光耦过零检测方法

⑴ 过零检测是什么意思

过零检测指的是在交流系统中，当波形从正半周向负半周转换时，经过零位时，系统作出的检测。可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。大致有两种方案，一是变压器隔离，二是光耦隔离的。哪种方案更经济，而且过零点精确。

光耦隔离工作原理简介：

D5、D6电压取自变压器次级A、B两点(~14v)，经过D5、D6全波整流，形成脉动直流波形，电阻分压后，再经过电容滤波，滤去高频成分，形成C点电压波形。

当C点电压大于0.7V时，三极管Q2导通，在三极管集电极形成低电平；当C点电压低于0.7V时，三极管截止，三极管集电极通过上拉电阻R4，形成高电平。

这样通过三极管的反复导通、截止，在芯片过零检测端口D点形成100Hz脉冲波形，芯片通过判断，检测电压的零点。

(1)光耦过零检测方法扩展阅读：

光耦隔离优点：

1、占空比任意可调。

2、隔离耐压高。

3、抗干扰能力强，目前带静电屏蔽的光耦很容易买到，强弱电之间的隔离性能很好，另外，光耦属电流型器件，对电压性噪声能有效地抑制。

4、传输信号范围从DC到数MHz,其中线性光耦尤其适用于信号反馈。

光耦隔离缺点：

1、在全桥拓扑中，开关器件为4个，需3—4个光耦，而每一光耦都需独立电源供电，增加了电路的复杂性，成本增加，可靠性降低。

2、因光耦传输延迟较大，为保证开关器件开通与关断的精确性，必须使各路的结构参数一致，使各路的延迟一致，而这往往难以做得很好。

3、光耦的开关速度较慢，对驱动脉冲的前后沿产生较大延时，影响控制精度。

⑵ 什么是过零点检测法急求

指的是在交流系统中，当波形从正半周向负半周转换时，经过零位时，系统作出的检测。可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。大致有两种方案，一是变压器隔离，二是光耦隔离的。哪种方案更经济，而且过零点精确？
指的是在交流系统中，当波形从正半周向负半周转换时，经过零位时，系统作出的检测。可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。大致有两种方案，一是变压器隔离，二是光耦隔离的。哪种方案更经济，而且过零点精确？
变压器隔离：我觉得这个还可以，可是变压器是不是太大了。
电路图
光耦隔离：

1. 工作原理简介
D5、D6电压取自变压器次级A、B两点(~14v)，经过D5、D6全波整流，形成脉动直流波形，电阻分压后，再经过电容滤波，滤去高频成分，形成C点电压波形；当C点电压大于0.7V时，三极管Q2导通，在三极管集电极形成低电平；当C点电压低于0.7V时，三极管截止，三极管集电极通过上拉电阻R4，形成高电平。这样通过三极管的反复导通、截止，在芯片过零检测端口D点形成100Hz脉冲波形，芯片通过判断，检测电压的零点。

⑶ 光耦合器的检测方法

光电耦合器它属于比较新型的一种电子产品，它广泛应用于计算机、音视频，它又被叫做光耦合器或光耦，在各种控制电路中。由于光电耦合器内部的发光二极管和光敏三极管只是把电路前后级的电压或电流变化，转化为光的变化，二者之间没有电气连接，因此能有效隔断电路间的电位联系，实现电路之间的可靠隔离。
1.光电耦合器的检测判断光耦的好坏，可在路测量其内部.二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。1. 比较法 拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管;三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2. 数宇万用表检测法 下面以PCIll光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测时将光耦内接二极管的+端①脚和—端②脚分别插入数字万用表的hfE的c，e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极⑤脚接指针式万用表的黑表笔，e极④脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Rxlk挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则说明光耦已损坏。
3.光电效应判断法 仍以ICIll光电耦合器的检测为例，将万用表置寸：Rxlk电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端④、⑤脚，然后用一节1.5V的电池与一只50-100欧的电阻串接后，电池的正极端接PC111的①脚，负极端碰接②脚，或者正极端碰接①脚，负极端接②脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。

⑷ 用数字万用表如何测光耦的好坏

用数字万用表如何测光耦的好坏方法有两个：

1、断开输入端电源，用R×1k档测1、2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，3、4脚间电阻应为无限大。1、2脚与3、4脚间任意一组，阻值为无限大，输入端接通电源后，3、4脚的电阻很小。调节RP，3、4间脚电阻发生变化，说明该器件是好的。注：不能用R×10k档，否则导致发射管击穿。

