数字特斯拉计使用方法

1. 指针式特斯拉计使用方法

摘要 亲，您好，根据您的问题，答主这边查询到的信息是：涵盖了HT20、HT20A的功能并增加了可测量交流磁场功能(10HZ-200HZ)；同时可测量永磁材料表面磁场、直流电机、扬声器、磁选机、永磁除铁器的工作磁场。亦可应用于检测机械加工后物品残留磁性、检测磁极分布、产品退磁后剩余磁场、并控制电镀物品带磁情况、检测马达磁性、检测电磁场的漏磁。

2. gaussmeter是什么意思

【gaussmeter】意思是【高斯计】。

【高斯计】（又称特斯拉计）是根据霍尔效应原理制成的测量磁感应强度的仪器，它由霍尔探头和测量仪表构成。霍尔探头在磁场中因霍尔效应而产生霍尔电压，测出霍尔电压后根据霍尔电压公式和已知的霍尔系数可确定磁感应强度的大小。高斯计的读数以高斯或千高斯为单位。
【高斯计】是用于测量和显示单位面积平均磁通密度或磁感应强度的精密仪器。

【高斯计】单位
磁场的单位是以特斯拉(T)毫特斯拉（mT）或高斯(Gs)或毫高斯(mGs) 或微特斯拉(μT) 表示。
1特斯拉（T）=10,000高斯（Gs）
1毫特斯拉（mT）=10高斯（Gs）
1高斯（Gs）=1,000毫高斯（mGs）
1微特斯拉（μT）=10毫高斯（mGs）

3. 磁场强度计

磁场强度计均是采用了高灵敏度霍尔传感器和高分辨率的A/D转换芯片，还应用了流行的单片机技术和数字滤波技术。简言之，霍尔效应是手持数字特斯拉计设计原理，数字滤波、A/D转换芯片等都是为了测量结果精确并便于读取。

主要用于测量永磁材料的表面磁场、直流电机、扬声器、磁选机、永磁除铁器的工作磁场测量，还可用于测量金属材料退磁后的剩余磁场、机械加工后的残磁、强磁屏蔽后的泄露磁场等。

磁场强度计主要构成包含测量主机和霍尔探头，以长沙天恒测控技术有限公司TD8620手持式数字特斯拉计为例（如上图），测量范围达0-200mT~2400mT，测量基本误差仅1%，分辨率0.01mT，相对于其他小公司特斯拉计来说，长沙天恒测控特斯拉计还有其他优势，是其他小厂家无法实现的，主要体现如下方面：

四位显示，读数精准；

单位mT/G可切换；

最大值保持功能；

自动调零；

量程自动切换；

背光可调；

自动关机功能。

4. 数字式毫特斯拉计怎样测量磁铁

一般的探头需要轻放在磁极上面，直接读数即可。新型铠装的探头可以耐受比较大的力量。

5. 上海亨通HT20数字高斯计|特斯拉计如何使用

专业生产高斯计 恒川仪器设备有限公司
我拿 WT10A 举例 一共有 置零 量程 开关 校准 四个按键
主要是 测量时探头不要反了 就好 那样会引起NS极的错误判断

