A. 电子显微镜分析（TEM and SEM）是指
电子显微镜分析技术在冶金学中的成功应用（20世纪30年代末期），为30年后（20世纪70年代初期）在地质学中的应用奠定了基础，更为半个世纪后构造地质学学科的突破性进展创造了极为有利的条件。电子显微技术的运用，使得构造地质学家得以重新认识众多构造带内变质构造岩，尤其是糜棱岩的成因。从而改变了人们在许多方面的传统认识，也改变了人们在开展构造研究，尤其是变质岩区构造研究时的思维方式。
透射电子显微镜（TEM，transmission electron micros）：位错理论提出（1934）20多年后，1956年，科学家首次成功地在变形矿物颗粒内直接观察到位错构造的存在。样品制备技术影响了电子显微镜技术的广泛推广与应用。直到70年代初期，离子轰击减薄技术的应用才推动了对矿物变形微结构的透射电子显微镜研究广泛开展。研究较多的矿物主要是石英、辉石和橄榄石。近来对于碳酸盐矿物、硅酸盐矿物及氧化物的研究也在不断深入。TEM技术对于确定和研究超微域内的微构造特点、研究极细粒物质的颗粒形态与颗粒边界构造特点是一种非常有用的工具。
TEM广泛应用于观察与确定变形岩石颗粒的超微构造型式，即位错构造的特点（见图1-10，1-11，1-14～1-17）。观察位错的基本类型、形态、组合与分布规律；阐述矿物颗粒的主要变形机制、岩石流变学状态与构造岩的成因；定量确定变形矿物颗粒内自由位错的密度，进而判断岩石稳态变形条件，即古差异应力条件；TEM有效地用于确定变形矿物晶体内的主要滑移系，滑移系统的Burger矢量；结合变形条件阐述矿物蠕变的基本规律。
透射电子显微镜样品制备：详见第一章位错研究方法。
扫描电子显微镜（SEM，scanning electron micros）：扫描电子显微镜是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号，最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。
扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点，是进行样品表面研究的有效分析工具。它广泛应用于地质样品的微区成分、形貌和取向的综合分析，适用于构造地质学、岩石学、矿床学、矿物学和地球化学等多学科的研究工作。尤其将EBSD技术与扫描电子显微镜配置于一体，开展晶格优选组构分析，将会成为推动构造地质学新理论诞生的重要途径。
扫描电子显微镜（SEM）是显微构造分析的有效手段（照片7-002）。目前已开展研究的方面有：①扫描电子显微镜应用于成分分析：与电子探针类似，能够进行微区成分分析，分析颗粒粒径可以达数微米；②背散射电子图像反映微细矿物颗粒内部成分结构与变化规律，尤其是颗粒的三维形态特点；③二次电子图像观察细小颗粒的三维形态、颗粒表面或颗粒边界上的微观特点；④应用Kikuchi Band确定微细矿物晶体颗粒或亚晶粒的定向性（晶格方位）；⑤SEM阴极发光分析使得能够更确切地分析变形结构的显微特点，探讨岩石变形的微观机制与变形过程。
扫描电子显微镜分析样品制备：扫描电子显微镜观察对于样品要求基于不同的目的，有所差异。开展样品表面结构和形貌分析，可以使用原位样品，但样品需要清洁。但对于精确的成分分析的样品，常常需要切制成光片或光薄片，保持表面平整、整洁。对于非导电样品，需要镀金或喷碳以获得更好的观察和分析效果。新型日立钨灯丝扫描电子显微镜的样品尺寸可以达到：直径200mm，高度80mm，可以用来观察大样品的表面形态和结构分析。
B. SEM和TEM区别
扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope)
透射电镜TEM (transmission electron microscope)
扫描电子显微镜
是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 (声子)、电子振荡 (等离子体)。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息;对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。正因如此，根据不同需求，可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。