2、简易测试电路，当接通电源后，LED不发光，按下SB，LED会发光，调节RP、LED的发光强度会发生变化，说明被测光电耦合器是好的。

(4)光耦过零检测方法扩展阅读：

数字万用表相对来说，属于比较简单的测量仪器，从数字万用表的电压、电阻、电流、二极管、三极管、MOS场效应管的测量等测量方法开始。

使用万用表测量注意事项：

1、使用前，应认真阅读有关的使用说明书，熟悉电源开关、量程开关、插孔、特殊插口的作用。

2、将ON/OFF开关置于ON位置，检查9V电池，如果电池电压不足，将显示在显示器上，这时则需更换电池。如果显示器没有显示，则按以下步骤操作。

3、测试笔插孔旁边的符号，表示输入电压或电流不应超过指示值，这是为了保护内部线路免受损伤。

4、测试之前。功能开关应置于你所需要的量程。

⑸ 请问什么是过零检测光耦呢 作用是什么呢

过零检测光藕就是在交流电网(指的是我们所用的国家电网)过零检测光藕.因为许多以前的设计总认为这一项很重要(在电网过零时干扰最小),会影响模拟测量的结果,但现行的AD速度,以及AD的50Hz60Hz弱化这种过零检测电路其使用意义.
另外:过零检测光藕的技术要求并不高,一般的光藕最可以胜任,如TLP521,4N25.其它的快速光藕如6N135,6N137用在这有点浪费.
这种光耦是在直流电时导通的.它的前级结构是二极管。

⑹ 什么是过零检测光耦，有什么作用，这种光耦必须是交流才能导通么，

过零检测光藕就是在交流电网(指的是我们所用的国家电网)过零检测光藕.因为许多以前的设计总认为这一项很重要(在电网过零时干扰最小),会影响模拟测量的结果,但现行的AD速度,以及AD的50Hz60Hz弱化这种过零检测电路其使用意义.
另外:过零检测光藕的技术要求并不高,一般的光藕最可以胜任,如TLP521,4N25.其它的快速光藕如6N135,6N137用在这有点浪费.
这种光耦是在直流电时导通的.它的前级结构是二极管

⑺ 怎样判断光耦的好坏

方法：用数字万用表的PN结测量端，红表笔“电池+极”接光耦的“1”端，黑表笔“电池-极”接光耦的“2”端（即使光耦的发光二极管正向导通），用另一电表测量“3”“4”端电阻，断开或接通输入端（发光二极管端），输出端电阻应有大幅度变化，说明改光耦是好的。另发光二极管端万用表可用电池串限流电阻代替。

在彩电，显示器等开关电源维修中如果光耦损坏，一定要用线性光耦代换。

常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有：TLP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。

常用的4N25 4N264N354N36是不适合用于开关电源中的，因为这4种光耦均属于非线性光耦。

(7)光耦过零检测方法扩展阅读：

光电耦合器分为两种：一种为非线性光耦，另一种为线性光耦。

非线性光耦的电流传输特性曲线是非线性的，这类光耦适合于开关信号的传输，不适合于传输模拟量。常用的4N系列光耦属于非线性光耦。

线性光耦的电流传输特性曲线接近直线，并且小信号时性能较好，能以线性特性进行隔离控制。常用的线性光耦是PC817A—C系列。

开关电源中常用的光耦是线性光耦。如果使用非线性光耦，有可能使振荡波形变坏，严重时出现寄生振荡，使数千赫的振荡频率被数十到数百赫的低频振荡依次为号调制。由此产生的后果是对彩电，彩显，VCD，DCD等等，将在图像画面上产生干扰。

同时电源带负载能力下降。在彩电，显示器等开关电源维修中如果光耦损坏，一定要用线性光耦代换。常用的4脚线性光耦有PC817A----C。PC111 TLP521等常用的六脚线性光耦有：LP632 TLP532 PC614 PC714 PS2031等。常用的4N25 4N26 4N35 4N36是不适合用于开关电源中的，因为这4种光耦均属于非线性光耦。

