Ⅰ 城市裡如何快速找停車位
城市裡如何快速找停車位？方法如下：
停車場怎麼快速找車位？
有車位管理系統的跟著指示走
首先就是公共場所停車怎麼找車位，這種大型停車場裡面商場、辦公樓、超市這種地方地下停車庫，現在一般都是有裝這種停車管理系統的。
這種岔口上面會指示的，什麼地方還有多少車，什麼地方已經滿了，這種用超聲波檢測的裝置還是比較準的。
我們不妨看一下，以免多走冤枉路，找空的地方快速的停掉，這個是一個比較好的辦法。
沒有車位管理系統的詢問工作人員
這不是什麼地方都有的，老舊一點的停車庫又沒這種東西的，這套系統畢竟是要大價錢的。
那一般都會相應的有指引的人，它會告訴你往哪裡往哪裡，這個時候聽他講一講也是有一定的幫助的。
但是高峰時候他指的那個方向，反方向你可以去試一試，至少我每次都是這么乾的，屢試不爽。
順著別人出來的方向找車位
在停車場里找車位還有一個小竅門，就是當你開進這個停車場的時候，看到有車子從裡面開出來了，你就趕緊順著他開過來的方向過去，
他剛走的那個車位你就可以停，順著這個按圖索驥很劃算，比人工指引什麼的靠譜多了也很方便。
路邊怎麼快速找車位？
有空位就直接停
如果在路邊我們怎麼去找車位，它和大型停車場不同，一般都是很長一段路，只有一個管理員搞了個板凳在那邊聽鳳凰傳奇。
那麼找管理員問就很難，你找到他說不定還是找到車位更容易了，平時我們基本上就是有坑就占，有位置就直接停著就可以了。
問問路邊小區的保安人員
如果車位很緊張，看過去一排全是車子，根本不知道哪裡有空的時候，那有可能問問路邊小區的保安，人家或許有小竅門。
甚至說保安自己想賺點零花錢，他會讓小區的位置臨時讓你停個幾小時，雖然沒有發票，五塊錢解決燃眉之急，我覺得還是比較劃算的。
Ⅱ 空位濃度測量方法
固溶體AO2-x中空位濃度可以去做XPS或者能譜儀分析，確定元素原子比列，求出x的值，然後在根據空位濃度的公式進行計算就出來了
Ⅲ 人工核輻射測量方法
12.3.1 X熒光方法
X熒光方法是一種通過測量元素的特徵X射線來進行物質成分分析的人工核物探方法。
12.3.1.1 X熒光方法工作原理
（1）特徵X射線及其譜結構
X射線是一種低能電磁輻射，具有波、粒二象性，它的產生過程卻與其他電磁輻射（γ射線，軔致輻射等）不同。高能粒子（電子、質子、軟γ射線或X射線）與靶物質原子發生碰撞時，從原子的某一殼層逐出一個電子，於是在該殼層出現一個電子空位。這時原子處於激發態，其外層能量較高的電子就發生躍遷以充填電子空位，並將多餘的能量（兩殼層的能量差）以X射線的形式釋放出來。
能引起內層電子躍遷的入射粒子的最低能量稱為吸收限。我們可以將原子的K、L、M等各層的吸收限表示為Kab、Lab、Mab等。當激發能量E0＞Kab時，K層出現電子空位，L、M或N層電子充填該空位，這時釋放的X射線稱為K系X射線；當E0＞Lab時，L層出現電子空位，M、N層電子充填該空位，釋放出的X射線稱為L系X射線，等等。由於每個電子殼層存在若干亞層（電子軌道），使得X射線更趨復雜化。例如K系X射線又分為：L層各亞層電子躍到K層形成的Kα1、Kα2線，M、N層各亞層電子躍遷到K層時形成的Kβ1、Kβ2、Kβ3線等，且它們之間的X射線照射量率差別很大。其餘各系亦是如此。
每種元素的原子能級是特定的，因此每種元素都有一套確定能量的X射線譜。該線譜成為表徵這一元素存在的譜線，所以又稱這些譜線為該元素的特徵X射線。
（2）熒光產額
我們知道，原子在退激時也可以放出俄歇電子而不釋放特徵X射線，這就造成了特徵X射線放射幾率的減少。特徵X射線發射的幾率稱為熒光產額，用ω表示。ω等於某殼層伴有特徵X輻射的電離數I與該殼層總電離數n之比，即
勘查技術工程學
圖12-13 熒光產額與原子序數的關系