透射电镜
是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片（通常为50～100nm）。其制备过程与石蜡切片相似，但要求极严格。要在机体死亡后的数分钟钓取材，组织块要小(1立方毫米以内），常用戊二醛和饿酸进行双重固定树脂包埋,用特制的超薄切片机（ultramicrotome）切成超薄切片，再经醋酸铀和柠檬酸铅等进行电子染色。电子束投射到样品时，可随组织构成成分的密度不同而发生相应的电子发射，如电子束投射到质量大的结构时，电子被散射的多，因此投射到荧光屏上的电子少而呈暗像，电子照片上则呈黑色。称电子密度高（electron dense）。反之，则称为电子密度低（electron lucent）。
C. 测试前如何处理样品能使TEM和SEM拍出来的效果好
同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
D. 如何制备tem/sem生物样品
透射电镜和扫描电镜制样方法很多，透射电镜的注意重金属染色，扫描电镜注意样品干燥和导电性能良好，而且针对不同的样品和观察效果有不同的制样方法，这里也无法具体回答
E. TEM和SEM的工作原理差别
扫描电子显微镜 SEM(scanning electron microscope) 工作原理：
1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
透射电镜TEM (transmission electron microscope)工作原理：
是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。
F. SEM、TEM、XRD原理及区别
1、SEM
搜索引擎营销：英文Search Engine Marketing ，我们通常简称为“SEM”。就是根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。简单来说，搜索引擎营销就是基于搜索引擎平台的网络营销，利用人们对搜索引擎的依赖和使用习惯，在人们检索信息的时候将信息传递给目标用户。搜索引擎营销的基本思想是让用户发现信息，并通过点击进入网页，进一步了解所需要的信息。企业通过搜索引擎付费推广，让用户可以直接与公司客服进行交流、了解，实现交易。
2、TEM
（仪器名称）
透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。
3、xrd
G. 求助，想做四氧化三铁的SEM和TEM，怎么做
没问题，可以做，你先把四氧化三铁溶于乙醇溶液，滴在铜片上就干燥后可以做SEM, 同样滴在铜网上烘干就可以做TEM
H. 谁能给我讲解一下SEM和TEM的区别，详细一点
最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号
TEM是通过透射的方式采集信号
1、样品属性大概必须都是固体，干燥、无油、尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。透射电镜不可以看表面形貌，而扫描电镜所观察的断面或者表面的组织形态可以间接表征材料的内部某个剖面的的组织形态。TEM分辨率高，可以观察原子晶格像，而扫描电镜分辨率低，最多只能表征由几十或者几百个原子形成的纳米相--可以叫做晶粒或者功能团。
2、扫描电镜制备简单，可直接观察样品表面或者断面；TEM样品制备复杂精细，材料必须用专用制样设备，制备成几个微米甚至100nm厚度的薄片
3、材料有里有面，全方位了解材料的微观组织结构需要从低倍到高倍的表征。
介孔Pt纤维。左起依次是场发射扫描式电子显微镜、高分辨率扫描式电子显微镜、透射电子显微镜拍摄的照片。
楼主看出用途的差别了吗？
照片a 只能用扫描看，不能用透射。照片b和c是照片a中的一个纤维，可以用扫描也可以用透射观察！有差别但很相似
I. 请问纳米粒子及纳米改性乳液在做SEM和TEM时，要如何准备样品
具体看看你的样品有什么特征了，要能很好的分散在溶剂中，如果太黏，制样的效果不好；还有就是如果忖度太低，需要染色，这样效果要好点。制样：一般附在铜网上，制成液体，滴在铜网上，干燥就行了