6. 磁光克尔效应的磁光克尔转角的测量方法

在实际测量时，通常采用He—Ne激光作为光源，波长λ=632．8 nin．磁光介质样品安放在电磁铁建立的磁场之中，磁场的磁感应强度为4 000 Gs左右．在此条件下，通过偏振分析器可顺利地分析出磁光克尔转角θk的大小，见图2-1．由于测量时光信号十分微弱，采用锁相放大器可大大提高测量的精确度。
图 2-1 磁光克尔转角的测量装置 如图3-1所示，当一束线偏振光入射到不透明样品表面时，如果样品是各向异性的，反射光将变成椭圆偏振光且偏振方向会发生偏转，而如果此时样品还处于铁磁状态，铁磁性还会导致反射光偏振面相对于入射光的偏振面额外再转过一个小的角度，这个小角度称为克尔旋转角θk，即椭圆长轴和参考轴间的夹角。同时，一般而言，由于样品对P偏振光(电场矢量Ep平行于入射面)和s偏振光(电场矢量Ep垂直于入射面)的吸收率是不一样的，即使样品处于非磁状态，反射光的椭偏率也要发生变化，而T铁磁性会导致椭偏率有一个附加的变化，这个变化称为克尔椭偏率εk，即椭圆长短轴之比。
图 3-1 SMOKE原理图
SMOKE系统图如图3-2所示。所用的光源是普通的国产半导体激光器，工作电压为3 V，输出功率为1.5 mw。激光束通过起偏棱镜后变成线偏振光，然后从样品表面反射，经过检偏棱镜进入探测器。检偏棱镜的偏振方向要与起偏棱镜成偏离消光位置一个很小的角度δ不设成完全消光位置而设成近似消光位置是为了区分正负克尔旋转角、在消光位置，无论反射光偏振面是顺时针还是逆时针旋转，反映在光强的变化上都是强度增大。而在近似消光位置，通过检偏棱镜的光线有一个本底光强I。反射光偏振面旋转方向和δ同向时光强增大，反向时光强减小。这样样品的磁化方向可以通过光强的变化来区分。样品放置在磁场中，当外加磁场改变样品磁化强度时，反射光的偏振状态发生改变，通过检偏棱镜的光强也发生变化，根据探测器探测到这个光强的变化就可以推测出样品的磁化状态。在入射光路和接收光路中分别加入了可调光阑以过滤激光束通过光学元件时所产生的散射光，减少杂信号。
图3-2 SMOKE系统
在图3-1的光路中，假设取入射光为P偏振(电场矢量Ep平行于入射面)，当光线从磁化了的样品表面反射时，由于克尔效应，反射光中含有一个很小的垂直Ep的电场分量ES，通常ES<<Ep。在一阶近似下有：ES/Ep = k +iεk此时通过检偏棱镜的光强为：
……………………(3-1)
通常 较小，所以可以取Sin ≈ ，Cos ≈ 1，得到：
…………………………………………………………(3-2)
一般情况下，δ>> k，而 k和εk在一个数量级上，消去二阶项后式(3-2)变为：
...............................................................(3-3)
其中 为无外加磁场时的光强。
式(3-3)移项得在样品达磁饱和状态下克尔旋转角θk为：
………………………………………………………. ..………(3-4)
实际测量时最好测量磁滞回线中正向饱和时的克尔旋转角θk和反向饱和时的克尔旋转角θk，那么
……………………… (3-5)
式(3-5)中，I(+MS)和I(-MS)分别是正负磁饱和状态下的光强。从式(3-5)可以看出，光强的变化ΔI只与克尔旋转角θk有关，而与εk无关．说明在图1这种光路中探测到的克尔信号只是克尔旋转角。由于θk近似正比于磁化强度M，所以可通过对光强的测量，得到磁化强度的相对值。于是，通过改变外加磁场，即得到磁滞回线。
当要测量克尔椭偏率εk时，只要在检偏器前放置一个四分之一波片，它可以产生Π/2的相位差，所以检偏器看到: i(θk+iθk)=-θk+iθk 而不是:εkk+iθk： 因此测量到的信号为克尔椭偏率。
经过推导可得在饱和情况下εk为：
…………………………..(3-6) 本测量系统由以下5部分组成：
(1)光学减震平台。
(2)光路系统，包括输入光路与接收光路。激光器用普通半导体激光器，起偏和检偏棱镜都用格兰一汤普逊棱镜，光电检测装置由孔状可调光阑、干涉滤色片和硅光电池组成。格兰一汤普逊棱镜的机械调节结构由角度粗调和螺旋测角组成，测微头的线位移转变为棱镜转动的角位移。测微头分度值为0.01 mm，转盘分度值为1，通过测微头线位移的角位移定标可知其测量精度在2 左右。
(3)励磁电源主机和可程控电磁铁。励磁电源主机可选择磁场自动和手动扫描。
(4)前级放大器和直流电源组合装置。a)将光电检测装置接收到的克尔信号作前级放大，并送人信号检测主机中。b)将霍耳传感器探测到的磁场强度信号作前级放大并送入检测装置。c)为激光器提供精密稳压电源。
(5)信号检测主机。将前置放大器传来的克尔信号及磁场强度信号进行二级放大，分别经A/D转换后送计算机处理，同时用数字电压表显示克尔信号及磁场强度信号的大小。D/A提供周期为20 s、40 s、80 S准三角波，作为励磁电流自动扫描信号。
3.3 仪器主要部件
(1)磁场均匀的SMOKE测量系统专用电磁铁如图3所示．采用了磁轭、磁头由同一个整体环状圈铁锻打出来的方法，使磁轭形状完全接近磁力线走向，减少了漏磁损失，可以在较少的线圈匝数条件下，在宽气隙中产生磁感应强度高达302 mT的磁场。测量表明该磁场稳定性好且与励磁电流有非常好的线性关系。