由于光电耦合器的品种和类型非常多，在光电子DATA手册中，其型号超过上千种，通常可以按以下方法进行分类：

⑴按光路径分，可分为外光路光电耦合器（又称光电断续检测器）和内光路光电耦合器。外光路光电耦合器又分为透过型和反射型光电耦合器。

⑵按输出形式分，可分为：

a、光敏器件输出型，其中包括光敏二极管输出型，光敏三极管输出型，光电池输出型，光可控硅输出型等。

b、NPN三极管输出型，其中包括交流输入型，直流输入型，互补输出型等。

c、达林顿三极管输出型，其中包括交流输入型，直流输入型。

d、逻辑门电路输出型，其中包括门电路输出型，施密特触发输出型，三态门电路输出型等。

e、低导通输出型（输出低电平毫伏数量级）。

f、光开关输出型（导通电阻小于10Ω）。

g、功率输出型（IGBT/MOSFET等输出）。

⑶按封装形式分，可分为同轴型，双列直插型，TO封装型，扁平封装型，贴片封装型，以及光纤传输型等。

⑷按传输信号分，可分为数字型光电耦合器（OC门输出型，图腾柱输出型及三态门电路输出型等）和线性光电耦合器（可分为低漂移型，高线性型，宽带型，单电源型，双电源型等）。

⑸按速度分，可分为低速光电耦合器（光敏三极管、光电池等输出型）和高速光电耦合器（光敏二极管带信号处理电路或者光敏集成电路输出型）。

⑹按通道分，可分为单通道，双通道和多通道光电耦合器。

⑺按隔离特性分，可分为普通隔离光电耦合器（一般光学胶灌封低于5000V，空封低于2000V）和高压隔离光电耦合器（可分为10kV，20kV，30kV等）。

⑻按工作电压分，可分为低电源电压型光电耦合器（一般5～15V）和高电源电压型光电耦合器（一般大于30V）。

光耦合器的主要优点是单向传输信号，输入端与输出端完全实现了电气隔离，抗干扰能力强，使用寿命长，传输效率高。它广泛用于电平转换、信号隔离、级间隔离、开关电路、远距离信号传输、脉冲放大、固态继电器(SSR）、仪器仪表、通信设备及微机接口中。

由于光电耦合器的输入阻抗与一般干扰源的阻抗相比较小，因此分压在光电耦合器的输入端的干扰电压较小，它所能提供的电流并不大，不易使半导体二极管发光；由于光电耦合器的外壳是密封的，它不受外部光的影响；光电耦合器的隔离电阻很大（约1012Ω）、隔离电容很小（约几个pF）所以能阻止电路性耦合产生的电磁干扰。

线性方式工作的光电耦合器是在光电耦合器的输入端加控制电压，在输出端会成比例地产生一个用于进一步控制下一级的电路的电压。

线性光电耦合器由发光二极管和光敏三极管组成，当发光二极管接通而发光，光敏三级管导通，光电耦合器是电流驱动型，需要足够大的电流才能使发光二极管导通，如果输入信号太小，发光二极管不会导通，其输出信号将失真。在开关电源，尤其是数字开关电源中。

采用一只光敏三极管的光耦合器，CTR的范围大多为20%～300%（如4N35），而PC817则为80%～160%，达林顿型光耦合器（如4N30）可达100%～5000%。这表明欲获得同样的输出电流，后者只需较小的输入电流。因此，CTR参数与晶体管的hFE有某种相似之处。线性光耦合器与普通光耦合器典型的CTR-IF特性曲线。

普通光耦合器的CTR-IF特性曲线呈非线性，在IF较小时的非线性失真尤为严重，因此它不适合传输模拟信号。线性光耦合器的CTR-IF特性曲线具有良好的线性度，特别是在传输小信号时，其交流电流传输比（ΔCTR=ΔIC/ΔIF)很接近于直流电流传输比CTR值。因此，它适合传输模拟电压或电流信号，能使输出与输入之间呈线性关系。这是其重要特性。