圖12-13給出了不同元素K、L、M系的熒光產額曲線。不難看出，熒光產額主要依賴於元素的原子序數。重元素的熒光產額高，容易分析。輕元素的熒光產額低，給測量帶來了很大的困難，因而測量精度低。將各線系加以比較，可見K系的熒光產額最高，因此實際工作中應盡量利用K系譜線。
（3）莫塞萊定律
1913年，莫塞萊發現，元素特徵X射線頻率ν的平方根與靶物質的原子序數Z存在以下線性關系
勘查技術工程學
式中a、b是與譜線特徵有關的常數。上式也可以寫成
勘查技術工程學
式中EX是特徵X射線的能量，h為普朗克常數。由上式可見，只要測定出某一能量（或頻率）的特徵X射線，就能確定相應的化學元素。這一特定能量X射線的照射量率的大小就反映了該元素在物質中的含量。
12.3.1.2 X熒光的激發
（1）激發方式
要激發待測元素原子的X熒光，首要的問題是必須使其原子內層電子軌道上形成空位，這就要求為電子提供大於結合能的能量，以使該電子脫離原子的束縛，成為自由電子。完成這一過程的主要方式如下。
1）電子激發。用高電壓下產生的高速電子或核衰變產生的β射線轟擊靶材料。這種方式除獲得靶物質的特徵X射線外，還存在軔致輻射產生的連續譜，造成很強的本底，給測量帶來了不便。
2）帶正電粒子激發。帶正電粒子來自靜電加速器產生的高能質子、氘核或其他粒子，以及核衰變產生的α射線。常用的是質子激發，特點是本底極低，這是因為重帶電粒子的軔致輻射可忽略不計，因而X熒光分析可獲得很低的檢出限（測量裝置能發現的最小照射量率變化值）。重帶電粒子射程很短，所以對帶正電粒子激發的X熒光的分析實際上是一種表面分析方法。
3）電磁輻射激發。γ射線、X射線及軔致輻射都可與核產生光電效應，從而使內層電子軌道形成空位，這是最常用的激發方式。
（2）激發源
激發源的種類很多。X射線管可用於電子激發或電磁輻射激發，靜電加速器可用於帶正電粒子激發或電磁輻射激發，野外工作中常用放射性核素作激發源。例如241Am，57Co是軟γ射線源，55Fe、109Cd、238Pu、153Gd是X射線源等。用它們可現場測定元素的種類和含量。
12.3.1.3 X射線在物質中的衰減
X射線和γ射線一樣，與物質作用會產生光電效應、康普頻散射和電子對效應。單色窄束X射線在物質中的衰減服從指數定律
勘查技術工程學
式中I0和I分別為通過該物質前、後X射線的計數率；μm為質量吸收系數，μm=μ／ρ，μ為吸收系數，ρ為物質密度；dm為面密度（或質量厚度），dm=ρd，d為物質層厚度。
物質透過X射線的能力用透過率η表示，即
勘查技術工程學
顯然，透過率η取決於物質的質量吸收系數μm和面密度dm。質量吸收系數隨入射X射線能量減小而增長，且其變化是不連續的。例如，當入射X射線能量E0小於吸收限Kab（或Lab）時，μm較小，因而透過率η大；當E0大於Kab（或Lab）時，能激發K層（或L層）電子產生光電效應，μm突然增大，η急劇減小，於是出現圖12-16中透過率η在吸收限Kab（或Lab）處突變的現象。利用這一現象可以實現對能量的甄別。
此外，調節物質層厚度d，也可以調整物質的透過率η，使透過率曲線上、下移動。
12.3.1.4 現場X熒光測量方法
X熒光分析所使用的儀器稱為X射線熒光儀，其工作原理是，用激發發源產生的帶電粒子與靶物質原子作用，使之放出X射線，通過測定特徵X射線的能量和強度，就能確定放射性核素所屬元素的名稱及含量。
X熒光分析可在室內，也可在野外進行。隨著X熒光儀器設備及工作方法日臻完善，現場X熒光測量已成為快速評價和驗證礦化異常的有效方法。
現場X熒光測量工作主要包括以下內容：調整和檢查儀器工作狀態，布置測網，測試工作地區岩礦樣品，建立工作曲線及室內資料整理等。
測線、測網要依據礦化程度布置，測線應布置在岩、礦露頭比較平整的地段，對均勻礦體要加密測線、測點。
