正交) 時,電壓輸出為 0 V。偏離正交的任何相位波動都將引發輸出端的電壓變化。

圖 2. 鑒相器技術的基礎概念

目前已根據鑒相器原理開發了多種測量方法。其中,參考信號源 /PLL (鎖相環) 和鑒頻器方法應用最廣泛。

E5505A 相位雜訊測量解決方案:50kHz ~ 110 GHz

E5505A 解決方案以「鑒相器」技術為基礎,專門用於測量被測件的相位雜訊性能。它是一個模塊化系統,支持廣泛的系統元器件選擇,可滿足不同的相位雜訊測量需求。E5500 體系結構可支持標准儀器、相位雜訊元器件和 PC 軟體,具有最高的靈活性和資產重復利用率。

參考信號源/PLL 方法

如圖 3 所示,該方法是將雙平衡混頻器用作鑒相器。兩個信號源,分別來自被測件和參考信號源,為混頻器提供輸入。調整參考信號源與被測件具有相同的載波頻率 (fc),並設為額定相位正交 (異相 90°)。混頻器的相加頻率 (2fc) 將由低通濾波器 (LPF) 濾出,混頻器的相減差頻為 0 Hz (dc),平均電壓輸出為 0 V。

該直流信號帶有交流電壓波動,該波動與兩個輸入信號的合成 (總 rms)雜訊成比例。為了精確測量被測件信號的相位雜訊,參考信號源的相位雜訊應該低至可忽略水平,或者得到了很好的表徵。基帶信號通常會在放大後輸入基帶頻譜分析儀。

參考信號源/PLL 方法提供最佳的總體靈敏度和最廣泛的測量范圍 (例如 0.01 Hz 至 100 MHz 的頻率偏置范圍)。另外,該方法對 AM 雜訊不敏感,並可以跟蹤漂移信號源。但是該方法需要一個干凈的可電子調諧參考信號源,而且在測量高漂移率信號源時需要參考信號源必須具有寬的調諧范圍。

『玖』 頻譜儀在相位雜訊測量中是怎麼應用

首先,測相噪的頻譜儀本身應有比被測要好的相噪指標。在測量信號源的相噪時,測量載頻和一定頻偏處的電平差就行了,再將測量結果減去10lgRBW。

『拾』 如何使用頻譜儀測量時鍾信號相位雜訊

首先,測相噪的頻譜儀本身應有比被測要好的相噪指標。在測量信號源的相噪時,測量載頻和一定頻偏處的電平差就行了,再將測量結果減去10lgRBW。

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