(2)高稳定度半导体激光器电源。创新地将半导体激光光源用于SMOKE测量系统．一般文献皆认为，因为SMOKE实验中所探测的信号很小，若光源功率稳定性不够理想，信号就会被淹没在本底涨落中。因此，SMOKE须使用稳定度很高的偏振型氦氖激光器，半导体激光器因稳定性差，谱线宽度较大，不适合用SMOKE的光源．经作者反复研究，半导体激光器稳定性差的主要原因在于其电源稳定性差，为此研制了高稳定度的半导体激光器电源，其稳定度可达0.05%，达到国外进口高稳定度氦氖激光器0.1 稳定度的标准。
(3)在SMOKE实验系统中探测器用硅光电池代替光电倍增管。一般的SMOKE装置对信号的采集与放大多采用光电倍增管，光电倍增管灵敏度比硅光电池高，但光电倍增管必须用高工作电压，使用寿命不如硅光电池。本测量系统用硅光电池代替光电倍增管，因为设计了高稳定度的放大器，所得到的信号稳定度仍然很好，符合实验的要求。
(4)实验系统由用Visual C++编写的控制程序通过一台计算机实现自动控制和测量。根据设置的参数，计算机经D/A卡控制磁场电源和继电器进行磁场扫描。从样品表面反射的光信号以及霍耳传感器探测到的磁场强度信号分别由A/D卡采集，经运算后作图显示，在屏幕上直接呈现磁滞回线的整个扫描过程。
图3-3专用电磁铁 励磁电源可使用20 V和40 V两种三角波交流电压．当使用20 V电压时，实际测量磁铁线圈励磁电流最大值为8.37 A，当使用40 V时，励磁电流最大值为10.8 A。
样品所在处磁感应强度B1与霍耳传感器探测到的磁场强度B2的关系
手动改变励磁电流从0～10.00A变化，每间隔0.5 A用数字式特斯拉计测量电磁铁两极中心处的磁感应强度B，同时记录信号检测主机上霍耳传感器探测到的磁感应强度B的大小，B是以电压大小表示的。实验结果如表3-1所示。
表3-1 Bl与B2的关系 电流/A 0.00 0.50 1.00 1.50 2.00 2.50 3.00 3.50 4.00 4.50 5.00 B1/mT 0 17 35 52 68 85 102 119 135 152 169 B2/V 1.25 1.32 1.38 1.45 1.51 1.57 1.63 1.70 1.76 1.82 1.88 电流/A 5.50 6.00 6.50 7.00 7.50 8.00 8.50 9.00 9.50 10.00 — B1/mT 186 202 218 233 248 262 275 285 292 302 — B2/V 1.94 2.00 2.05 2.10 2.16 2.22 2.27 2.29 2.32 2.36 — 从表3-1测量数据可看出两磁极间的磁感应强度最大可达302 mT，在整个测量范围内，用计算机求得B1与B2的相关系数为0.997，而在0-8.50 A 的范围内，B1与B2的相关系数为0.999(86)。这说明样品所在位置处的磁感应强度与实验中霍耳传感器在线探测到的磁场强度有很好的线性关系。
3.4.3 发射一接收系统的稳定度
用半导体激光器直接照射接收器(内置硅光电池)，用DT-930 MULTlMETER四位半数字电压表测量其输出电压，每次持续1 min，连续测3次。在测试的60 S内，只是偶见数字表的最后一位跳动。因为DT-930的量程为1.99999 V，仅见最后一位跳动，可见发射-接收系统的最大稳定度不超过0.05%，完全满足实验的要求。
测量的灵敏度
图3-4为NiMn薄膜样品的测量曲线，表3-2是实验数据记录及求出的克尔旋转角大小。可通过它们来检测仪器的稳定度和噪声。
(a)半导体激光器用普通电源供电 (b)半导体激光器用高稳定电源供电
图3-4NiMn薄膜样品在不同电源作用下的测量曲线
表3-2 NiMn薄膜样品在不同电源作用下克尔旋转角的值 电源类型 普通电源 1.45 1.05 1.25 0.40 0.3 0.024 高稳定电源 1.06 1.04 1.05 0.02 0.3 0.0014 由图3-4(a)，(b)及表3-2中的实验数据计算结果对比可看出，半导体激光器用普通电源供电时，其噪声是用高稳定电源供电时的20倍左右，且噪声对应的克尔旋转角与信号的克尔旋转角已经接近在一个数量级上，所以半导体激光器使用普通的电源供电无法进行SMOKE实验。用高稳定度激光器电源供电时，噪声所引起的光强波动为±0.01 V，对应的克尔旋转角为0.001 4，这也是本SMOKE系统的所能达到的灵敏度。
实验结果
利用该系统已测量NiMn薄膜材料的多层膜的磁滞回线，如图3-5所示。表3-3是这种材料的实验数据记录，其中克尔旋转角为: 0.028 2。
表3-3 NiMn薄膜样品实验记录 实验材料 NiMn薄膜 2.02 1.00 1.51 1.02 1.67 0.0282 磁场强度H/（Am）
图3-5 NiMn薄膜的磁滞回线图样
结语
磁光克尔法是测量材料特性特别是薄膜材料物性的一种有效方法，表面磁光克尔效应作为表面磁学的重要实验手段，已被广泛应用于磁有序、磁各向异性、多层膜中的层间耦合以及磁性超薄膜间的相变行为等问题的研究。在本文的实验中用到了SMOKE新型测量系统，它采用普通的半导体激光器作光源，用常见硅光电池进行克尔信号的采集，成功地得到了NiMn薄膜的磁滞回线，且整个系统有较高的检测灵敏度。从本文的测量结果可以看出NiMn多层薄膜有明显的磁滞行为，反应了NiMn多层薄膜比较明显的铁磁特性。