現場X熒光測量主要是用閃爍計數器測定 X射線，但它往往不能將 X 射線能量相近的元素區分開來。圖 12-14 中實線就是銅、鐵二元樣品的 K 系 X 射線儀器譜。由於銅和鐵的 K 系 X 射線能量相近，它們的譜線重疊，無法區分 Fe K和 Cu K的照射量率。為了解決這個問題，可以選用高解析度的半導體探測器。它需要低溫的工作環境，用於現場測量尚有一定困難。為此，可在試樣和探測器間安裝某種材料製作的濾片（圖12-15），使其吸收限能量略大於被測元素特徵 X射線的能量，而小於其餘干擾輻射的能量，這樣就只有被測元素的X射線能通過濾片被探測器探測到，其餘輻射全被濾掉，這種方法稱為透過片法。
圖12-14 閃爍計數器的能量分辨能力
圖12-15 一種典型的激發探測裝置
當樣品成分復雜或做多元素分析時，則要採用平衡濾片法。選擇兩種材料組成一對濾片，一片叫透過片，另一片叫吸收片，它們都有自己特定的吸收限。如圖12-16所示，實線表示透過片 A 對 X 射線的透過率曲線，虛線表示吸收片 B 對 X 射線的透過率曲線。在它們之間由兩個吸收限 K abA和 K abB確定的能量間距ΔE，稱為能量通帶。選擇適當的平衡濾片，使待測元素的特徵X射線能量位於 K abA和 K abB之間，這時只需分別測量通過每一濾片後的 X射線照射量率，兩者之差就是被測元素的照射量率。顯然，通帶愈窄，濾片的能量分辨本領愈好。
例如，有一個含Fe、Co、Ni、Cu和Zn的樣品，激發時五個元素都發射自己的特徵X射線，而我們只測量Cu的Kα線，Cu的Kα線的能量為8.047 keV，Co的吸收限Kab為7.709 keV，Ni的Kab為8.331 keV。取Co和Ni製成的濾片，並使能量通帶處於7.709～8.331 keV之間，Cu的Kα線正落入其中，而Co、Ni、Zn的K線不是小於就是大於此通帶能量范圍，所以透過Co片和Ni片的X射線照射量率之差正好是Cu的Kα射線的照射量率。
圖12-16 平衡濾片的特性
工作曲線是表示樣品中待測元素含量與特徵X射線照射量率之間關系的曲線（圖12-17）。在野外現場獲得特徵X射線照射量率後，即可從工作曲線上查出相應的元素含量。
現場繪制工作曲線有刻槽取樣和岩心測量兩種方法。刻槽取樣法是在有代表性的礦化地段，取5～10處不同含量的露頭，每處長約50～100 cm，均勻布置10～20個測點進行X熒光測量，求出平均照射量率差值Δ或平均計數率差值（或平均照射量率或平均計數率）。然後刻
圖12-17 工作曲線示意圖
槽取樣，用化學分析方法獲得該處元素平均含量。最後，根據或（或或）與元素含量的關系繪制散點圖，用回歸分析方法找出二者之間的函數關系，並繪制工作曲線。岩心測量法與刻槽取樣法相同，只是測量的對象是岩心而不是露頭。
必須指出，待測樣品中各元素間的相互影響、樣品粒度不均勻、表面不平整等，都會對X熒光測量產生影響，使測量結果出現誤差，這就是基體效應。校正基體效應的方法很多，讀者可參看有關書籍，不再贅述。
X熒光測量數據經整理後，可繪制X射線熒光照射量率（或計數率）剖面圖、剖面平面圖、等值線平面圖，以及元素含量的剖面及平面圖件。
12.3.2 中子活化法
利用核反應可以把許多穩定的核素變成放射
性核素，這個過程稱為活化。我們知道，中子引起的核反應可使原子核活化，這就是中子活化。具體地說，中子活化是利用具有一定能量的中子去轟擊待測岩石樣品，然後測定由核反應生成的放射性核素的核輻射特性（半衰期、射線能量及照射量率），從而實現對樣品中所含核素種類和含量的定性和定量分析。
例如，用中子活化法測定金的核反應式為
勘查技術工程學
