A. 測量中檢查sp是什麼意思
首先檢查量具的好壞,外觀,操作,校準下量具,測量下標准件『然後測量對象的觀察,測量尺寸,測量位置,測量方向,零件清潔
B. 如何分辨理光sp100硒鼓的加粉口
理光SP100列印機的硒鼓,最好是能加原裝碳粉。
在原裝碳粉買不到的情況下,加加三星的通用碳粉、無極印、天威的碳粉也能保證使用。
加碳粉的方法:打開上蓋,取出粉盒,先把長方形的白色蓋子撬開,倒出廢粉,蓋上之後,再撬開圓形蓋子,把理光100系列袋裝碳粉(原裝的黃色袋裝)倒入圓形口內,一次一袋,蓋上圓蓋,把粉盒放入機器內,再按照輸稿器上的標貼提示進行操作。
1、按是否直接測量被測參數,可分為直接測量和間接測量。
直接測量:直接測量被測參數來獲得被測尺寸。例如用卡尺、比較儀測量。
間接測量:測量與被測尺寸有關的幾何參數,經過計算獲得被測尺寸。
2、按量具量儀的讀數值是否直接表示被測尺寸的數值,可分為絕對測量和相對測量。
絕對測量:讀數值直接表示被測尺寸的大小、如用游標卡尺測量。
相對測量:讀數值只表示被測尺寸相對於標准量的偏差。
3、按被測表面與量具量儀的測量頭是否接觸,分為接觸測量和非接觸測量。
接觸測量:測量頭與被接觸表面接觸,並有機械作用的測量力存在。如用千分尺測量零件。
非接觸測量:測量頭不與被測零件表面相接觸,非接觸測量可避免測量力對測量結果的影響。如利用投影法、光波干涉法測量等。
4、按一次測量參數的多少,分為單項測量和綜合測量。
單項測量;對被測零件的每個參數分別單獨測量。
綜合測量:測量反映零件有關參數的綜合指標。如用工具顯微鏡測量螺紋時,可分別測量出螺紋實際中徑、牙型半形誤差和螺距累積誤差等。
5、按測量在加工過程中所起的作用,分為主動測量和被動測量。
主動測量:工件在加工過程中進行測量,其結果直接用來控制零件的加工過程,從而及時防治廢品的產生。
被動測量:工件加工後進行的測量。此種測量只能判別加工件是否合格,僅限於發現並剔除廢品。
6、按被測零件在測量過程中所處的狀態,分為靜態測量和動態測量。
靜態測量;測量相對靜止。如千分尺測量直徑。
動態測量;測量時被測表面與測量頭模擬工作狀態中作相對運動。
水準測量原理
從驗潮站的高程零點,用水準測量的方法測定設立於驗潮站附近由國家設計里的水準原點的高程,作為全國高程式控制制網的起點。我國水準原點設立在山東青島市。從國家水準原點出發,用一、二、三、四等水準測量測定布設在全國范圍內的各等水準點。
一、二等水準測量稱為精密水準測量,為全國高程式控制制網的骨幹,三、四等水準網遍布全國各地,以上總稱為國家水準點。在國家水準點的基礎的上,為每項工程建設而進行工程水準測量或為地形圖測繪而進行圖根水準測量,同城為普通水準測量。
水準測量的原理是利用水準儀提供的水平視線,在豎立在欲測定高差的兩點上的水準尺上讀數,根據讀數計算高差。
D. pt100溫度感測器的測量方法
傳統的方法雖然簡單,但是有很多不足。使用通用感測器介面晶元,只需要一個對溫度不敏感的參考電阻,把Pt100接上UTI的電路,可以通過MCU得到Pt100和參考電阻的比例,從而得到阻值和溫度。這種方法非常適用於基於微處理器(MCU)的系統,UTI所有的信息只通過一MCU兼容的信號輸出,這樣大大的減少了各分立模塊之間的外接線和耦合器。
a)接1個Pt100的接線圖__
b)接2到3個Pt100的接線圖_______c)接8個Pt100的接線圖__
E. 熱電阻Pt100怎麼用萬用表測量
1,PT100是溫度感測器吧!