J. 透射电镜试样如何制备
这有一点资料，希望对你有所帮助。一般提供透射电镜服务的单位可以委托制样吧
一、样品要求
1．粉末样品基本要求
（1）单颗粉末尺寸最好小于1μm；
（2）无磁性；
（3）以无机成分为主，否则会造成电镜严重的污染，高压跳掉，甚至击坏高压枪；
2．块状样品基本要求
（1）需要电解减薄或离子减薄，获得几十纳米的薄区才能观察；
（2）如晶粒尺寸小于1μm，也可用破碎等机械方法制成粉末来观察；
（3）无磁性；
（4）块状样品制备复杂、耗时长、工序多、需要由经验的老师指导或制备；样品的制备好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。所以块状样品制备之前，最好与TEM的老师进行沟通和请教，或交由老师制备。
二、送样品前的准备工作
1．目的要明确：（1）做什么内容（如确定纳米棒的生长方向，特定观察分析某个晶面的缺陷，相结构分析，主相与第二相的取向关系，界面晶格匹配等等）；（2）希望能解决什么问题；
2．样品通过X-Ray粉末衍射（XRD）测试、并确定结构后，再决定是否做HRTEM；这样即可节省时间，又能在XRD的基础上获得更多的微观结构信息。
3．做HRTEM前，请带上XRD数据及其他实验结果，与HRTEM老师进行必要的沟通，以判断能否达到目的；同时HRTEM老师还会根据您的其他实验数据，向您提供好的建议，这样不但能满足您的要求，甚至使测试内容做得更深，提高论文的档次。
三、粉末样品的制备
1．选择高质量的微栅网（直径3mm），这是关系到能否拍摄出高质量高分辨电镜照片的第一步；（注：高质量的微栅网目前本实验室还不能制备，是外购的，价格20元/只；普通碳膜铜网免费提供使用。）
2．用镊子小心取出微栅网，将膜面朝上（在灯光下观察显示有光泽的面，即膜面），轻轻平放在白色滤纸上；
3．取适量的粉末和乙醇分别加入小烧杯，进行超声振荡10~30min，过3~5 min后，用玻璃毛细管吸取粉末和乙醇的均匀混合液，然后滴2~3滴该混合液体到微栅网上（如粉末是黑色，则当微栅网周围的白色滤纸表面变得微黑，此时便适中。滴得太多，则粉末分散不开，不利于观察，同时粉末掉入电镜的几率大增，严重影响电镜的使用寿命；滴得太少，则对电镜观察不利，难以找到实验所要求粉末颗粒。建议由老师制备或在老师指导下制备。）
4．等15 min以上，以便乙醇尽量挥发完毕；否则将样品装上样品台插入电镜，将影响电镜的真空。
四、块状样品制备
1．电解减薄方法
用于金属和合金试样的制备。（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）用金刚砂纸机械研磨到约120~150μm厚；（3）抛光研磨到约100μm厚；（4）冲成Ф3mm 的圆片；（5）选择合适的电解液和双喷电解仪的工作条件，将Ф3mm 的圆片中心减薄出小孔；（6）迅速取出减薄试样放入无水乙醇中漂洗干净。
注意事项：
（1）电解减薄所用的电解液有很强的腐蚀性，需要注意人员安全，及对设备的清洗；
（2）电解减薄完的试样需要轻取、轻拿、轻放和轻装，否则容易破碎，导致前功尽弃；
2. 离子减薄方法
用于陶瓷、半导体、以及多层膜截面等材料试样的制备。块状样制备（1）块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片；（2）均匀薄片用石蜡粘贴于超声波切割机样品座上的载玻片上；（3）用超声波切割机冲成Ф3mm 的圆片；（4）用金刚砂纸机械研磨到约100μm厚；（5）用磨坑仪在圆片中央部位磨成一个凹坑，凹坑深度约50~70μm，凹坑目的主要是为了减少后序离子减薄过程时间，以提高最终减薄效率；（6）将洁净的、已凹坑的Ф3mm 圆片小心放入离子减薄仪中，根据试样材料的特性，选择合适的离子减薄参数进行减薄；通常，一般陶瓷样品离子减薄时间需2~3天；整个过程约5天。
注意事项：
（1）凹坑过程试样需要精确的对中，先粗磨后细磨抛光，磨轮负载要适中，否则试样易破碎；
（2）凹坑完毕后，对凹坑仪的磨轮和转轴要清洗干净；
（3）凹坑完毕的试样需放在丙酮中浸泡、清洗和凉干；
（4）进行离子减薄的试样在装上样品台和从样品台取下这二过程，需要非常的小心和细致的动作，因为此时Ф3mm薄片试样的中心已非常薄，用力不均或过大，很容易导致试样破碎。
（5）需要很好的耐心，欲速则不达。