或記為197Au（n，γ）198Au。經此反應，穩定核素197Au轉變為放射性核素198Au，其半衰期為2.696d，放出的一條主要γ射線的能量為411.8 keV，活化核反應截面為98.8×10-28m2。因此可用鍺（鋰）探測器測量198Au的γ射線照射量率，從而確定樣品中是否含金，以及金的含量。元素分析檢出限（即與檢出限對應的元素含量）可達0.04×10-9。
12.3.2.1 活化分析方程式
設某靶核在活化反應時間（t=0）前的原子核數為N0，則活化反應中放射性核素原子核的生成率為
勘查技術工程學
式中f為中子的通量密度，f=nv；n為中子密度；v為中子速度；σ為靶核對中子的活化反應截面。
新生成的放射性核素同時發生衰變，其衰變率為
勘查技術工程學
式中N為t時刻新生成的放射性核素的原子核數。於是，放射性核素原子核的凈增長率為
勘查技術工程學
活化過程中，雖然 N0 在減少，但 N0≫N，故 N0 可視為常數。對（12.3-8）式為一階非齊次線性微分方程，解之得
勘查技術工程學
由（11.8-1）式和（11.2-5）式可知，放射性核素的活度為
勘查技術工程學
將（12.3-9）式代入，得
勘查技術工程學
根據半衰期與衰變常數的關系，（12.3-11）式可寫成
勘查技術工程學
圖12-18 放射性子核的積累衰變曲線
（12.3-12）式表明，用中子束活化某靶核時，照射t時刻得到的放射性核素的活度與fσN0成正比，與照射時間t呈指數關系。圖12-18為放射性子核的積累衰變曲線，當照射時間為5倍半衰期時，活度A已接近飽和。
活化分析中，總是在停止照射後「冷卻」（即衰變）一定時間t′才進行測量。這時放射性核素的活度A′為
勘查技術工程學
靶核數N0可用下式表示
勘查技術工程學
式中：NA為阿伏伽德羅常數，NA=6.022×1023mol-1；θ為放射性核素豐度；m為靶元素的質量；M為靶元素的相對原子量，於是
勘查技術工程學
（12.3-14）式就是中子活化分析最基本的方程式。
實際工作中，由於σ和f不易准確測定，放射性活度A′的測量又比較麻煩，所以中子活化分析求待測靶元素的質量很少用上述絕對測量法，而是用相對測量法。相對測量法是將已知待測元素含量的標准參考物質與未知樣品在相同條件下進行照射和測量，由（12.3-14）式得到
勘查技術工程學
式中：A′樣和A′標分別為樣品和標准參考物質的放射性活度；m樣和m標分別為樣品和標准參考物質中待測元素的質量。由上兩式得到
勘查技術工程學
設γ射線的計數率為I，則它與活度的關系為
勘查技術工程學
式中：Bγ為一次衰變中產生γ光子的幾率；εγ為測量系統的探測效率，與被測γ射線能量有關；R為與測量幾何條件有關的參數。根據上式，我們還可以得出
勘查技術工程學
式中：I樣和I標分別為樣品和標准參考物質中待測元素放出的γ射線的計數率，於是（12.3-15）式變為
勘查技術工程學
設樣品和標准參考物質中待測元素的質量分數為w樣和w標，由於
勘查技術工程學
式中：G樣和G標分別為樣品和標准參考物質的質量，於是（12.3-18）式變為
勘查技術工程學
這就是相對測量時計算樣品中待測元素質量分數的公式。
12.3.2.2 中子源
中子源是能夠提供中子的裝置，常用的中子源有以下三種類型。
（1）放射性核素中子源
這種中子源品種很多，主要有：①α中子源：210Po、227Ac、238Pu、241Am、242Cm、244Cm等放射性核素常用作α中子源的α輻射體。靶材料大多選用鈹，核反應式為9Be（α，n）12C；②自發裂變中子源：主要採用252Cf核的自發裂變，中子產額很高，每毫克252Cf每秒放出2.3×109個中子；③光中子源：這種源利用的是9Be（γ，n）8Be核反應，常用124Sb作為激發（γ，n）反應的γ輻射體。
（2）加速器中子源
