測量方法有哪些分類分別舉例

Ⅰ 測量按測量方式分類和按測量方法分類分別可分為哪些

按測量方式可分：

1、直接測量：無需對被測量與其他實測量進行一定函數關系的輔助計算而直接得到被測量值得測量。

2、間接測量：通過直接測量與被測參數有已知函數關系的其他量而得到該被測參數量值的測量。

3、接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面直接接觸，並有機械作用的測力存在（如接觸式三坐標等）。

4、非接觸測量：儀器的測量頭與工件的被測表面之間沒有機械的測力存在（如光學投影儀、氣動量儀測量和影像測量儀等）。

5、組合測量：如果被測量有多個，雖然被測量（未知量）與某種中間量存在一定函數關系，但由於函數式有多個未知量，對中間量的一次測量是不可能求得被測量的值。這時可以通過改變測量條件來獲得某些可測量的不同組合，然後測出這些組合的數值，解聯立方程求出未知的被測量。

6、比較測量：比較法是指被測量與已知的同類度量器在比較器上進行比較，從而求得被測量的一種方法。這種方法用於高准確度的測量。

按測量方法可分：

1、直接測量法：不必測量與被測量有函數關系的其他量，而能直接得到被測量值的測量方法。

2、間接測量法：通過測量與被測量有函數關系的其他量來得到被測量值的測量方法。

3、定義測量法：根據量的定義來確定該量的測量方法。

4、靜態測量方法：確定可以認為不隨時間變化的量值的測量方法。

5、動態測量方法：確定隨時間變化量值的瞬間量值的測定方法。

6、直接比較測量法：將被測量直接與已知其值的同種量相比較的測量方法。

7、微差測量法：將被測量與只有微小差別的已知同等量相比較，通過測量這兩個量值間的差值來確定被測量值的測量方法。

3、准則檢驗法

馬利科夫判據是將殘余誤差前後各半分兩組, 若「Σvi前」與「Σvi後」之差明顯不為零, 則可能含有線性系統誤差。

阿貝檢驗法則檢查殘余誤差是否偏離正態分布, 若偏離, 則可能存在變化的系統誤差。將測量值的殘余誤差按測量順序排列，且設A=v12+v22+…+vn2, B=(v1-v2)2+(v2-v3)2?+…+(vn-1-vn)2+(vn-v1)2。

若|B/2A-1|>1/n^1/2,則可能含有變化的系統誤差。

系統誤差的消除：

1、在測量結果中進行修正 已知系統誤差, 變值系統誤差, 未知系統誤差

2、消除系統誤差的根源

3、在測量系統中採用補償措施

4、實時反饋修正

參考資料來源：網路-測量方法

Ⅱ 測量方法的分類

1.直接測量和間接測量

按實測幾何量是否為欲測幾何量，可分為直接測量和間接測量。

1）直接測量

直接測量是指直接從計量器具獲得被測量的量值的測量方法。如用游標卡尺、千分尺。

（2）間接測量

間接測量是測得與被測量有一定函數關系的量，然後通過函數關系求得被測量值。如測量大尺寸圓柱形零件直徑D時，先測出其周長L，然後再按公式D/求得零件的直徑D，如圖2-4所示。

2.絕對測量和相對測量

按示值是否為被測量的量值，可分為絕對測量和相對測量。

（1）絕對測量絕對測量是指被計量器具顯示或指示的示值即是被測幾何量的量值。如用測長儀測量零件，其尺寸由刻度尺直接讀出。

（2）相對測量相對測量也稱比較測量，是指計量器具顯示或指示岀被測幾何量相對於已知標准量的偏差，測量結果為已知標准量與該偏差值的代數和。

一般來說，相對測量的測量精度比絕對測量的要高。

3.接觸測量和非接觸測量

按測量時被測表面與計量器具的測頭是否接觸，可分為接觸測量和非接觸測量

（1）接觸測量接觸測量是指計量器具在測量時，其測頭與被測表面直接接觸的測量。如用卡尺、千分尺測量公交。

（2）非接觸測量非接觸測量是指計量器具在測量是，其測頭與被測表面不接觸的測量。如用氣動量儀測量孔徑和用顯微鏡測量工件的表面粗糙度。

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從這個定義，我們就可以看出經典物理的基本假設：

1．時間是絕對的，其含義是時間流逝的速率與空間位置和物體的速率無關；

2．空間是歐幾里德的，也就是說歐幾里德幾何的假設和定律對空間是成立的；

3．經典物理的第三個假設，就是質點的運動可以用位置作為時間的函數來描述。

根據愛因斯坦的相對論，時間是相對的，空間也不是歐幾里德的，但是絕對時間和歐幾里德空間對低速運動（相對於光速）和宏觀世界是一個很好的近似，在相當高的精度上是正確的。因此在經典物理中使用這樣的假設是合理的。

根據第三個假設，如果我們知道質點的位置作為時間的函數，而且我們知道了質點的質量，那麼我們就知道了所能知道的關於這個質點的一切知識，由此可見，經典物理的任務就是找出質點的位置隨時間變化的函數。