7. 用特斯拉计测磁场时要注意什么

1 选用正确形式的探头，平面测量选用横向探头，螺线管等应用选择轴向探头。

2 保证探头内霍尔元件的法线方向与磁场方向一致，二者之间的夹角越大，读数误差越大。通常使用固定夹具配合特斯拉计的最大值保持功能可方便实现。

3 尽量避免霍尔探头温度变化，例如用手接触探头尖端。霍尔探头温度系数很大，温度变化会造成读数的显着误差。

4 测量磁体表面磁场时，由于表面磁场随离开表面的距离而迅速发散，因此应尽量使探头贴近磁体表面测量。探头距离磁体越远，读数误差越大。

5 交流磁场测量应选用真有效值交直流特斯拉计，常见的平均值测量对于正弦波以外的波形误差很大。

8. 如何检测磁力

如何检测磁力架磁性材料？
一、磁测仪器、设备
常用的磁测仪器有：磁通计、特斯拉计(又称为高斯计)、磁测仪。磁通计用于测量磁感应通量，特斯拉计用于测量表面磁场强度或气隙磁场强度，磁测仪用于测量综合磁性能。所有仪器使用之前应仔细阅读说明书，根据说明书的要求预热，预热之后按照说明书的要求进行操作。
二、应用特斯拉计(高斯计)测量
特斯拉计一般可用于测量磁性材料的表面磁场强度，具体而言就是测量表面中心部位的场强。
测量之前应根据说明书的要求进行预热，然后检查、调整零点，使得非测量状态下的示值为"0"。注意：在使用过程中一般不应调整霍尔电流。更换探头时应根据探头的说明在仪器热态下调整霍尔电流，并在适当的部位标识霍尔电流参数值。可以经常检查电流值，应为规定的数值。
测量表场的方法无法准确获得全面的磁参数(如剩磁、矫顽力、磁能积)，通常以上下限标样的中心场资料作为参考资料来进行合格判别。此种方法对N、M系列可用，对H以上系列准确度要差一些。一般而言可以按照下述公式计算不同尺寸(圆柱或圆片)的中心场：
式中：Br--标称剩磁
K--圆柱、圆片的长径比或方块磁化方向与另二个方向中较短边长之比。
对于长宽相差较大的产品K=取向长度/SQR(长*宽)