加速器是使帶電粒子獲得較高能量的裝置。用加速器產生的質子、氘核、α粒子等去轟擊靶核，使之產生發射中子的核反應，就構成了加速器中子源。這類中子源包括：①中子發生器：以氘核作轟擊粒子，與靶核發生3H（d，n）4He或2H（d，n）3He核反應產生中子；②電子迴旋迴速器：用其形成的高速電子轟擊高熔點重金屬材料製成的旋轉靶，產生很強的γ射線束，射向鈹製成的二次靶，產生9Be（γ，n）8Be反應，形成快中子束；③直線加速器：產生中子的過程與迴旋迴速器類似，只是電子能量更高，可獲得更強的中子束。
（3）反應堆中子源
這是中子活化分析應用最廣的中子源，產生的中子能量是連續的，能量從0.001 eV到幾千萬電子伏。
12.3.2.3 中子活化分析步驟
圖12-19 山東周店金礦一測線綜合剖面圖
①制備樣品和標准參考物質。樣品用土壤或岩、礦石標本等制備，制備和保存過程中應防止污染。標准參考物質在國際和國家標准部門公布的物質中選取，其中待測元素的化學狀態和含量應與樣品相近。②將樣品和標准參考物質放在中子源中經受相同通量的中子照射。③用各種方法進行放射化學分離，剔除干擾放射性核素。④用核探測器測量樣品和標准參考物質的核輻射。⑤用計算機處理數據，計算待測元素的含量。
12.3.2.4 中子活化方法的應用及實例
中子活化法測量微量元素具有分析檢出限高（達10-6～10-11）、測量時不破壞樣品，不受元素在物質中的化學狀態的影響等優點。
圖12-19是山東某金礦體的綜合剖面。該金礦處在一主幹斷裂下盤的伴生斷裂帶上。礦區廣泛出露印支期玲瓏花崗岩，含礦蝕變帶長約1000 m，金礦體長300 m，厚1～2 m，賦存於蝕變帶中，與礦體對應最好。
Ⅳ abb空位怎麼檢測
空位是哪個產品，abb檢測維修國內還是很多公司在做的，專業檢測儀器，比較省心省力，像通意達機電
Ⅳ 內存顆粒空位
你看到內存中那麼多片內存顆粒，每個的大小都等於你正跟內存的大小，也就是說，1G內存，每顆其實都是1G,為了傳輸的穩定性與速率等其他因素，一般台式機就會用很多顆粒
其實一般來說4顆已經足夠了，如筆記本內存
1所以有些廠家節約成本，去掉了不需要的顆粒
2去掉一個或者幾個顆粒，內存大小沒有變化
3沒有看到圖片，估計是給校驗用的檢測器預留的
4空位當然不是什麼都可以裝，比如你裝個其他頻率的顆粒就不行拉
Ⅵ 用在停車場空位檢測應用的ToF測距感測器有好的推薦嗎
TOF測距感測器是新一代高性能ToF測距感測器，配有優化設計的發射和接收光學鏡頭，內置先進的濾波和數據處理演算法，是知名生產廠家的海伯森所研發生產的，使用的人和廠家有很多，因為它適用范圍很廣。
Ⅶ 電子順磁共振可以測定正極材料中的氧空位問題嗎
電子順磁共振首先是由前蘇聯物理學家 E·K·扎沃伊斯基於1944年從MnCl2、CuCl2等順磁性鹽類發現的。物理學家最初用這種技術研究某些復雜原子的電子結構、晶體結構、偶極矩及分子結構等問題。以後化
電子順磁共振波普儀
學家根據電子順磁共振測量結果，闡明了復雜的有機化合物中的化學鍵和電子密度分布以及與反應機理有關的許多問題。美國的B·康芒納等人於1954年首次將電子順磁共振技術引入生物學的領域之中，他們在一些植物與動物材料中觀察到有自由基存在。
電子自旋共振譜儀（ESR）是測定物質中未成對電子的電子自旋共振現象的儀器，用於所有含未成對電子樣品的電子自旋共振特性相關研究。ESR通過測試樣品中順磁性信號的譜圖，對順磁性物質進行定性、定量測試，最終得到這些順磁性物質的結構和物理化學性質。ESR對於樣品測試具有高選擇性，不破壞樣品性，同時可以進行原位檢測。在檢測自由基、過渡金屬等方面有非常好的應用。本實驗室擁有的FA-200電子順磁共振波譜儀，配備了光照、變溫、低溫（77K）、轉角度、以及加標定量的測試，能對固體、氣體、液體等樣品測試。
Ⅷ excel表格中輸入身份證號碼，如何檢驗位數等於15或18位
1.設置數據的有效性.