以下为光电耦合器的常用参数：

1 反向电流IR：在被测管两端加规定反向工作电压VR时，二极管中流过的电流。

2 反向击穿电压VBR：被测管通过的反向电流IR为规定值时，在两极间所产生的电压降。

3 正向压降VF：二极管通过的正向电流为规定值时，正负极之间所产生的电压降。

4 正向电流IF：在被测管两端加一定的正向电压时二极管中流过的电流。结电容CJ：在规定偏压下，被测管两端的电容值。

5 反向击穿电压V(BR)CEO：发光二极管开路，集电极电流IC为规定值，集电极与发射集间的电压降。

6 输出饱和压降VCE(sat)：发光二极管工作电流IF和集电极电流IC为规定值时，并保持IC/IF≤CTRmin时（CTRmin在被测管技术条件中规定）集电极与发射极之间的电压降。

7 反向截止电流ICEO：发光二极管开路，集电极至发射极间的电压为规定值时，流过集电极的电流为反向截止电流。

8 电流传输比CTR：输出管的工作电压为规定值时，输出电流和发光二极管正向电流之比为电流传输比CTR。

9 脉冲上升时间tr,下降时间tf：光耦合器在规定工作条件下，发光二极管输入规定电流IFP的脉冲波，输出端管则输出相应的脉冲波，从输出脉冲前沿幅度的10%到90%，所需时间为脉冲上升时间tr。从输出脉冲后沿幅度的90%到10%，所需时间为脉冲下降时间tf。

10 传输延迟时间tPHL,tPLH：从输入脉冲前沿幅度的50%到输出脉冲电平下降到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPHL。从输入脉冲后沿幅度的50%到输出脉冲电平上升到1.5V时所需时间为传输延迟时间tPLH。

11 入出间隔离电容CIO：光耦合器件输入端和输出端之间的电容值。

12 入出间隔离电阻RIO：半导体光耦合器输入端和输出端之间的绝缘电阻值。

13 入出间隔离电压VIO：光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值.

⑻ 光电耦合器的检测方法

光耦合器的检测方法

判断光耦的好坏，可测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种：

1、比较法

拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管；三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。

2、数字万用表检测法

下面以PCIll光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测时将光耦内接二极管的+端①脚和—端②脚分别插入数字万用表的hfE的c，e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管c极⑤脚接指针式万用表的黑表笔，e极④脚接红表笔，并将指针式万用表拨在Rxlk挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度——实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。

3、光电效应判断法

仍以ICIll光电耦合器的检测为例，将万用表置于Rxlk电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端④、⑤脚，然后用一节1.5V的电池与一只50~100欧的电阻串接后，电池的正极端接PC111的①脚，负极端碰接②脚，或者正极端碰接①脚，负极端接②脚，这时观察接在输出端万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。

⑼ 怎么检测光耦的好坏

用两个万用表就可以测了。
光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。如光电耦合器4N25，采用DIP－6封装，共六个引脚，①、②脚分别为阳、阴极，③脚为空脚，④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
1．
判断发光二极管好坏与极性：用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻，正向电阻一般为几千欧到几十千欧，反向电阻一般应为∞。测得电阻小的那次，红笔接的是二极管的负极。
2．
判断受光三极管的好坏与放大倍数：将万用表开关从电阻挡拨至三极管hFE挡，使用NPN型插座，将E孔连接④脚发射极，C孔连接⑤脚集电极，B孔连接⑥脚基极，显示值即为三极管的电流放大倍数。一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。
3．
光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。这时，表内基准电压2．8V经表内二极管挡的测量电路，加到三极管的c、e结之间。但由于输入二极管端无光电信号而不导通，液晶显示器显示溢出符号。当输入端②脚插入E孔，①脚插入C孔的NPN插座时，表内基准电源2．8V经表内三极管hFE挡的测量电路，使发光二极管发光，受光三极管因光照而导通，显示值由溢出符号瞬间变到188的示值。当断开①脚阳极与C孔的插接时，显示值瞬间从188示值又回到溢出符号。不同的光耦，传输特性与效率也不相同，可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。
由于表内多使用9V叠层电池，故给输入端二极管加电的时间不能过长，以免降低电池的使用寿命及测量精度，可采用断续接触法测量。
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⑽ 过零检测光耦，其过零检测的作用是什么为什么在芯片内部有个过零电路

过零检测指的是在交流系统中，当波形从正半周向负半周转换时，经过零位时，系统作出的检测。有过零检测功能的光耦是零电压开通。零电压触发可控硅开通可以降低可控硅的开通损耗。它可以让晶闸管的损耗降到最低，从而可以延长晶闸管寿命。