2,你使用萬用表歐姆檔應該可以測的100多歐姆的電阻
3,當加熱PT100的時候其阻值會變化,但是變化比較微小
F. 水分 測量儀SK-100 具體怎麼使用
上海婉源電子科技有限公司為您解答:用烘乾法測試一下你的稻草塊水分含量是多少,然後再用40個檔位測試一下,哪個檔位測試的越接近烘乾法的值,以後測量稻草塊就用這個檔位即可!
G. 抗SP100抗體是什麼,如果是陽性有沒有什麼問題
抗核抗體陽性說明有自身免疫性疾病,一般都服用免疫抑制劑,比如糖皮質激素或細胞毒葯物。不過建議你再去醫院做些檢查確診,聽醫生建議服葯。千萬不要自己吃哦,治療免疫病的葯物副作用都很大的。
H. 測量的方法
1.根據測量條件分為
(1)等精度測量:用相同儀表與測量方法對同一被測量進行多次重復測量
(2)不等精度測量:用不同精度的儀表或不同的測量方法, 或在環境條件相差很大時對同一被測量進行多次重復測量
2.根據被測量變化的快慢分為
(1)靜態測量
(2)動態測量
1.直接測量法:不必測量與被測量有函數關系的其他量,而能直接得到被測量值的測量方法。
2.間接測量法:通過測量與被測量有函數關系的其他量來得到被測量值的測量方法。
3.定義測量法:根據量的定義來確定該量的測量方法。
4.靜態測量方法:確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。
5.動態測量方法:確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。
6.直接比較測量法:將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。
7.微差測量法:將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較,通過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。 (1)正態分布
隨機誤差具有以下特徵:
① 絕對值相等的正誤差與負誤差出現的次數大致相等——對稱性;
② 在一定測量條件下的有限測量值中,其隨機誤差的絕對值不會超過一定的界限——有界性;
③ 絕對值小的誤差出現的次數比絕對值大的誤差出現的次數多——單峰性;
④對同一量值進行多次測量,其誤差的算術平均值隨著測量次數n的增加趨向於零——抵償性。(凡是具有抵償性的誤差原則上可以按隨機誤差來處理);
這種誤差的特徵符合正態分布
(2)隨機誤差的數字特徵:如圖所示:
(3)用測量的均值代替真值;
(4)有限次測量中,算術平均值不可能等於真值;
(5)正態分布隨機誤差的概率計算
當k=±1時, Pa=0.6827, 即測量結果中隨機誤差出現在-σ~+σ范圍內的概率為68.27%, 而|v|>σ的概率為31.73%。出現在-3σ~+3σ范圍內的概率是99.73%, 因此可以認為絕對值大於3σ的誤差是不可能出現的, 通常把這個誤差稱為極限誤差。 例題:見圖所示:
(6)不等精度直接測量的權與誤差
1.在不等精度測量時, 對同一被測量進行m組測量, 得到m組測量列(進行多次測量的一組數據稱為一測量列)的測量結果及其誤差, 它們不能同等看待。精度高的測量列具有較高的可靠性, 將這種可靠性的大小稱為「權」。
2.「權」可理解為各組測量結果相對的可信賴程度。 測量次數多, 測量方法完善, 測量儀表精度高, 測量的環境條件好, 測量人員的水平高, 則測量結果可靠, 其權也大。權是相比較而存在的。 權用符號p表示, 有兩種計算方法: ?