2.最笨的方法有一個, 設置好被輸入的那一單元格中的字體和大小,再調整單元格的長度到剛好15或18位可以顯示.如果過長或過短都會顯示不出來或有空位,一眼就能看出來位數是不對的.
Ⅸ 地球化學找礦中常用的分析測試方法
地球化學找礦分析中經常採用的分析測試方法歸納起來大致有如下幾種。
1.比色分析
比色分析是在一定條件下，使試劑(顯色劑)與試液中待測元素反應生成有色溶液，通過目估與標准有色溶液(又稱標准色階)對比，以確定待測元素的含量; 或者通過儀器(如光電比色計或分光光度計)測定有色溶液對某一波長的光的吸光度，來求得待測元素的含量。
用目估比較的方法一般稱為目視比色法，只能達到半定量; 用光電比色法或分光光度計來測定的方法又稱分光光度法，可以達到定量要求。
比色分析的優點是簡便、快速且靈敏度較高，一般可檢出 0.1 ～ 0.01μg/mL 的含量。目前，比較常用的野外痕金快速測定就是採用目視比色法(微珠法或泡塑法)來確定的，一般可達納克級，滿足野外快速找金的要求; 在化探掃面中 W，Cd 常採用分光光度法的方法來測定。
2.原子發射光譜分析
原子發射光譜分析的基本原理: 任何元素的原子都是由帶正電的原子核和圍繞它高速旋轉的帶負電的電子組成，最外層的電子稱為價電子。在正常情況下，原子處在最低的能量狀態，稱為基態。當基態原子受到外加能量(熱能、電能等)激發時，它的外層電子從低能級向高能級躍遷，此時原子處於激發狀態。該狀態下價電子不穩定，大約在 10－ 8s內便要恢復到較低的能量狀態或基態，同時以光的形式釋放出多餘的能量。由於各種元素原子結構是一定的，每種元素都能發射某些特徵波長的譜線(如銅有 327.39nm，282.44nm，297.83nm，當然每條譜線的靈敏度有所差異)。根據元素有無特徵譜線，就可確定該元素是否存在; 根據特徵譜線的強度就可確定元素的含量。
在地球化學找礦分析中激發光源多採用電弧光源，近年來等離子光源(ICP)也逐漸盛行起來。原子發射光譜分析法是地球化學找礦分析中最普遍採用的多元素測定方法，較好的方法一次裝樣可完成近 20 種元素的測定，由於其測定過程多採用人工方式，缺點是在測定速度上稍微慢了些，另外就是干擾較多且不易掌握。目前在地球化學找礦分析中應用最好方法就是 Au，Ag 和 Pt 發射光譜分析法，特別是 Au 的發射光譜測定是化探掃面推薦的標准配套分析法。
3.原子吸收光譜分析
原子吸收光譜分析基本原理: 每一元素的原子具有吸收該元素本身發射的特徵譜線的性能。分析某一元素時，用能產生該元素特徵的光源(如以該元素製作的空心陰極燈)。當這種光源發射的光通過被測元素的基態原子蒸氣時，光就被吸收。其吸收的量與樣品中被測元素的含量成正比，通過測量光源發射的光通過原子蒸氣被吸收的量即可測得元素的含量。
原子吸收系統分析的特點是靈敏度高(10－ 6級)、准確度和精密度較高、分析速度快、分析范圍廣，可測定 70 多種元素。在地球化學找礦分析中常用在 Cu，Pb，Zn，Ni等元素的測定。近年來開始採用無火焰原子吸收光譜(石墨爐或鉭舟電熱原子化器)，它能達到更高的靈敏度(10－ 9級)，但精度目前還不理想。
4.熒光分析
物質的分子或原子，經入射光照射後，其中某些電子被激發至較高的能級。當它們從高能級躍遷至低能級時，可發射出比入射波長更長的光，則這種光稱為熒光。隨著激發源的不同(如可以是紫外線、X 射線等)，又有不同的熒光分析方法。
(1)熒光光度分析
利用紫外線照射物質所產生的熒光強度來確定該物質的含量，在地球化學找礦分析中常用於鈾含量的測定，靈敏度可達到(0.1 ～1)×10－ 6。
(2)原子熒光分析
元素的基態原子蒸氣，在吸收元素發射的特徵波長的光線之後，從基態激發至激發態，當這些原子由激發態躍遷至基態時就發射出熒光，由此可藉助測定熒光強度來測定試樣中元素的含量。在地球化學找礦分析中常採用這些方法來測定 As，Sb，Bi，Hg 的含量。
(3)X 射線熒光分析
X 射線熒光分析基本原理: 當 X 射線(初級 X 射線)照射待測樣品中的各種元素時，X 射線中的光子便與樣品的原子發生碰撞，並使原子中的一個內層電子被轟擊出來，此時原子內層電子空位，將由能量較高的外層電子來補充，同時以 X 射線形式釋放出多餘的能量，這種次級 X 射線叫作 X 射線熒光。各元素所發射出來的 X 射線熒光的波長取決於它們的原子序數，而其強度與元素含量相關，藉此可確定存在的元素及其含量。
該方法譜線簡單，易於識別，干擾較小，方法選擇性高，不僅用於微量組分(10－ 6)的測定，也適用於高至接近 100% 的含量組分的測定，且具有相當高的准確度。該方法不損壞樣品，故同一試樣可重復進行分析。它非常適用於原子序數 5(B)，6(C)，8(O)，9(F)～92(U)的測定，但儀器價格比較昂貴。
5.極譜分析
極譜分析是一種特殊條件下的電解分析，它用滴汞電極被分析物質的稀溶液，並根據得到的電壓電流曲線，以半波電位確定何種元素存在，以極限擴散電流確定元素的含量。該方法靈敏度一般可達1μg/L ～1mg/L。新的極譜技術可提高3 ～4 數量級，甚至提高6 個數量級(如催化極譜法測鉑族元素)，相對誤差約 2% ～ 5% ，一份試液(只幾毫升)可同時測定幾個元素，地球化學找礦中常用於 W，Mo 的測定。
6.離子選擇性電極
離子選擇性電極是一種電位分析法，簡單地說是把一對電極(一個叫指示電極，其電位隨被測離子濃度變化，另一個叫參比電極，電位不受溶液組成變化的影響，具恆定值，起電壓傳遞作用)插入待測溶液，當把兩電極連接起來，構成一個原電池時，兩極間的電位差完全取決於溶液中待測離子的濃度(電位差和離子濃度的對數呈線性關系)。
為了測定各種離子，可以製作各種離子的指示電極，它的電極的膜電位只與溶液中該離子的濃度對數呈線性關系，故稱為離子選擇性電極，如氟離子選擇性電極，其膜電位只與溶液中氟離子濃度有關。
該方法靈敏度高，有的達到 10－ 9級，設備較簡單，測定速度快。地球化學找礦中用於 F，Cl，Br，I 的測定。
實際應用中除上述介紹的主要方法外，還有諸如中子活化分析、等離子質譜分析法等方法，但這些方法所採用設備價格過於昂貴，應用面不廣，這里不再介紹。
地球化學找礦中分析測試方法多種多樣，但依靠單一的分析測試手段完成分析測試任務要求顯然是不現實的，在實際生產中常常是採用多種分析測試手段組合的方式，這樣無論從分析測試靈敏度、精密度和准確度，還是從經濟效益、測試速度上才能達到最優。例如遼寧地礦局中心實驗室在早期區域化探樣品分析就採用了如下的組合方式(表 6 2)。
表6-2 遼寧地礦局中心實驗室區域化探樣品採用的分析方法