① 用各組測量列的測量次數n的比值表示, 並取測量次數較小的測量列的權為1,則有
p1∶p2∶…∶pm=n1∶n2∶…∶nm
② 用各組測量列的誤差平方的倒數的比值表示, 並取誤差較大的測量列的權為1, 則有
p1∶p2∶…∶pm=(1/σ1)^2:(1/σ2)^2:(1/σ3)^2:……(1/σm)^2 (1)系統誤差產生的原因
①感測器、儀表不準確(刻度不準、放大關系不準確)②測量方法不完善(如儀表內阻未考慮)③安裝不當④環境不合⑤操作不當;
(2)系統誤差的判別
①實驗對比法,例如一台測量儀表本身存在固定的系統誤差,即使進行多次測量也不能發現,只有用更高一級精度的測量儀表測量時,才能發現這台測量儀表的系統誤差;
②殘余誤差觀察法(繪出先後次序排列的殘差);
③准則檢驗法
馬利科夫判據是將殘余誤差前後各半分兩組, 若「Σvi前」與「Σvi後」之差明顯不為零, 則可能含有線性系統誤差。
阿貝檢驗法則檢查殘余誤差是否偏離正態分布, 若偏離, 則可能存在變化的系統誤差。將測量值的殘余誤差按測量順序排列,且設A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2?+…+(vn-1-vn)2+(vn-v1)2。
若|B/2A-1|>1/n^1/2,則可能含有變化的系統誤差。
(3)系統誤差的消除
在測量結果中進行修正 已知系統誤差, 變值系統誤差, 未知系統誤差
消除系統誤差的根源根源
在測量系統中採用補償措施
實時反饋修正 剔除壞值的幾條原則:
(1)3σ准則(萊以達准則):如果一組測量數據中某個測量值的殘余誤差的絕對值|vi|>3σ時, 則該測量值為可疑值(壞值), 應剔除。
(2)肖維勒准則:假設多次重復測量所得n個測量值中, 某個測量值的殘余誤差|vi|>Zcσ,則剔除此數據。實用中Zc<3, 所以在一定程度上彌補了3σ准則的不足。
(3)格拉布斯准則:某個測量值的殘余誤差的絕對值|vi|>Gσ, 則判斷此值中含有粗大誤差, 應予剔除。 G值與重復測量次數n和置信概率Pa有關。
解題步驟:如圖所示: (1)誤差的合成:如圖所示:
絕對誤差的合成(例題):
用手動平衡電橋測量電阻RX。已知R1=100Ω, R2=1000Ω, RN=100Ω,各橋臂電阻的恆值系統誤差分別為ΔR1=0.1Ω, ΔR2=0.5Ω, ΔRN=0.1Ω。求消除恆值系統誤差後的RX.
(2)最小二乘法的應用:
推導過程,如圖冊所示:
最小二乘法應用例子:如圖冊所示:
5.用經驗公式擬合實驗數據——回歸分析
用經驗公式擬合實驗數據,工程上把這種方法稱為回歸分析。回歸分析就是應用數理統計的方法,對實驗數據進行分析和處理,從而得出反映變數間相互關系的經驗公式,也稱回歸方程。
I. 內徑千分尺的測量方法是什麼
內徑千分尺測量方法:
內徑千分尺(INSIDEMICROMETER)用於內尺寸精密測量(分單體式和接桿)。
1)內徑千分尺在測量及其使用時,必需用尺寸最大的接桿與其測微頭連接,依次順接到測量觸頭,以減少連接後的軸線彎曲。
2)測量時應看測微頭固定和松開時的變化量。
3)在日常生產中,用內徑尺測量孔時,將其測量觸頭測量面支撐在被測表面上,調整微分筒,使微分筒一側的測量面在孔的徑向截面內擺動,找出最小尺寸。然後擰緊固定螺釘取出並讀數,也有不擰緊螺釘直接讀數的。這樣就存在著姿態測量問題。姿態測量:即測量時與使用時的一致性。例如:測量75~600/0.01mm的內徑尺時,接長桿與測微頭連接後尺寸大於125mm時。其擰緊與不擰緊固定螺釘時讀數值相差0.008mm既為姿態測量誤差。
4)內徑千分尺測量時支承位置要正確。接長後的大尺寸內徑尺重力變形,涉及到直線度、平行度、垂直度等形位誤差。其剛度的大小,具體可反映在「自然撓度」上。理論和實驗結果表明由工件截面形狀所決定的剛度對支承後的重力變形影響很大。如不同截面形狀的內徑尺其長度L雖相同,當支承在(2/9)L處時,都能使內徑尺的實測值誤差符合要求。但支承點稍有不同,其直線度變化值就較大。所以在國家標准中將支承位置移到最大支承距離位置時的直線度變化值稱為「自然撓度」。為保證剛性,在我國國家標准中規定了內徑尺的支承點要在(2/9)L處和在離端面200mm處,即測量時變化量最小。並將內徑尺每轉90°檢測一次,其示值誤差均不應超過要求。